CN104849159A - 一种用于测试终端设备按键寿命的实验装置 - Google Patents

一种用于测试终端设备按键寿命的实验装置 Download PDF

Info

Publication number
CN104849159A
CN104849159A CN201410401987.8A CN201410401987A CN104849159A CN 104849159 A CN104849159 A CN 104849159A CN 201410401987 A CN201410401987 A CN 201410401987A CN 104849159 A CN104849159 A CN 104849159A
Authority
CN
China
Prior art keywords
stock
magnechuck
striking head
spring members
armature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201410401987.8A
Other languages
English (en)
Inventor
于龙江
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing Jiaxun Feihong Electrical Co Ltd
Original Assignee
Beijing Jiaxun Feihong Electrical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing Jiaxun Feihong Electrical Co Ltd filed Critical Beijing Jiaxun Feihong Electrical Co Ltd
Priority to CN201410401987.8A priority Critical patent/CN104849159A/zh
Publication of CN104849159A publication Critical patent/CN104849159A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Apparatuses For Generation Of Mechanical Vibrations (AREA)

Abstract

本发明公开了一种用于测试终端设备按键寿命的实验装置,包括:控制单元、键盘、LCD显示屏、驱动单元和电磁击打单元。其中,将被测设备放置在电磁击打单元正下方,利用键盘设置击打次数并由LCD显示屏显示;控制单元根据击打次数产生脉冲波,脉冲波经过驱动单元进行放大,为电磁击打单元供电;电磁击打单元击打被测设备的屏幕。本发明由于采用了电磁击打单元,不使用电机与复杂的机械传动装置,具有体积小巧、噪音小、成本低廉等优点。

Description

一种用于测试终端设备按键寿命的实验装置
技术领域
本发明涉及一种用于测试终端设备按键寿命的实验装置,属于通信技术领域。
背景技术
在通信领域中,经常需要测试一些终端设备的按键寿命,如手机按键、按键式调度台上的按键、触摸屏上的虚拟按键等。测试这些终端设备的按键有两个目的:一是看终端设备是否有软件缺陷(bug);二是测试按键的寿命。
现在常用的按键寿命测试设备一般采用气动式击打装置,参见图1。该设备由充气泵、气动式击打装置、控制单元、键盘、LCD显示屏、驱动单元、可调固定支架等组成。其主要缺点包括:(1)由于采用气动式击打装置,需要使用充气泵供气,所以其体积很大,测试时需要占用较大的面积;(2)由于充气泵工作时会发出很大的噪音,会对测试环境造成很大的噪音污染。
公告号为CN202693283U的中国实用新型专利公开了一种按键耐久性实验装置。参见图2,它包括电动机驱动齿轮摇臂机构,齿轮摇臂机构带动推杆作往复直线运动,在推杆的另一端设置触头,触头触碰被测试按键。该装置的结构简单,相比传统的按键实验机构更可靠更耐用,并通过传感器、计数单元记录按键实验次数,实现耐久性测试的统计。
公告号为CN201788130U的中国实用新型专利公开了一种检测手机按键寿命的装置。参见图3,它包括:按键敲击装置,其设有支座及装在支座内可以来回移动的活动杆,该活动杆的下端为敲击头,该活动杆的上端设有齿牙;传动装置,其包括与活动杆的齿牙啮合的齿轮组及带动齿轮组转动的电机;敲击头行程电子限位装置,其装在活动杆上;以及根据敲击头行程电子限位装置检测的信号控制电机正反转驱动敲击头敲击按键,并显示敲击按键寿命的控制器。
上述技术方案一方面利用了机械装置进行往复运动,会对测试环 境造成很大的噪音污染;另一方面采用电机进行驱动,为此还需要配备相应的控制电路,成本较高。
发明内容
针对现有技术的不足,本发明所要解决的技术问题在于提供一种用于测试终端设备按键寿命的实验装置。
为实现上述发明目的,本发明采用下述的技术方案:
一种用于测试终端设备按键寿命的实验装置,包括控制单元、键盘、LCD显示屏、驱动单元和电磁击打单元,其中,
将被测设备放置在所述电磁击打单元正下方,利用所述键盘设置击打次数并由LCD显示屏显示;
所述控制单元根据所述击打次数产生脉冲波,所述脉冲波经过所述驱动单元进行放大,为所述电磁击打单元供电;
所述电磁击打单元击打所述被测设备的屏幕。
其中较优地,所述电磁击打单元包括:电磁吸盘1、衔铁2、支撑架3、弹簧部件4、连接轴5、长杆6和敲击头8;所述电磁吸盘1包括铁心和线圈,所述线圈缠绕在铁心的周围,所述线圈的两个接头连接所述驱动单元;所述衔铁2设置在所述电磁吸盘1的正下方,并安装在所述长杆6的一端;在所述长杆6的另一端安装所述敲击头8,所述长杆6中间设置有连接孔,通过所述连接轴5与所述支撑架3相连接。
其中较优地,在所述支撑架3与所述敲击头8之间,所述长杆6的正下方位置还设置有弹簧部件4;
当所述弹簧部件4未发生形变时,使长杆6保持在位置20;当所述弹簧部件4发生形变时用来对长杆6进行限位和复位。
其中较优地,所述敲击头8的另一端设有弹性接触部件9;当所述电磁吸盘1通电吸住所述衔铁2时,所述弹性接触部件9接触到被测设备10的屏幕表面。 
或者,所述电磁击打单元包括:电磁吸盘1、衔铁2、支撑架3、弹簧部件4、敲击头8和滑动杆13,其中电磁吸盘1包括铁心11和线圈12;所述滑动杆13的一端通过所述弹簧部件4与支撑架3相连接,另一端设置有敲击头8;所述滑动杆13中部设置有所述电磁吸盘1; 所述铁心11两端的所述滑动杆13设置在所述支撑架3上,其中所述支撑架3靠近敲击头8的一侧设置有衔铁2,通过所述支撑架3上的滑动孔移动。
本发明由于采用了电磁式击打装置,不使用电机与复杂的机械传动装置,具有体积小巧、噪音小、成本低廉等优点。电磁式击打装置的头部采用了橡胶等软式材料,因此适合测试包括按键式终端、触摸屏式终端等各种终端设备的按键寿命。
附图说明
图1是现有技术中,一种典型的气动式按键测试装置的结构示意图;
图2是现有技术中,一种典型的电机驱动式按键测试装置的结构示意图;
图3是现有技术中,另一种典型的电机驱动式按键测试装置的结构示意图;
图4是本发明所提供的用于测试终端设备按键寿命的实验装置的结构示意图;
图5是本发明中,电磁击打单元的一个实施例的结构示意图;
图6是本发明中,电磁击打单元的又一个实施例的结构示意图;
图7是本发明中,电磁击打单元的另一个实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明的技术内容作进一步的说明。
图4是本发明所提供的用于测试终端设备按键寿命的实验装置的结构示意图。它由控制单元、键盘、LCD显示屏、驱动单元、电磁击打单元和可调固定支架等构成。其中,先由键盘设置一定的击打频率,该数值可以在LCD显示屏上显示。控制单元按照设定的数值发出一定频率的脉冲,再经过驱动单元放大,直接控制电磁击打单元,进行往复式运动,完成对被测试设备按键的击打。电磁击打单元每击打一次按键,控制单元的计数电路会计数一次,该数值会在LCD显示屏上显示。
图5是电磁击打单元的一个实施例的结构示意图。该电磁击打单元包括:电磁吸盘1、衔铁2、支撑架3(包括立轴和底座)、弹簧部 件4、连接轴5、长杆6、限位部件7、敲击头8、弹性接触部件9。其中,电磁吸盘1包括铁心和线圈。铁心为静止状态,线圈缠绕在铁心的周围,线圈的两个接头连接驱动单元,由驱动单元为线圈供电。衔铁2设置在电磁吸盘1的正下方,并安装在长杆6的一端。在长杆6安装有衔铁2的一端与支撑架3连接有弹簧部件4。在长杆6的另一端安装敲击头8,将移动终端等被测设备10水平放置于敲击头8的正下方。敲击头8另一端设有弹性接触部件9,当电磁吸盘1通电吸住衔铁2时,弹性接触部件9正好接触到被测设备10的屏幕表面。在长杆6中间设置有连接孔,通过连接轴5与支撑架3相连接,当电磁吸盘1通电吸住衔铁2时,可以通过连接轴5转动。在支撑架3与敲击头8之间,长杆6下方位置还设置有限位部件7。限位部件7下端为底座,顶端设有弹性接触部件9,当电磁吸盘1通电吸住衔铁2时,限位部件7通过弹性接触部件9限制长杆6继续转动,使其固定在该位置,弹性接触部件9用来防止敲击头8的敲击力度过大,损坏被测设备10的屏幕,同时也用来缓冲限位部件和限制长杆6接触瞬间的作用力,可以避免两者之间产生噪声。
用户通过键盘设置所需要击打的次数,此时该次数可以通过LCD显示屏进行显示。控制单元接收到击打次数后,产生脉冲波,该脉冲波的频率可以视情况自由设定。驱动单元对脉冲波进行放大,供给电磁吸盘1。电磁吸盘1接收到脉冲波的高电平后,线圈通电产生电磁吸力,从而吸引衔铁2向其靠近。在靠近的过程中,长杆6连接轴5进行转动,弹簧部件4在长杆6拉力的作用下发生变长,产生一个阻止长杆6继续转动的反作用力。当电磁吸盘1通电吸住衔铁2时,弹簧部件4长度最大,限位部件7限制长杆6继续转动,使其固定在该位置,此时敲击头8通过弹性接触部件9敲击被测设备10的屏幕表面一次。此时长杆6由位置20转动到位置30。
当电磁吸盘1接收到脉冲波的低电平后,由于线圈未通电,已产生的电磁吸力消失,由于弹簧部件4发生形变,产生的弹力使长杆6恢复到位置20。如此完成一个击打周期,当驱动单元继续为电磁吸盘1提供脉冲时,电磁击打单元会重复上述动作,直到到所设定的击打次数。在击打过程中,LCD显示屏会将电磁击打单元当前的击打次数 显示。
由于经常使用,电磁击打单元的限位部件7的弹性接触部件9会发生损坏或者丢失,如果不及时维修,会产生一定的噪声。为此本发明对图5所示的电磁击打单元进行了改进。如图6所示,改进之处在于:取消了限位部件7,将弹簧部件4设置于敲击头8与支撑架3之间,其中,弹簧部件4的一端与长杆6相连接,另一端与底座相连接。电磁击打单元不工作时,弹簧部件4处于自然伸展状态,此时长杆6处于位置20。当电磁吸盘1接收到脉冲波的高电平后,线圈通电产生电磁吸力,从而吸引衔铁2向其靠近。此时弹簧部件4受到长杆6的压力长度变短,产生弹力,在长杆6处于位置30时,弹力最大;当电磁吸盘1接收到脉冲波的低电平后,由于线圈未通电,已产生的电磁吸力消失,由于弹簧部件4发生形变,产生的弹力使长杆6恢复到位置20。
在上述的实施例中,由于衔铁与敲击头之间采用了杠杆原理,敲击头在平衡位置与敲击位置会存在一定的角度偏差,对被测设备会有一定的损伤。为了解决上述问题,本发明还提供了另一个实施例。
如图7所示,滑动杆13的一端通过弹簧部件4与支撑架3相连接,另一端设置有敲击头8。滑动杆13中部设置有固定的电磁吸盘1,其中电磁吸盘包括铁心11和线圈12。铁心11两端的滑动杆13设置在支撑架3上,其中支撑架3靠近敲击头8的一侧设置有衔铁2,通过支撑架3上的滑动孔(图中未示出),滑动杆13可以左右或者上下移动。
当线圈12通电后,电磁吸盘1会产生电磁吸力,使滑动杆13向左运动,同压缩弹簧部件4,此时敲击头8正好接触到待检测终端设备10的屏幕;线圈12掉电后,滑动杆13由于弹簧部件4的弹力作用,向右运动,恢复到最开始的位置,整个运动为直线运动。由于敲击头8保持直线运动,可以避免损伤待检测终端设备10的屏幕。
在本发明中,由于采用了电磁击打单元,不使用电机与复杂的机械传动装置,具有体积小巧、噪音小、成本低廉等优点。
以上对本发明所提供的用于测试终端设备按键寿命的实验装置进 行了详细的说明。对本领域的一般技术人员而言,在不背离本发明实质精神的前提下对它所做的任何显而易见的改动,都将构成对本发明专利权的侵犯,将承担相应的法律责任。

Claims (5)

1.一种用于测试终端设备按键寿命的实验装置,包括控制单元、键盘、LCD显示屏、驱动单元和电磁击打单元,其特征在于:
将被测设备放置在所述电磁击打单元正下方,利用所述键盘设置击打次数并由所述LCD显示屏显示;
所述控制单元根据所述击打次数产生脉冲波,所述脉冲波经过所述驱动单元进行放大,为所述电磁击打单元供电;
所述电磁击打单元击打所述被测设备的屏幕。
2.如权利要求1所述的实验装置,其特征在于,
所述电磁击打单元包括:电磁吸盘(1)、衔铁(2)、支撑架(3)、弹簧部件(4)、连接轴(5)、长杆(6)和敲击头(8);所述电磁吸盘(1)包括铁心和线圈,所述线圈缠绕在铁心的周围,所述线圈的两个接头连接所述驱动单元;所述衔铁(2)设置在所述电磁吸盘(1)的正下方,并安装在所述长杆(6)的一端;在所述长杆(6)的另一端安装所述敲击头(8),所述长杆(6)中间设置有连接孔,通过所述连接轴(5)与所述支撑架(3)相连接。
3.如权利要求2所述的实验装置,其特征在于,
在所述支撑架(3)与所述敲击头(8)之间,所述长杆(6)的正下方位置还设置有弹簧部件(4);
当所述弹簧部件(4)未发生形变时,使长杆(6)保持在位置(20);当所述弹簧部件(4)发生形变时用来对长杆(6)进行限位和复位。
4.如权利要求2所述的实验装置,其特征在于,
所述敲击头(8)的另一端设有弹性接触部件(9);当所述电磁吸盘(1)通电吸住所述衔铁(2)时,所述弹性接触部件(9)接触到被测设备(10)的屏幕表面。
5.如权利要求1所述的实验装置,其特征在于,
所述电磁击打单元包括:电磁吸盘(1)、衔铁(2)、支撑架(3)、弹簧部件(4)、敲击头(8)和滑动杆(13),其中电磁吸盘(1)包括铁心(11)和线圈(12);所述滑动杆(13)的一端通过所述弹簧部件(4)与支撑架(3)相连接,另一端设置有敲击头(8);所述滑动杆(13)中部设置有所述电磁吸盘(1);所述铁心(11)两端的所述滑动杆(13)设置在所述支撑架(3)上,其中所述支撑架(3)靠近敲击头(8)的一侧设置有衔铁(2),通过所述支撑架(3)上的滑动孔移动。
CN201410401987.8A 2014-08-15 2014-08-15 一种用于测试终端设备按键寿命的实验装置 Pending CN104849159A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410401987.8A CN104849159A (zh) 2014-08-15 2014-08-15 一种用于测试终端设备按键寿命的实验装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410401987.8A CN104849159A (zh) 2014-08-15 2014-08-15 一种用于测试终端设备按键寿命的实验装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN104849159A true CN104849159A (zh) 2015-08-19

Family

ID=53848970

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201410401987.8A Pending CN104849159A (zh) 2014-08-15 2014-08-15 一种用于测试终端设备按键寿命的实验装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN104849159A (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105258927A (zh) * 2015-10-21 2016-01-20 昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司 一种键盘按键的寿命测试装置
CN105716816A (zh) * 2016-02-01 2016-06-29 工业和信息化部电子第五研究所 模态试验装置
CN111983440A (zh) * 2020-07-16 2020-11-24 中广核核电运营有限公司 插座检测方法及插座检测装置
CN113075034A (zh) * 2021-03-12 2021-07-06 建华建材(安徽)有限公司 一种装配式预制混凝土桥墩抗拉强度检测实验装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2558987Y (zh) * 2002-04-26 2003-07-02 厦门市顺时代电子有限公司 按键寿命试验机
CN201002260Y (zh) * 2006-12-25 2008-01-09 重庆信威通信技术有限责任公司 手机按键检测智能机械手
CN101576605A (zh) * 2009-06-12 2009-11-11 长春启明车载电子有限公司 反馈式按键寿命试验方法及装置
CN201903627U (zh) * 2010-11-08 2011-07-20 陈晏 一种按键测试装置
CN202793759U (zh) * 2012-08-20 2013-03-13 昆山洺九机电有限公司 适用于按键寿命测试机的测头装置
CN203551693U (zh) * 2013-10-30 2014-04-16 陈晏 一种按键检测装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2558987Y (zh) * 2002-04-26 2003-07-02 厦门市顺时代电子有限公司 按键寿命试验机
CN201002260Y (zh) * 2006-12-25 2008-01-09 重庆信威通信技术有限责任公司 手机按键检测智能机械手
CN101576605A (zh) * 2009-06-12 2009-11-11 长春启明车载电子有限公司 反馈式按键寿命试验方法及装置
CN201903627U (zh) * 2010-11-08 2011-07-20 陈晏 一种按键测试装置
CN202793759U (zh) * 2012-08-20 2013-03-13 昆山洺九机电有限公司 适用于按键寿命测试机的测头装置
CN203551693U (zh) * 2013-10-30 2014-04-16 陈晏 一种按键检测装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105258927A (zh) * 2015-10-21 2016-01-20 昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司 一种键盘按键的寿命测试装置
CN105716816A (zh) * 2016-02-01 2016-06-29 工业和信息化部电子第五研究所 模态试验装置
CN105716816B (zh) * 2016-02-01 2019-02-12 工业和信息化部电子第五研究所 模态试验装置
CN111983440A (zh) * 2020-07-16 2020-11-24 中广核核电运营有限公司 插座检测方法及插座检测装置
CN113075034A (zh) * 2021-03-12 2021-07-06 建华建材(安徽)有限公司 一种装配式预制混凝土桥墩抗拉强度检测实验装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104849159A (zh) 一种用于测试终端设备按键寿命的实验装置
CN202693283U (zh) 一种按键耐久性实验装置
CN103207368B (zh) 按键寿命测试装置及按键寿命测试方法
CN202421450U (zh) 一种按键使用寿命测试设备
CN104515668A (zh) 一种气压驱动弹射式水平冲击台
KR101926916B1 (ko) 유압식 타격 기기의 모니터링 방법 및 이를 수행하는 시스템
CN209670577U (zh) 电子挂锁
CN203664161U (zh) 电动冲击试验台
CN109002170B (zh) 触觉反馈装置
CN205049322U (zh) 一种新型敲击测试用敲击头及敲击测试装置
CN208439948U (zh) 一种电机推板组件
CN103344559B (zh) 磁钢检测装置
CN107300466B (zh) 一种电梯按钮测试平台
CN100582735C (zh) 按键测试方法
TWM473656U (zh) 以外觀變化作為提示功能的可攜式電子裝置
CN204964705U (zh) 敲击测试用敲击头及敲击测试装置
CN210269476U (zh) 电磁复位回弹仪
CN212321406U (zh) 一种建筑施工用瓷砖空鼓敲击检测装置
CN211149878U (zh) 一种iot水泵电动机实训平台
JP2015049236A (ja) 打音検査用打撃装置および打音検査方法
CN207309270U (zh) 扬声器引线定位装置
CN2591747Y (zh) 行程开关缓冲装置
CN209311057U (zh) 一种电容式触摸屏的强度检测装置
CN106885692A (zh) 臂力棒耐劳测试仪
CN202795290U (zh) 触控装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
EXSB Decision made by sipo to initiate substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20150819