CN104808597B - 生产派工的方法和装置 - Google Patents

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CN104808597B CN201410035722.0A CN201410035722A CN104808597B CN 104808597 B CN104808597 B CN 104808597B CN 201410035722 A CN201410035722 A CN 201410035722A CN 104808597 B CN104808597 B CN 104808597B
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Abstract

本发明公开了一种生产派工的方法和装置。其中,该方法包括:在待加工的产品传送到第一加工设备时,获取第一加工设备的缺陷检测状态;若缺陷检测状态指示第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值,则指示第一加工设备对待加工的产品进行加工;否则,则指示第二加工设备对待加工的产品进行加工。本发明解决了由于随机派工导致的采用缺陷率较高的加工设备进行加工的问题,达到了降低产品的缺陷率的技术效果。

Description

生产派工的方法和装置
技术领域
本发明涉及加工制造领域,具体而言,涉及一种生产派工的方法和装置。
背景技术
目前,在生产派工系统中,主要由自动和人工两种派工方法:
1)自动派工:根据加工过程中的产品特性(优先级,等待时间)及下一过程的设备产能分配进行派工。具有可预测性,有固定的规则可以查询。
2)人工派工:根据人为定义的一些规则,由人为进行的派工。具有产品的不确定性和不可预测性。
然而,在采用传统派工方法进行派工时仅考虑了优先级、等待时间等因素,而没有考虑加工设备加工出的产品的缺陷率,这样,会使得生产线上缺陷率较高的加工设备一直处于工作状态,从而导致生产存在缺陷的产品较多。
针对上述的问题,目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本发明实施例提供了一种生产派工的方法和装置,以至少解决由于多种产品组合加工时造成的对缺陷检测的干扰,使得连续抽缺陷检测样品,或特定较长时间无缺陷检测时的成品率无法保证的技术问题。
根据本发明实施例的一个方面,提供了一种生产派工的方法,包括:在待加工的产品传送到第一加工设备时,获取第一加工设备的缺陷检测状态;若缺陷检测状态指示第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值,则指示第一加工设备对待加工的产品进行加工;若缺陷检测状态指示第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值,则指示第二加工设备对待加工的产品进行加工。
作为一种可选的方案,获取第一加工设备的缺陷检测状态,包括:从第一加工设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品;对抽出的预定个数的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数;根据预定个数和存在缺陷的产品的个数计算得到第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率;将第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率与第一预定阈值进行比较,将比较得到的结果作为缺陷检测状态。
作为一种可选的方案,在待加工的产品传送到第一加工设备之前,包括:获取包括第一加工设备和第二加工设备在内的多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态,其中,获取包括第一加工设备和第二加工设备在内的多个加工设备的缺陷检测状态包括:从多个加工设备中的每一个设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品;对抽出的预定个数的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数;根据预定个数和存在缺陷的产品的个数计算得到多个加工设备中的每一个已加工出的产品的缺陷率;将多个加工设备中的每一个已加工出的产品的缺陷率分别与第一预定阈值进行比较,将比较得到的结果作为多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态。
作为一种可选的方案,每个预定的检测周期执行一次获取包括第一加工设备和第二加工设备在内的多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态的步骤。
作为一种可选的方案,在从多个加工设备中的每一个设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品之后,还包括:若在一个检测周期内多个加工设备中的一个设备D对应的抽出的预定个数N与一个设备D已加工出的产品的个数M的比值N/M小于第二预定阈值,则通知设备D发出告警。
作为一种可选的方案,若缺陷检测状态指示第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值,包括:指示第一加工设备停止工作;和/或向控制系统发送告警信息,其中,告警信息用于指示第一加工设备存在缺陷。
作为一种可选的方案,指示第二加工设备对待加工的产品进行加工包括:从除第一加工设备之外的多个加工设备中选择已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值的一个加工设备作为第二加工设备,其中,待加工的产品符合多个加工设备的加工条件;将待加工的产品传送到第二加工设备。
根据本发明实施例的另一方面,还提供了一种生产派工的装置,包括:获取模块,用于在待加工的产品传送到第一加工设备时,获取第一加工设备的缺陷检测状态;第一指示模块,当待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值时,用于指示第一加工设备对待加工的产品进行加工;第二指示模块,当待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值时,用于指示第二加工设备对待加工的产品进行加工。
作为一种可选的方案,获取模块包括:第一抽取单元,用于从第一加工设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品;第一统计单元,用于对抽出的预定个数的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数;第一计算单元,用于根据预定个数和存在缺陷的产品的个数计算得到第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率;第一比较单元,用于将第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率与第一预定阈值进行比较,将比较得到的结果作为缺陷检测状态。
作为一种可选的方案,获取模块还用于获取包括第一加工设备和第二加工设备在内的多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态;其中,获取模块包括:第二抽取单元,用于从多个加工设备中的每一个设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品;第二统计单元,用于对抽出的预定个数的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数;第二计算单元,用于根据预定个数和存在缺陷的产品的个数计算得到多个加工设备中的每一个在接收到待加工的产品之前已加工出的产品的缺陷率;第二比较单元,用于将多个加工设备中的每一个已加工出的产品的缺陷率分别与第一预定阈值进行比较,将比较得到的结果作为多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态。
作为一种可选的方案,该装置还包括:更新模块,用于每个预定的检测周期执行一次获取包括第一加工设备和第二加工设备在内的多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态的步骤。
作为一种可选的方案,该装置还包括:判断模块,用于判断在一个检测周期内多个加工设备中的一个设备D对应的抽出的预定个数N与一个设备D已加工出的产品的个数M的比值N/M小于第二预定阈值;通知模块,用于通知设备D发出告警。
作为一种可选的方案,第一指示模块包括:指示单元:用于指示第一加工设备停止工作;告警单元,用于向控制系统发送告警信息,其中,告警信息用于指示第一加工设备存在缺陷。
作为一种可选的方案,第二指示模块包括:筛选单元,用于从除第一加工设备之外的多个加工设备中选择已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值的一个加工设备作为第二加工设备,其中,待加工的产品符合多个加工设备的加工条件;传送单元,将待加工的产品传送到第二加工设备。
在本申请中,通过结合对加工设备缺陷状态的检测、统计、比较,得出适合的加工设备,实现有效地生产派工,采用这样的方式,从而实现了降低产品缺陷率的技术效果,进而解决了由于多种产品组合加工时造成的对缺陷检测的干扰,使得连续抽缺陷检测样品,或特定较长时间无缺陷检测时的成品率无法保证的技术问题。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本申请的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1是根据本发明实施例的一种可选的生产派工方法的流程图;
图2是根据本发明实施例的另一种可选生产派工方法的流程图;
图3是根据本发明实施例的又一种可选生产派工方法的流程图;
图4是根据本发明实施例的又一种可选生产派工方法的流程图;
图5是根据本发明实施例的又一种可选生产派工方法的流程图;
图6是根据本发明实施例的一种可选的生产派工装置的示意图;
图7是根据本发明实施例的另一种可选的生产派工装置的示意图;
图8是根据本发明实施例的又一种可选的生产派工装置的示意图;
图9是根据本发明实施例的又一种可选的生产派工装置的示意图;
图10是根据本发明实施例的又一种可选的生产派工装置的示意图;以及
图11是根据本发明实施例的又一种可选的生产派工装置的示意图。
具体实施方式
下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
实施例1
根据本发明实施例,提供了一种生产派工的方法,如图1所示,该方法包括:
S102,在待加工的产品传送到第一加工设备时,获取第一加工设备的缺陷检测状态;
可选地,在待加工产品传送到第一加工设备时,应该确认该设备当前的缺陷检测状态,是否符合加工生产的标准,是否可投入生产使用。因此,当待加工产品传送到第一加工设备时,将获取第一加工设备的缺陷检测状态。
可选地,加工设备的缺陷检测状态的判定条件包括但不限于以下至少之一:缺陷检测状态是否合格,距离最近一次缺陷检测的时间是否超过监测周期。
例如,在待加工产品传送到加工设备A(第一加工设备)时,获得该加工设备的缺陷检测结果为合格,则待加工产品可以投入加工设备A进行加工生产;否则,待加工产品将不进入加工设备A进行加工生产。
例如,在待加工产品传送到加工设备A(第一加工设备)时,获得该加工设备的缺陷检测结果为30分钟之前得到的,监测周期为15分钟,该加工设备的缺陷检测状态已经不是最新的检测结果,待加工产品不能直接进入加工设备A进行加工生产。
S104,若缺陷检测状态指示第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值,则指示第一加工设备对待加工的产品进行加工;
可选地,若当前获取的缺陷检测状态显示第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值,则指示第一加工设备对待加工的产品进行加工。
可选地,第一预定阈值设定的参考条件包括但不限于以下至少之一:加工设备的使用年限,产品参数。
例如,加工设备A(第一加工设备)在接收到待加工的产品时,已加工出的产品的缺陷检测状态显示缺陷率为0.05小于第一预定阈值0.10,则指示加工设备A对待加工的产品进行加工;或者,已加工出的产品的缺陷率为0.10等于第一预定阈值0.10,则该加工设备当前的缺陷检测状态指示待加工的产品进入加工设备A进行加工。
S106,若缺陷检测状态指示第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值,则指示第二加工设备对待加工的产品进行加工。
可选地,若当前获取的缺陷检测状态显示第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值,则指示第二加工设备对待加工的产品进行加工。
例如,加工设备A(第一加工设备)在接收到待加工的产品时,已加工出的产品的缺陷率为0.15大于第一预定阈值为0.10,则加工设备A当前的缺陷检测状态不符合生产标准,不适于生产,可指示待加工产品进入加工设备C(第二加工设备)进行加工生产。
通过本申请提供的实施例,在待加工的产品传送到第一加工设备时,可实时获取该加工设备的缺陷检测状态,有效地降低了存在缺陷的产品。
作为一种可选的方案,如图2所示,获取第一加工设备的缺陷检测状态,还包括:
S202,从第一加工设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品;
可选地,在第一加工设备接收到待加工的产品时,对已加工的产品进行抽选,抽出预定个数的产品,用于计算当前第一加工设备的缺陷率。例如,抽出100个已加工的产品。
S204,对抽出的预定个数的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数;
可选地,对从第一加工设备已加工的产品中抽出的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数。例如,抽出的已加工的产品个数为100个,统计得到存在缺陷的产品的个数为12个。
S206,根据预定个数和存在缺陷的产品的个数计算得到第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率。
可选地,根据从第一加工设备中抽出的已加工产品的个数及检测得到存在缺陷的产品的个数,计算得到在接收到待加工的产品时,第一加工设备当前的缺陷率。
S208,将第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率与第一预定阈值进行比较,将比较得到的结果作为缺陷检测状态。
例如,加工设备A(第一加工设备)在接收到待加工的产品时,若已加工出的产品的缺陷率为0.15,大于第一预定阈值0.10,则可以得到该加工设备的缺陷检测状态,且该状态显示为不合格,不适于投入加工生产;若已加工出的产品的缺陷率为0.05小于第一预定阈值0.10,则可以该加工设备的缺陷检测状态,且该状态显示为合格,可以投入加工生产;若已加工出的产品的缺陷率为0.010等于第一预定阈值0.10,则可以该加工设备的缺陷检测状态,且该状态显示为合格,可以投入加工生产。
通过本申请提供的实施例,在待加工的产品传送到第一加工设备时,可实时获取该加工设备的缺陷检测状态,有效地降低了存在缺陷的产品。
作为一种可选的方案,如图3所示,在待加工的产品传送到第一加工设备之前,还包括:
S302,获取包括第一加工设备和第二加工设备在内的多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态。
例如,获取到加工设备A(第一加工设备)的缺陷检测状态为合格;获取到加工设备B的缺陷检测状态为不合格;获取到加工设备C的缺陷检测状态为合格。
其中,获取包括第一加工设备和第二加工设备在内的多个加工设备的缺陷检测状态包括:
S3022,从多个加工设备中的每一个设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品。
可选地,在第一加工设备接收到待加工的产品之前,对多个加工设备中的每一个设备已加工的产品进行抽选,抽出预定个数的产品,用于计算多个加工设备的缺陷检测率。例如,加工设备A(第一加工设备),抽选100个;加工设备B,抽选150个;加工设备C,抽选100个。
S3024,对抽出的预定个数的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数;
可选地,对从多个加工设备中的每一个设备已加工的产品中抽出的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数。
例如,第一预定阈值为0.10,加工设备A(第一加工设备)的缺陷状态为合格,且从中抽出的已加工的产品个数为100个,统计得到存在缺陷的产品的个数为12个;加工设备B抽出的已加工的产品个数为150个,统计得到存在缺陷的产品的个数为15个。
S3026,根据预定个数和存在缺陷的产品的个数计算得到加工设备已加工出的产品的缺陷率。
可选地,根据从加工设备中抽出的已加工产品的个数及检测得到存在缺陷的产品的个数,计算得到在接收到待加工的产品之前,多个加工设备的缺陷率。
例如,计算得到加工设备A(第一加工设备),其缺陷率为0.15,加工设备B,其缺陷率为0.13,加工设备C,其缺陷率为0.12,加工设备D,其缺陷率为0.05。
S3028,将多个加工设备中的每一个已加工出的产品的缺陷率分别与第一预定阈值进行比较,将比较得到的结果作为多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态。
例如,加工设备A(第一加工设备)已加工出的产品的缺陷率为0.15,大于第一预定阈值0.10,则可以得到该加工设备的缺陷检测状态,且该状态显示为不合格,不适于投入加工生产;加工设备B已加工出的产品的缺陷率为0.05,小于第一预定阈值0.10,则可以该加工设备的缺陷检测状态,且该状态显示为合格,可以投入加工生产;加工设备C已加工出的产品的缺陷率为0.10,等于第一预定阈值0.10,则可以得到该加工设备的缺陷检测状态,且该状态显示为合格,适于投入加工生产。
通过本申请提供的实施例,在待加工的产品传送到第一加工设备之前。可以获取多个加工设备的缺陷检测状态,在比较之后,可以选取最适合的加工设备进行加工生产。
作为一种可选的方案,每个预定的检测周期执行一次获取包括第一加工设备和第二加工设备在内的多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态的步骤。
可选地,当加工设备被启动后,将在每个预定的周期对包括第一加工设备和第二加工设备在内的多个加工设备中的每一个的缺陷状态的统计结果进行更新。
例如,加工设备A(第一加工设备)启动时,距离最近一次的缺陷检测时间为1小时,监测周期为15分钟,则将对加工设备A的缺陷检测状态进行更新。
例如,加工设备B,加工设备C,加工设备D一直在运行过程中,监测周期为15分钟,则每隔15分钟,将对加工设备B,加工设备C,加工设备D的缺陷检测状态进行更新。
通过本申请提供的实施例,可以及时更新各加工设备的缺陷检测状态,有效地选择最适合的加工设备对待加工产品进行加工生产,降低了产品的缺陷率。
作为一种可选的方案,在从多个加工设备中的每一个设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品之后,还包括:
S1,若在一个检测周期内多个加工设备中的一个设备D对应的抽出的预定个数N与一个设备D已加工出的产品的个数M的比值N/M小于第二预定阈值;
S2,则通知设备D发出告警。
例如,现有加工设备A,已加工的产品为1000个,抽出预定个数为100的产品;加工设备B,已加工的产品为1500个,抽出预定个数为120的产品;加工设备C,已加工的产品为800个,抽出预定个数为100的产品。设定一个检测周期为15分钟,第二预定阈值为0.10,在一个检测周期内,加工设备A、加工设备B、加工设备C中抽出的预定个数与已加工出的产品的个数的比值分别为0.1、0.08、0.125,其中,加工设备B的比值小于第二预定阈值,则通知加工设备B向控制系统发出告警信息。
可选地,告警信息包括:向控制系统发出报警,指示该加工设备的抽选比值过小,以便于控制系统调整产品抽选个数,使得每个加工设备的抽选比例均匀,保证后续缺陷检测的有效性。
通过本申请提供的实施例,可以调控各加工设备产品抽选的预定数量,以保证后续缺陷检测结果的有效性,避免因抽选产品数目过少而导致的错误检测。
作为一种可选的方案,如图4所示,若缺陷检测状态指示第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值,还包括:
S402,指示第一加工设备停止工作;和/或
可选地,当确认第一加工设备在接收到待加工的产品时,已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值时,则指示第一加工设备停止工作。
例如,加工设备A(第一加工设备)在接收到待加工的产品时,已加工出的产品的缺陷率为0.10大于第一预定阈值为0.05,则指示加工设备A停止工作,待加工产品将不进行加工生产。
S404,向控制系统发送告警信息,其中,告警信息用于指示加工设备A存在缺陷。
可选地,当确认第一加工设备在接收到待加工的产品时,已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值时,则向控制系统发送告警信息,其中,告警信息用于指示第一加工设备存在缺陷。
例如,加工设备A(第一加工设备)在接收到待加工的产品时,已加工出的产品的缺陷率为0.10大于第一预定阈值为0.05,则心向控制系统发送告警信息,指示加工设备A存在缺陷,不适于继续投入生产使用。
通过本申请提供的实施例,当缺陷检测状态指示第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值时,可以及时作出指示和/或告警处理,避免进入该加工设备产出缺陷率高的产品,进而造成经济损失。
作为一种可选的方案,如图5所示,指示第二加工设备对待加工的产品进行加工,还包括:
S502,从除第一加工设备之外的多个加工设备中,选择已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值的一个加工设备作为第二加工设备,其中,待加工的产品符合多个加工设备的加工条件;
可选地,当接收到指示使用第二加工设备对待加工的产品进行加工时,则从除第一加工设备之外的多个加工设备中,选择已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值的一个加工设备作为第二加工设备。
例如,现有加工设备A(第一加工设备),其缺陷率为0.15,加工设备B,其缺陷率为0.13,加工设备C,其缺陷率为0.12,加工设备D,其缺陷率为0.05,设有第一预定阈值为0.12;当加工设备A(第一加工设备)被确认缺陷率高于阈值,则从加工设备B、C、D中选择已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值的一个加工设备作为第二加工设备,即符合条件的加工设备C与加工设备D均可被选作第二加工设备。
可选地,待加工的产品符合多个加工设备的加工条件,其中,加工条件包括但不限于以下至少之一:加工温度,加工时间,加工产品的大小。
例如,加工设备A(第一加工设备)的加工条件1)为“产品的长宽比4:3”,假设选择加工设备C为第二加工设备,加工设备C的加工条件2)为“加工温度为25”,则当加工设备A的缺陷率符合要求时,待加工产品符合条件1),可以进入加工设备A进行加工生产;当加工设备A的缺陷率不符合要求时,待加工的产品符合条件2),才可以进入加工设备C进行加工生产。
S504,将待加工的产品传送到第二加工设备。
可选地,将待加工产品传送到第二加工设备,其中,传送装置包括但不限于:传送带。
通过本申请提供的实施例,当缺陷检测状态指示第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值时,可以指示第二加工设备进行加工生产。对加工设备的宏观控制调度,有效地降低了产品的缺陷率。
本发明提供了一种优选的实施例来进一步对本发明进行解释,但是值得注意的是,该优选实施例只是为了更好的描述本发明,并不构成对本发明不当的限定。
实施例2
根据本发明实施例,还提供了一种生产派工的装置,如图6所示,该装置包括:
(1)获取模块602,用于在待加工的产品传送到第一加工设备时,获取第一加工设备的缺陷检测状态;
可选地,在待加工产品传送到第一加工设备时应该确认该设备当前的缺陷检测状态,是否符合加工生产的标准,是否可投入生产使用。因此,当待加工产品传送到第一加工设备时,将获取第一加工设备的缺陷检测状态。
可选地,加工设备的缺陷检测状态的判定条件包括但不限于以下至少之一:缺陷检测状态是否合格,距离最近一次缺陷检测的时间是否超过监测周期。
例如,在待加工产品传送到加工设备A(第一加工设备)时,获得该加工设备的缺陷检测结果为合格,则待加工产品可以投入加工设备A进行加工生产;否则,待加工产品将不进入加工设备A进行加工生产。
例如,在待加工产品传送到加工设备A(第一加工设备)时,获得该加工设备的缺陷检测结果为30分钟之前得到的,监测周期为15分钟,该加工设备的缺陷检测状态已经不是最新的检测结果,待加工产品不能直接进入加工设备A进行加工生产。
(2)第一指示模块604,当接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值时,用于指示第一加工设备对待加工的产品进行加工;
可选地,若当前获取的缺陷检测状态显示第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值,则指示第一加工设备对待加工的产品进行加工。
可选地,第一预定阈值设定的参考条件包括但不限于以下至少之一:加工设备的使用年限,产品参数。
例如,加工设备A(第一加工设备)在接收到待加工的产品时,已加工出的产品的缺陷检测状态显示缺陷率为0.05小于第一预定阈值0.10,则指示加工设备A对待加工的产品进行加工;或者,已加工出的产品的缺陷率为0.10等于第一预定阈值0.10,则该加工设备当前的缺陷检测状态指示待加工的产品进入加工设备A进行加工。
(3)第二指示模块606,当接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值时,用于指示第二加工设备对待加工的产品进行加工。
可选地,若当前获取的缺陷检测状态显示第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值,则指示第二加工设备对待加工的产品进行加工。
例如,加工设备A(第一加工设备)在接收到待加工的产品时,已加工出的产品的缺陷率为0.10大于第一预定阈值为0.05,则加工设备A当前的缺陷检测状态不符合生产标准,不适于生产,可指示待加工产品进入加工设备C(第二加工设备)进行加工生产。
在本实施例中,该生产派工装置包括:获取模块602,第一指示模块604,第二指示模块606。通过获取模块,在待加工的产品传送到第一加工设备时,获取第一加工设备的缺陷检测状态;若缺陷检测状态指示第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值,则通过第一指示模块,指示第一加工设备对待加工的产品进行加工;否则,通过第二指示模块,指示第二加工设备对待加工的产品进行加工。
通过本申请提供的实施例,在待加工的产品传送到第一加工设备时,可实时获取该加工设备的缺陷检测状态,有效地降低了存在缺陷的产品。
作为一种可选的方案,如图7所示,获取模块602包括:
(1)第一抽取单元702,用于从第一加工设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品;
可选地,在第一加工设备接收到待加工的产品时,对已加工的产品进行抽选,抽出预定个数的产品,用于计算当前第一加工设备的缺陷检测率。例如,抽出100个已加工的产品。
(2)第一统计单元704,用于对抽出的预定个数的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数;
可选地,对从第一加工设备已加工的产品中抽出的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数。例如,抽出的已加工的产品个数为100个,统计得到存在缺陷的产品的个数为12个。
(3)第一计算单元706,用于根据预定个数和存在缺陷的产品的个数计算得到第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率;
可选地,根据从第一加工设备中抽出的已加工产品的个数及检测得到存在缺陷的产品的个数,计算得到在接收到待加工的产品时,第一加工设备当前的缺陷率。
(4)第一比较单元708,用于将第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率与第一预定阈值进行比较,将比较得到的结果作为缺陷检测状态。
例如,加工设备A(第一加工设备)在接收到待加工的产品时,若已加工出的产品的缺陷率为0.15,大于第一预定阈值0.10,则可以得到该加工设备的缺陷检测状态,且该状态显示为不合格,不适于投入加工生产;若已加工出的产品的缺陷率为0.05小于第一预定阈值0.10,则可以该加工设备的缺陷检测状态,且该状态显示为合格,可以投入加工生产。
在本实施例中,该获取模块602包括:第一抽取单元702,第一统计单元704,第一计算单元706,第一比较单元708。通过第一抽取单元,从第一加工设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品;再由第一统计单元,对抽出的预定个数的已加工的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数;然后由第一计算单元,根据预定个数和存在缺陷的产品的个数计算得到第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率,并由第一比较单元,将第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率与第一预定阈值进行比较,将比较得到的结果作为缺陷检测状态。
通过本申请提供的实施例,在待加工的产品传送到第一加工设备时,可实时获取该加工设备的缺陷检测状态,有效地降低了存在缺陷的产品。
作为一种可选的方案,如图8所示,获取模块602还用于获取包括第一加工设备和第二加工设备在内的多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态;其中,获取模块602还包括:
(1)第二抽取单元802,用于从多个加工设备中的每一个设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品;
可选地,在第一加工设备接收到待加工的产品之前,对包括第一加工设备和第二加工设备在内的多个加工设备中每一个设备已加工的产品进行抽选,抽出预定个数的产品,用于计算当前加工设备的缺陷检测状态。例如,加工设备A(第一加工设备),抽选100个;加工设备B,抽选150个;加工设备C,抽选100个。
(2)第二统计单元804,用于对抽出的预定个数的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数;
可选地,对包括第一加工设备和第二加工设备在内的多个加工设备中每一个设备已加工的产品中抽出的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数。例如,加工设备A(第一加工设备)抽出的已加工的产品个数为100个,统计得到存在缺陷的产品的个数为12个;加工设备B抽出的已加工的产品个数为150个,统计得到存在缺陷的产品的个数为15个。
(3)第二计算单元806,用于根据预定个数和存在缺陷的产品的个数计算得到多个加工设备中的每一个在接收到待加工的产品之前已加工出的产品的缺陷率;
可选地,根据从加工设备中抽出的已加工产品的个数及检测得到存在缺陷的产品的个数,计算得到在接收到待加工的产品之前,包括第一加工设备和第二加工设备在内的多个加工设备的缺陷率。
例如,计算得到加工设备A(第一加工设备),其缺陷率为0.15,加工设备B,其缺陷率为0.13,加工设备C,其缺陷率为0.12,加工设备D,其缺陷率为0.05。
(4)第二比较单元808,用于将多个加工设备中的每一个已加工出的产品的缺陷率分别与第一预定阈值进行比较,将比较得到的结果作为多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态。
例如,加工设备A(第一加工设备)已加工出的产品的缺陷率为0.15,大于第一预定阈值0.10,则可以得到该加工设备的缺陷检测状态,且该状态显示为不合格,不适于投入加工生产;加工设备B已加工出的产品的缺陷率为0.05,小于第一预定阈值0.10,则可以该加工设备的缺陷检测状态,且该状态显示为合格,可以投入加工生产;加工设备C已加工出的产品的缺陷率为0.10,等于第一预定阈值0.10,则可以得到该加工设备的缺陷检测状态,且该状态显示为合格,适于投入加工生产。
在本实施例中,获取模块602还用于获取包括第一加工设备和第二加工设备在内的多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态;其中,获取模块602包括:第二抽取单元802,第二统计单元804,第二计算单元806,第二比较单元808。通过第二抽取单元,从多个加工设备中的每一个设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品;再由第二统计单元,对抽出的预定个数的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数;然后由第二计算单元,用于根据预定个数和存在缺陷的产品的个数计算得到加工设备在接收到待加工的产品之前已加工出的产品的缺陷率;最后由第二比较单元,将多个加工设备中的每一个已加工出的产品的缺陷率分别与第一预定阈值进行比较,将比较得到的结果作为多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态。
通过本申请提供的实施例,在待加工的产品传送到第一加工设备之前,可以获取多个加工设备的缺陷检测状态,在比较之后,可以选取最适合的加工设备进行加工生产。
作为一种可选的方案,如图9所示,该装置还包括:
(1)更新模块902,用于每个预定的检测周期执行一次获取包括第一加工设备和第二加工设备在内的多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态的步骤。
可选地,当加工设备被启动后,将在每个预定的周期对包括第一加工设备和第二加工设备在内的多个加工设备中的每一个的缺陷状态的统计结果进行更新。
例如,加工设备A(第一加工设备)启动时,距离最近一次的缺陷检测时间为1小时,监测周期为15分钟,则将对加工设备A的缺陷检测状态进行更新。
例如,加工设备B,加工设备C,加工设备D一直在运行过程中,监测周期为15分钟,则每隔15分钟,将对加工设备B,加工设备C,加工设备D的缺陷检测状态进行更新。
在本实施例中,该生产派工装置包括:更新模块902。通过更新模块,每个预定的检测周期执行一次获取包括第一加工设备和第二加工设备在内的多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态的步骤。
通过本申请提供的实施例,可以及时更新各加工设备的缺陷检测状态,有效地选择最适合的加工设备对待加工产品进行加工生产,降低了产品的缺陷率。
作为一种可选的方案,如图9所示,该装置还包括:
(1)判断模块904,用于判断在一个检测周期内多个加工设备中的一个设备D对应的抽出的预定个数N与一个设备D已加工出的产品的个数M的比值N/M是否小于第二预定阈值;
例如,现有加工设备A,已加工的产品为1000个,抽出预定个数为100的产品;加工设备B,已加工的产品为1500个,抽出预定个数为120的产品;加工设备C,已加工的产品为800个,抽出预定个数为100的产品。设定一个检测周期为15分钟,第二预定阈值为0.10,在一个检测周期内,加工设备A、加工设备B、加工设备C中抽出的预定个数与已加工出的产品的个数的比值分别为0.1、0.08、0.125,判断上述比值与第二预定阈值0.10的大小关系。
(2)通知模块906,当多个加工设备中的一个设备D对应的抽出的预定个数N与一个设备D已加工出的产品的个数M的比值N/M小于第二预定阈值时,用于通知设备D发出告警。
例如,加工设备B的N/M的比值0.08小于第二预定阈值0.10,因此,通知加工设备B向控制系统发出告警信息。
可选地,告警信息包括:向控制系统发出报警,指示该加工设备的抽选比值过小,即抽选的产品过少,以便于控制系统调整产品抽选个数,使得每个加工设备的抽选比例均匀,保证后续缺陷检测的有效性。
在本实施例中,该生产派工装置包括:判断模块904,通知模块906。通过判断模块,判断在一个检测周期内多个加工设备中的一个设备D对应的抽出的预定个数N与一个设备D已加工出的产品的个数M的比值N/M是否小于第二预定阈值;当设备D的比值N/M小于第二预定阈值时,由通知模块,通知设备D发出告警。
通过本申请提供的实施例,可以调控各加工设备产品抽选的预定数量,以保证后续缺陷检测结果的有效性,避免因抽选产品数目过少而导致的错误检测。
作为一种可选的方案,如图10所示,第一指示模块604,包括:
(1)指示单元1002,用于指示第一加工设备停止工作;
可选地,当确认第一加工设备在接收到待加工的产品时,已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值时,则指示第一加工设备停止工作。
例如,加工设备A(第一加工设备)在接收到待加工的产品时,已加工出的产品的缺陷率为0.10大于第一预定阈值为0.05,则指示加工设备A停止工作,不对待加工产品进行加工生产。
(2)告警单元1004,用于向控制系统发送告警信息,其中,告警信息用于指示第一加工设备存在缺陷。
可选地,当确认第一加工设备在接收到待加工的产品时,已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值时,则向控制系统发送告警信息,其中,告警信息用于指示第一加工设备存在缺陷。
例如,加工设备A(第一加工设备)在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率为0.10大于第一预定阈值为0.05,则心向控制系统发送告警信息,指示加工设备A存在缺陷,不适于继续投入生产使用。
在本实施例中,第一指示模块604包括:指示单元1002,告警单元1004。当确认第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值时,通过指示单元,指示第一加工设备停止工作;和/或,由告警单元向控制系统发送告警信息,其中,告警信息用于指示第一加工设备存在缺陷。
通过本申请提供的实施例,当缺陷检测状态指示第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值时,可以及时做出指示和/或告警处理,避免进入该加工设备产出缺陷率高的
作为一种可选的方案,如图11所示,第二指示模块606,包括:
(1)筛选单元1102,用于从除第一加工设备之外的多个加工设备中选择已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值的一个加工设备作为第二加工设备,其中,待加工的产品符合多个加工设备的加工条件;
可选地,当接收到指示使用第二加工设备对待加工的产品进行加工时,则从除第一加工设备之外的多个加工设备中,选择已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值的一个加工设备作为第二加工设备。
例如,现有加工设备A(第一加工设备),其缺陷率为0.15,加工设备B,其缺陷率为0.13,加工设备C,其缺陷率为0.12,加工设备D,其缺陷率为0.05,设有第一预定阈值为0.12;当加工设备A(第一加工设备)被确认缺陷率高于阈值,则从加工设备B、C、D中选择已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值的一个加工设备作为第二加工设备,即符合条件的加工设备C与加工设备D均可被选作第二加工设备。
可选地,待加工的产品符合多个加工设备的加工条件,其中,加工条件包括但不限于以下至少之一:加工温度,加工时间,加工产品的大小。
例如,加工设备A(第一加工设备)的加工条件1)为“产品的长宽比4:3”,假设选择加工设备C为第二加工设备,加工设备C的加工条件2)为“加工温度为25”,则当加工设备A的缺陷率符合要求时,待加工产品符合条件1),可以进入加工设备A进行加工生产;当加工设备A的缺陷率不符合要求时,待加工的产品符合条件2),才可以进入加工设备C进行加工生产。
(2)传送单元1104,将待加工的产品传送到第二加工设备。
可选地,将待加工产品传送到第二加工设备,其中,传送装置包括但不限于:传送带。
在本实施例中,第二指示模块606,包括:筛选单元1102,传送单元1104。通过筛选单元从除第一加工设备之外的多个加工设备中选择已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值的一个加工设备作为第二加工设备,其中,待加工的产品符合多个加工设备的加工条件;再由传送单元,将待加工的产品传送到第二加工设备。
通过本申请提供的实施例,当缺陷检测状态指示第一加工设备在接收到待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值时,可以指示第二加工设备进行加工生产。对加工设备的宏观控制调度,有效地降低了产品的缺陷率。
本发明提供了一种优选的实施例来进一步对本发明进行解释,但是值得注意的是,该优选实施例只是为了更好的描述本发明,并不构成对本发明不当的限定。
从以上的描述中,可以看出,本发明实现了如下技术效果:实时进行缺陷检测,合理化生产,提早派工,降低了产品的缺陷率。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (12)

1.一种生产派工的方法,其特征在于,包括:
在待加工的产品传送到第一加工设备时,获取所述第一加工设备的缺陷检测状态;
若所述缺陷检测状态指示所述第一加工设备在接收到所述待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值,则指示所述第一加工设备对所述待加工的产品进行加工;
若所述缺陷检测状态指示所述第一加工设备在接收到所述待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值,则指示第二加工设备对所述待加工的产品进行加工;
其中,在所述待加工的产品传送到所述第一加工设备之前,包括:获取包括所述第一加工设备和所述第二加工设备在内的多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态,其中,
所述获取包括所述第一加工设备和所述第二加工设备在内的多个加工设备的缺陷检测状态包括:从所述多个加工设备中的每一个设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品;对抽出的所述预定个数的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数;根据所述预定个数和所述存在缺陷的产品的个数计算得到所述多个加工设备中的每一个已加工出的产品的缺陷率;将所述多个加工设备中的每一个已加工出的产品的缺陷率分别与所述第一预定阈值进行比较,将比较得到的结果作为所述多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述第一加工设备的缺陷检测状态,包括:
从所述第一加工设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品;
对抽出的所述预定个数的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数;
根据所述预定个数和所述存在缺陷的产品的个数计算得到所述第一加工设备在接收到所述待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率;
将所述第一加工设备在接收到所述待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率与所述第一预定阈值进行比较,将比较得到的结果作为所述缺陷检测状态。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,每个预定的检测周期执行一次所述获取包括所述第一加工设备和所述第二加工设备在内的多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态的步骤。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在从所述多个加工设备中的每一个设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品之后,还包括:
若在一个所述检测周期内所述多个加工设备中的一个设备D对应的抽出的所述预定个数N与所述一个设备D已加工出的产品的个数M的比值N/M小于第二预定阈值,则通知所述设备D发出告警。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,若所述缺陷检测状态指示所述第一加工设备在接收到所述待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率高于所述第一预定阈值,包括:
指示所述第一加工设备停止工作;和/或
向控制系统发送告警信息,其中,所述告警信息用于指示所述第一加工设备存在缺陷。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述指示第二加工设备对所述待加工的产品进行加工包括:
从除所述第一加工设备之外的多个加工设备中选择已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值的一个加工设备作为所述第二加工设备,其中,所述待加工的产品符合所述多个加工设备的加工条件;
将所述待加工的产品传送到所述第二加工设备。
7.一种生产派工的装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于在待加工的产品传送到第一加工设备时,获取所述第一加工设备的缺陷检测状态;
第一指示模块,当所述待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值时,用于指示所述第一加工设备对所述待加工的产品进行加工;
第二指示模块,当所述待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值时,用于指示第二加工设备对所述待加工的产品进行加工;
其中,所述获取模块还用于获取包括所述第一加工设备和所述第二加工设备在内的多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态,其中,所述获取模块包括:
第二抽取单元,用于从所述多个加工设备中的每一个设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品;第二统计单元,用于对抽出的所述预定个数的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数;第二计算单元,用于根据所述预定个数和所述存在缺陷的产品的个数计算得到所述多个加工设备中的每一个在接收到所述待加工的产品之前已加工出的产品的缺陷率;第二比较单元,用于将所述多个加工设备中的每一个已加工出的产品的缺陷率分别与所述第一预定阈值进行比较,将比较得到的结果作为所述多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述获取模块包括:
第一抽取单元,用于从所述第一加工设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品;
第一统计单元,用于对抽出的所述预定个数的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数;
第一计算单元,用于根据所述预定个数和所述存在缺陷的产品的个数计算得到所述第一加工设备在接收到所述待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率;
第一比较单元,用于将所述第一加工设备在接收到所述待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率与所述第一预定阈值进行比较,将比较得到的结果作为所述缺陷检测状态。
9.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,还包括:
更新模块,用于每个预定的检测周期执行一次所述获取包括所述第一加工设备和所述第二加工设备在内的多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态的步骤。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,还包括:
判断模块,用于判断在一个所述检测周期内所述多个加工设备中的一个设备D对应的抽出的所述预定个数N与所述一个设备D已加工出的产品的个数M的比值N/M小于第二预定阈值;
通知模块,用于通知所述设备D发出告警。
11.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述第一指示模块包括:
指示单元:用于指示所述第一加工设备停止工作;
告警单元,用于向控制系统发送告警信息,其中,所述告警信息用于指示所述第一加工设备存在缺陷。
12.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述第二指示模块包括:
筛选单元,用于从除所述第一加工设备之外的多个加工设备中选择已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值的一个加工设备作为所述第二加工设备,其中,所述待加工的产品符合所述多个加工设备的加工条件;
传送单元,将所述待加工的产品传送到所述第二加工设备。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117723550B (zh) * 2024-02-18 2024-06-25 宁德时代新能源科技股份有限公司 产品质量检测设备的检测方法、装置和电子设备

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1773667A (zh) * 2004-11-08 2006-05-17 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 半导体制造厂产品加工目录自动跟踪监测系统
CN1855359A (zh) * 2005-04-18 2006-11-01 力晶半导体股份有限公司 决定机器派工顺序的方法以及使用该方法的制造系统

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100292028B1 (ko) * 1997-12-05 2001-06-01 윤종용 반도체 장비의 실시간 제어방법
US7401066B2 (en) * 2002-03-21 2008-07-15 Applied Materials, Inc. Correlation of end-of-line data mining with process tool data mining
JP2004047885A (ja) * 2002-07-15 2004-02-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体製造装置のモニタリングシステム及びモニタリング方法
JP2005165546A (ja) * 2003-12-01 2005-06-23 Olympus Corp 工程管理システムおよび工程管理装置
CN101399216B (zh) * 2007-09-26 2010-09-29 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 缺陷分析方法和系统
CN101738992B (zh) * 2008-11-14 2012-05-16 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 对产品进行在线检测的方法以及装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1773667A (zh) * 2004-11-08 2006-05-17 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 半导体制造厂产品加工目录自动跟踪监测系统
CN1855359A (zh) * 2005-04-18 2006-11-01 力晶半导体股份有限公司 决定机器派工顺序的方法以及使用该方法的制造系统

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