CN104777610A - 一种利用分小组方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种利用分小组方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法,其包括有以下工艺步骤:a、实测有偏差的分光曲线及数据;b、利用TPC薄膜膜系设计软件打开原设计程序,保存原设计曲线、各膜层参数并删除原目标设定数据;c、导入实测数据并显示新目标分光曲线;d、利用分组功能按照实际光控分点法进行分组;e、利用交互式分析功能分别对每个组的工具因子加大或者减小,模拟找出影响分光曲线偏差的关键层;f、利用组优化功能对所有组进行优化,并找出影响最大的若干组;g、将除步骤f所找出的组以外的其他组进行锁定,再优化以找出改善方向。本发明能够有效且快速地找出造成偏差的原因,从而有利于确定生产加工改善的方向并纠正偏差。
Description
技术领域
本发明涉及滤光片技术领域,尤其涉及一种利用分小组方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法。
背景技术
对于具有摄像功能的手机而言,其镜头模组一般包括有支撑底座、红外截止滤光片、透镜以及摄像头传感器,其中,红外截止滤光片、透镜以及摄像头传感器粘合连接在支撑底座上。
对于红外截止滤光片而言,其由蓝玻璃以及镀覆于蓝玻璃表面的红外截止膜组成;在红外截止膜制作过程中,由于种种原因会造成制造误差,进而造成分光曲线变异并超出技术规格要求而成为不良品;其中,分光曲线变异一般是由膜系中的某些膜层的厚度或折射率偏差而造成的,所以,找到这些导致分光曲线变异的膜层就成为改善的关键。
对于现有技术而言,由于红外截止膜层数较多,当出现实镀分光曲线与所设计的分光曲线不符时,难以很快找到原因,有时不得不考虑重新设计新的膜系,或者从设备参数、工艺参数等方面调整,相对把握不大,改善的周期延长,不利于品质改善。
发明内容
本发明的目的在于针对现有技术的不足而提供一种利用分小组方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法,当实镀分光曲线与所设计的分光曲线不符时,该利用分小组方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法能够有效且快速地找出造成偏差的原因,从而有利于确定生产加工改善的方向并纠正偏差。
为达到上述目的,本发明通过以下技术方案来实现。
一种利用分小组方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法,包括有以下工艺步骤,具体为:
a、利用分光光度计实际测量红外截止滤光片的分光曲线,并获得有偏差的分光曲线以及数据;
b、利用TPC薄膜膜系设计软件打开与实际测量的红外截止滤光片相应的原设计程序,并保存原设计曲线以及各膜层参数,且删除原目标设定数据;
c、将实际测量的有偏差的分光曲线数据导入目标设定中,并显示新目标分光曲线;
d、利用TFC薄膜膜系设计软件的分组功能将红外截止膜的所有膜层按照实际光控分点法进行分组,将第1膜层、第2膜层分为第一组,第3膜层、第4膜层分为第2组,第5膜层、第6膜层分为第3组,依次类推,将所有膜层分为若干组;
e、利用TFC薄膜膜系设计软件的交互式分析功能分别对每个组的工具因子加大或者减小,模拟找出影响分光曲线偏差的关键层;
f、利用TFC薄膜膜系设计软件的组优化功能对所有组进行优化,并根据优化结果找出影响最大的若干组,且所找出的组数不超过3组;
g、将除步骤f所找出的组以外的其他组进行锁定,再利用TFC薄膜膜系设计软件的组优化功能对步骤f所找出的组进行优化,以找出改善方向。
本发明的有益效果为:本发明所述的一种利用分小组方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法,其包括有以下工艺步骤:a、利用分光光度计实际测量红外截止滤光片的分光曲线,并获得有偏差的分光曲线以及数据;b、利用TPC薄膜膜系设计软件打开与实际测量的红外截止滤光片相应的原设计程序,并保存原设计曲线以及各膜层参数,且删除原目标设定数据;c、将实际测量的有偏差的分光曲线数据导入目标设定中,并显示新目标分光曲线;d、利用TFC薄膜膜系设计软件的分组功能将红外截止膜的所有膜层按照实际光控分点法进行分组,将第1膜层、第2膜层分为第一组,第3膜层、第4膜层分为第2组,第5膜层、第6膜层分为第3组,依次类推,将所有膜层分为若干组;e、利用TFC薄膜膜系设计软件的交互式分析功能分别对每个组的工具因子加大或者减小,模拟找出影响分光曲线偏差的关键层;f、利用TFC薄膜膜系设计软件的组优化功能对所有组进行优化,并根据优化结果找出影响最大的若干组,且所找出的组数不超过3组;g、将除步骤f所找出的组以外的其他组进行锁定,再利用TFC薄膜膜系设计软件的组优化功能对步骤f所找出的组进行优化,以找出改善方向。通过上述工艺步骤设计,当实镀分光曲线与所设计的分光曲线不符时,本发明所述的利用分小组方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法能够有效且快速地找出造成偏差的原因,从而有利于确定生产加工改善的方向并纠正偏差。
具体实施方式
下面结合具体的实施方式来对本发明进行说明。
一种利用分小组方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法,包括有以下工艺步骤,具体为:
a、利用分光光度计实际测量红外截止滤光片的分光曲线,并获得有偏差的分光曲线以及数据;
b、利用TPC薄膜膜系设计软件打开与实际测量的红外截止滤光片相应的原设计程序,并保存原设计曲线以及各膜层参数,且删除原目标设定数据;
c、将实际测量的有偏差的分光曲线数据导入目标设定中,并显示新目标分光曲线;
d、利用TFC薄膜膜系设计软件的分组功能将红外截止膜的所有膜层按照实际光控分点法进行分组,将第1膜层、第2膜层分为第一组,第3膜层、第4膜层分为第2组,第5膜层、第6膜层分为第3组,依次类推,将所有膜层分为若干组;
e、利用TFC薄膜膜系设计软件的交互式分析功能分别对每个组的工具因子加大或者减小,模拟找出影响分光曲线偏差的关键层;
f、利用TFC薄膜膜系设计软件的组优化功能对所有组进行优化,并根据优化结果找出影响最大的若干组,且所找出的组数不超过3组;
g、将除步骤f所找出的组以外的其他组进行锁定,再利用TFC薄膜膜系设计软件的组优化功能对步骤f所找出的组进行优化,以找出改善方向。
综合上述情况可知,通过上述工艺步骤设计,当实镀分光曲线与所设计的分光曲线不符时,本发明所述的利用分小组方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法能够有效且快速地找出造成偏差的原因,从而有利于确定生产加工改善的方向并纠正偏差。
以上内容仅为本发明的较佳实施例,对于本领域的普通技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (1)
1.一种利用分小组方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法,其特征在于,包括有以下工艺步骤,具体为:
a、利用分光光度计实际测量红外截止滤光片的分光曲线,并获得有偏差的分光曲线以及数据;
b、利用TPC薄膜膜系设计软件打开与实际测量的红外截止滤光片相应的原设计程序,并保存原设计曲线以及各膜层参数,且删除原目标设定数据;
c、将实际测量的有偏差的分光曲线数据导入目标设定中,并显示新目标分光曲线;
d、利用TFC薄膜膜系设计软件的分组功能将红外截止膜的所有膜层按照实际光控分点法进行分组,将第1膜层、第2膜层分为第一组,第3膜层、第4膜层分为第2组,第5膜层、第6膜层分为第3组,依次类推,将所有膜层分为若干组;
e、利用TFC薄膜膜系设计软件的交互式分析功能分别对每个组的工具因子加大或者减小,模拟找出影响分光曲线偏差的关键层;
f、利用TFC薄膜膜系设计软件的组优化功能对所有组进行优化,并根据优化结果找出影响最大的若干组,且所找出的组数不超过3组;
g、将除步骤f所找出的组以外的其他组进行锁定,再利用TFC薄膜膜系设计软件的组优化功能对步骤f所找出的组进行优化,以找出改善方向。
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