CN104735707B - 一种故障天线定位方法、装置及电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供一种故障天线定位方法、装置及电子设备。方法包括：获取小区天线的至少一个水平辐射角度区间中每个区间对应的赋形重建参数；根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果；当所述判断结果为是时，确定所述天线发生故障。本发明实施例避免了通过天线增益计算判断天线故障的不准确问题。

Description

一种故障天线定位方法、装置及电子设备

技术领域

本发明涉及无线通信技术领域，尤其涉及一种故障天线定位方法、装置及电子设备。

背景技术

随着无线网络的逐步扩大，无线设备的问题性能问题也逐步浮现，特别是随着近两年城市基站建设的密度加大，天线性能问题也开始引起运营商越来越大的关注。特别是由于天线设备逐步老化、集采天线的振子或馈电线路工艺不达标从而造成天线增益严重下降，大大影响网络覆盖深度及客户感知。

针对此问题，目前一般采用以下方法排查和优化：

一是通过第三方权威机构，对现网天线拆卸后送到实验室进行分析。该方法测试数据准确，但是投入的费用较大且周期长，最大问题是由于天线拆卸有可能对现网稳定性造成影响。

二是通过定点扫频方式进行。

使用测试系统，结合通话+扫频的模式，其中MS1采用通话与锁频通话模式，目的是发现载波的隐性故障；MS2采用扫频模式，目的是通过扫目标基站全部小区的BCCHNO，还原目标的场强图。通过同点不同方位的天线之间的信号强弱关系进行对比（相对关系）推算增益等指标是否正常。如图1A和图1B所示，对应合格的天线波瓣，一个共站小区三个天线最强辐射方向应该在自己主覆盖方向上，沿着旁瓣辐射强度慢慢下降，直到背瓣辐射强度最少；对应不合格的天线波瓣，上述辐射特征并不明显。

上述方法直观、简单，且由于接近基站端，采用相对场强进行判断，准确率较高。但是由于该方法只适用于单站测试，如果需要区域性覆盖分析或者全网覆盖分析，该方法人力成本及时间成本将十分巨大，时效性差。

三是采用路测的方式反向推算小区天线发射增益。如图2所示，通过终端接收场强，以及天线发射功率和路损，计算理论接收场强。

假定参考值：

1、机架顶输出功率为X，且小区配置参数中BSPWRB/BSPWRT为固定的小区最大值；天馈线损耗取以下参考值：900M：7/8″馈线约为5dB/100m；5/4″馈线约为3dB/100m1800M：7/8″馈线约为6dB/100m；5/4″馈线约为4dB/100m。

2、到达终端信号强度为Y，且Y为经过软件计算的平均信号强度滤波值；如网络开启功率控制等功能，加入权重修正值Y1；

3、理想无线环境下信号损耗为Z，需要定义各种无线环境传播模型分别代表为Z1，Z2，Z3等等。

信号强度Y=输出功率X-天馈线损耗+天线增益G-信号损耗Z。

反推天线增益为：

天线增益G=信号强度Y-输出功率X+天馈线损耗+信号损耗Z。

从而判断天线增益是否正常。

由于信号的空间传播受传播无线链路环境影响较大，在城区建筑楼宇密集区域，无线环境十分复杂，对于以上公式推算出的天线增益G误差较大，而且受上下行功控影响，准确率较低。也就是说，通过天线增益计算判断天线故障是不准确的。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的是提供一种故障天线定位方法、装置及电子设备，以避免通过天线增益计算判断天线故障的不准确问题。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供方案如下：

本发明实施例提供一种故障天线定位方法，包括：

获取小区天线的至少一个水平辐射角度区间中每个区间对应的赋形重建参数；

根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果；

当所述判断结果为是时，确定所述天线发生故障。

优选地，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第一子集；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第一子集的采样点数目与所述多个采样点数目的第一比值、位于所述第一子集的采样点对应的场强的第一平均值、和位于所述第一子集的采样点对应的与所述小区的通信距离的第二平均值；

所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：

判断所述第一比值不小于第一门限值、所述第一平均值小于第二门限值和所述第二平均值不大于第三门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

优选地，所述第一子集为[-30度，30度]角度区间，所述第一门限值大于或等于20%，所述第二门限值小于或等于90dBm，所述第三门限值小于或等于500米。

优选地，所述故障为天线增益故障。

优选地，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时旁瓣所在的第一角度区间；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第一角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第二比值；

所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：

判断所述第二比值是否不小于一第四门限值，如果是，则所述判断结果为是。

优选地，所述第一角度区间为[60度，150度]和[-150度，-60度]角度区间，所述第四门限值大于或等于80%。

优选地，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时旁瓣所在的第二角度区间和所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第二子集；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第二角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第三比值、位于所述第二子集的采样点数目与所述多个采样点数目的第四比值、位于所述第二角度区间的采样点中对应场强最强的第一设定数目个采样点对应的场强的第三平均值、和位于所述第二子集的采样点中对应场强最强的第一设定数目个采样点对应的场强的第四平均值；

所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：

判断所述第三比值小于第五门限值、所述第三比值不小于第六门限值、所述第四比值不小于第七门限值和所述第三平均值大于所述第四平均值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

优选地，所述第二角度区间为[60度，150度]和[-150度，-60度]角度区间，所述第二子集为[-30度，30度]角度区间，所述第五门限值小于或等于80%，所述第六门限值大于或等于50%，所述第七门限值大于或等于10%，所述第一设定数目为30。

优选地，所述故障为天线旁瓣变形或天线旁瓣过覆盖。

优选地，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第三角度区间；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第三角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第五比值；

所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：

判断所述第五比值是否不小于一第八门限值，如果是，则所述判断结果为是。

优选地，所述第三角度区间为[150度，180度]和[-180度，-150度]角度区间，所述第八门限值大于或等于30%。

优选地，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第四角度区间；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第四角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第六比值和位于所述第四角度区间的采样点对应的与所述小区的通信距离的第五平均值；

所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：

判断所述第六比值小于一第九门限值、所述第六比值不小于一第十门限值和所述第五平均值不小于一第十一门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

优选地，所述第四角度区间为[150度，180度]和[-180度，-150度]角度区间，所述第九门限值小于或等于30%，所述第十门限值大于或等于3%，所述第十一门限值大于或等于500米。

优选地，所述故障为天线后瓣覆盖。

优选地，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第五角度区间和所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第三子集；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第五角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第七比值、位于所述第五角度区间的采样点对应的与所述小区的通信距离的第六平均值、位于所述第三子集的采样点数目与所述多个采样点数目的第八比值、位于所述第五角度区间的采样点中对应场强最强的第二设定数目个采样点对应的场强的第七平均值、和位于所述第三子集的采样点中对应场强最强的第二设定数目个采样点对应的场强的第八平均值；

所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：

判断所述第七比值小于一第十二门限值、所述第七比值不小于一第十三门限值、所述第六平均值小于一第十四门限值、所述第八比值不小于一第十五门限值、所述第八平均值与所述第七平均值之差小于一第十六门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

优选地，所述第五角度区间为[150度，180度]和[-180度，-150度]角度区间，所述第三子集为[-30度，30度]角度区间，所述第十二门限值小于或等于30%，所述第十三门限值大于或等于3%，所述第十四门限值小于或等于500米，所述第十五门限值大于或等于10%，所述第二设定数目为5，所述第十六门限值小于或等于10dBm。

优选地，所述故障为前后比不达标。

本发明实施例还提供一种故障天线定位装置，包括：

获取模块，用于获取小区天线的至少一个水平辐射角度区间中每个区间对应的赋形重建参数；

判断模块，用于根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果；

确定模块，用于当所述判断结果为是时，确定所述天线发生故障。

优选地，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第一子集；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第一子集的采样点数目与所述多个采样点数目的第一比值、位于所述第一子集的采样点对应的场强的第一平均值、和位于所述第一子集的采样点对应的与所述小区的通信距离的第二平均值；

所述判断模块包括：

第一判断单元，用于判断所述第一比值不小于第一门限值、所述第一平均值小于第二门限值和所述第二平均值不大于第三门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

优选地，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时旁瓣所在的第一角度区间；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第一角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第二比值；

所述判断模块包括：

第二判断单元，用于判断所述第二比值是否不小于一第四门限值，如果是，则所述判断结果为是。

优选地，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时旁瓣所在的第二角度区间和所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第二子集；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第二角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第三比值、位于所述第二子集的采样点数目与所述多个采样点数目的第四比值、位于所述第二角度区间的采样点中对应场强最强的第一设定数目个采样点对应的场强的第三平均值、和位于所述第二子集的采样点中对应场强最强的第一设定数目个采样点对应的场强的第四平均值；

所述判断模块包括：

第三判断单元，用于判断所述第三比值小于第五门限值、所述第三比值不小于第六门限值、所述第四比值不小于第七门限值和所述第三平均值大于所述第四平均值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

优选地，角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第三角度区间；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第三角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第五比值；

所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：

第四判断单元，用于判断所述第五比值是否不小于一第八门限值，如果是，则所述判断结果为是。

优选地，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第四角度区间；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第四角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第六比值和位于所述第四角度区间的采样点对应的与所述小区的通信距离的第五平均值；

所述判断模块包括：

第五判断单元，用于判断所述第六比值小于一第九门限值、所述第六比值不小于一第十门限值和所述第五平均值不小于一第十一门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

优选地，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第五角度区间和所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第三子集；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第五角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第七比值、位于所述第五角度区间的采样点对应的与所述小区的通信距离的第六平均值、位于所述第三子集的采样点数目与所述多个采样点数目的第八比值、位于所述第五角度区间的采样点中对应场强最强的第二设定数目个采样点对应的场强的第七平均值、和位于所述第三子集的采样点中对应场强最强的第二设定数目个采样点对应的场强的第八平均值；

所述判断模块包括：

第六判断单元，用于判断所述第七比值小于一第十二门限值、所述第七比值不小于一第十三门限值、所述第六平均值小于一第十四门限值、所述第八比值不小于一第十五门限值、所述第八平均值与所述第七平均值之差小于一第十六门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

本发明实施例还提供一种电子设备，包括如权利要求18至24中任一权利要求所述的故障天线定位装置。

从以上所述可以看出，本发明实施例至少具有如下有益效果：

通过获得小区天线的区间赋形重建参数并据此判断天线在区间内的辐射异常条件是否满足，在满足时确定天线发生故障，从而通过天线区间赋形重建的方式实现了对天线故障的判定，避免了通过天线增益计算判断天线故障的不准确问题。

附图说明

图1A表示测试示意图（合格的天线波瓣）；

图1B表示测试示意图（不合格的天线波瓣）；

图2表示通信模型示意图；

图3表示本发明实施例提供的一种故障天线定位方法的步骤流程图；

图4表示分区间赋形分析原理图；

图5表示覆盖方向偏差角度示意图；

图6表示过覆盖指数示意图；

图7表示不同过覆盖指数的Rxqual和Rxlev关联分析图；

图8A表示不同过覆盖指数不理分析图（DCS1800小区）；

图8B表示不同过覆盖指数不理分析图（GSM900小区）；

图9表示通信距离和传播损耗的关系示意图；

图10表示增益故障定位算法流程图；

图11表示分区间赋形重建示意图（增益故障）；

图12A表示半功率角波束宽度分析示意图（3dB波束宽度）；

图12B表示半功率角波束宽度分析示意图（10dB波束宽度）；

图13表示功率增益下降分析示意图；

图14表示旁瓣变形/旁瓣过覆盖定位算法流程；

图15表示分区间赋形重建示意图（旁瓣变形/旁瓣过覆盖）；

图16表示前后比示意图；

图17表示前后比不达标/后瓣覆盖定位算法流程图；

图18表示分区间赋形重建示意图（前后比不达标/后瓣覆盖）；

图19表示本发明实施例提供的一种故障天线定位装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例对本发明实施例进行详细描述。

图3表示本发明实施例提供的一种故障天线定位方法的步骤流程图，参照图3，本发明实施例提供一种故障天线定位方法，包括如下步骤：

步骤301，获取小区天线的至少一个水平辐射角度区间中每个区间对应的赋形重建参数；

步骤302，根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果；

步骤303，当所述判断结果为是时，确定所述天线发生故障。

可见，通过获得小区天线的区间赋形重建参数并据此判断天线在区间内的辐射异常条件是否满足，在满足时确定天线发生故障，从而通过天线区间赋形重建的方式实现了对天线故障的判定，避免了天线增益计算的不准确问题。

其中，所述至少一个水平辐射角度区间可以为±[0度，15度]、±[16度，30度]、±[31度，60度]，±[61度，90度]、±[91度，120度]、±[121度，150度]和±[151度，180度]等十四个区间中的至少一个。

赋形重建参数为用于对所述天线的水平辐射波瓣在所述每个区间的部分进行赋形重建的参数，例如，可以基于路测得到的采样点的采样数据得到。

对于所述至少一个水平辐射角度区间中每个区间：

该区间对应的赋形重建参数，可以根据所述小区的多个采样点中位于该区间的所有采样点的采样数据得到。

其中，采样数据例如：采样点的地理位置信息，采样点对应的场强等。其中，地理位置信息可以包括经度和纬度。

位于该区间的所有采样点可以通过如下方式选择得到：

对于所述多个采样点中每个采样点：

根据该采样点的地理位置信息和所述天线的地理位置信息和方向角度，确定该采样点所在的所述天线的水平辐射角度，相对于所述天线的方向角度的偏差角度；

根据所述偏差角度，判断该采样点是否位于该区间，如果是，则将该采样点作为选择出的一个采样点。

所述根据该采样点的地理位置信息和所述天线的地理位置信息和方向角度，确定该采样点所在的所述天线的水平辐射角度，相对于所述天线的方向角度的偏差角度具体可以包括：

根据该采样点的经度和纬度、和所述天线的经度和纬度，确定该采样点与所述天线之间的经度距离d_lat和纬度距离d_lon；

将90度-arctan(d_lat/d_lon)-所述天线的方向角度的计算结果作为该偏差角度。

这样，当遍历所述采样点后，就选择出了位于该区间的所有采样点。

在本发明实施例中，可以通过如下几种方式来定位天线故障问题。

<方式一>

所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第一子集；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第一子集的采样点数目与所述多个采样点数目的第一比值、位于所述第一子集的采样点对应的场强的第一平均值、和位于所述第一子集的采样点对应的与所述小区的通信距离的第二平均值；

所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：

判断所述第一比值不小于第一门限值、所述第一平均值小于第二门限值和所述第二平均值不大于第三门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。其中，所述第一子集可以为主瓣的半功率角波束宽度所在的角度区间，例如[-30度，30度]角度区间，相应地，各门限值可以由理论推导得出或者理论推导结合工程经验修正来得到，例如：

所述第一门限值大于或等于20%，所述第二门限值小于或等于90dBm，所述第三门限值小于或等于500米。

所述故障具体可以为天线增益故障。

<方式二>

所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时旁瓣所在的第一角度区间；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第一角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第二比值；

所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：

判断所述第二比值是否不小于一第四门限值，如果是，则所述判断结果为是。

其中，所述第一角度区间可以为[60度，150度]和[-150度，-60度]角度区间，相应地，门限值可以由理论推导得出或者理论推导结合工程经验修正来得到，例如：

所述第四门限值大于或等于80%。

<方式三>

所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时旁瓣所在的第二角度区间和所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第二子集；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第二角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第三比值、位于所述第二子集的采样点数目与所述多个采样点数目的第四比值、位于所述第二角度区间的采样点中对应场强最强的第一设定数目个采样点对应的场强的第三平均值、和位于所述第二子集的采样点中对应场强最强的第一设定数目个采样点对应的场强的第四平均值；

所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：

判断所述第三比值小于第五门限值、所述第三比值不小于第六门限值、所述第四比值不小于第七门限值和所述第三平均值大于所述第四平均值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

其中，所述第二角度区间可以为[60度，150度]和[-150度，-60度]角度区间，所述第二子集可以为主瓣的半功率角波束宽度所在的角度区间，例如[-30度，30度]角度区间，相应地，门限值及设定数目可以由理论推导得出或者理论推导结合工程经验修正来得到，例如：

所述第五门限值小于或等于80%，所述第六门限值大于或等于50%，所述第七门限值大于或等于10%，所述第一设定数目为30。

方式二和方式三中，所述故障具体可以为天线旁瓣变形或天线旁瓣过覆盖。

<方式四>

所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第三角度区间；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第三角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第五比值；

所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：

判断所述第五比值是否不小于一第八门限值，如果是，则所述判断结果为是。

其中，所述第三角度区间可以为[150度，180度]和[-180度，-150度]角度区间，相应地，门限值可以由理论推导得出或者理论推导结合工程经验修正来得到，例如：

所述第八门限值大于或等于30%。

<方式五>

所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第四角度区间；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第四角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第六比值和位于所述第四角度区间的采样点对应的与所述小区的通信距离的第五平均值；

所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：

判断所述第六比值小于一第九门限值、所述第六比值不小于一第十门限值和所述第五平均值不小于一第十一门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

其中，所述第四角度区间可以为[150度，180度]和[-180度，-150度]角度区间，相应地，各门限值可以由理论推导得出或者理论推导结合工程经验修正来得到，例如：

所述第九门限值小于或等于30%，所述第十门限值大于或等于3%，所述第十一门限值大于或等于500米。

方式四和方式五中，所述故障为天线后瓣覆盖。

<方式六>

所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第五角度区间和所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第三子集；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第五角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第七比值、位于所述第五角度区间的采样点对应的与所述小区的通信距离的第六平均值、位于所述第三子集的采样点数目与所述多个采样点数目的第八比值、位于所述第五角度区间的采样点中对应场强最强的第二设定数目个采样点对应的场强的第七平均值、和位于所述第三子集的采样点中对应场强最强的第二设定数目个采样点对应的场强的第八平均值；

所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：

判断所述第七比值小于一第十二门限值、所述第七比值不小于一第十三门限值、所述第六平均值小于一第十四门限值、所述第八比值不小于一第十五门限值、所述第八平均值与所述第七平均值之差小于一第十六门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

其中，所述第五角度区间可以为[150度，180度]和[-180度，-150度]角度区间，所述第三子集可以为主瓣的半功率角波束宽度所在的角度区间，例如[-30度，30度]角度区间，相应地，门限值及设定数目可以由理论推导得出或者理论推导结合工程经验修正来得到，例如：

所述第十二门限值小于或等于30%，所述第十三门限值大于或等于3%，所述第十四门限值小于或等于500米，所述第十五门限值大于或等于10%，所述第二设定数目为5，所述第十六门限值小于或等于10dBm。

其中，所述故障具体可以为前后比不达标。

所述天线具体可以为定向天线。

需要说明的是，在工程实践中，对于上述各种方式，为保证赋形重建参数的精度，所述小区的多个采样点的数目可以大于300。

为将本发明实施例阐述得更加清楚明白，下面提供本发明实施例的较佳实施方式。

本较佳实施方式提出一种分区间赋形重建的天线覆盖分析方法，把天线360°空间范围进行区间划分与数据统计。本较佳实施方式提出一种对天线增益等各类天线故障定位算法，通过每区间内Rxlev、通信距离等指标关联分析，自动定位各类天线故障。本较佳实施方式具有简单易行、高效、直观等特点。

本较佳实施方式提供一种基于路测数据分区间赋形重建的故障天线定位算法。本较佳实施方式涉及天线覆盖赋形分析及路测数据在故障天线定位分析中的研究和应用。

本较佳实施方式把天线水平辐射波瓣按照不同方向角度区间进行划分，分别是±[0,15],±[16,30],±[31,60],±[61,90],±[91,120],±[121,150],±[151,180]共14个区间，其中，正180°和负180°刚好重合，共360°，通过不同区间的路测数据Rxlev MAX，RxlevAverage，过覆盖指数，绝对通信距离多维度进行关联分析，准确定位出天线增益故障、天线波瓣变形、天线前后比不达标、主瓣/旁瓣/后瓣过覆盖四种天线问题。

参照图4，正常天线路测数据的区间赋形重建，采样点集中在±60°的主瓣范围内，且最强relev集中在0°（主方向角）附近，接收场强大于-80dBm（考虑到无线环境中的阻挡）。图4中两端上部有箭头的阴影区域共5个，从左数第1个和第5个说明了后瓣区域（图4中为背瓣区域），从左数第2个和第4个说明了旁瓣区域，从左数第3个说明了主瓣区域；图4中高度超过阴影区域上部箭头尖高度的竖线条代表不同度数。

需要说明的是，采样点其实就是终端，因为在测试的时候，手机终端是在不断移动着的，而每隔一段固定时间，会向自己当前所占用的服务小区上报一次信息，这个不断上报的过程，也就是终端在每个位置上的打点，即采样点。每个采样点包含了RXLEV（场强）、RXQUAL（质差）、经纬度等信息。

采样点具体在哪个小区不用人工判断，系统自动生成的，直接可以读取得知。

下面分几个方面对本较佳实施方式进行具体详细地说明：

方面一、算法定义

1、覆盖方向偏差角度

覆盖方向偏差指服务小区与采样点位置的直线与该小区的方向角的最小夹角：

覆盖方向偏差角度θ=90-arctan（d_lat/d_lon）-DIR_cell

其中：DIR_cell是小区天线方向角度，d_lon是样点与基站的经度距离，d_lat是样点与基站的纬度距离。参照图5，汽车即测试终端；粗线表示扇区，相当于小区；与粗线相交的向右上方伸展的射线表示扇区的中心线。

某角度区间内，例如[-30度，30度]内的采样点是指按上式计算出的覆盖方向偏差角度属于[-30度，30度]的所有采样点。

理论上对于3个小区的基站，一个小区的覆盖角度水平广度为120度，即相对于中心线的±60度，所以如果覆盖方向偏差高于60度，那么存在背向或旁瓣覆盖的可能。如果信号来自直放站而非基站直接信号，或者提供的小区方向角错误，可能出现结果不准确的情况，在后期的优化中，可以参照DT结果中的TA信息、以及直放站信息，确定小区的覆盖是否存在问题。

2、区间过覆盖指数与小区过覆盖指数

区间过覆盖指数是指各天线各角度区间内，以每个采样点位置（即该采样点的经纬度）为圆心，该采样点与服务小区距离L为半径划分一个区域（参见图6），在此区域内所有非服务小区站点与服务小区站点根据与该采样点的距离进行排序，距离越近，排序越高。服务小区的排序数值则是该采样点的过覆盖指数，区间过覆盖指数则是该区间内全部采样点的过覆盖指数的平均值，小区过覆盖指数则是该小区内全部采样点的过覆盖指数的平均值。

区间过覆盖指数

小区过覆盖指数

其中，m>=n，角度区间内有n个采样点，是该角度区间内，全部采样点的过覆盖指数平均。小区共有m个采样点，α是该小区内，全部采样点的过覆盖指数平均。

定义是每一个采样点的过覆盖指数，统计方式是：对于某一个采样点，以其经纬度和该采样点所在的主服小区经纬度，计算出该采样点与其主服小区的距离L，并以此采样点经纬度为圆心，以L为半径作一个圆形区域，圆形区域内所包含的其他小区分别记为C1，……，Cn，这些小区与采样点的距离记为L1，……，Ln，之后，把L，L1。。。Ln进行从小到大排序，L所在的排序位置即为根据理论分析，采样点应该占用最近的小区作为主服小区，所以理论上是最佳情况，随着an不断增大，可能是采样点由于过覆盖占用了非最佳小区。

因为一个区间范围有若干个采样点，如有n个采样点，即某一个区间范围内（例如正负30°区间范围内）全部采样点过覆盖指数的平均值，记为区间过覆盖指数，这是一个区间量级的统计；

而一个小区又包含7个不同区间，如果全部区间共有m个采样点，α即某一个小区全部采样点（包含7个区间）的过覆盖指数的平均值，记为小区过覆盖指数，这是一个小区量级的统计。

例如，某主服小区与采样点距离D主，以D主为半径的一个圆形区域内，有两个其他站点小区1和小区2，与采样点距离分别为D1和D2，且D1<D2<D主（D主排序第三），则该小区（或者该角度区间）内，小区过覆盖指数（区间过覆盖指数）为3。小区（或者该角度区间）的过覆盖指数越高，说明该采样点距离主服小区距离越远，主服小区过覆盖可能性越大。注意，排名结果不能保证百分百准确，因为计算的距离为采样点与基站之间的距离，不排除有的采样点使用了基站所属的直放站信号，而非基站直接信号，而直放站和基站的位置一般是不同的，从而发生了错误。根据计算结果，出现明显过覆盖的小区，在后期的优化中，可以参照DT结果中的TA信息、以及直放站信息，确定小区是否存在过覆盖。

表1中的排名也就是过覆盖指数，参照表1，分别对GSM900和DCS1800进行不同过覆盖指数的Rxqual和Rxlev关联分析：

表1 不同过覆盖指数的Rxqual和Rxlev关联分析

DCS1800为1800MHz数字蜂窝系统（Digital Cellular System at1800MHz）。GSM为全球移动通讯系统（Global System for Mobile Communications）。GSM900在900MHz频段，GSM1800在1800MHz频段。

图7中过覆盖指数1～15、>=16分别对应的GSM900平均DL（下行链路）RXQUAL和平均DL RXLEV(dBm)请参见表1，而表2给出了过覆盖指数1～15、>=16分别对应的GSM1800平均DLRXQUAL和平均DL RXLEV(dBm)。

表2

图8A和图8B分别为表1中DCS1800不同过覆盖指数占比和GSM900不同过覆盖指数占比的饼状图。参照图7、图8A以及图8B，DCS1800和GSM900的下行RxQual随着过覆盖指数的增大，均有上升的趋势。当过覆盖指数为4的时候，平均下行RxQual为过覆盖指数1的2倍，说明在地理上，非最佳服务小区覆盖对于RxQual的影响是非常大的。

方面二、天线增益故障定位算法

1、理论推算

对于GSM900小区，采用Okumura-Hata奥村模型进行传播损耗分析：

L_b城＝69.55+26.16lgf-13.82lgh_b-a(h_m)+(44.9-6.55lgh_b)(lgd)^γ

（1）MS天线修正因子

（2）远距离传播修正因子

对于DCS1800小区，采用COST-231模型进行传播损耗分析：

L_b城＝46.3+33.9lgf-13.82lgh_b-a(h_m)+(44.9-6.55lgh_b)(lgd)^γ

（1）MS有效高度修正因子

（2）远距离传播修正因子

hb、hm——基站、MS天线有效高度，单位为米，d的单位为km。

由以上两公式推算出通信距离和传播损耗的关系如图9所示。图9中，横轴表示通信距离，纵轴表示传播损耗。

以城区中心区域平均覆盖站距500米为例：

根据上式，f=900MHz，假设基站天线高度hb=40m，MS天线高度hm=1.5m，当d=500m时，推出：

Lmax=115.87dBm

假设P机架min=42dBm，且天线平均增益G天线14dBm，推出：

RXLEVmin=P机架min+G天线-Lmax=-59.87dBm

同理可以求出，当f=1800MHz时：

Lmax=125.59dBm

假设P机架min=41dBm，且天线平均增益G天线17dBm，推出：

RXLEVmin=P机架min+G天线-Lmax=-67.59dBm

综合考虑由于复杂无线链路环境阻挡导致衰减增加25dBm，设定Rxlev Min门限值分别为：

Rxlev Min900>=-85dBm；

Rxlev Min1800>=-90dBm。

为简单计算，不妨令：

Relev Min900/1800>=-90dBm。

2、算法

在[-30°,30°]覆盖方向偏差角范围内的采样点进行赋形重建，参照图10，算法包括如下步骤：

步骤1001，区间赋形重建开始；

步骤1002，判断小区采样点数目是否大于300，如果是，则进入步骤1003；否则，进入步骤1007；

步骤1003，判断小区采样点中[-30°，30°]区间内采样点所占比例（区间内采样点比例）是否大于或等于20%，如果是，则进入步骤1004；否则，进入步骤1007；

步骤1004，判断小区采样点中[-30°，30°]区间内采样点的Rxlev的平均值（区间内采样点Rxlev Average）是否小于-90dBm，如果是，则进入步骤1005；否则，进入步骤1007；

步骤1005，判断小区采样点中[-30°，30°]区间内采样点的通信距离的平均值（区间内平均通信距离）是否小于或等于500，如果是，则进入步骤1006；否则，进入步骤1007；

步骤1006，确定小区天线发生增益故障；

步骤1007，结束分析。

小区天线发生增益故障的情况下小区采样点中对应各覆盖方向偏差角的采样点的场强和通信距离如图11所示。图11中2per.Mov.Avg(Rxlev)表示基于2个覆盖方向偏差角的场强移动平均值。

方面三、天线辐射波瓣变形定位算法

1、理论推算

半功率角波束宽度：在方向图主瓣范围内，相对最大辐射方向功率密度下降至一半时的角域宽度，也叫3dB波束宽度（半功率角波束宽度），如图12A所示。如图12B所示，每个扇区的天线在最大辐射方向偏离±60°时到达覆盖边缘，需要切换到相邻扇区工作。在±60°的切换角域，方向图电平应该有一个合理的下降：

多径反射传播：

P～1/R^n n=2～4

±60°的电平设计：

市区环境，n=3～3.5，推出9～10.5dB下降；

郊区环境，n=2，推出6dB下降。

理论仿真和实际应用结果表明：在密集建筑的城区，由于多径反射严重，为了减小相邻扇区之间的相互干扰，在±60°的电平下降至-10dB左右为好,反推半功率宽度约为65°；而在空旷的郊区，由于多径反射少，为了确保覆盖良好，在±60°的电平下降至-6dB左右为好，反推半功率宽度约为90°。

综上分析，对于图13，Cell A小区，覆盖区域主要集中在Cell A主波瓣角度±60°范围内，也就是说话务应该大部分集中在主波瓣角度±60°范围内，对于±60°～90°区域，由于切换带的存在，也会吸收一部分话务。理想情况下，对于Cell A，偏差主瓣方向±90°～180°，是没有话务吸收的，否则，就可能存在旁瓣覆盖、后波瓣覆盖或天线接反的可能。参见表3：佛山全网数据分析表。

表3 佛山全网数据分析

2、算法

在±[30°,150°]覆盖方向偏差角范围内的采样点进行赋形重建，参照图14，算法包括如下步骤：

步骤1401，区间赋形重建开始；

步骤1402，判断小区采样点数目是否大于300，如果是，则进入步骤1403；否则，进入步骤1408；

步骤1403，判断小区采样点中±[60°,150°]区间范围内采样点所占比例是否大于或等于80%，如果是，则进入步骤1407；否则，进入步骤1404；

步骤1404，判断小区采样点中±[60°,150°]区间范围内采样点所占比例是否大于或等于50%，如果是，则进入步骤1405；否则，进入步骤1408；

步骤1405，判断小区采样点中±[0°,30°]区间范围内采样点所占比例是否大于或等于10%，如果是，则进入步骤1406；否则，进入步骤1408；

步骤1406，判断±[60°,150°]区间范围内Rxlev最强的30个采样点的Rxlev的平均值是否大于±[0°,30°]区间范围内Rxlev最强的30个采样点的Rxlev的平均值，如果是，则进入步骤1407；否则，进入步骤1408。

步骤1407，确定小区天线发生旁瓣变形；

步骤1408，结束分析。

小区天线发生旁瓣变形的情况下小区采样点中对应各覆盖方向偏差角的采样点的场强和通信距离如图15所示。

方面四、天线后瓣覆盖算法

定向天线的前后比是指主瓣的最大辐射方向（规定为0°）的功率通量密度与相反方向附近（规定为180°±20°范围内）的最大功率通量密度之比值。如图16所示，天线主辐射方向的场强和背瓣方向的场强之差即为前后比。

对于网络中定向天线前后比性能的评估，可以通过收集大量的路测扫频数据，分别统计评估小区天线前向主波瓣特定覆盖方向偏差角度[-30°，30°]范围内各采样点上的最大信号强度RXLEV_F，和天线后向特定覆盖方向偏差角度[-150°，150°]范围内各采用点上的最大信号强度RXLEV_B，前后比等于：

F/B=max(RXLEV_F)-max(RXLEV_B)

在±[0°,30°]和±[150°,180°]覆盖方向偏差角范围内的采样点进行赋形重建，算法如图17所示，包括如下步骤：

步骤1701，区间赋形重建开始；

步骤1702，判断小区采样点数目是否大于300，如果是，则进入步骤1703；否则，进入步骤1710；

步骤1703，判断小区采样点中±[150°，180°]区间范围内采样点所占比例是否大于或等于30%，如果是，则进入步骤1708；否则，进入步骤1704；

步骤1704，判断小区采样点中±[150°，180°]区间范围内采样点所占比例是否大于或等于3%，如果是，则进入步骤1705；否则，进入步骤1710；

步骤1705，判断小区采样点中±[150°，180°]区间范围内采样点通信距离的平均值（区间内平均通信距离）是否大于或等于500米，如果是，则进入步骤1708；否则，进入步骤1706；

步骤1706，判断小区采样点中±[0°，30°]区间范围内采样点所占比例是否大于或等于10%，如果是，则进入步骤1707；否则，进入步骤1710；

步骤1707，判断小区采样点中±[0°，30°]区间范围内Rxlev最强的5个采样点的Rxlev的平均值与小区采样点中±[0°,30°]区间范围内Rxlev最强的5个采样点的Rxlev的平均值之差，是否小于10dBm，如果是，则进入步骤1709；否则，进入步骤1710。

步骤1708，确定小区天线发生后瓣覆盖；

步骤1708，确定小区天线发生前后比不达标；

步骤1710，结束分析。

小区天线发生前后比不达标或后瓣覆盖情况下小区采样点中对应各覆盖方向偏差角的采样点的场强和通信距离如图18所示。

需要说明的是，上述出现的区间内“采样点比例”可以由系统自动生成。具体地，把天线覆盖区间划分为±[0,15]，±[16,30]，±[31,60]，±[61,90]，±[91,120]，±[121,150]，±[151,180]共14个区间，假设某一时刻某一采样点经纬度是（a，b），这个经纬度是系统自动获得，对比服务小区天线经纬度（c，d）以及主方向（这些数据在数据库中有，直接调用即可），即可知道该时刻该采样点在天线的那个区间内，由于采样点是随着测试终端不断移动而不断生成的，所以会落在不同天线区间上，从而每个区间都有一个采样点比例。区间内“采样点Rxlev Average”也可以由系统自动获得。区间内“平均通信距离”，可以根据系统自动获得的服务小区经纬度和采样点经纬度，自动计算通信距离，进而将区间内所有采样点的通信距离取平均后得到。

本较佳实施方式提出一种分区间赋形重建的天线覆盖分析方法，把天线360°空间范围进行区间划分，通过每区间内Rxlev、过覆盖指数、通信距离等指标关联分析，重新模拟建立天线覆盖模型并且直观地呈现出来。

RXLEV、RXQUAL是通过路测数据直接获得，过覆盖指数和通信距离通过路测获得的经纬度，计算出来。

本较佳实施方式提出包括天线增益、天线旁瓣变形、前后比不达标、后瓣覆盖的天线故障定位算法。通过每区间内Rxlev、过覆盖指数、通信距离等指标关联分析，自动定位各类天线故障。

相对于常规路测数据分析，本方案最大优点在于：目前常规路测通过Rxlev反推天线发射增益，由于受无线环境影响，推算结果精度不高。而且，目前的路测算法还没有对天线旁瓣分析形成成熟的算法。本较佳实施方式通过对全部采样点经行分区间分析，由于本算法是通过采样点之间的采集数据对比判断是否增益故障，而各采样点受无线环境影响一致，所以大大降低了无线环境对算法分析的影响。同时，本较佳实施方式提出了一种对旁瓣变形、后瓣覆盖的定位分析算法，通过分区间赋形重建，直观呈现天线覆盖模型。

这里的“对比”体现在：不同区间的采样点比例对比，以及区间内，RXQUAL、RXLEV、通信距离等指标的合理性对比。

本领域技术人员可参见如下著作来理解本较佳实施方式：

《移动通信场强传播损耗预测算法研究》王少尉；

《天线理论与技术》卢万铮；

《天线原理与设计》康行健；

《基于Visual C++的GSM覆盖优化系统的设计与实现》杨云，张洁；

《GSM网络覆盖分析系统的研究与实现》吴猛；

《无线网络优化的路测》果敢，于力，魏然；

《自动路测系统在无线网络维护和优化中的应用》刘列平；

《移动通信网络路测数据的抽样与分析方法》J SUN,J WU。

另外，目前也有一些天线性能评估与优化系统，可以对覆盖进行综合分析。但是对于天线波瓣变形，前后比的问题，依然没有提出具体算法。

图19表示本发明实施例提供的一种故障天线定位装置的结构示意图，参照图19，本发明实施例还提供一种故障天线定位装置，包括：

获取模块1901，用于获取小区天线的至少一个水平辐射角度区间中每个区间对应的赋形重建参数；

判断模块1902，用于根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果；

确定模块1903，用于当所述判断结果为是时，确定所述天线发生故障。

可见，通过获得小区天线的区间赋形重建参数并据此判断天线在区间内的辐射异常条件是否满足，在满足时确定天线发生故障，从而通过天线区间赋形重建的方式实现了对天线故障的判定，避免了天线增益计算的不准确问题。

在本发明实施例中，可以有：

所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第一子集；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第一子集的采样点数目与所述多个采样点数目的第一比值、位于所述第一子集的采样点对应的场强的第一平均值、和位于所述第一子集的采样点对应的与所述小区的通信距离的第二平均值；

所述判断模块包括：

第一判断单元，用于判断所述第一比值不小于第一门限值、所述第一平均值小于第二门限值和所述第二平均值不大于第三门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

或者，可以有：

所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时旁瓣所在的第一角度区间；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第一角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第二比值；

所述判断模块包括：

第二判断单元，用于判断所述第二比值是否不小于一第四门限值，如果是，则所述判断结果为是。

或者，可以有：

所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时旁瓣所在的第二角度区间和所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第二子集；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第二角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第三比值、位于所述第二子集的采样点数目与所述多个采样点数目的第四比值、位于所述第二角度区间的采样点中对应场强最强的第一设定数目个采样点对应的场强的第三平均值、和位于所述第二子集的采样点中对应场强最强的第一设定数目个采样点对应的场强的第四平均值；

所述判断模块包括：

第三判断单元，用于判断所述第三比值小于第五门限值、所述第三比值不小于第六门限值、所述第四比值不小于第七门限值和所述第三平均值大于所述第四平均值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

或者，可以有：

所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第三角度区间；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第三角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第五比值；

所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：

第四判断单元，用于判断所述第五比值是否不小于一第八门限值，如果是，则所述判断结果为是。

或者，可以有：

所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第四角度区间；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第四角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第六比值和位于所述第四角度区间的采样点对应的与所述小区的通信距离的第五平均值；

所述判断模块包括：

第五判断单元，用于判断所述第六比值小于一第九门限值、所述第六比值不小于一第十门限值和所述第五平均值不小于一第十一门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

或者，可以有：

所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第五角度区间和所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第三子集；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第五角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第七比值、位于所述第五角度区间的采样点对应的与所述小区的通信距离的第六平均值、位于所述第三子集的采样点数目与所述多个采样点数目的第八比值、位于所述第五角度区间的采样点中对应场强最强的第二设定数目个采样点对应的场强的第七平均值、和位于所述第三子集的采样点中对应场强最强的第二设定数目个采样点对应的场强的第八平均值；

所述判断模块包括：

第六判断单元，用于判断所述第七比值小于一第十二门限值、所述第七比值不小于一第十三门限值、所述第六平均值小于一第十四门限值、所述第八比值不小于一第十五门限值、所述第八平均值与所述第七平均值之差小于一第十六门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

本发明实施例还提供一种电子设备，所述电子设备包括以上所述的故障天线定位装置。

以上所述仅是本发明实施例的实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明实施例原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明实施例的保护范围。

Claims (20)

1.一种故障天线定位方法，其特征在于，包括：

获取小区天线的至少一个水平辐射角度区间中每个区间对应的赋形重建参数；所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时旁瓣所在的第一角度区间以及所述天线正常工作时后瓣所在的第四角度区间；所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第一角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第二比值，所述小区的多个采样点中位于所述第四角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第六比值和位于所述第四角度区间的采样点对应的与所述小区的通信距离的第五平均值；

根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果，包括：判断所述第二比值是否不小于一第四门限值，如果是，则所述判断结果为是，判断所述第六比值小于一第九门限值、所述第六比值不小于一第十门限值和所述第五平均值不小于一第十一门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是；

当所述判断结果为是时，确定所述天线发生故障。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第一子集；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第一子集的采样点数目与所述多个采样点数目的第一比值、位于所述第一子集的采样点对应的场强的第一平均值、和位于所述第一子集的采样点对应的与所述小区的通信距离的第二平均值；

所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：

判断所述第一比值不小于第一门限值、所述第一平均值小于第二门限值和所述第二平均值不大于第三门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一子集为[-30度，30度]角度区间，所述第一门限值大于或等于20％，所述第二门限值小于或等于90dBm，所述第三门限值小于或等于500米。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述故障为天线增益故障。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一角度区间为[60度，150度]和[-150度，-60度]角度区间，所述第四门限值大于或等于80％。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时旁瓣所在的第二角度区间和所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第二子集；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第二角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第三比值、位于所述第二子集的采样点数目与所述多个采样点数目的第四比值、位于所述第二角度区间的采样点中对应场强最强的第一设定数目个采样点对应的场强的第三平均值、和位于所述第二子集的采样点中对应场强最强的第一设定数目个采样点对应的场强的第四平均值；

所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：

判断所述第三比值小于第五门限值、所述第三比值不小于第六门限值、所述第四比值不小于第七门限值和所述第三平均值大于所述第四平均值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述第二角度区间为[60度，150度]和[-150度，-60度]角度区间，所述第二子集为[-30度，30度]角度区间，所述第五门限值小于或等于80％，所述第六门限值大于或等于50％，所述第七门限值大于或等于10％，所述第一设定数目为30。

8.根据权利要求5至7中任一权利要求所述的方法，其特征在于，所述故障为天线旁瓣变形或天线旁瓣过覆盖。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第三角度区间；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第三角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第五比值；

所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：

判断所述第五比值是否不小于一第八门限值，如果是，则所述判断结果为是。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述第三角度区间为[150度，180度]和[-180度，-150度]角度区间，所述第八门限值大于或等于30％。

11.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第四角度区间为[150度，180度]和[-180度，-150度]角度区间，所述第九门限值小于或等于30％，所述第十门限值大于或等于3％，所述第十一门限值大于或等于500米。

12.根据权利要求9至11中任一权利要求所述的方法，其特征在于，所述故障为天线后瓣覆盖。

13.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第五角度区间和所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第三子集；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第五角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第七比值、位于所述第五角度区间的采样点对应的与所述小区的通信距离的第六平均值、位于所述第三子集的采样点数目与所述多个采样点数目的第八比值、位于所述第五角度区间的采样点中对应场强最强的第二设定数目个采样点对应的场强的第七平均值、和位于所述第三子集的采样点中对应场强最强的第二设定数目个采样点对应的场强的第八平均值；

所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：

判断所述第七比值小于一第十二门限值、所述第七比值不小于一第十三门限值、所述第六平均值小于一第十四门限值、所述第八比值不小于一第十五门限值、所述第八平均值与所述第七平均值之差小于一第十六门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

14.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，所述第五角度区间为[150度，180度]和[-180度，-150度]角度区间，所述第三子集为[-30度，30度]角度区间，所述第十二门限值小于或等于30％，所述第十三门限值大于或等于3％，所述第十四门限值小于或等于500米，所述第十五门限值大于或等于10％，所述第二设定数目为5，所述第十六门限值小于或等于10dBm。

15.根据权利要求13或14所述的方法，其特征在于，所述故障为前后比不达标。

16.一种故障天线定位装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取小区天线的至少一个水平辐射角度区间中每个区间对应的赋形重建参数；所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时旁瓣所在的第一角度区间，所述天线正常工作时后瓣所在的第四角度区间；所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第一角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第二比值，所述小区的多个采样点中位于所述第四角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第六比值和位于所述第四角度区间的采样点对应的与所述小区的通信距离的第五平均值；

判断模块，用于根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果；

确定模块，用于当所述判断结果为是时，确定所述天线发生故障；

所述判断模块包括：

第二判断单元，用于判断所述第二比值是否不小于一第四门限值，如果是，则所述判断结果为是；

第五判断单元，用于判断所述第六比值小于一第九门限值、所述第六比值不小于一第十门限值和所述第五平均值不小于一第十一门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

17.根据权利要求16所述的装置，其特征在于，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时旁瓣所在的第二角度区间和所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第二子集；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第二角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第三比值、位于所述第二子集的采样点数目与所述多个采样点数目的第四比值、位于所述第二角度区间的采样点中对应场强最强的第一设定数目个采样点对应的场强的第三平均值、和位于所述第二子集的采样点中对应场强最强的第一设定数目个采样点对应的场强的第四平均值；

所述判断模块包括：

第三判断单元，用于判断所述第三比值小于第五门限值、所述第三比值不小于第六门限值、所述第四比值不小于第七门限值和所述第三平均值大于所述第四平均值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

18.根据权利要求16所述的装置，其特征在于，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第三角度区间；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第三角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第五比值；

所述根据所述赋形重建参数，判断所述天线在所述至少一个水平辐射角度区间内的辐射异常条件是否满足，获取一判断结果包括：

第四判断单元，用于判断所述第五比值是否不小于一第八门限值，如果是，则所述判断结果为是。

19.根据权利要求16所述的装置，其特征在于，所述至少一个水平辐射角度区间包括所述天线正常工作时后瓣所在的第五角度区间和所述天线正常工作时主瓣所在角度区间的第三子集；

所述赋形重建参数包括所述小区的多个采样点中位于所述第五角度区间的采样点数目与所述多个采样点数目的第七比值、位于所述第五角度区间的采样点对应的与所述小区的通信距离的第六平均值、位于所述第三子集的采样点数目与所述多个采样点数目的第八比值、位于所述第五角度区间的采样点中对应场强最强的第二设定数目个采样点对应的场强的第七平均值、和位于所述第三子集的采样点中对应场强最强的第二设定数目个采样点对应的场强的第八平均值；

所述判断模块包括：

第六判断单元，用于判断所述第七比值小于一第十二门限值、所述第七比值不小于一第十三门限值、所述第六平均值小于一第十四门限值、所述第八比值不小于一第十五门限值、所述第八平均值与所述第七平均值之差小于一第十六门限值是否均成立，如果是，则所述判断结果为是。

20.一种电子设备，其特征在于，包括如权利要求16至19中任一权利要求所述的故障天线定位装置。