CN104730445A - 电路板的测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电路板的测试系统包括一测试治具以及一电脑系统。测试治具包括连接于一电路板的一接触元件、连接于接触元件的一开关电路以及一数据撷取元件。数据撷取元件通过驱动开关电路而获得对应于电子元件的一实际电压值。连接于测试治具的电脑系统将实际电压值转换为对应于电子元件的一实际电阻值,且根据实际电阻值而判断电子元件是否通过测试。
Description
技术领域
本发明关于一种测试系统,尤其系关于电路板的测试系统。
背景技术
随着科技的发展,电子设备已普及化至个人使用者,常见的电子设备包括电脑主机、笔记本电脑、手机等便携式电子设备,且其周边输入装置可配合电子设备使用,以提升操作电子设备的便利性。其中,周边输入装置包括滑鼠装置、键盘装置以及轨迹球装置等。
无论是电子设备或其周边输入装置,其内部皆设置有电路板,以使电子设备或其周边输入装置通过电路板上的电路以及电子元件而运作。于电子设备或其周边输入装置的制造过程中,必须进行测试,以确保电子设备或其周边输入装置的功能正常。其测试包含有于电子设备或其周边输入装置组装完成前的电路板测试,以及其组装完成后的功能性测试。其中,对电路板的测试是为了避免于电子设备或其周边输入装置组装完成之后才发现电路板有缺陷存在时,必须拆卸电子设备或其周边输入装置来除错,其将造成的工时浪费。
一般而言,电路板的测试包含有静态测试以及动态测试,静态测试即为断电测试,通过不供电至电路板而测试电路板上的电子元件,其中电子元件包括电感、电容或电阻等包含有电阻值的电子元件。至于动态测试即为通电测试,通过供电至电路板而测试电路板上的电子元件的功能是否可正常运作。
电路板的静态测试测试人员利用电表上的接触探针依序对电路板上的多个多个电子元件测量,不但耗时,更耗人力,测试人员经过长时间手动测试之后,测试人员容易因疲累而重复测量,或者接触探针无法准确地与电子元件接触以造成误判。故以人力测试的传统测试方法不但耗时耗力,亦容易发生误判的情形。另外,市面上推出一种可自动测量电子元件的测量计,即为LCR测试器(LCR Meter),其可配合测试治具而自动测量等效电阻,但LCR测试器的价格昂贵而造成成本太高,且LCR测试器可同时测量电子元件的数量亦相当有限。
因此,需要一种不需以人力测量且符合成本效应的电路板的测试系统。
发明内容
本发明的目的在于提供一种不需以人力测量且符合成本效应的测试电路板的测试系统。
于一较佳实施例中,本发明提供一种电路板的测试系统,包括一测试治具以及一电脑系统,该测试治具连接于一电路板,用以获得该电路板的一电子元件的一实际电压值。该测试治具包括一接触元件、一开关电路以及一数据撷取元件,该接触元件设置于该测试治具上,用以与该电路板的该电子元件接触,而该开关电路连接于该接触元件。该数据撷取元件电性连接于该开关电路,用以提供一测试电压以及一启动电压至该开关电路,而获得该电子元件的一实际电压值,该数据撷取元件包括用以输出该启动电压的一数字输出接脚、用以输出该测试电压的一模拟输出接脚以及用以获得该电子元件的该实际电压值一模拟输入接脚。该电脑系统电性连接于该测试治具,用以将该实际电压值转换为对应于该电子元件的一实际电阻值。
附图说明
图1是本发明电路板的测试系统于第一较佳实施例中的方块示意图。
图2是本发明电路板的测试系统于第一较佳实施例中的电路示意图。
图3是本发明电路板的测试系统的单刀单掷继电器于第一较佳实施例中闭路的电路示意图。
图4是本发明电路板的测试系统的等效电路于第一较佳实施例中的电路示意图。
图5是本发明电路板的测试系统的测试治具于第二较佳实施例中的电路示意图。
图6是本发明电路板的测试系统的测试治具于第三较佳实施例中的电路示意图。
图7是本发明电路板的测试系统于第四较佳实施例中的电路示意图。
其中,附图标记说明如下:
1、2、3、4 电路板的测试系统
11、21、31、41 测试治具
12 电脑系统
111、211、311、411 接触元件
112、212、312、412 开关电路
113、213、313、413 数据撷取元件
121 电脑主机
122 显示屏幕
123 通用串列总线介面
1121、2122~2128 单刀单掷继电器
1122、2121 驱动电路
3122~3128 双刀双掷继电器
4121~4136 光继电器
AI1~AI16 模拟输入接脚
AO 数字输出接脚
B 光束
C 等效电路
D1~D16 光发射器
DO1~DO14 数字输出接脚
F1~F16 金属氧化物半导体场效晶体管
IN1~IN7 输入接脚
OUT1~OUT7 输出接脚
P 电路板
R1~R16 固定电阻
Rp、Rp1~Rp16 预设电阻值范围
T1~T16 电子元件
Vh 启动电压
Vt 测试电压
VAI 实际电压值
具体实施方式
首先,定义电路板上的电子元件,其电子元件包括电感、电容或电阻等包含有电阻值的任何电子元件,而非限定为电阻。
鉴于现有技术的问题,本发明提供一种可解决现有技术问题的电路板的测试系统。请参阅图1,其为本发明电路板的测试系统于第一较佳实施例中的方块示意图。电路板的测试系统1适用于电路板的静态测试,电路板的测试系统1包括一测试治具11以及一电脑系统12,测试治具11用以连接于一待测试的电路板P,且获得电路板P的一电子元件T1的一实际电压值,而电脑系统12电性连接于测试治具11,用以将实际电压值转换为对应于电子元件T1的实际电阻值,且根据实际电阻值而判断电子元件T1是否通过测试。测试治具11包括一接触元件111、一开关电路112以及一数据撷取(DataAcquisition,DAQ)元件113,接触元件111设置于测试治具11上且对应于电子元件T1,用以与电路板P上的电子元件T1接触。开关电路112连接于接触元件111,而数据撷取元件113电性连接于开关电路112,用以提供一测试电压Vt以及一启动电压Vh至开关电路112,而获得电子元件T1的实际电压值。于本较佳实施例中,电路板P为一印刷电路板(Printed Circuit Board,PCB),而接触元件111为接触探针。
接下来说明本发明电路板的测试系统的电路结构。请同时图1以及图2,图2为本发明电路板的测试系统于第一较佳实施例中的电路示意图。由于本较佳实施例中电路板P上的电子元件T1仅有一个,图2中的电子元件T1、电脑系统12以及数据撷取元件113以方块表示,以维持图面的简洁。开关电路112包括一固定电阻R1、一单刀单掷(Single Pole Single Throw,SPST)继电器1121以及一驱动电路1122,固定电阻R1对应于电子元件T1。单刀单掷继电器1121包括一共用端(图2中以接点3表示)、一常开端(图2中以接点4表示)以及一常闭端(图2中以接点5表示),且常闭端连接于固定电阻R1。驱动电路1122连接于数据撷取元件113以及单刀单掷继电器1121,用以根据数据撷取元件113的运作而启动单刀单掷继电器1121。于本较佳实施例中,驱动电路1122为达灵顿电路。
图2中,数据撷取元件113包括一数字输出接脚DO、一模拟输出接脚AO以及一模拟输入接脚AI,数字输出接脚DO连接于驱动电路1122,用以输出启动电压Vh至驱动电路1122,而启动单刀单掷继电器1121。模拟输出接脚AO连接于固定电阻R1,用以输出测试电压Vt,而模拟输入接脚AI分别连接于电子元件T1以及单刀单掷继电器1121的共用端,用以获得电子元件T1的实际电压值。电脑系统12包括一电脑主机121以及一显示屏幕122,电脑主机121连接于数据撷取元件113,且电脑主机121具有一预设电阻值范围Rp,电脑主机121用以判断电路板P是否通过测试。显示屏幕122连接于电脑主机121,用以显示电路板P的测试结果。于本较佳实施例中,电脑主机121通过一通用串列总线(USB)介面123而连接于数据撷取元件113。
当本发明电路板的测试系统1欲开始对电路板P上的电子元件T1进行测试之前,测试人员必须放置电路板P于测试治具11上,并使测试治具11的接触元件111与电子元件T1接触,其中,接触元件111不但可固定电路板P测试治具11上,亦可建立电子元件T1与数据撷取元件113之间的电性连接。当电路板P于测试治具11上设置妥善之后,数据撷取元件113通过数字输出接脚DO输出启动电压Vh至驱动电路1122,其中,驱动电路1122中的二晶体管(图2中以Q1以及Q2表示)导通,使单刀单掷继电器1121的共用端由与常开关接触的状态变更至与常闭端接触的状态,亦即单刀单掷继电器1121闭路,如图3所示。另一方面,数据撷取元件113通过模拟输出接脚AO而输出测试电压Vt,使电子元件T1与固定电阻R1形成一等效电路C,其中,简化后的等效电路C如图4所示。于本较佳实施例中,启动电压Vh为一高逻辑电平电压,例如5伏特。
图4中,模拟输入接脚AI连接于等效电路C,且根据欧姆定律,使模拟输入接脚AI由等效电路C中获得对应于电子元件T1的实际电压值VAI。接下来数据撷取元件113通过通用串列总线介面123而传输实际电压值VAI至电脑主机121。
请再次参阅图2,电脑主机121中预设有计算出对应于电子元件T1的实际电阻值的公式:对应于电子元件T1的实际电阻值=(实际电压值VAI×固定电阻R1的电阻值)/(测试电压Vt×实际电压值VAI),其中,上述公式根据等效电路C以及欧姆定律而获得。接收到实际电压值VAI至电脑主机121可根据上述公式而计算出电子元件T1的实际电阻值,且电脑主机121于获得实际电阻值之后,判断实际电阻值是否介于预设电阻值范围Rp之间。当电脑主机121判断实际电阻值介于预设电阻值范围Rp之间时,电脑主机121判断电子元件T1通过静态测试,且显示屏幕122显示一通过测试信息(未显示于图中),以供测试人员观看。反之,当电脑主机121判断实际电阻值未介于预设电阻值范围Rp之间时,电脑主机121则判断电子元件T1静态测试失败,且显示屏幕122显示一测试失败信息(未显示于图中)。因此,测试人员可根据显示屏幕122所显示的测试结果而得知电子元件T1是否通过静态测试。
根据上述可知,本发明电路板的测试系统通过上述架构而模拟测试人员手动测量电子元件的电压值的运作,并通过其等效电路以及欧姆定律而计算出电子元件的电阻值,以判断电子元件是否妥善被设置于电路板上,其可避免电路板因电子元件焊接不良而发生短路的情形。本较佳实施例中仅以电路板P上具有一个电子元件T1为例,以便于说明,但并非限制本发明电路板的测试系统仅可测试具有单一电子元件的电路板,以下将提供可测试具有多个电子元件于其上的电路板的测试系统。
再者,本发明更提供一第二较佳实施例。请参阅图5,其为本发明电路板的测试系统于第二较佳实施例中的电路示意图。电路板的测试系统2用以对包含有多个电子元件T1~T7的电路板(未显示于图中)进行静态测试,且电路板的测试系统2包括一测试治具21以及一电脑系统12(请参照图2),电脑系统12包括电脑主机121以及显示屏幕122,本较佳实施例的电脑系统12即为前述第一较佳实施例中的电脑系统12,故其功能以及运作情形不再赘述。而本较佳实施例与第一较佳实施例中不同之处在于测试治具21的结构,其中,测试治具21中的各元件的功能仍与第一较佳实施例中的测试治具11相同,但其各元件的连接方式稍有变化,详细说明如下。
图5中,测试治具21包括多个接触元件211、一开关电路212以及一数据撷取元件213,多个接触元件211设置于测试治具21上且对应于多个电子元件T1~T7,用以与电路板上的多个电子元件T1~T7接触,其中一个接触元件211对应于一个电子元件,也就是说,本较佳实施例的测试治具21包括7个接触元件211。开关电路212连接于多个接触元件211,其包括多个固定电阻R1~R7、一驱动电路2121以及多个单刀单掷继电器2122~2128,多个固定电阻R1~R7以及多个单刀单掷继电器2122~2128皆对应于多个电子元件T1~T7,且其运作与前述第一较佳实施例中的固定电阻R1以及单刀单掷继电器1121相同。驱动电路2121连接于数据撷取元件213以及多个单刀单掷继电器2122~2128,用以根据数据撷取元件213的运作而选择性地启动一个或多个单刀单掷继电器2122~2128。于本较佳实施例中,驱动电路2121为驱动芯片,且驱动电路包括多个输入接脚IN1~IN7以及多个输出接脚OUT1~OUT7,其中,驱动电路2121每次可根据数据撷取元件213的运作而选择启动任一个单刀单掷继电器2122~2128。
至于数据撷取元件213,其包括多个数字输出接脚DO1~DO7、一模拟输出接脚AO以及多个模拟输入接脚AI1~AI7,多个数字输出接脚DO0~DO7对应于多个输入接脚IN1~IN7且分别连接于相对应的输入接脚IN1~IN7。多个模拟输入接脚AI1~AI7对应于多个电子元件T1~T7以及多个单刀单掷继电器2122~2128且分别连接于相对应的电子元件T1~T7以及单刀单掷继电器2122~2128。而模拟输出接脚AO则分别连接于多个固定电阻R1~R7。需特别说明的是,固定电阻R1~R7的电阻值并非限定互相相同,其可根据需求采用电阻值互相不同的固定电阻,于另一较佳实施例中,亦可采用电阻值互相相同的固定电阻。
接下来说明电路板的测试系统2的测试情形。当电路板于测试治具21上被设置妥善之后,数据撷取元件213的数字输出接脚DO1输出启动电压Vh至驱动电路2121的输入接脚IN1,使得驱动电路2121中对应于输入接脚IN1的输出接脚OUT1输出启动电压Vh至单刀单掷继电器2122,此时,单刀单掷继电器2122进入闭路的状态。另一方面,数据撷取元件213通过模拟输出接脚AO而输出测试电压Vt,使电子元件T1与固定电阻R1形成一第一等效电路。因此,数据撷取元件213的模拟输入接脚AI1可由第一等效电路中获得对应于电子元件T1的实际电压值VAI1(未显示于图中),且电脑主机121可根据实际电压值VAI1以及前述第一较佳实施例的公式而获得对应于电子元件T1的实际电阻值。
于电脑主机121于获得实际电阻值之后,判断实际电阻值是否介于储存于电脑主机121中的第一预设电阻值范围Rp1(未显示于图中)之间。当电脑主机121判断实际电阻值介于第一预设电阻值范围Rp1之间时,电脑主机121判断电子元件T1通过静态测试,且显示屏幕122显示一通过测试信息(未显示于图中)。反之,当电脑主机121判断实际电阻值未介于第一预设电阻值范围Rp1之间时,电脑主机121则判断电子元件T1静态测试失败,且显示屏幕122显示一测试失败信息(未显示于图中)。因此,测试人员可根据显示屏幕122所显示的测试结果而得知电子元件T1是否通过静态测试,电子元件T1的测试完成。
于电子元件T1的静态测试完成之后,测试治具21开始对电子元件T2进行静态测试。首先,数据撷取元件213驱动对应于电子元件T2的数字输出接脚DO2,使数字输出接脚DO1输出启动电压Vh至驱动电路2121的输入接脚IN2,且驱动电路2121中对应于输入接脚IN2的输出接脚OUT2则输出启动电压Vh至单刀单掷继电器2123,此时,单刀单掷继电器2123进入闭路的状态。另一方面,数据撷取元件213通过模拟输出接脚AO而输出测试电压Vt,使电子元件T2(未显示于图中)与固定电阻R2(未显示于图中)形成一第二等效电路(未显示于图中)。因此,数据撷取元件213的模拟输入接脚AI2可由第二等效电路中获得对应于电子元件T2的实际电压值,且电脑主机121可计算而获得对应于电子元件T2的实际电阻值,并进行后续判断运作。
其余的电子元件T3~T7的静态测试与测试前述电子元件T1的运作同理,数据撷取元件213可通过不同的数字输出接脚而依序输出启动电压Vh,以进行不同电子元件的静态测试。于本较佳实施例中,电脑主机121设定显示屏幕122会显示每个电子元件T1~T7的测试结果,且其中有任一个电子元件未通过静态测试时,电脑主机121判断电路板未通过静态测试。其中,显示每个电子元件T1~T7的测试结果是为了供测试人员观看,而使测试人员得知哪一电子元件故障或未妥善焊接。但本发明电路板的测试系统并非以此为限,于另一较佳实施例中,电脑主机被设定为当有任一个电子元件未通过静态测试时,立即停止其余电子元件的静态测试,且判断该电路板未通过静态测试。
需特别说明的是,虽然数据撷取元件的模拟输出接脚AO分别连接于多个固定电阻R1~R7,但由于电路板的测试系统2每次仅针对一个电子元件进行测试,故模拟输出接脚AO每次所提供的参考电压Vt足以使电子元件与相对应的固定电阻形成等效电路,而可正常运作且获得电子元件的实际电压值。于实际操作上,电路板的测试系统每次可针对二个至三个电子元件进行测试,其模拟输出接脚所提供的参考电压仍足以使该二至三个电子元件与相对应的固定电阻形成等效电路。也就是说,驱动电路每次可根据数据撷取元件的运作而选择启动多个单刀单掷继电器。因此,本发明电路板的测试系统并非限制每次仅可测试一个电子元件,亦可每次测试多个个电子元件,以提升其测试效率。
再者,本发明更提供一第三较佳实施例,其可测试包含有更多电子元件于其上的电路板。请参阅图6,其为本发明电路板的测试系统于第三较佳实施例中的电路示意图。电路板的测试系统3用以对包含有多个电子元件T1~T14的电路板(未显示于图中)进行静态测试,且电路板的测试系统3包括一测试治具31以及一电脑系统12(请参照图2),电脑系统12包括电脑主机121以及显示屏幕122,本较佳实施例的电脑系统12即为前述第一较佳实施例中的电脑系统12,故其功能以及运作情形不再赘述。另外,本较佳实施例的电路板的测试系统3的结构大致上皆与前述第二较佳实施例中的电路板的测试系统2相同,故不再赘述。而不同的处仅在于测试治具31的内部结构。
图6中,测试治具31包括多个接触元件311、一开关电路312以及一数据撷取元件313。多个接触元件311设置于测试治具31上且对应于多个电子元件T1~T14,用以与电路板上的多个电子元件T1~T14接触,其中一个接触元件311对应于一个电子元件,也就是说,本较佳实施例的测试治具31包括14个接触元件311。开关电路312连接于多个接触元件311,其包括多个固定电阻R1~R14、一驱动电路3121以及多个双刀双掷(Double PoleDouble Throw,DPDT)继电器3122~3128,每二固定电阻对应于一个多个双刀双掷继电器,且一个双刀双掷继电器3122~3128对应于一个电子元件T1~T7。驱动电路3121连接于数据撷取元件313以及多个双刀双掷继电器3122~3128,用以根据数据撷取元件313的运作而选择性地启动任一个双刀双掷继电器3122~3128。
每一双刀双掷继电器3122~3128皆包括一第一共用端(图6中以接点13表示)、一第二共用端(图6中以接点4表示)、一第一常开端(图6中以接点9表示)、一第二常开端(图6中以接点8表示)、一第一常闭端(图6中以接点11表示)以及一第二常闭端(图6中以接点6表示),且第一常闭端连接于固定电阻R1,而第二常闭端连接于固定电阻R2。于本较佳实施例中,驱动电路3121为驱动芯片,且驱动电路3121包括多个输入接脚IN1~IN7以及多个输出接脚OUT1~OUT7。
数据撷取元件313包括多个数字输出接脚DO1~DO7、一模拟输出接脚AO以及多个模拟输入接脚AI1~AI14,多个数字输出接脚DO1~DO7对应于多个输入接脚IN1~IN7且分别连接于相对应的输入接脚IN1~IN7。多个模拟输入接脚AI1~AI14对应于多个电子元件T1~T14且分别连接于相对应的电子元件T1~T14以及双刀双掷继电器3122~3128。而模拟输出接脚AO则分别连接于多个固定电阻R1~R14。与前述第二较佳实施例比较,本较佳实施例的数据撷取元件313的多个模拟输入接脚AI1~AI14的数量较多,亦即可测试的电子元件的数量较多。
接下来说明电路板的测试系统3的测试情形。当电路板于测试治具31上被设置妥善之后,先对电子元件T1以及T2进行测试。首先,数据撷取元件313的数字输出接脚DO1输出启动电压Vh至驱动电路3121的输入接脚IN1,使得驱动电路3121中对应于输入接脚IN1的输出接脚OUT1输出启动电压Vh至双刀双掷继电器3122。此时,双刀双掷继电器3122的第一共用端由与第一常开关接触的状态变更至与第一常闭端接触的状态,且双刀双掷继电器3122的第二共用端亦由与第二常开关接触的状态变更至与第二常闭端接触的状态,亦即双刀双掷继电器3122闭路。另一方面,数据撷取元件313通过模拟输出接脚AO而输出测试电压Vt,使电子元件T1与固定电阻R1形成一第一等效电路,且电子元件T2与固定电阻R2形成一第二等效电路。
第一等效电路中,数据撷取元件313的模拟输入接脚AI1可中获得对应于电子元件T1的实际电压值VAI1(未显示于图中),且电脑主机121可根据实际电压值VAI1以及前述第一较佳实施例的公式而获得对应于电子元件T1的实际电阻值。另一方面,数据撷取元件313的模拟输入接脚AI2可于第二等效电路中获得对应于电子元件T2的实际电压值VAI2(未显示于图中),且电脑主机121可根据实际电压值VAI2以及前述公式而获得对应于电子元件T2的实际电阻值。接下来,电脑主机121判断对应于电子元件T1的实际电阻值是否介于第一预设电阻值范围Rp1(未显示于图中)之间,且判断对应于电子元件T2的实际电阻值是否介于第二预设电阻值范围Rp2(未显示于图中)之间,使显示屏幕122根据其判断结果而显示通过测试信息或测试失败信息。电子元件T1以及T2的静态测试完成。
接下来对电子元件T3(未显示于图中)以及T4(未显示于图中)进行静态测试,其中数据撷取元件313的数字输出接脚DO2输出启动电压Vh至驱动电路3121的输入接脚IN2,使得驱动电路3121中对应于输入接脚IN2的输出接脚OUT2输出启动电压Vh至双刀双掷继电器3123。故双刀双掷继电器3123闭路而形成一第三等效电路(未显示于图中)以及一第四等效电路(未显示于图中),使数据撷取元件313的模拟输入接脚AI3以及AI4分别取得对应于电子元件T3以及T4的实际电压值VAI3(未显示于图中)以及VAI4(未显示于图中),且电脑主机121根据前述公式计算出对应于实际电压值VAI3的实际电阻值以及对应于实际电压值VAI4的实际电阻值。关于电脑主机121进行后续的实际电阻值与预设电阻值范围的判断运作与前述完全相同,而不再赘述。
至于其余电子元件T5~T14的静态测试与测试前述电子元件T1~T4的运作同理,数据撷取元件313可通过不同的数字输出接脚而依序输出启动电压Vh,以进行不同电子元件的测试。与前述第二较佳实施例不同的是,本较佳实施例的数据撷取元件313每次驱动二个数字输出接脚,使得每次可测试两个电子元件,以提升静态测试的效率。
此外,本发明更提供一第四较佳实施例。请参阅图7,其为本发明电路板的测试系统于第四较佳实施例中的电路示意图。电路板的测试系统4包括一测试治具41以及一电脑系统12,电脑系统12包括电脑主机121以及显示屏幕122,本较佳实施例的电脑系统12与前述第一较佳实施例中的电脑系统12相同,故其功能以及运作情形不再赘述。测试治具41包括多个接触元件411、一开关电路412以及一数据撷取元件413,多个接触元件411设置于测试治具41上且对应于电路板(未显示于图中)上的多个电子元件T1~T16,用以与电路板上的多个电子元件T1~T16接触,其中一个接触元件411对应于一个电子元件,也就是说,本较佳实施例的测试治具41包括16个接触元件411。
图7中,开关电路412连接于多个接触元件411,其包括多个固定电阻R1~R16以及多个光继电器4121~4136,固定电阻R1对应于电子元件T1,固定电阻R2对应于电子元件T2,……,固定电阻R16对应于电子元件T16。多个光继电器4121~4136连接于数据撷取元件413以及固定电阻R1~R16,用以根据启动电压Vh而使电子元件T1~T16与固定电阻R1~R16分别形成多个等效电路。以光继电器4121为例说明,光继电器4121包括一光发射器D1以及一金属氧化物半导体场效晶体管F1,光发射器D1的一第一输入端(图7中以接点1表示)连接于数据撷取元件413的数字输出接脚DO1,且光发射器D1的一第二输入端(图7中以接点2表示)接地,用以根据启动电压Vh而输出一光束B。金属氧化物半导体场效晶体管F1的一第一输出端(图7中以接点3表示)连接于固定电阻R1,且金属氧化物半导体场效晶体管F1的一第二输出端(图7中以接点4表示)连接于数据撷取元件413的模拟输入接脚AI1以及电子元件T1,用以接收光束B而闭路且启动光继电器4121,其中当光继电器4121被启动时,电子元件T1与固定电阻R1形成一第一等效电路。至于光继电器4122~4136的功能则与光继电器4121为同理,而不再赘述。于本较佳实施例中,多个光继电器4121~4136为单刀单掷常开型的光继电器。
与前述较佳实施例相同的,于多个等效电路形成之后,数据撷取元件413的模拟输入接脚AI1~AI16可分别获得对应于电子元件T1~T16的实际电压值VAI1~VAI16(未显示于图中),且电脑主机121可根据实际电压值VAI1~VAI16以及前述第一较佳实施例的公式而获得对应于电子元件T1~T16的实际电阻值。接下来,电脑主机121判断对应于电子元件T1的实际电阻值是否介于第一预设电阻值范围Rp1之间,且判断对应于电子元件T2的实际电阻值是否介于第二预设电阻值范围Rp2之间,……,判断对应于电子元件T16的实际电阻值是否介于第十六预设电阻值范围Rp16(未显示于图中)之间,使显示屏幕122根据其判断结果而显示通过测试信息或测试失败信息。电子元件T1~T16的静态测试完成。
本较佳实施例的电路板的测试系统4的开关电路412中以光继电器4121~4136取代传统的单刀单掷继电器以及双刀双掷继电器。与传统的单刀单掷继电器以及双刀双掷继电器相比,光继电器4121~4136可降低前述两种传统继电器所需损耗的电流,而具有可大幅降低激磁损耗的优点。另外,由于光继电器4121中的光发射器D1仅需低电压即可被驱动,故开关电路412不需设置有驱动电路,而可减少元件的成本。
需特别说明的是,本发明电路板的测试系统中的数据撷取元件以及驱动电路的接脚数量虽然有限,但可额外分别于数据撷取元件以及驱动电路上增设多工器(Multiplexer),以扩充数据撷取元件以及驱动电路的接脚数量,以便于数据撷取元件以及驱动电路可连接于更多的单刀单掷继电器或双刀双掷继电器,而进一步地增加可测试的电子元件数量。换言之,测试人员于测试一个电路板的过程中,可测试的电子元件数量越多,其静态测试效率越高。
根据上述各较佳实施例可知,本发明电路板的测试系统可通过于测试治具上设置数据撷取元件以及开关电路,使得所欲测试的电子元件以及相对应的固定电阻形成等效电路,而得以由等效电路中取得对应于电子元件的实际电压值。之后由电脑系统通过公式以及该实际电压值而计算获得对应于电子元件的实际电阻值,且电脑系统再判断实际电阻值是否介于预设电阻值范围,以判断该电子元件是否通过静态测试。相较于现有人力测试方式,本发明电路板的测试系统可取代人力反复以电表上的接触探针依序接触每一欲测试的电子元件,而可节省人力以及时间,且具有较佳的测试效率。相较于现有LCR测试器,本发明电路板的测试系统可具有相同效果,但成本较低廉,而具有成本上的优势。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并非用以限定本发明的申请专利权利要求范围,因此凡其它未脱离本发明所揭示的精神下所完成的等效改变或修饰,均应包含于本案的申请专利权利要求范围内。
Claims (12)
1.一种电路板的测试系统,包括:
一测试治具,连接于一电路板,用以获得该电路板的一电子元件的一实际电压值,该测试治具包括:
一接触元件,设置于该测试治具上,用以与该电路板的该电子元件接触;
一开关电路,连接于该接触元件;以及
一数据撷取元件,电性连接于该开关电路,用以提供一测试电压以及一启动电压至该开关电路,而获得该电子元件的一实际电压值,该数据撷取元件包括:
一数字输出接脚,用以输出该启动电压;
一模拟输出接脚,用以输出该测试电压;以及
一模拟输入接脚,用以获得该电子元件的该实际电压值;以及
一电脑系统,电性连接于该测试治具,用以将该实际电压值转换为对应于该电子元件的一实际电阻值。
2.如权利要求1所述的电路板的测试系统,其中该开关电路包括:
一固定电阻,对应于该电子元件;
一单刀单掷继电器,该单刀单掷继电器的一常开端连接于该固定电阻;以及
一驱动电路,连接于该数据撷取元件以及该单刀单掷继电器,用以根据该启动电压而启动该单刀单掷继电器;其中当该单刀单掷继电器被启动时,该电子元件与该固定电阻形成一等效电路。
3.如权利要求2所述的电路板的测试系统,其中该数据撷取元件的该数字输出接脚连接于该驱动电路,且输出该启动电压至该驱动电路而使该单刀单掷继电器闭路,该数据撷取元件的该模拟输出接脚连接于该固定电阻,且该电子元件与该固定电阻形成该等效电路,使该数据撷取元件的该模拟输入接脚于该等效电路中获得该实际电压值。
4.如权利要求3所述的电路板的测试系统,其中当该数据撷取元件的该数字输出接脚未输出该启动电压至该驱动电路时,该单刀单掷继电器的一共用端与该单刀单掷继电器的一常闭端接触,而当该数据撷取元件的该数字输出接脚输出该启动电压至该驱动电路时,该单刀单掷继电器的该共用端与该单刀单掷继电器的该常开端接触,该单刀单掷继电器闭路而形成该等效电路。
5.如权利要求1所述的电路板的测试系统,其中该电脑系统包括:
一电脑主机,连接于该数据撷取元件,且该电脑主机具有一预设电阻值范围,该电脑主机用以判断该电路板是否通过测试;以及
一显示屏幕,连接于该电脑主机,用以显示该电路板的测试结果;其中当该电脑主机接收到该实际电压值时,判断该实际电阻值是否介于该预设电阻值范围之间,当该电脑主机判断该实际电阻值不介于该预设电阻值范围之间时,判断该电子元件未通过测试,且该显示屏幕显示一测试失败信息;而当该电脑主机判断该实际电阻值介于该预设电阻值范围之间时,判断该电子元件通过测试,且该显示屏幕显示一通过测试信息。
6.如权利要求1所述的电路板的测试系统,其中该开关电路包括:一第一固定电阻,对应于该电子元件;
一第二固定电阻,对应于该电路板的一另一电子元件;
一双刀双掷继电器,该双刀双掷继电器的一第一常开接点连接于该第一固定电阻,且该双刀双掷继电器的一第二常开接点连接于该第二固定电阻;以及
一驱动电路,连接于该数据撷取元件以及该双刀双掷继电器,用以根据该启动电压而启动该双刀双掷继电器;其中当该双刀双掷继电器被启动时,该电子元件与该第一固定电阻形成一第一等效电路,且该另一电子元件与该第二固定电阻形成一第二等效电路。
7.如权利要求6所述的电路板的测试系统,其中该数据撷取元件的该数字输出接脚连接于该驱动电路,且输出该启动电压至该驱动电路而使该双刀双掷继电器闭路,该数据撷取元件的该模拟输出接脚分别连接于该第一固定电阻以及该第二固定电阻,且该电子元件与该第一固定电阻形成该第一等效电路,该另一电子元件与该第二固定电阻形成该第二等效电路,使该数据撷取元件的该模拟输入接脚于该第一等效电路中获得该实际电压值,且于该第二等效电路中获得一另一实际电压值。
8.如权利要求7所述的电路板的测试系统,其中当该数据撷取元件的该数字输出接脚未输出该启动电压至该驱动电路时,该双刀双掷继电器的一第一共用端与该双刀双掷继电器的一第一常闭端接触,且该双刀双掷继电器的一第二共用端与该双刀双掷继电器的一第二常闭端接触,而当该数字输出接脚输出该启动电压至该驱动电路时,该双刀双掷继电器的该第一共用端与该双刀双掷继电器的该第一常开端接触,且该双刀双掷继电器的该第二共用端与该双刀双掷继电器的该第二常开端接触,该双刀双掷继电器闭路而形成该第一等效电路以及该第二等效电路。
9.如权利要求7所述的电路板的测试系统,其中该电脑系统包括:
一电脑主机,连接于该数据撷取元件,且该电脑主机具有一预设电阻值范围,该电脑主机用以判断该电路板是否通过测试;以及
一显示屏幕,连接于该电脑主机,用以显示该电路板的测试结果;其中当该电脑主机接收到该实际电压值以及该另一实际电压值时,判断该实际电阻值以及该另一实际电压值是否分别介于该预设电阻值范围之间,当该电脑主机判断该实际电阻值或该另一实际电压值不介于该预设电阻值范围之间时,判断该电子元件未通过测试,且该显示屏幕显示一测试失败信息;而当该电脑主机判断该实际电阻值以及该另一实际电阻值皆介于该预设电阻值范围之间时,判断该电子元件通过测试,且该显示屏幕显示一通过测试信息。
10.如权利要求1所述的电路板的测试系统,其中该开关电路包括:
一固定电阻,对应于该电子元件;以及
一光继电器,连接于该数据撷取元件以及该固定电阻,用以根据该启动电压而使该电子元件与该固定电阻形成一等效电路,该光继电器包括:
一光发射器,该光发射器的一第一输入端连接于该数据撷取元件,且该光发射器的一第二输入端接地,用以根据该启动电压而输出一光束;以及
一金属氧化物半导体场效晶体管,该金属氧化物半导体场效晶体管的一第一输出端连接于该固定电阻,且该金属氧化物半导体场效晶体管的一第二输出端连接于该数据撷取元件,用以根据该光束而闭路且启动该光继电器;其中当该光继电器被启动时,该电子元件与该固定电阻形成该等效电路。
11.如权利要求10所述的电路板的测试系统,其中该数据撷取元件的该数字输出接脚连接于该光发射器的该第一输入端,且输出该启动电压至该光发射器,使该光发射器输出该光束,且该金属氧化物半导体场效晶体管接收该光束而闭路,使该光继电器启动,而该数据撷取元件的该模拟输出接脚连接于该固定电阻,且该电子元件与该固定电阻形成该等效电路,使该数据撷取元件的该模拟输入接脚于该等效电路中获得该实际电压值。
12.如权利要求1所述的电路板的测试系统,其中该电脑系统的一电脑主机通过一通用串列总线介面而连接于该数据撷取元件,且该驱动电路是一达灵顿电路或一驱动芯片,该接触元件接触探针,而该启动电压是一高逻辑电平电压。
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