CN104698368A

CN104698368A - 一种实现芯片顶层测试用例重用的方法

Info

Publication number: CN104698368A
Application number: CN201510149666.8A
Authority: CN
Inventors: 姚香君; 戴绍新; 李风志; 杨萌
Original assignee: Shandong Sinochip Semiconductors Co Ltd
Current assignee: Shandong Sinochip Semiconductors Co Ltd
Priority date: 2015-04-01
Filing date: 2015-04-01
Publication date: 2015-06-10
Anticipated expiration: 2035-04-01
Also published as: WO2016155217A1; CN104698368B

Abstract

本发明涉及一种实现芯片顶层测试用例重用的方法，包括如下步骤：S101：设置通用头文件“nfc_define.h”中define的默认值；S102：判断待测试模块是否为S1中define的默认值所指代的默认测试用例，如果是则转到步骤S104，否则转到步骤S103；S103：指定在通用头文件“nfc_define.h”中需要使用的define值，以决定所测试的用例；S104：将define中的值传递到测试用例脚本；S201：根据测试用例的名字以及define的参数，准备测试用文件；S301：根据步骤S103中指定的define值，将通用头文件修改成特定头文件。

Description

一种实现芯片顶层测试用例重用的方法

技术领域

本发明属于片上系统的芯片验证技术领域，具体涉及一种实现芯片顶层测试用例重用的方法；采用该方法不需要重复编写测试代码，亦无需要手动修改测试用例，即可实现测试用例的重用，有效提高了芯片顶层验证效率。

背景技术

在现有的芯片验证中，顶层测试用例使用C语言编写，对寄存器的操作都是对预先定义的宏地址进行读写操作。根据芯片内部功能需求，某一模块可能被例化多次，比如Nand Flash控制器（NFC）在一个芯片内被例化了两次，分别为NFC0和NFC1，这两个模块实现的功能完全一样，唯一不同的是它们被访问的基地址不一样。

现有技术的芯片设计中，某个模块可能会被重复使用多次。对于同一模块的多次重复使用，每一次使用的功能和实现都是一样的，只是每次使用时在芯片中对应的基地址不一样。因此在编写顶层测试用例时，若分开编写功能相同的用例，代码冗余就会很大；若共用同一测试用例，则需要手动修改各个模块的基地址，虽然减小了代码冗余，但操作起来比较繁琐，而且手动修改也容易产生人为误操作。此为现有技术的不足之处。

因此，提供设计一种实现芯片顶层测试用例重用的方法是非常有必要的。

发明内容

本发明的目的在于，针对上述现有技术存在的缺陷，提供设计一种实现芯片顶层测试用例重用的方法，以解决上述技术问题。

为实现上述目的，本发明给出以下技术方案：

一种实现芯片顶层测试用例重用的方法，包括如下步骤：

S1：运行上层命令脚本；该步骤包括：

S101：设置通用头文件“nfc_define.h”中define的默认值；

S102：判断待测试模块是否为S1中define的默认值所指代的默认测试用例，如果是则转到步骤S104，否则转到步骤S103；

S103：指定在通用头文件“nfc_define.h”中需要使用的define值，以决定所测试的用例；

S104：将define中的值传递到测试用例脚本；

S2：运行测试用例处理脚本，该步骤包括：

S201：根据测试用例的名字以及define的参数，准备测试用文件；

S3：运行产生特定头文件的脚本，包括如下步骤：

S301：根据步骤S103中指定的define值，将通用头文件修改成特定头文件。

优选地，所述步骤S101中define的默认值为NFC0。

优选地，所述步骤S103中，将默认的define值替换为需要使用的define值。

优选地，所述步骤S103中，将默认的define值替换为需要使用的define值的语句为：“+define+NFC0=0 +define+NFCX=X”，其中，X指代待检测用例的相应编号。

本发明的有益效果在于，本方法不需要重复编写测试代码，也不需要手动修改测试用例，即可实现测试用例的重用以及验证的自动化执行，有效提高了芯片顶层验证效率。此外，本发明设计原理可靠，具有非常广泛的应用前景。

由此可见，本发明与现有技术相比，具有突出的实质性特点和显著地进步，其实施的有益效果也是显而易见的。

具体实施方式

下面通过具体实施例对本发明进行详细阐述，以下实施例是对本发明的解释，而本发明并不局限于以下实施方式。

本发明提供了一种实现芯片顶层测试用例重用的方法，包括如下步骤：

S1：运行上层命令脚本；该步骤包括：

S101：设置通用头文件“nfc_define.h”中define的默认值；

S104：将define中的值传递到测试用例脚本；

S2：运行测试用例处理脚本，该步骤包括：

S3：运行产生特定头文件的脚本，包括如下步骤：

本实施例中，所述步骤S101中define的默认值为NFC0。

本实施例中，所述步骤S103中，将默认的define值替换为需要使用的define值。

本实施例中，所述步骤S103中，将默认的define值替换为需要使用的define值的语句为：“+define+NFC0=0 +define+NFCX=X”，其中，X指代待检测用例的相应编号。

本实施例中，以NFC0以及NFC1为例给出三个脚本的运行具体步骤以及代码。

步骤：

1) 运行上层命令脚本：该脚本执行时会指定在通用头文件“nfc_define.h”中需要使用的define值，从而决定将要测试哪个模块。默认的define值为NFC0，即测试的模块为NFC0。若要测试模块NFC1，则在运行该上层命令脚本时需要指定“+define+NFC0=0 +define+NFC1=1”。在该脚本中会自动调用测试用例处理脚本。

2) 运行测试用例处理脚本：该脚本为所有测试用例共用的脚本。该脚本根据测试用例的名字以及上层命令脚本传递进来的define参数，为运行特定测试用例准备相关文件。在该脚本中会自动调用产生特定头文件的脚本。

3) 运行产生特定头文件的脚本：该脚本根据上层命令脚本传递来的define值，把通用头文件自动修改成特定头文件。还是以NFC模块测试为例，当在上层命令脚本中指定了“+define+NFC0=0 +define+NFC1=1”时，产生特定头文件的脚本就会自动把“nfc_define.h”头文件中的“#define NFC0”删除掉，同时在“nfc_define.h”头文件中增加定义“#define NFC1”，这样测试用例操作的地址就不再是NFC0的寄存器地址，而是换成了NFC1的寄存器地址，从而就能对模块NFC1进行测试了。

代码：

“nfc.c”

wr_addr(NFC_SETTING) = 0x000148c0;

wr_addr(NFC_CTRL ) = 0x0000ff00;

“nfc_define.h”

#ifndef _H

#define _H

#define NFC0

#define NFC0_SETTING 0x10000000

#define NFC0_CTRL 0x10000004

…… …… …… ……

#define NFC1_SETTING 0x10a00000

#define NFC1_CTRL 0x10a00004

…… …… …… ……

#ifdef NFC0

#define NFC_SETTING NFC0_SETTING

#define NFC_CTRL NFC0_CTRL

…… …… …… ……

#endif

#ifdef NFC1

#define NFC_SETTING NFC1_SETTING

#define NFC_CTRL NFC1_CTRL

…… …… …… ……

#endif

以上公开的仅为本发明的优选实施方式，但本发明并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的没有创造性的变化，以及在不脱离本发明原理前提下所作的若干改进和润饰，都应落在本发明的保护范围内。

Claims

1.一种实现芯片顶层测试用例重用的方法，包括如下步骤：

S1：运行上层命令脚本；该步骤包括：

S101：设置通用头文件“nfc_define.h”中define的默认值；

S104：将define中的值传递到测试用例脚本；

S2：运行测试用例处理脚本，该步骤包括：

S3：运行产生特定头文件的脚本，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种实现芯片顶层测试用例重用的方法，其特征在于：所述步骤S101中define的默认值为NFC0。

3.根据权利要求1或2所述的一种实现芯片顶层测试用例重用的方法，其特征在于：所述步骤S103中，将默认的define值替换为需要使用的define值。

4.根据权利要求3所述的一种实现芯片顶层测试用例重用的方法，其特征在于：所述步骤S103中，将默认的define值替换为需要使用的define值的语句为：“+define+NFC0=0 +define+NFCX=X”，其中，X指代待检测用例的相应编号。