CN104677479A - 砝码检定方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种砝码检定方法,包括:采用标准砝码盘、参检砝码盘以及待检砝码盘;对标准砝码盘、参检砝码盘和待检砝码盘进行检测,得到一组砝码盘质量差值;采用组合比较法测量模式中的质量修正值计算方式,得到一组砝码盘质量修正值;将标准砝码和标准砝码盘设定为标准组件、将参检砝码和参检砝码盘设定为参检组件以及将待检砝码和待检砝码盘设定为待检组件;对标准组件、参检组件和各个待检组件的质量进行检测,得到一组组件质量差值;以及根据一组砝码盘质量修正值和一组组件质量差值,基于计算规则计算得到各个待检砝码的砝码质量修正值,从而得到与各个待检砝码相对应的多个质量检定结果。
Description
技术领域
本发明属于计量技术领域,涉及一种能够对待检砝码进行检定的砝码检定方法。
背景技术
目前,根据国际法计量组织BIPM制定的国际建议OIML R111《Weights》和我国制定的JJG99-2006《砝码检定规程》的相关规定,砝码的检定方法有一对一比较法和组合比较法,其中,一对一比较法的检定流程相对简单、计算也相对简单所以被广泛应用,但是,这样的方法不能满足E1、E2等级砝码的检定。所以,必须采用组合比较法进行砝码检定。
组合比较法只需采用一个标准砝码就可完成对一套待检砝码的检定,但是,这种方法在检定流程中,需要将多个砝码作为一组砝码同时进行称量,然而这组砝码在称量时被平铺在比较仪的秤盘上,由于这样多个砝码距离秤盘中心的位置不一,所以会产生偏载误差,这样会影响测量结果的精度,从而导致检定结构不够精确。
尤其是对于E2等级毫克组砝码,根据JJG99-2006《砝码检定规程》的规定只能采用组合比较法进行检定,在这种情况下,由于砝码本身质量就非常小,偏载误差的存在对检定结果的影响会更加严重。
发明内容
本发明是为了解决上述课题而进行的,目的在于提供一种能够对待检砝码组中多个待检砝码更加精确地来进行检定的砝码检定方法。
本发明提供了一种砝码检定方法,按照组合比较法测量模式,对待检砝码组中多个待检砝码,使用标准砝码以及与待检砝码组中标称值最小的待检砝码相对应的参检砝码来进行检定,其特征在于,包括以下步骤:砝码盘采用步骤,采用用于盛放标准砝码的标准砝码盘、用于盛放参检砝码的参检砝码盘以及用于一一对应地盛放各个待检砝码的多个待检砝码盘;砝码盘质量差值获取步骤,首先采用组合比较法测量模式中的质量差值获取方式对标准砝码盘、参检砝码盘和各个待检砝码盘的质量进行比较检测,得到标准砝码盘、参检砝码盘和所有的待检砝码盘之间的一组砝码盘质量差值;砝码盘质量修正值获取步骤,采用组合比较法测量模式中的质量修正值计算方式,基于一组砝码盘质量差值,得到分别与参检砝码盘和各个待检砝码盘的相对应的一组砝码盘质量修正值;组件设定步骤,将标准砝码和标准砝码盘设定为标准组件、将参检砝码和参检砝码盘设定为参检组件以及将各个待检砝码和对应的待检砝码盘分别设定为多个待检组件;组件质量差值获取步骤,采用组合比较法测量模式中的质量差值获取方式对标准组件、参检组件和各个待检组件的质量进行比较检测,得到标准组件、参检组件和所有的待检组件之间的一组组件质量差值;以及计算检定步骤,根据一组砝码盘质量修正值和一组组件质量差值,基于计算规则计算得到各个待检砝码的砝码质量修正值,从而得到与各个 待检砝码相对应的多个质量检定结果,其中,在砝码盘质量差值获取步骤中,当需要把至少两个砝码盘放在一起进行比较检测时,砝码盘是被层层叠加放置在比较仪的秤盘上,在组件差值获取步骤中,当需要把至少两个组件放在一起进行比较检测时,组件是被层层叠加放置在秤盘上,在每个组件中的砝码相对于砝码盘的放置位置相同。
在本发明提供的砝码检定方法中,还可以具有这样的特征:其中,比较仪采用多层结构的支撑架来叠加放置至少两个砝码盘,从而使得砝码盘的中心处于秤盘的中轴线上,比较仪中的支撑架还用来叠加放置至少两个组件,从而使得组件中砝码盘的中心处于秤盘的中轴线上。在本发明提供的砝码检定方法中,还具有这样的特征:其中,在判定步骤中,检定结果是待检砝码是否合格。
在本发明提供的砝码检定方法中,还可以具有这样的特征:其中,待检砝码组是一套毫克级别的砝码。
在本发明提供的砝码检定方法中,还可以具有这样的特征:其中,待检砝码组含有标称值分别为:500mg、200mg、200mg、100mg、50mg、20mg、20mg、10mg、5mg、2mg、2mg、1mg的十二个毫克砝码,标准砝码是标称值为1000mg的砝码,参检砝码是标称值为1mg的砝码。
在本发明提供的砝码检定方法中,还可以具有这样的特征:其中,在计算检定步骤中,预定计算规则包含折算质量值计算公式和修正值计算公式,折算质量值计算公式为:
在折算质量计算公式中:mc500、mc200、mc200·、mc100、mc50、mc20、mc20·、mc10、mc5、mc2、mc2·、mc1分别是标称值为500mg、200mg、200mg、100mg、50mg、20mg、20mg、10mg、5mg、2mg、2mg、1mg的待检砝码的折算质量,mc1000是标准砝码的折算质量,ΔmP1、ΔmP2、ΔmP3、ΔmP4、ΔmP5、ΔmP6、ΔmP7、ΔmP8、ΔmP9、ΔmP10、ΔmP11、ΔmP12分别是标称值为500mg、200mg、200mg、100mg、50mg、20mg、20mg、10mg、5mg、2mg、2mg、1mg的 待检砝码所对应的待检砝码盘的质量修正值,ΔmP13是参检砝码盘的质量修正值,Δm1是含有标称值为500mg、200mg、200mg、100mg的待检砝码的四个待检组件与标准组件的质量差值,Δm2是含有标称值为200mg、200mg、100mg的待检砝码的三个待检组件与含有标称值为500mg的待检砝码的待检组件的质量差值,Δm3是含有标称值为100mg、50mg、20mg、20m、10mg的待检砝码的五个待检组件与含有标称值为200mg的待检砝码的待检组件的质量差值,Δm4是含有标称值为100mg、50mg、20mg、20m、10mg的待检砝码的五个待检组件与含有标称值为200mg的待检砝码的待检组件的质量差值,Δm5是含有标称值为50mg、20mg、20m、10mg的待检砝码的四个待检组件与含有标称值为100mg的待检砝码的待检组件的质量差值,Δm6是含有标称值为20mg、20m、10mg的待检砝码的三个待检组件与含有标称值为50mg的待检砝码的待检组件的质量差值,Δm7是含有标称值为10mg、5mg、2mg、2m、1mg的待检砝码的五个待检组件与含有标称值为20mg的待检砝码的待检组件的质量差值,Δm8是含有标称值为10mg、5mg、2mg、2m、1mg的待检砝码的五个待检组件与含有标称值为20mg的待检砝码的待检组件的质量差值,Δm9是含有标称值为5mg、2mg、2m、1mg的待检砝码的四个待检组件与含有标称值为10mg的待检砝码的待检组件的质量差值,Δm10是含有标称值为2mg、2m、1mg的待检砝码的三个待检组件与含有标称值为5mg的待检砝码的待检组件的质量差值,Δm11是含有标称值为1mg的待检砝码的待检组件和参检组件与含有标称值为2mg的待检砝码的待检组件的质量差值,Δm12是含有 标称值为1mg的待检砝码的待检组件和参检组件与含有标称值为2mg的待检砝码的待检组件的质量差值,Δm13是参检组件与含有标称值为1mg的待检砝码的待检组件的质量差值,修正值计算公式为待检砝码的质量修正值等于待检砝码的折算质量减去待检砝码的标称值。
在本发明提供的砝码检定方法中,还可以具有这样的特征:其中,待检砝码组含有标称值分别为:500mg、300mg、200mg、100mg、50mg、30mg、20mg、10mg、5mg、3mg、2mg、1mg的十二个毫克砝码,标准砝码是标称值为1000mg的砝码,参检砝码是标称值为1mg的砝码。
发明的作用和效果
根据本发明所涉及的砝码检定方法,通过采用标准砝码盘、参检砝码盘和待检砝码盘用来一一对应盛放标准砝码、参检砝码和被检砝码,并且,通过采用组合比较法测量模式中的质量差值获取方式对标准砝码盘、参检砝码盘和待检砝码盘进行比较检测,得到它们的一组砝码盘质量差值,然后采用质量修正值计算方式得到分别与参检砝码盘和各个待检砝码盘相对应的一组砝码盘质量修正值,然后,采用质量差值获取方式对标准组件、参检组件和待检组件进行比较检测,得到一组组件质量差值,最后根据一组砝码盘质量修正值和一组组件质量差值得到待检砝码的砝码质量修正值,从而得到质量检定结果,并且在上述过程中,当需要把至少两个砝码盘或组件放在一起进行比较检测时,砝码盘或组件是被层层叠加放置比较仪的秤盘上,组件中的砝码相对与砝码盘的放置位置相同,所以从根本上避免了偏载误差, 从而有效提高了质量检定结果的精确度。
附图说明
图1是本发明的实施例中砝码检定方法的流程图。
具体实施方式
为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,以下实施例结合附图对本发明砝码检定方法作具体阐述。
在本实施例中,砝码检定方法对待检砝码组通过采用JJG-2006《砝码检定规程》中的5、2、2·、1典型的测量模式来进行检定。
在本实施例中,待检砝码组是一套标记为E2等级毫克级别的十二个待检砝码,通过选用标称值1000mg的E1等级的标准砝码和1mg左右的E2等级的参检砝码对待检砝码是否合格进行检定即、是否满足JJG-2006《砝码检定规程》中规定的E2等级的质量误差范围。这里参检砝码的材料与待检砝码相同,参检砝码采用JJG-2006《砝码检定规程》中的规定的替代砝码。本实施例采用比较仪进行比较检测,比较仪采用多层结构的支撑架。支撑架是被固定在比较仪的秤盘的中心位置。
图1是本发明的实施例中砝码检定方法的流程图。
如图1所示,砝码检定方法的具体步骤如下:
步骤S1(砝码盘采用步骤),采用与E级砝码同样材质的特制的十四个砝码盘;砝码盘质量误差的控制需要参照标准砝码在同称量点 时的允差,例如,需要检定E2等级500mg砝码,而砝码盘自重500mg,则砝码盘的质量允差将参照标准砝码E1等级500mg砝码的允差要求。此外,砝码盘之间还要求质量的一致性、即任意两个砝码盘之间的质量之差不得超过1mg待检砝码质量允差的三分之一。根据JJG-2006《砝码检定规程》,对于检定E2等级的待检砝码的砝码盘满足以下要求:1、单个砝码盘的质量误差≤25ug;2、两个砝码盘之间的最大误差≤2ug。
从十四个砝码盘中选出一个用于盛放标准砝码作为标准砝码盘、一个用于盛放参检砝码作为参检砝码盘、其它十二个用于一一对应盛放待检砝码作为十二个待检砝码盘,然后进入步骤S2。
步骤S2,将14个砝码盘一一对应放在工位上,如表1所示:
表1 砝码盘工位表
表1中标准工位号A1的工位用于放置标称值为1000mg的标准砝码和标准砝码盘P0,标准工位号A12的工位用于放置标称值为1-mg的参检砝码(即、替代砝码)和参检砝码盘P13,被检工位号B1-B12的12个工位分别用于一一对应放置标称值为500mg、200mg、200·mg、 100mg、50mg、20mg、20·mg、10mg、5mg、2mg、2·mg、1mg的12个待检砝码和12个待检砝码盘P1-P12,然后进入步骤S3。
步骤S3(砝码盘质量差值获取步骤),采用组合比较法测量模式中的质量差值获取方式对砝码盘进行比较检测。本实施例中是采用比较仪进行比较检测,比较仪中设有多层结构的支撑架。支撑架是被固定在比较仪的秤盘的中心位置。
如表2中所示,本步骤的具体流程如下:
表2 砝码盘组合比较法检定流程
操作流程序号 | 标准A | 被检B | |
1 | [P0]+ΔmP1 | = | [P1+P2+P3+P4] |
2 | [P1]+ΔmP2 | = | [P2+P3+P4] |
3 | [P2]+ΔmP3 | = | [P4+P5+P6+P7+P8] |
4 | [P3]+ΔmP4 | = | [P4+P5+P6+P7+P8] |
5 | [P4]+ΔmP5 | = | [P5+P6+P7+P8] |
6 | [P5]+ΔmP6 | = | [P6+P7+P8] |
7 | [P6]+ΔmP7 | = | [P8+P9+P10+P11+P12] |
8 | [P7]+ΔmP8 | = | [P8+P9+P10+P11+P12] |
9 | [P8]+ΔmP9 | = | [P9+P10+P11+P12] |
10 | [P9]+ΔmP10 | = | [P10+P11+P12] |
11 | [P10]+ΔmP11 | = | [P12+P13] |
步骤S3-1,首先,对空的标准砝码盘P0进行称重得到标准砝码盘P0的称量重量,然后,将空的待检砝码盘P1、待检砝码盘P2、待检砝码盘P3和待检砝码盘P4一一放入支撑架的各层叠加,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后进行称重得到该四个砝码盘的称量重量,然后将得到的两组称量重量数据进行比较,得到称量差值 Δmsp1,然后进入步骤S3-2。
步骤S3-2,首先,对空的待检砝码盘P1(此时待检砝码盘P1作为表2中的标准A)进行称重得到待检砝码盘P1的称量重量,然后,将空的待检砝码盘P2、待检砝码盘P3和待检砝码盘P4(作为表2中的被检B)一一放入支撑架的各层叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后进行称重得到该三个砝码盘的称量重量,然后将得到的两组称量重量数据进行比较,得到称量差值Δmsp2,然后进入步骤S3-3。
步骤S3-3,首先,对空的待检砝码盘P2(此时待检砝码盘P2作为表2中的标准A)进行称重得到待检砝码盘P2的称量重量,然后,将空的待检砝码盘P4、待检砝码盘P5、待检砝码盘P6、待检砝码盘P7和待检砝码盘P8(作为表2中的被检B)一一放入支撑架的各层叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后进行称重得到该五个砝码盘的称量重量,然后将得到的两组称量重量数据进行比较,得到称量差值Δmsp3,然后进入步骤S3-4。
步骤S3-4,首先,对空的待检砝码盘P3(此时待检砝码盘P3作为表2中的标准A)进行称重得到待检砝码盘P3的称量重量,然后,将空的待检砝码盘P4、待检砝码盘P5、待检砝码盘P6、待检砝码盘P7和待检砝码盘P8(作为表2中的被检B)一一放入支撑架的各层叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后进行称重得到该五个砝码盘的称量重量,然后将得到的两组称量重量数据进行比较,得到称量差值Δmsp4,然后进入步骤S3-5。
步骤S3-5,首先,对空的待检砝码盘P4(此时待检砝码盘P4作为表2中的标准A)进行称重得到待检砝码盘P4的称量重量,然后,将空的待检砝码盘P5、待检砝码盘P6、待检砝码盘P7和待检砝码盘P8(作为表2中的被检B)一一放入支撑架的各层叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后进行称重得到该四个砝码盘的称量重量,然后将得到的两组称量重量数据进量比较,得到称量差值Δmsp5,然后进入步骤S3-6。
步骤S3-6,首先,对空的待检砝码盘P5(此时待检砝码盘P5作为表2中的标准A)进行称重得到待检砝码盘P5的称量重量,然后,将空的待检砝码盘P6、待检砝码盘P7和待检砝码盘P8(作为表2中的被检B)一一放入支撑架的各层叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后进行称重得到该三个砝码盘的称量重量,然后将得到的两组称量重量数据进行比较,得到称量差值Δmsp6,然后进入步骤S3-7。
步骤S3-7,首先,对空的待检砝码盘P6(此时待检砝码盘P6作为表2中的标准A)进行称重得到待检砝码盘P6的称量重量,然后,将空的待检砝码盘P8、待检砝码盘P9、待检砝码盘P10、待检砝码盘P11和待检砝码盘P12(作为表2中的被检B)一一放入支撑架的各层叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后进行称重得到该五个砝码盘的称量重量,然后将得到的两组称量重量数据进行比较,得到称量差值Δmsp7,然后进入步骤S3-8。
步骤S3-8,首先,对空的待检砝码盘P7(此时待检砝码盘P7作 为表2中的标准A)进行称重得到待检砝码盘P7的称量重量,然后,将空的待检砝码盘P8、待检砝码盘P9、待检砝码盘P10、待检砝码盘P11和待检砝码盘P12(作为表2中的被检B)一一放入支撑架的各层叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后进行称重得到该五个砝码盘的称量重量,然后将得到的两组称量重量数据进行质量比较,得到称量差值Δmsp8,然后进入步骤S3-9。
步骤S3-9,首先,对空的待检砝码盘P8(此时待检砝码盘P8作为表2中的标准A)进行称重得到待检砝码盘P8的称量重量,然后,将空的待检砝码盘P9、待检砝码盘P10、待检砝码盘P11和待检砝码盘P12(作为表2中的被检B)一一放入支撑架的各层叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后进行称重得到该四个砝码盘的称量重量,然后将得到的两组称量重量数据进行比较,得到称量差值Δmsp9,然后进入步骤S3-10。
步骤S3-10,首先,对空的待检砝码盘P9(此时待检砝码盘P9作为表2中的标准A)进行称重得到待检砝码盘P9的称量重量,然后,将空的待检砝码盘P10、待检砝码盘P11和待检砝码盘P12(作为表2中的被检B)一一放入支撑架的各层叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后进行称重得到该三个砝码盘的称量重量,然后将得到的两组称量重量数据进行比较,得到称量差值Δmsp10,然后进入步骤S3-11。
步骤S3-11,首先,对空的待检砝码盘P10(此时待检砝码盘P10作为表2中的标准A)进行称重得到待检砝码盘P10的称量重量,然 后,将空的待检砝码盘P12和参检砝码盘P13(作为表2中的被检B)一一放入支撑架的各层叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后进行称重得到该两个砝码盘的称量重量,然后将得到的两组称量重量数据进行比较,得到称量差值Δmsp11,然后进入步骤S3-12。
步骤S3-12,首先,对空的待检砝码盘P11(此时待检砝码盘P11作为表2中的标准A)进行称重得到待检砝码盘P11的称量重量,然后,将空的待检砝码盘P12和参检砝码盘P13(作为表2中的被检B)一一放入支撑架的各层叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后进行称重得到该两个砝码盘的称量重量,然后将得到的两组称量重量数据进行比较,得到称量差值Δmsp12,然后进入步骤S3-13。
步骤S3-13,首先,对空的待检砝码盘P12(此时待检砝码盘P12作为表2中的标准A)进行称重得到待检砝码盘P12的称量重量,然后,将空的参检砝码盘P13(作为表2中的被检B)一一放入支撑架的各层叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后进行称重得到该砝码盘的称量重量,然后将得到的两组称量重量数据进行比较,得到称量差值Δmsp13,然后进入步骤S4。
步骤S4(砝码盘质量修正值获取步骤),采用组合比较法测量模式中的质量修正值计算方式,基于修正值计算公式(1)~(13),根据步骤S3得到的13个称量差值计算出参检砝码盘和每个待检砝码盘的砝码盘质量修正值、即表2中的ΔmP1~ΔmP13,然后进入步骤S5。
修正值计算公式(1)~(13)为:
步骤S5(组件设定步骤),将标准砝码、参检砝码和十二个待检砝码按表1所示分别放入对应工位的砝码盘的中心区域中,并且每个砝码在砝码盘的同一方位并且距离砝码盘中心的距离相同。其中,将标准砝码和标准砝码盘设定为标准组件、将参检砝码和参检砝码盘 设定为参检组件、将各个待检砝码和对应的待检砝码盘设定为十二个待检组件,这样解决了砝码的搬运问题和叠放问题,然后进入步骤S6。
步骤S6(组件质量差值获取步骤),采用组合比较法测量模式中质量差值获取方式对组件进行比较检测,如表3所示,本步骤的具体流程如下:
表3 组件组合比较法检定流程
在表3中,F1000表示标准组件折算质量;F1-表示参检组件折算质量;F500、F200、F200·、F100、F50、F20、F20·、F10、F5、F2、F2·、F1分别表示含有标称值500mg、200mg、200·mg、100mg、50mg、20mg、20·mg、10mg、5mg、2mg、2·mg、1mg的待检砝码的待检组件折算质量。
步骤S6-1,首先,将标准组件F1000在比较仪进行称重得到称重质量,然后将待检组件F500、待检组件F200、待检组件F200·和待检组件F100通过砝码盘一一放置在支撑架的各层进行叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后将叠放在一起的四个待检组件一起在比较仪进行称重得到称重质量,如表3中的操作流程序号1所示,最后将这两个称重质量数据进行比较得到质量差值、即Δm1,然后进入步骤S6-2。
步骤S6-2,首先,将待检组件F500在比较仪中进行称重得到称重质量,然后将待检组件F200、待检组件F200·和待检组件F100通过砝码盘一一放置在支撑架的各层进行叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后将叠放在一起的三个待检组件一起在比较仪中进行称重得到称重质量,如表3中的操作流程序号2所示,最后将这两组称重质量数据进行比较得到质量差值、即Δm2,然后进入步骤S6-3。
步骤S6-3,首先,将待检组件F200在比较仪中进行称重得到称重质量,然后将待检组件F100、待检组件F50、待检组件F20、待检组件F20·和待检组件F10通过砝码盘一一放置在支撑架的各层进行叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后将叠放在一起的五个待检组件码一起在比较仪中进行称重得到称重质量,如表3中的操作流程序号3所示,最后将这两组称重质量数据进行比较得到质量差值、即Δm3,然后进入步骤S6-4。
步骤S6-4,首先,将待检组件F200·在比较仪中进行称重得到称重质量,然后将待检组件F100、待检组件F50、待检组件F20、待检组件 F20·和待检组件F10通过砝码盘一一放置在支撑架的各层进行叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后将叠放的五个待检组件一起在比较仪中进行称重得到称重质量,如表3中的操作流程序号4所示,最后将这两组称重质量数据进行比较得到质量差值、即Δm4,然后进入步骤S6-5。
步骤S6-5,首先,将待检组件F100在比较仪中进行称重得到称重质量,然后将待检组件F50、待检组件F20、待检组件F20·和待检组件F10通过砝码盘一一放置在支撑架的各层进行叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后将叠放的四个待检组件一起在比较仪中进行称重得到称重质量,如表3中的操作流程序号5所示,最后将这两组称重质量数据进行比较得到质量差值、即Δm5,然后进入步骤S6-6。
步骤S6-6,首先,将待检组件F50在比较仪中进行称重得到称重质量,然后将待检组件F20、待检组件F20·和待检组件F10通过砝码盘一一放置在支撑架的各层进行叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后将叠放的三个待检组件一起在比较仪中进行称重得到称重质量,如表3中的操作流程序号6所示,最后将这两组称重质量数据进行比较得到质量差值、即Δm6,然后进入步骤S6-7。
步骤S6-7,首先,将待检组件F20在比较仪中进行称重得到称重质量,然后将待检组件F10、待检组件F5、待检组件F2、待检组件F2·、待检组件F1通过砝码盘一一放置在支撑架的各层进行叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后将叠放的五个待检组件一起在 比较仪中进行称重得到称重质量,如表3中的操作流程序号7所示,最后将这两组称重质量数据进行比较得到质量差值、即Δm7,然后进入步骤S6-8。
步骤S6-8,首先,将待检组件F20·在比较仪中进行称重得到称重质量,然后将待检组件F10、待检组件F5、待检组件F2、待检组件F2·、待检组件F1通过砝码盘一一放置在支撑架的各层进行叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后将叠放的五个待检组件一起在比较仪中进行称重得到称重质量,如表3中的操作流程序号8所示,最后将这两组称重质量数据进行比较得到质量差值、即Δm8,然后进入步骤S6-9。
步骤S6-9,首先,将待检组件F10在比较仪中进行称重得到称重质量,然后将待检组件F5、待检组件F2、待检组件F2·、待检组件F1通过砝码盘一一放置在支撑架的各层进行叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后将叠放的四个待检组件一起在比较仪中进行称重得到称重质量,如表3中的操作流程序号9所示,最后将这两组称重质量数据进行比较得到质量差值、即Δm9,然后进入步骤S6-10。
步骤S6-10,首先,将待检组件F5在比较仪中进行称重得到称重质量,然后将待检组件F2、待检组件F2·、待检组件F1通过砝码盘一一放置在支撑架的各层进行叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后将叠放的三个待检组件一起在比较仪中进行称重得到称重质量,如表3中的操作流程序号10所示,最后将这两组称重数据质量进行比较得到质量差值、即Δm10,然后进入步骤S6-11。
步骤S6-11,首先,将待检组件F2在比较仪中进行称重得到称重质量,然后将待检组件F1和参检组件F1-通过砝码盘一一放置在支撑架的各层进行叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后将叠放的待检组件F1和参检组件F1-一起在比较仪中进行称重得到称重质量,如表3中的操作流程序号11所示,最后将这两组称重质量数据进行比较得到质量差值、即Δm11,然后进入步骤S6-12。
步骤S6-12,首先,将待检组件F2·在比较仪中进行称重得到称重质量,然后将待检组件F1和参检组件F1-通过砝码盘一一放置在支撑架的各层进行叠放,它们的中心处于比较仪的秤盘的中轴线上,然后将叠放的待检组件F1和参检组件F1-一起在比较仪中进行称重得到称重质量,如表3中的操作流程序号11所示,最后将这两组称重质量数据进行比较得到质量差值、即Δm12,然后进入步骤S6-13。
步骤S6-13,首先,将待检组件F1在比较仪中进行称重得到称重质量,然后将参检组件F1-在比较仪中进行称重得到称重质量,如表4中的操作流程序号13所示,最后将这两组称重质量数据进行比较得到质量差值、即Δm13,然后进入步骤S7。
步骤S7(计算检定步骤),根据步骤S4得到的参检砝码盘和各个待检砝码盘相对应的一组砝码盘质量修正值和步骤S6得到的一组组件质量差值、基于如下13个折算质量值计算公式(14)~(26)计算出每个待检砝码的折算质量,然后根据修正值计算公式(质量修正值等于折算质量减去标称质量)计算出每个被检砝码的质量修正值和参检砝码的砝码质量修正值,然后进入步骤S8,
13个修正值计算公式为:
其中:Δm1、Δm2、Δm3、Δm4、Δm5、Δm6、Δm7、Δm8、Δm9、Δm10、Δm11、Δm12、Δm13是步骤S6计算得到的质量差值;
ΔmP1、ΔmP2、ΔmP3、ΔmP4、ΔmP5、ΔmP6、ΔmP7、ΔmP8、ΔmP9、ΔmP10、ΔmP11、ΔmP12、ΔmP13是步骤S4计算得到每个待检砝码盘和参检砝码盘的质量修正值;
mc1000是已知的标准砝码的折算质量;mc500、mc200、mc200·、mc100、mc50、mc20、mc20·、mc10、mc5、mc2、mc2·、mc1分别对应12个待检砝码的折算质量,mc1-是参检砝码、即替代砝码的折算质量。
步骤S8,根据待检砝码的砝码质量修正值并且基于JJG99-2006《砝码检定规程》中相关规则,通过砝码质量修正值判断待检砝码是否符合《砝码检定规程》中E2等级质量误差范围的要求,如果是符合《砝码检定规程》中E2等级质量误差范围的要求,则判定为合格,进入步骤S9-1;如果不符合《砝码检定规程》中E2等级质量误差范围的要求,则判定不合格,进入步骤S9-2。
步骤S9-1,发出检定证书,然后进入结束状态。
步骤S9-2,发检定结果通知书,然后进入结束状态。
实施例的作用与效果
根据本实施例所涉及的砝码检定方法,通过采用标准砝码盘、参检砝码盘和待检砝码盘用来一一对应盛放标准砝码、参检砝码和被检砝码,并且,通过采用组合比较法测量模式中的质量差值获取方式对标准砝码盘、参检砝码盘和待检砝码盘进行比较检测,得到它们的一组砝码盘质量差值,然后采用质量修正值计算方式得到分别与参检砝码盘和各个待检砝码盘相对应的一组砝码盘质量修正值,然后,采用 质量差值获取方式对标准组件、参检组件和待检组件进行比较检测,得到一组组件质量差值,最后根据一组砝码盘质量修正值和一组组件质量差值得到待检砝码的砝码质量修正值,从而得到质量检定结果,并且在上述过程中,当需要把至少两个砝码盘或组件放在一起进行比较检测时,砝码盘或组件是被层层叠加放置比较仪的秤盘上,组件中的砝码相对与砝码盘的放置位置相同,所以从根本上避免了偏载误差,从而有效提高了质量检定结果的精确度。
在本实施例的砝码检定方法中,因为采用了支撑架对砝码盘和组件进行叠放,使得砝码盘和组件的中心处于秤盘的中轴线上,从而消除了偏载误差,使得本实施例能够对毫克级别砝码的检定更加精确。
上述实施方式为本发明的优选案例,并不用来限制本发明的保护范围。
在优选实施例中砝码检定方法用于检定毫克级的砝码,本发明还能用于检定其它重量级别的砝码,也可以同样起到消除偏载误差的效果。
在优选实施例中砝码检定方法检定1、2、2、5系列的砝码,本发明还能用于检定1、2、3、5系列或者1、1、2、2、5、5系列等其它系列的砝码。
Claims (6)
1.一种砝码检定方法,按照组合比较法测量模式,对待检砝码组中多个待检砝码,使用标准砝码以及与所述待检砝码组中标称值最小的所述待检砝码相对应的参检砝码来进行检定,其特征在于,包括以下步骤:
砝码盘采用步骤,采用用于盛放所述标准砝码的标准砝码盘、用于盛放所述参检砝码的参检砝码盘以及用于一一对应地盛放各个所述待检砝码的多个待检砝码盘;
砝码盘质量差值获取步骤,首先采用所述组合比较法测量模式中的质量差值获取方式对所述标准砝码盘、所述参检砝码盘和各个所述待检砝码盘的质量进行比较检测,得到所述标准砝码盘、所述参检砝码盘和所有的所述待检砝码盘之间的一组砝码盘质量差值;
砝码盘质量修正值获取步骤,采用所述组合比较法测量模式中的质量修正值计算方式,基于所述一组砝码盘质量差值,得到分别与所述参检砝码盘和各个所述待检砝码盘的相对应的一组砝码盘质量修正值;
组件设定步骤,将所述标准砝码和所述标准砝码盘设定为标准组件、将所述参检砝码和所述参检砝码盘设定为参检组件以及将各个所述待检砝码和对应的所述待检砝码盘分别设定为多个待检组件;
组件质量差值获取步骤,采用所述组合比较法测量模式中的所述质量差值获取方式对所述标准组件、所述参检组件和各个所述待检组件的质量进行比较检测,得到所述标准组件、所述参检组件和所有的所述待检组件之间的一组组件质量差值;以及
计算检定步骤,根据所述一组砝码盘质量修正值和所述一组组件质量差值,基于计算规则计算得到各个所述待检砝码的砝码质量修正值,从而得到与各个所述待检砝码相对应的多个质量检定结果,
其中,在所述砝码盘质量差值获取步骤中,当需要把至少两个砝码盘放在一起进行所述比较检测时,所述砝码盘是被层层叠加放置在比较仪的秤盘上,
在所述组件差值获取步骤中,当需要把至少两个组件放在一起进行所述比较检测时,所述组件是被层层叠加放置在所述秤盘上,
在每个所述组件中的所述砝码相对于所述砝码盘的放置位置相同。
2.根据权利要求1所述的砝码检定方法,其特征在于:
其中,所述比较仪采用多层结构的支撑架来叠加放置至少两个所述砝码盘,从而使得所述砝码盘的中心处于所述秤盘的中轴线上,
所述比较仪中的所述支撑架还用来叠加放置至少两个所述组件,从而使得所述组件中所述砝码盘的中心处于所述秤盘的中轴线上。
3.根据权利要求1所述的砝码检定方法,其特征在于:
其中,所述待检砝码组是一套毫克级别的砝码。
4.根据权利要求3所述的砝码检定方法,其特征在于:
其中,所述待检砝码组含有标称值分别为:500mg、200mg、200mg、100mg、50mg、20mg、20mg、10mg、5mg、2mg、2mg、1mg的十二个毫克砝码,
所述标准砝码是标称值为1000mg的砝码,
所述参检砝码是标称值为1mg的砝码。
5.根据权利要求4所述的砝码检定方法,其特征在于:
其中,在所述计算检定步骤中,所述预定计算规则包含折算质量值计算公式和修正值计算公式,
所述折算质量值计算公式为:
在所述折算质量计算公式中:mc500、mc200、mc200·、mc100、mc50、mc20、mc20·、mc10、mc5、mc2、mc2·、mc1分别是标称值为500mg、200mg、200mg、100mg、50mg、20mg、20mg、10mg、5mg、2mg、2mg、1mg的所述待检砝码的折算质量,mc1000是所述标准砝码的折算质量,
ΔmP1、ΔmP2、ΔmP3、ΔmP4、ΔmP5、ΔmP6、ΔmP7、ΔmP8、ΔmP9、ΔmP10、ΔmP11、ΔmP12分别是标称值为500mg、200mg、200mg、100mg、50mg、20mg、20mg、10mg、5mg、2mg、2mg、1mg的所述待检砝码所对应的所述待检砝码盘的质量修正值,ΔmP13是所述参检砝码盘的质量修正值,
Δm1是含有标称值为500mg、200mg、200mg、100mg的所述待检砝码的四个所述待检组件与所述标准组件的所述质量差值,Δm2是含有标称值为200mg、200mg、100mg的所述待检砝码的三个所述待检组件与含有标称值为500mg的所述待检砝码的所述待检组件的所述质量差值,Δm3是含有标称值为100mg、50mg、20mg、20m、10mg的所述待检砝码的五个所述待检组件与含有标称值为200mg的所述待检砝码的所述待检组件的所述质量差值,Δm4是含有标称值为100mg、50mg、20mg、20m、10mg的所述待检砝码的五个所述待检组件与含有标称值为200mg的所述待检砝码的所述待检组件的所述质量差值,Δm5是含有标称值为50mg、20mg、20m、10mg的所述待检砝码的四个所述待检组件与含有标称值为100mg的所述待检砝码的所述待检组件的所述质量差值,Δm6是含有标称值为20mg、20m、10mg的所述待检砝码的三个所述待检组件与含有标称值为50mg的所述待检砝码的所述待检组件的所述质量差值,Δm7是含有标称值为10mg、5mg、2mg、2m、1mg的所述待检砝码的五个所述待检组件与含有标称值为20mg的所述待检砝码的所述待检组件的所述质量差值,Δm8是含有标称值为10mg、5mg、2mg、2m、1mg的所述待检砝码的五个所述待检组件与含有标称值为20mg的所述待检砝码的所述待检组件的所述质量差值,Δm9是含有标称值为5mg、2mg、2m、1mg的所述待检砝码的四个所述待检组件与含有标称值为10mg的所述待检砝码的所述待检组件的所述质量差值,Δm10是含有标称值为2mg、2m、1mg的所述待检砝码的三个所述待检组件与含有标称值为5mg的所述待检砝码的所述待检组件的所述质量差值,Δm11是含有标称值为1mg的所述待检砝码的所述待检组件和所述参检组件与含有标称值为2mg的所述待检砝码的所述待检组件的所述质量差值,Δm12是含有标称值为1mg的所述待检砝码的所述待检组件和所述参检组件与含有标称值为2mg的所述待检砝码的所述待检组件的所述质量差值,Δm13是所述参检组件与含有标称值为1mg的所述待检砝码的所述待检组件的所述质量差值,
所述修正值计算公式为所述待检砝码的质量修正值等于所述待检砝码的折算质量减去所述待检砝码的标称值。
6.根据权利要求3所述的砝码检定方法,其特征在于:
其中,所述待检砝码组含有标称值分别为:500mg、300mg、200mg、100mg、50mg、30mg、20mg、10mg、5mg、3mg、2mg、1mg的十二个毫克砝码,
所述标准砝码是标称值为1000mg的砝码,
所述参检砝码是标称值为1mg的砝码。
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