CN104637499A - 磁盘装置及下触判定方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及磁盘装置及下触判定方法。实施方式的磁盘装置具备磁盘、滑动器、加热器、控制部、传感器和判定部。所述滑动器具备相对于所述磁盘进行记录或再现的磁头元件。所述加热器设置于所述滑动器，通过供给电力对所述滑动器进行加热，并通过伴随于该加热的所述滑动器的热变形，使所述磁头元件相对于所述磁盘的突出量变化。所述控制部进行使涉及供给于所述加热器的电力的控制量按一定周期地变动的DFH控制。所述传感器设置于所述滑动器，输出对应于相应于所述DFH控制的所述磁头元件的突出量的信号。所述判定部基于相应于所述DFH控制的所述传感器的直流输出分量即DC输出信号的峰值，对是否发生所述磁盘和所述滑动器的一部分相接触的下触进行判定。

Description

磁盘装置及下触判定方法

本申请要求以美国临时专利申请61／904118号（申请日：2013年11月14日）为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请包括基础申请的全部内容。

技术领域

本发明的实施方式涉及磁盘装置及下触判定方法。

背景技术

在具有磁盘的硬盘驱动器（HDD）中，磁头一边与磁盘空出间隙即一边相对于磁盘悬浮，一边相对于磁盘进行记录再现。可是，起因于HDD的使用环境的温度、湿度或高度、或者磁盘上的部分的突起等，而未能良好地进行悬浮控制，存在发生磁头接触磁盘的称为下触（touch down）的现象（以下，称为TD）的情况。

在发生了该TD的情况下，由于与TD相伴的磁头的高悬浮、磁头的定位精度的下降等，会发生记录错误和再现错误。因此，要求高精度地进行磁头相对于磁盘的悬浮设计，使得在用户的HDD使用环境中不会发生TD。

现有，关于采用HDI（Head-Disk Interface，磁头-磁盘界面）传感器的AC输出的TD检测方法已经作了公开。HDI传感器是在磁头具备有电阻元件的传感器，通过HDI传感器的电阻值的变化能够对TD进行检测。另一方面作为未使用HDI传感器的TD检测方法，存在利用伺服位置误差信息的方法。不管是哪种方法都要求高精度地进行TD检测。

发明内容

本发明实施方式提供容易进行高精度的TD检测的磁盘装置及下触判定方法。

实施方式的磁盘装置具备滑动器、加热器、控制部、传感器和判定部。所述滑动器具备相对于所述磁盘进行记录或再现的磁头元件。所述加热器设置于所述滑动器，用于通过被供给电力而对所述滑动器进行加热，并通过伴随于该加热的所述滑动器的热变形而使所述磁头元件相对于所述磁盘的突出量变化。所述控制部进行使与供给于所述加热器的电力相关的控制量按一定周期变动的DFH（Dynamic Flying Height，动态飞行高度）控制。所述传感器设置于所述滑动器，输出与相应于所述DFH控制的所述磁头元件的突出量相对应的信号。所述判定部基于相应于所述DFH控制的所述传感器的直流输出分量即DC输出信号的峰值，对是否发生了所述磁盘和所述滑动器的一部分相接触的下触进行判定。

附图说明

图1是表示一个实施方式涉及的磁盘装置的构成的框图。

图2A是表示从磁盘的记录面侧看到的磁头的构成的图。

图2B是表示从磁盘的周缘部侧看到的磁头的构成的图。

图3是示意地示出HDI传感器和检测电路的电路图。

图4是用于对通过DFH进行的磁头悬浮量控制的概念进行说明的图。

图5是用于对下触的状态进行说明的图。

图6是用于关于进行下触检测并对磁头悬浮量进行调整的方法进行说明的图。

图7是DFH的控制量与实际的DFH突出量的关系的概念图。

图8是表示对加热电力进行了脉冲控制的情况下DFH的控制量与实际的DFH突出量的关系的概念图。

图9是表示通过HDI传感器的DC输出对脉冲控制加热电力的情况下的实际的DFH突出量进行监控的例子的图。

图10是关于TD附近的DFH控制量表示与图9同样的监控值的图。

图11是关于各DFH的值表示相对于各DFH控制量的HDI传感器输出振幅的峰值平均值和谷值平均值的图。

图12是关于在图10进行了说明的TD判定方法表示实际的测定例的图。

图13表示对DFH的突出量进行脉冲控制、通过HDI传感器进行下触检测的流程。

具体实施方式

以下，基于附图对磁盘装置及TD判定方法的实施方式详细地进行说明。

图1是表示本实施方式涉及的磁盘装置1的构成的框图。本实施方式的磁盘装置1作为简要构成，在壳体（未图示）的内部具备磁盘11、使磁盘11旋转的主轴电动机（SPM）12、磁头22、致动臂15、音圈电动机（VCM）16和灯23等。

通过SPM12使磁盘11旋转。致动臂15转动自如地安装于枢轴17。在该致动臂15的一端安装有磁头22。在致动臂15的另一端连接有VCM16。该VCM16使致动臂15绕枢轴17旋转，将磁头22在悬浮于磁盘11的任意半径位置上的状态下定位。

并且，本实施方式涉及的磁盘装置1中作为电子硬件构成，如图1琐事，具备电动机驱动器21、磁头放大器24、RDC（Read Write Channel，读写通道）25、HDC（Hard Disk Controller，硬盘控制器）、CPU（CentralProcessing Unit，中央处理单元）26、工作用存储器SRAM（Random AccessMemory，随机存取存储器）、非易失性存储器即闪存ROM（Read OnlyMemory，只读存储器）28和暂时存储用的缓冲RAM29。

电动机驱动器21根据来自CPU26的指令，对SPM12进行驱动，使磁盘11以旋转轴为中心按预定的旋转速度旋转。并且，电动机驱动器21根据来自CPU26的指令，对VCM16进行驱动，使致动臂15的前端的磁头22沿磁盘11的半径方向移动。

磁头22相对于磁盘11写入数据，并且读出磁盘11所记录的数据。

图2A及图2B是磁头22的简要构成图。图2A表示从磁盘11的记录面侧看到的磁头22的构成，图2B表示从磁盘11的周缘部侧看到的磁头22的构成。

如图2A、2B所示，本实施方式的磁头22构成为，在磁头滑动器205上设置有记录头201、再现头202、作为加热部的加热器204和作为检测部的HDI传感器203。

记录头201利用从其磁极发生的磁场，在磁盘11的数据区域进行数据的写入。再现头202通过读取磁盘11上的磁场的变化，读出磁盘11所记录的数据。还有，在磁盘11旋转停止等时，磁头22退让到灯23（参照图1）上。

HDI传感器203具备电阻元件（在图2A、2B中未图示），通过该电阻元件对记录头201或再现头202与磁盘11的接触进行检测。还有，关于通过HDI传感器203进行的检测的详情将后述。

加热器204接受来自电力供给部33的电力供给而对磁头22的磁头滑动器205进行加热。通过该加热，磁头22因为磁头滑动器205热变形，所以磁头22的距离磁盘11的悬浮量变化。

返回到图1，电力供给部33根据来自CPU26的指令对加热器204进行电力供给。关于通过加热器204的加热所进行的磁头22的悬浮量的控制的详情将后述。

磁头放大器24对再现头202从磁盘11读取到的再现信号波形的信号进行放大并输出到RDC25。并且，磁头放大器24对从RDC25所供给的写入信号进行放大并输出到记录头201。

磁头放大器24除了具有如此的放大功能之外，如图1所示，还具备作为检测部的检测电路101。检测电路101通过对HDI传感器203的电阻元件的电阻值的变化进行检测，从而对磁头的突出量进行检测。并且，在磁头放大器24，内置使HDI传感器203的电阻元件401（参照图3）通电的恒流源（未图示）。

图3是示意地表示HDI传感器203和检测电路101的电路图。在HDI传感器203，如图3所示，内置上述电阻元件401。电阻元件401连接于磁头放大器24内的恒流源。

电阻元件401的端子间电压的信号输入于电压偏置（off set）电路206，基于指示值进行偏置调整。偏置调整后的信号通过放大器207放大，通过低通滤波器208去除噪声，作为HDI传感器输出信号而被提供。

图4是用于对通过DFH所进行的磁头悬浮量控制的概念进行说明的图。DFH为如下的技术：在磁头22中，通过使电流流过相邻于记录头201及再现头202而形成的加热器204，从而通过热使滑动器205微小变形，对悬浮量进行控制。通过使DFH控制量（加热器电力）增加，磁头22（滑动器205）的突出量增加，能够减小磁头22的悬浮量。通过对DFH控制量适当地进行调整，能够在读·写各个工作时成为恰当的磁头悬浮量。

图5是用于对TD的状态进行说明的图。若使DFH控制量增加，则成为磁头22与介质（磁盘11）相接触的状态即TD状态。能够以TD时的DFH控制量为基准，通过从其减去一定量的控制量，从而成为适当的磁头悬浮量。

图6是用于关于进行TD检测并对磁头悬浮量进行调整的方法进行说明的图。不存在通过DFH发生的磁头突出的状态下的磁头悬浮量，按每装置存在个体差异。因此，为了实现作为目标的磁头的悬浮量，必需如图5地进行TD检测，进行以此为基准的调整。DFH1为成为TD状态的DFH控制量。在该时刻磁头的悬浮量能够看做0。为了成为作为目标的磁头悬浮量，而从DFH1中扣除控制量BO量的DFH控制量，成为DFH2的控制量。关于BO的值（大小），也可以为设为关于一定数量的母族预先进行了调查的结果所得到的固定的值。或者也可以预先记录任意的频率图案（pattern），对通过读磁头读取到的信号的频率分量进行分析且比较，并对BO的值进行调整使其成为作为目标的悬浮量。

图7是DFH的控制量与实际的DFH突出量的关系的概念图。在时刻t1刚改变DFH控制量的设定值（DFH Power的值）之后，实际的DFH突出量按时间常数而变化，并在某一定时间后成为稳定的突出量。

图8是对加热器电力进行了脉冲控制的情况下的DFH控制量的设定值与实际的DFH突出量的关系的概念图。该情况下的DFH控制量包括一定周期及预定振幅的脉冲列。图8的左侧纵轴的DFH Power的单位（dac）为与图7的左侧纵轴的DFH Power的单位（mW）成比例的单位，为CPU26对电力供给部33输出的指令值的单位。dac值虽然例如预备为0dac～255dac，但是并不限于该范围。电力供给部33将对应于dac值的电力供给于加热器204。DFH突出量以DFH中央设定值为中心并按以振幅有效值为振幅周期性地变化。周期与DFH控制量的脉冲列的周期相一致。DFH控制可以以伺服帧(servo frame)为单位而进行。

DFH突出量虽然实际上应当以nm为单位，但是为了简单可以考虑换算为DFH的控制量（dac值）。图8的“振幅设定值”表示DFH控制量的峰值与谷值之差（在附图中设定DFH2与设定DFH1之差）的1／2，“振幅有效值”表示将实际突出的量换算为DFH控制量所得的值。

图9为通过HDIs（HDI传感器）203的DC输出来监控对加热器电力进行了脉冲控制的情况下的实际的DFH突出量的例。HDI传感器203的DC输出对应于磁头22所具备的HDI传感器电阻部的温度，并且表示在HDI传感器输出值相同的情况下传感部的温度也相同。因为在未发生TD的状态下，HDI传感部的温度由DFH突出量唯一确定，所以相同的HDI传感器输出值器表示相同的突出量。也就是说，HDI传感器输出值对应于磁头的突出量。

DFH可以以伺服帧为单位进行控制，可控制的周期T为伺服周期的一定倍数。在该例中周期T＝8伺服周期（DFH控制量的脉冲周期T为伺服帧周期的8倍）并将振幅设定值为6dac对DFH进行脉冲控制，并对HDIs的DC输出以伺服帧为周期进行了监控，图中示出其结果。DFH0、DFH7等的曲线中的例子表示将DFH的控制量（在此为脉冲控制的谷低值，相当于图8的设定DFH1的值）设为某一值的情况下的结果。例如DFH0表示设定DFH1为0dac且使振幅设定值为6dac的情况下的HDI传感器输出值。

在该例中，例如在DFH0（DFH脉冲控制谷值值：0dac）的情况下，DFH突出量表示使HDI传感器601作为磁盘至少1周的谷值平均值、使HDI传感器输出602作为磁盘至少1周的峰值平均值而周期性地变动。并且在DFH7（DFH脉冲控制谷值值：7dac）的情况下，谷值平均值与DFH0的情况下的峰值平均值即HDI传感器输出602相一致。也就是说DFH0的峰值平均值的HDI与DFH7的谷值平均值成为相同的DFH突出量。此表示DFH0的情况下的振幅有效值为3.5dac（＝7dac／2）。

图10为关于TD附近的DFH控制量表示与图9同样的监控值的图。即使在磁头前端间断地接触到介质的情况下，也因为HDI传感器的温度通过散热效应而下降、所以HDI传感器输出也下降。HDI传感器输出值701为DFH36的峰值点处的HDI传感器输出值的磁盘至少1周上的平均值。所谓峰值点（在图10中以虚线的垂线表示）表示如图8所示DFH控制脉冲的下降（预定方向的电平变化点）附近的时刻，为预想突出量成为最大的时刻。HDI传感器输出值702为DFH31的峰值点处的HDI传感器输出值的磁盘至少1周上的平均值。从而在如该图的DFH36的情况下，表示突出量DFH应当成为峰值的时刻（峰值点）的HDI传感器输出值比DFH31低。从而，在此能够判定为发生了TD。也就是说，只要对峰值点的HDI传感器输出的平均值进行监控，则即使使DFH控制量增加，在输出平均值在TD前后不变化或降低的情况下就能够判定为TD。并且，只要对在峰值点的HDI传感器输出值的磁盘至少1周上的不均即标准偏差σ进行计算，则能够将使DFH控制量增加且标准偏差σ增加超过阈值的点判定为TD（关于TD判定利用图12后述）。

图11是关于各DFH的值而表示HDI传感器输出振幅相对于各DFH控制量的峰值平均值（在图10中表示的峰值点处的HDI传感器输出值的磁盘至少1周的平均值）和谷值平均值（在图10中表示的谷值点处的HDI传感器输出值的磁盘至少1周的平均值）的图。所谓谷值点（在图10中以单点划线的垂线表示）表示如图8所示DFH控制脉冲的上升（与上述预定方向相反方向的电平变化点）附近的时刻，为预想突出量成为最小的时刻。如示于附图地，通过在将峰值平均值偏离几个dac的情况下研究与谷值平均值的差值是否为0或最小，从而了解各DFH控制量的振幅有效值。附图中的峰值_位移7的曲线表示将峰值平均值的曲线向右方向（DFH控制量增加的方向）位移7dac后的曲线，并且峰值_位移9的曲线表示将峰值平均值的曲线向右方向位移9dac后的曲线。通过用峰值-峰值振幅有效值除以2可得到振幅有效值。例如在附图的“振幅有效值1”的情况下，DFH控制量12（图8的设定DFH1为12dac，振幅设定值为6dac）时，表示振幅的峰值-峰值值为7，即振幅有效值为3.5dac（＝7dac／2）。并且，在“振幅有效值2”的情况下，DFH控制量32（图8的设定DFH1为32dac，振幅设定值为6dac）时，表示振幅的峰值-峰值值为9，即振幅有效值为4.5dac（＝9dac／2）。也就是说，振幅有效值为将谷值平均值与通过预先测定的DFH控制量所产生的HDI传感器峰值平均制进行比较，并在相同的HDI输出值中作为两者的DFH控制量的差值的1／2而计算。

图12是关于在图10中进行了说明的TD判定方法表示实际的测定例的图。图12中的“平均值的斜率”为使DFH控制量按预定量（不限于一定量）逐渐上升并连接各个DFH控制量中的在峰值点的HDI传感器输出值的平均值的直线的斜率。该平均值的斜率如果比预定阈值th1小（如果低于预定阈值th1），则判定为TD。并且，附图中的“标准偏差σ”为各DFH控制量中的HDI传感器输出值在峰值点的值的磁盘至少1周上的偏差。在该图中，在标准偏差σ超过预定阈值th2（高于预定阈值th2）的测定点D被判定为TD。

图13表示对DFH的突出量进行脉冲控制而通过HDI传感器进行TD检测的处理的流程。示于该流程的处理在CPU26的控制下进行。

首先在步骤S1中，将磁头放大器24设定为HDI传感器DC测定模式。接下来在步骤S2中，进行检测电路101的DC输出偏置调整。检测电路101的HDI传感器输出信号被送给ADC（未图示）而被监控。因为ADC的输入范围存在上限、下限，所以HDI传感器输出信号的电压必需收敛在ADC的输入范围。若在测定的过程中使DFH控制量的指示值增加，则伴随于其HDI传感器的温度上升，电阻值也上升。也就是说，HDI传感器输出信号的电压上升，因为若达到ADC的输入上限、则ADC的输出会饱和，所以无法进行正确的监控。从而在该步骤S2中对图3的电压偏置电路206的指示值进行调整，使得HDI传感器输出信号的电压为ADC的输入范围的下限或其以下，在测定的过程中ADC输出不会饱和。

在步骤S3中，进行DFH初始值设定。HDI传感器输出信号的测定中，使DFH设定值从初始值每次按一定量增加，在该过程中进行TD判定。开始测定的初始值必须为比发生TD现象的DFH设定值充分小的值。在预先了解发生TD的DFH设定值的范围的情况下，也可以一致于该值而使DFH设定值变更。也就是说，在发生TD的DFH设定值为充分大的值的情况下，DFH初始值也设定为大的值，能够缩短测定时间。在不清楚发生TD的DFH设定值情况下和该DFH设定值较小的情况下，优选：初始值设定值为0或为可设定的最小值。

在步骤S4中，CPU26将如示于图8的脉冲状的DFH控制指令值给与电力供给部33，对检测电路101的HDI传感器输出信号进行监控。在步骤S5及S6中，如图11所示，在各DFH控制量中，对HDI传感器输出值的峰值平均值和谷值平均值进行计算。该情况下，将磁盘1周以上相同的DFH控制指令值给与电力供给部33，对HDI传感器输出信号进行监控，并对峰值平均值和谷值平均值进行计算。

在步骤S7中，对振幅有效值进行计算。如参照图11所述地，将此时的DFH设定值中的谷值平均值与针对预先测定的DFH控制量的HDI传感器峰值平均值进行比较，并计算相同的HDI传感器输出值中两者的DFH控制量的差值的1／2进行作为振幅有效值。

在步骤S8中，如在图12中进行了说明地那样，如果HDI传感器输出值在峰值点处的平均值的斜率比作为TD判定基准的预定阈值th1小，则判定为发生TD。或者，在磁盘至少1周上的峰值点处HDI传感器输出值的偏差即标准偏差σ超过作为TD判定基准的预定阈值th2的情况下，判定为发生TD。

在不满足TD判定基准的情况下（步骤S8的否），如步骤S9地增加DFH控制量，流程返回到步骤S4，再次进行步骤S4～S8的处理。相对于此，在满足TD判定基准的情况下（步骤S8的是），流程转变到步骤S10。

在步骤S10中，将在被判定为TD的DFH中央设定值上加上在紧邻之前的步骤S7中计算出的振幅有效值所得的值设为发生TD的DFH控制值。例如在图11中，在峰值平均值下降的点A作TD判定。使此时的DFH控制量例如为34dac。该情况下的谷值平均值示于点B，使HDI传感器输出值例如为1.55V。HDI传感器输出值基本相同，1.55V的峰值平均值（点C）与谷值平均值（点B）的DFH控制值的差值如以峰值-位移9的曲线表示地为9dac。从而在该情况下，振幅的峰值-峰值值为9dac，振幅有效值为4.5dac（9dac／2）。DFH中央设定值为在此时的DFH34dac上加上例如6dac（DFH控制量的脉冲振幅的1／2的值）所得的40dac，在该值上加上振幅有效值4.5dac所得的值44.5dac为被判定为TD时的DFH控制值。

关于TD判定方法不仅通过HDI传感器进行判定，也可以与将伺服误差信号和／或VCM电流值等的脉冲频率分量超过一定值的情况判定为TD的方法等相组合。

如以上说明地根据所述实施方式，在通过脉冲列状的DFH控制量对DFH突出量进行控制时，能够基于HDI输出信号对DFH突出量进行监控，并且可进行TD判定。

并且，根据上述实施方式，能够在通过DFH的脉冲控制进行TD检测的处理流程中对DFH突出量的振幅有效值进行计算并估计偏置量。从而即使在磁头个别地存在偏置量之差的情况下也可求出正确的成为TD的DFH控制量。并且即使在磁头的歪斜接近0的测定位置的情况下，也可以通过一并使用采用了HDI传感器的TD判定指标，通过两个指标同时进行测定。

虽然对本发明的几个实施方式进行了说明，但是这些实施方式提示为例子，并非意图对发明的范围进行限定。这些新的实施方式可按其他的各种方式来实施，在不脱离发明的要旨的范围能够进行各种省略、替换、变更。这些实施方式和其变形包括于发明的范围和要旨，并包括于记载于技术方案的范围的发明及其等同的范围。

Claims (20)

1.一种磁盘装置，其特征在于，具有：

磁盘；

滑动器，其具备对于所述磁盘进行记录或再现的磁头元件；

加热器，其设置于所述滑动器，用于通过被供给电力而对所述滑动器进行加热，并通过伴随于该加热的所述滑动器的热变形而使所述磁头元件相对于所述磁盘的突出量可变；

控制部，其进行使与供给于所述加热器的电力相关的控制量按一定周期变动的DFH控制；

传感器，其设置于所述滑动器，并输出对应于与所述DFH控制相应的所述磁头元件的突出量的信号；和

判定部，其基于与所述DFH控制相应的所述传感器的直流输出分量即DC输出信号的峰值，对是否发生了所述磁盘和所述滑动器的一部分相接触的下触进行判定。

2.根据权利要求1所述的磁盘装置，其特征在于：

所述DFH控制中的控制量包括所述一定周期及预定振幅的脉冲列，所述判定部基于所述脉冲列的预定方向的电平变化点附近的峰值点时刻的所述传感器的输出信号值，对是否发生了所述下触进行判定。

3.根据权利要求2所述的磁盘装置，其特征在于：

所述判定部基于所述峰值点时刻的所述传感器的输出信号值的至少所述磁盘1周的平均值即峰值平均值，对是否发生了所述下触进行判定。

4.根据权利要求3所述的磁盘装置，其特征在于：

所述判定部，一边将所述DFH控制量每次提高预定量一边计算针对各DFH控制量的所述峰值平均值，并在与所述DFH控制量的上升相对应的所述峰值平均值的变化的斜率低于预定阈值的时刻，判定为发生了所述下触。

5.根据权利要求2所述的磁盘装置，其特征在于：

所述判定部基于所述峰值点时刻的所述传感器的输出信号值的至少所述磁盘1周的偏差，对是否发生了所述下触进行判定。

6.根据权利要求2所述的磁盘装置，其特征在于：

所述判定部，一边将所述DFH控制量每次提高预定量一边计算针对各DFH控制量的所述峰值点时刻的所述传感器的输出信号值的至少所述磁盘1周的偏差，并在与所述DFH控制量的上升相对应的所述偏差高于预定阈值的时刻，判定为发生了所述下触。

7.根据权利要求4所述的磁盘装置，其特征在于，

所述判定部具备如下单元：

计算所述脉冲列的与所述预定方向相反方向的电平变化点附近的谷值点时刻的所述传感器的输出信号值的至少所述磁盘1周的平均值作为谷值平均值的单元；

一边将所述DFH控制量每次提高预定值，一边计算针对各DFH控制量的所述谷值平均值的单元；和

将判定为发生所述下触时的针对DFH控制量的谷值平均值与具有与该谷值平均值相同电平的所述传感器输出信号值的峰值平均值进行比较，并计算两者的DFH控制量的差值的1／2作为所述下触时的振幅有效值的单元。

8.根据权利要求6所述的磁盘装置，其特征在于，

所述判定部具备如下单元：

计算所述脉冲列的与所述预定方向相反方向的电平变化点附近的谷值点时刻的所述传感器的输出信号值的至少所述磁盘1周的平均值作为谷值平均值的单元；

一边将所述DFH控制量每次提高预定值，一边计算针对各DFH控制量的所述谷值平均值的单元；和

将判定为发生所述下触时的针对DFH控制量的谷值平均值与具有与该谷值平均值相同电平的所述传感器输出信号值的峰值平均值进行比较，并计算两者的DFH控制量的差值的1／2作为所述下触时的振幅有效值的单元。

9.根据权利要求7所述的磁盘装置，其特征在于：

所述判定部将判定为发生了下触的DFH控制量的中央值和所述下触时的振幅有效值相加所得的值确定为所述下触的DFH控制值。

10.根据权利要求8所述的磁盘装置，其特征在于：

所述判定部将判定为发生了下触的DFH控制量的中央值和所述下触时的振幅有效值相加所得的值确定为所述下触的DFH控制值。

11.一种下触判定方法，是磁盘装置的下触判定方法，该磁盘装置具备：

磁盘；

滑动器，其具备对于所述磁盘进行记录或再现的磁头元件；

加热器，其设置于所述滑动器，用于通过被供给电力而对所述滑动器进行加热，并通过伴随于该加热的所述滑动器的热变形而使所述磁头元件相对于所述磁盘的突出量可变；和

传感器，其设置于所述滑动器，并输出对应于与DFH控制相应的所述磁头元件的突出量的信号，该DFH控制使与供给于所述加热器的电力相关的控制量按一定周期变动，

该下触判定方法包括下述步骤：

进行所述DFH控制的步骤；和

基于与所述DFH控制相应的所述传感器的直流输出分量即DC输出信号的峰值，对是否发生了所述磁盘和所述滑动器的一部分相接触的下触进行判定的步骤。

12.根据权利要求11所述的下触判定方法，其特征在于：

所述DFH控制中的控制量包括所述一定周期及预定振幅的脉冲列；

基于所述脉冲列的预定方向的电平变化点附近的峰值点时刻的所述传感器的输出信号值，对是否发生了所述下触进行判定。

13.根据权利要求12所述的下触判定方法，其特征在于：

基于所述峰值点时刻的所述传感器输出信号值的至少所述磁盘1周的平均值即峰值平均值，对是否发生了所述下触进行判定。

14.根据权利要求13所述的下触判定方法，其特征在于：

一边将所述DFH控制量每次提高预定值，一边计算针对各DFH控制量的所述峰值平均值，并在与所述DFH控制量的上升相对应的所述峰值平均值的变化的斜率低于预定阈值的时刻，判定为发生了所述下触。

15.根据权利要求12所述的下触判定方法，其特征在于：

基于所述峰值点时刻的所述传感器的输出信号值的至少所述磁盘1周的偏差，对是否发生了所述下触进行判定。

16.根据权利要求12所述的下触判定方法，其特征在于：

一边将所述DFH控制量每次提高预定量，一边计算针对各DFH控制量的所述峰值点时刻的所述传感器的输出信号值的至少所述磁盘1周的偏差，并在与所述DFH控制量的上升相对应的所述偏差高于预定阈值的时刻，判定为发生了所述下触。

17.根据权利要求14所述的下触判定方法，其特征在于，包括以下步骤：

计算所述脉冲列的与所述预定方向相反方向的电平变化点附近的谷值点时刻的所述传感器的输出信号值的所述磁盘至少1周的平均值作为谷值平均值；

一边将所述DFH控制量每次提高预定量，一边计算针对各DFH控制量的所述谷值平均值；和

将判定为发生了所述下触时的针对DFH控制量的谷值平均值与具有与该谷值平均值相同电平的所述传感器输出信号值的峰值平均值进行比较，并计算两者的DFH控制量的差值的1／2作为所述下触时的振幅有效值。

18.根据权利要求16所述的下触判定方法，其特征在于，包括以下步骤：

计算所述脉冲列的与所述预定方向相反方向的电平变化点附近的谷值点时刻的所述传感器的输出信号值的至少所述磁盘1周的平均值作为谷值平均值；

一边将所述DFH控制量每次提高预定量，一边计算针对各DFH控制量的所述谷值平均值；和

将判定为发生了所述下触时的针对DFH控制量的谷值平均值与具有与该谷值平均值相同电平的所述传感器输出信号值的峰值平均值进行比较，并计算两者的DFH控制量的差值的1／2作为所述下触时的振幅有效值。

19.根据权利要求17所述的下触判定方法，其特征在于：

将判定为发生了下触的DFH控制量的中央值和所述下触时的振幅有效值相加所得的值确定为所述下触的DFH控制值。

20.根据权利要求18所述的下触判定方法，其特征在于：

将判定为发生了下触的DFH控制量的中央值和所述下触时的振幅有效值相加所得的值确定为所述下触的DFH控制值。