发明内容
本发明提出一种原理明确,计算结果正确可靠,方便实用的全桥型模块化多电平换流器功率器件损耗计算方法。
本发明的全桥型模块化多电平换流器功率器件损耗计算方法,所述全桥型模块化多电平换流器由A、B、C三相共六只桥臂组成,每两只桥臂串联形成一个相单元,每只桥臂由全桥型级联子模块和桥臂电抗器L串联组成,其中子模块包括有绝缘栅双极型晶闸管IGBT1、IGBT2、IGBT3、IGBT4,续流二极管VD1、VD2、VD3、VD4以及电容,每只绝缘栅双极型晶闸管IGBT与一只续流二极管反向并联构成一个开关器件支路,每两个开关器件支路级联并与电容相并联,该功率器件损耗计算方法包括以下步骤:
1)通过测量获得A、B、C三相上下桥臂电流、当前环境的工作温度t、以及每个功率模块中IGBT1、IGBT2、IGBT3、IGBT4的栅极电压VGE,采用曲线拟合,拟合出IGBT的输出特性曲线VCE=g(IC)及转移特性曲线IC=f(VGE),以及二极管的导通特性曲线VD=g(IF),再引入插值、占空比、结温系数等,计算出各个IGBT和二极管的通态损耗;
2)根据功率器件开关损耗曲线进行高次曲线拟合,得到EswT=g(IC)及EswD=g(IF),另外,由于门极电阻RG变化时,功率器件的开关损耗会产生相应的变化,故引入门极电阻校正系数,再结合结温系数及开关频率,计算出各个IGBT和二极管的开关损耗。
上述步骤1)中,引入栅极电压VGE计算IGBT的通态损耗,根据拟合所得转移特性曲线IC=f(VGE),计算IGBT的通态电压VCE=g[f(VGE)]和通态电阻RT=VCE/IC=g[f(VGE)]/IC。
上述步骤2)中,引入栅极电压VGE计算IGBT的开关损耗,根据曲线拟合所得EswT=g(IC)及步骤1)中所得转移特性曲线IC=f(VGE),得到EswT=g[f(VGE)]。
上述步骤2)中,引入IGBT的门极电阻修正系数θswT,根据IGBT的生产说明书,查得曲线Eon-RG和Eoff-RG,选取曲线中可查得的门极电阻最大值RG1及额定工况下的门极电阻值RG2分别对应的Eon1和Eon2,以及Eoff1和Eoff2,从而得出相应的EswTR1=Eon1+Eoff1,和EswTR2=Eon2+Eoff2,结合当前的RG,插值得出修正系数θswT,计算公式为
本发明提出了一种基于桥臂电流、栅极电压和门极电阻的全桥型模块化多电平换流器功率器件通态损耗和开关损耗的计算方法,本发明的方法根据功率器件绝缘栅双极型晶闸管IGBT的输出特性与转移特性,采用曲线拟合与插值的方式,引入门极电阻校正系数和结温系数,实现全桥型模块化多电平换流器功率器件损耗的仿真计算。本发明方法的原理明确,计算结果正确可靠。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步详细说明。
本发明的全桥型模块化多电平换流器功率器件损耗计算方法,所述全桥型模块化多电平换流器的电路结构如图1所示,A、B、C三相每相由上下两只桥臂串联而成,每只桥臂由若干个级联的功率模块以及桥臂电抗L串联组成。其中功率模块的结构如图2所示,包括有绝缘栅双极型晶闸管IGBT1、IGBT2、IGBT3、IGBT4,二极管VD1、VD2、VD3、VD4以及电容C,每只绝缘栅双极型晶闸管IGBT与一只二极管反向并联构成一个开关器件支路,每两个开关器件支路级联并与电容C相并联,其特征在该损耗计算方法包括以下步骤:
1)通过测量获得A、B、C三相上下桥臂电流、当前环境的工作温度t、以及每个功率模块中IGBT1、IGBT2、IGBT3、IGBT4的栅极电压VGE,采用曲线拟合,拟合出IGBT的输出特性曲线VCE=g(IC)及转移特性曲线IC=f(VGE),以及二极管的导通特性曲线VD=g(IF),再引入插值、占空比、结温系数等,计算出各个IGBT和二极管的通态损耗;
2)根据功率器件开关损耗曲线,在MATLAB中进行高次曲线拟合,得到EswT=g(IC)及EswD=g(IF),另外,由于门极电阻RG变化时,功率器件的开关损耗会产生相应的变化,故引入门极电阻校正系数,再结合结温系数及开关频率,计算出各个IGBT和二极管的开关损耗。
上述步骤1)具体包括以下步骤:
11)由于IGBT的通态电压VCE和栅极电压VGE随集电极电流IC的变化而变化,需根据IGBT的生产说明书,通过描点法在MATLAB中高次拟合出IGBT的输出特性曲线:
VCE=g(IC)=amIC m+am-1IC m-1+am-2IC m-2+am-3IC m-3+......+a0:
及转移特性曲线:
IC=f(VGE)=bnVGE n+bn-1VGE n-1+bn-2VGE n-2+bn-3VGE n-3+......+b0,
其中,m和n为高次拟合的次数;am、am-1……a0,bn、bn-1……b0为各次拟合系数;从而得到VCE=g[f(VGE)];进而得到IGBT的通态电阻RT=VCE/IC=g[f(VGE)]/IC;IGBT通态电压和通态电阻生成的原理如图3所示。
12)由于二极管的通态电压VD随电流IF的变化而变化,需根据二极管的生产说明书,通过描点法拟合出二极管的输出特性曲线:
VD=g(IF)=cpIF p+cp-1IF p-1+cp-2IF p-2+cp-3IF p-3+......+c0,其中,p为高次拟合的次数;cp、cp-1……c0为各次拟合系数;从而得到二极管的通态电阻RD=VD/IF=g[f(VD)]/IF;二极管通态电压和通态电阻生成的原理如图4所示。
13)根据IGBT和二极管的生产说明书,查参数表得到125℃及25℃时的VCE1和VCE2,以及VD1和VD2,结合当前工作结温Tvj,插值得出结温系数αT和αD,公式如下:
14)设计了一种测量功率器件占空比平均值的方法,以功率模块中IGBT1的占空比平均值测量为例说明。通过检测流过每个功率模块中IGBT1的电流,得知它的开通与关断状态,统计电流大于0的点的个数,根据MATLAB的仿真时间t和描点步长h,可得到该模块中IGBT1的占空比值,将每个功率模块中IGBT1的占空比值求和,再求平均,即可得到IGBT1的占空比平均值;IGBT2、IGBT3、IGBT3、VD1、VD2、VD3、VD4的占空比平均值求法与IGBT1的相同。占空比平均值的求解表达式如下:
式中,
2N—每相的功率模块个数;
δj—分别对应IGBT2、IGBT3、IGBT3、VD1、VD2、VD3、VD4的占空比平均值;
δj(p)—分别对应第p个子模块中IGBT2、IGBT3、IGBT3、VD1、VD2、VD3、VD4的占空比值;
aj(p)—时间t内,第p个子模块中IGBT2、IGBT3、IGBT3、VD1、VD2、VD3、VD4处于导通状态时所描点的个数。
15)综上可得,每个IGBT的通态损耗计算公式:
每个二极管的通态损耗计算公式:
功率器件通态损耗计算流程如图5所示。
上述步骤2)具体包括以下步骤:
21)根据IGBT和二极管的产品说明书,在MATLAB中进行高次曲线拟合得到IGBT的开关能量损耗曲线:
EswT=g(IC)=dqIC q+dq-1IC q-1+dq-2IC q-2+dq-3IC q-3+......+d0,
其中,q为高次拟合的次数;dq、dq-1……d0为各次拟合系数;根据步骤1)中11)所得转移特性曲线IC=f(VGE),得到EswT=g[f(VGE)];在MATLAB中进行高次曲线拟合得到二极管的开关能量损耗曲线:
EswD=g(IF)=esIF s+es-1IF s-1+es-2IF s-2+es-3IF s-3+......+e0,其中,s为高次拟合的次数;es、es-1……e0为各次拟合系数;
22)引入门极电阻修正系数θswT。根据IGBT的生产说明书,查曲线Eon-RG和Eoff-RG,选取曲线中可查得的门极电阻最大值RG1及额定工况下的门极电阻值RG2分别对应的Eon1和Eon2,以及Eoff1和Eoff2,从而得出相应的EswTR1=Eon1+Eoff1,和EswTR2=Eon2+Eoff2,结合当前的RG,插值得出修正系数θswT,公式如下:
23)根据IGBT和二极管的生产说明书,查参数表得到125℃及25℃时的EswT1和EswT2,以及EswD1和EswD2,结合当前工作结温Tvj,插值得出结温系数ρT和ρD,公式如下:
24)引入开关频率测量。通过测量单位时间内功率模块触发脉冲的个数可得到IGBT的总开关频率,该频率包括IGBT的有效开关动作和无效开关动作。有效开关动作:IGBT开通且有电流流过,二极管关断,此过程只有IGBT有开关损耗,对应的单位时间内的开关次数为IGBT的有效开关频率fsT;无效开关动作:二极管开通且有电流流过时,IGBT开通但没有电流流过,此过程只有FWD有开关损耗,IGBT不产生开关损耗,对应的单位时间内的开关次数为IGBT的无效开关频率即FWD的开关频率fsD。计算IGBT的开关损耗时应选用有效开关频率。
25)综上可得,IGBT的开关损耗计算公式:
二极管的开关损耗计算公式:
功率器件通态损耗计算流程如图6所示。图7为功率器件损耗的计算原理示意图。