CN104571724A - 光学触控系统、触控检测方法及计算机程序产品 - Google Patents

光学触控系统、触控检测方法及计算机程序产品 Download PDF

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Abstract

一种光学触控系统、触控检测方法及计算机程序产品。该光学触控系统包括反射单元、至少一发光模块、至少一光学感测模块以及处理单元。反射单元配置于基准面旁。发光模块配置于基准面旁，且提供检测光，其中检测光传递至反射单元。光学感测模块配置于基准面旁。处理单元耦接至光学感测模块，其中当第一触控物与第二触控物接近或触碰基准面时，处理单元分辨来自光学感测模块的讯号中对应于第一触控物的一第一部分的强度与对应于第二触控物的一第二部分的强度的大小。此外，一种触控检测方法及计算机程序产品亦被提供。

Description

光学触控系统、触控检测方法及计算机程序产品
技术领域
本发明涉及一种光学触控系统、一种触控检测方法以及一种计算机程序产品。
背景技术
近年来触控式的电子产品由于操作方便，直觉性高，因此深受消费者喜爱而已渐渐成为市场上的主流趋势。在以往使用的电阻式、电容式、背投影式的触控屏幕中，以电容式触控屏幕的触控效果最好，但其成本亦最为昂贵，且会随着屏幕尺寸的变大而增加，因而限制了电容式触控屏幕的应用。
为寻求电容式触控屏幕的替代方案，目前有一种利用光学镜头检测触碰位置的光学式触控屏幕，其具有成本低、准确度佳等优点，在竞争的市场中更具有优势，目前也已成为大尺寸触控屏幕的另外一种选择。
另一种光学式触控屏幕是利用在屏幕的边缘设置多个光学镜头或反光边框，用以拍摄使用者手指在屏幕上操作的影像，而分析所拍摄影像中因手指遮断光线所产生的阴影的位置，进而可推算出触碰点的精确位置。其中，配置反光边框的成本远低于配置多个光学镜头的成本，因此更具有价格上的优势。一般而言，检测两触控点时，会产生一组真实的触控点与一组假的触控点，若两触控点于不同的时间点接近或靠近触控区域，可于不增加硬体的前提下，分辨出真实的触控点，然而当两触控点于相同的时间点接近或靠近触控区域，如何判断哪一组为真实的触控点便成为目前发展光学触控系统亟需解决的问题之一。
发明内容
本发明提供一种光学触控系统，其可准确判断一第一触控物与一第二触控物的至少其中之一接近或触碰一基准面的动作。
本发明的触控检测方法，其可准确判断一第一触控物与一第二触控物的至少其中之一接近或触碰一基准面的动作。
本发明的计算机程序产品，其可准确判断一第一触控物与一第二触控物的至少其中之一接近或触碰一基准面的动作。
本发明的实施例提供一种光学触控系统，用以判断一第一触控物与一第二触控物的至少其中之一接近或触碰一基准面的动作，光学触控系统包括反射单元、至少一发光模块、至少一光学感测模块以及处理单元。反射单元配置于基准面旁。至少一发光模块配置于基准面旁，且提供一检测光，其中检测光经由基准面前方传递至反射单元。至少一光学感测模块配置于基准面旁，其中反射单元将检测光反射，且使检测光经由基准面前方传递至第一光学感测模块。处理单元耦接至光学感测模块，其中当第一触控物与第二触控物的至少其中之一接近或触碰基准面时，处理单元当第一触控物与第二触控物的至少其中之一接近或触碰基准面时，根据对应于检测光的讯号判断基准面被接近或触碰的位置，且当第一触控物与第二触控物接近或触碰基准面时，处理单元分辨讯号中对应于第一触控物的一第一部分的强度与对应于第二触控物的一第二部分的强度的大小。
本发明的一实施例提供一种触控检测方法，用以判断一第一触控物与一第二触控物的至少其中之一接近或触碰一基准面的动作，触控检测方法包括：提供至少一检测光，并使检测光在基准面的前方传递；在基准面的一侧反射检测光；检测被反射的至少一检测光，并将至少一检测光转换为至少一对应的讯号；当第一触控物与第二触控物的至少其中之一接近或触碰基准面时，根据对应于检测光的讯号判断基准面被接近或触碰的位置；以及当第一触控物与第二触控物接近或触碰基准面时，分辨讯号中对应于第一触控物的一第一部分的强度与对应于第二触控物的一第二部分的强度的大小。
本发明的一实施例提供一种计算机程序产品，储存于一计算机可读取记录介质，以判断一第一触控物与一第二触控物的至少其中之一接近或触碰一基准面的动作，计算机程序产品包括第1程序指令、第2程序指令及第3程序指令。第1程序指令提供至少一检测光，其中检测光在基准面的前方传递。第2程序指令检测被反射的检测光，并将检测光转换为一对应的讯号。第3程序指令，当第一触控物与第二触控物的至少其中之一接近或触碰基准面时，根据对应于检测光的讯号判断基准面被接近或触碰的位置。
第4程序指令，当第一触控物与第二触控物接近或触碰基准面时，分辨讯号中对应于第一触控物的一第一部分的强度与对应于第二触控物的一第二部分的强度的大小。
基于上述，本发明的实施例中的光学触控系统、触控检测方法及计算机程序产品藉由当第一触控物与第二触控物的至少其中之一接近或触碰基准面时，光学感测模块所感测的讯号中对应于第一触控物的一第一部分的强度与对应于第二触控物的一第二部分的强度的大小，因此可准确地判断基准面被接近或触碰的位置。
为使本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并结合附图详细说明如下。
附图说明
图1是本发明的一实施例中的光学触控系统的示意图。
图2A至图2B是依照图1实施例中的光学感测模块所检测到的讯号的示意图。
图3是本发明另一实施例中的光学触控系统的示意图。
图4是图3实施例中的光学触控系统的示意图。
图5A至图5D为光学感测单元所检测到的讯号的示意图。
图6是测量不同距离与所对应的所需最小曝光时间的实验的示意图。
图7是不同距离与所对应的所需最小曝光时间的数据图。
图8是本发明的一实施例中的触控检测方法的流程图。
图9是图8实施例中的流程图。
图10是本发明的一实施例中的计算机程序产品的指令流程图。
附图符号说明
100、200：光学触控系统
110：反射单元
120：发光模块
130、130a、130b：光学感测模块
140：处理单元
D：显示器
SP：基准面
SPL：参考线
L2a：射线
L2b：射线
LN2：角平分线
L、L1、L2：检测光
OB1：第一触控物
OB2：第二触控物
V1：第一部分的强度
V2：第二部分的强度
P1、P2、P3、P4：位置
PG100：第1程序指令
PG200：第2程序指令
PG300：第3程序指令
S100、S200、S300、S400：步骤
具体实施方式
图1是本发明的一实施例中的光学触控系统的示意图。请参照图1，本实施例的光学触控系统100可用以判断一第一触控物OB1与一第二触控物OB2的至少其中之一接近或触碰一基准面SP的动作。在本实施例中，光学触控系统100可应用于一显示器D，其中基准面SP为显示器D的显示面。或者，在其他实施例中，基准面SP亦可以是其他不同于显示器D的触控平台的表面，其中此触控平台例如为触控板（如笔记型计算机的键盘上的触控板或其他手持电子装置上的触控板）、桌面、墙面或其他可让第一触控物OB1与一第二触控物OB2接近或触碰的表面。第一触控物OB1与一第二触控物OB2例如为使用者的手指、触控笔或其他适于作触控操作的物体。
在本实施例中，光学触控系统100包括反射单元110、至少一发光模块120（图1中是以一个发光模块120为例）、至少一光学感测模块130（图1中是以一个光学感测模块130为例）以及处理单元140。反射单元110配置于基准面SP旁。在本实施例中，反射单元110为如图1中所绘示的反光边框，发光模块120可包括发光二极管(light emitting diode，LED)、激光等适于发出检测光的光源。影像检测模块可包括电荷耦合元件(charge coupledevice，CCD)或是互补式金属氧化物半导体(complementary metal-oxidesemiconductor，CMOS)感测器等影像感测器。
请再参照图1，在本实施例中，发光模块120配置于基准面SP旁，且提供一检测光L，其中检测光L经由基准面SP前方传递至反射单元110。光学感测模块130配置于基准面SP旁，其中反射单元110将检测光L反射，且使检测光L经由基准面SP前方传递至光学感测模块130。此外，处理单元140耦接至光学感测模块130。
请继续参照图1，在本实施例中，当第一触控物OB1与第二触控物OB2的至少其中之一接近或触碰基准面SP时，处理单元140根据来自光学感测模块130的对应于其所检测到的检测光L的讯号判断基准面SP被接近或触碰的位置，且当第一触控物OB1与第二触控物OB2接近或触碰基准面SP时，处理单元140分辨讯号中对应于第一触控物OB1的第一部分的强度与对应于第二触控物OB2的第二部分的强度的大小。其中，对应于检测光L的讯号将于后续绘示并说明。
图2A与图2B是依照图1实施例中的光学感测模块所检测到的讯号的示意图。请参照图1、图2A及图2B，在本实施例中，当第一触控物OB1与第一触控物OB2遮断至少部分检测光L时，光学感测模块130可产生对应于检测光L的讯号S，其中图2的横轴为影像检测模块130的检测角度，这些检测角度的范围顺着参考线SPL的方向可涵盖基准面SP，而纵轴则为光学感测模块130所检测到的讯号的强度，亦即对应至光学感测模块130所检测到的光强度。在本实施例中，当第一触控物OB1与第二触控物OB2接近或触碰基准面SP时，处理单元140可根据对应于检测光L的讯号S判断基准面SP被接近或触碰的位置，其中对应于检测光L的讯号S中对应于第一触控物OB1的一第一部分的强度V1与对应于第二触控物OB2的一第二部分的强度V2的差值未超过预设程度时，处理单元140增加光学感测模块130的曝光时间长度，以使第一部分V1的强度与第二部分的强度V2的差值超过预设程度。
具体而言，在本实施例中，对应于检测光L的讯号中对应于第一触控物OB1的第一部分的强度V1与对应于第二触控物OB2的第二部分的强度V2皆为零，如图2A所示，且此时对应于检测光L的讯号S中对应于第一触控物OB1的第一部分的强度V1与对应于第二触控物OB2的一第二部分的强度V2的差值未超过预设程度，因此处理单元140增加光学感测模块130的曝光时间长度，且增加一固定的时间长度，而光学感测模块130再次产生对应于检测光L的讯号S’（未绘示），但第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的差值仍未超过预设程度时，处理单元140会再次增加光学感测模块130的曝光时间长度直到第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的差值超过一预设程度，如图2B所示。在其他的实施例中，当处理单元140增加光学感测模块130的曝光时间长度时，其增加固定的时间长度，而光学感测模块130再次产生对应于检测光L的讯号S’’，直到第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的差值超过一预设程度。举例而言，「超过预设程度」可定义为第一部分的强度V1的灰阶值与第二部分的强度V2的灰阶值的差值大于1，较佳为大于2。在一实施例中，亦可判断强度V1与强度V2是否有其中之一的灰阶值大于0（较佳为大于2），而是否强度V1与强度V2的另一的灰阶值为0。
一般而言，处理单元140根据讯号中对应于第一触控物OB1的第一部分的强度V1与对应于第二触控物OB2的第二部分的强度V2的大小，来判断第一触控物OB1与第二触控物OB2距离光学感测模块130的远近。在本实施例中，处理单元140判断第一部分的强度V1与第二部分的强度V2中的较大者所对应的被接近或触碰的位置与光学感测模块130的距离大于第一部分的强度V1与第二部分的强度V2中的较小者所对应的被接近或触碰的位置与光学感测模块130的距离，这是因为当触碰或接近位置较远时，较长的曝光时间较容易使较远位置所对应的遮断讯号变得不明显。
具体而言，在本实施例中，第二部分的强度V2较大，因此第二部分的强度V2所对应的被接近或触碰的位置与光学感测模块130的距离大于第一部分的强度V1所对应的被接近或触碰的位置与光学感测模块130的距离，如此一来，处理单元140便可分辨第一触控物OB1与第二触控物OB2的距离远近。
图3是本发明另一实施例中的光学触控系统的示意图，图4是图3实施例中的光学触控系统的示意图，图5A至图5D为光学感测单元所检测到的讯号的示意图。请参照图3，本实施例的光学触控系统200与图1的光学触控系统100类似，而两者的差异如下所述。在本实施例中，至少一发光模块120为配置于基准面SP旁不同位置的二发光模块120，二发光模块120其中之一提供检测光L1，而二发光模块120其中的另一提供检测光L2，至少一光学感测模块130为多个配置于基准面SP旁不同位置的光学感测模块130，例如为第一光学感测模块130a与第二光学感测模块130b，处理单元140分辨第一光学感测模块130a与第二光学感测模块130b的至少其中之一的讯号中的第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的大小，以从可能位置中挑选出第一触控物OB1与第一触控物OB2接近或触碰的实际位置。
请参照图3、图5A与图5C，具体而言，当第一触控物OB1与第二触控物OB2接近或触碰基准面SP时，第一光学感测模块130a产生对应于检测光L1的讯号S1且第二光学感测模块130b其中的另一产生对应于检测光L2的讯号S2。接着，当第一光学感测模块130a的讯号S1的一部分小于预设强度时，则讯号S1的一部分的强度为第一部分的强度V1，而讯号的另一部分的强度为第二部分的强度V2，当第二光学感测模块130a的讯号S2的一部分小于预设强度时，则讯号S2的一部分的强度为第一部分的强度V1’，而讯号S2’的另一部分的强度为第二部分的强度V2’。此外，在本实施例中，预设强度为当没有第一触控物OB1与第二触控物OB2接近或触碰基准面SP时，光学感测模块130所感测到的讯号的强度的倍数。在其他实施例中，预设强度可藉由不同方式而获得，不同方式例如为实验或模拟，本发明不以此为限。
请再参照图3，处理单元140利用三角定位法以根据光学感测模块130的讯号S来计算出多个被第一触控物OB1与第二触控物OB2接近或触碰的可能位置。具体而言，在本实施例中，处理单元140利用三角定位法以根据第一光学感测模块130a的讯号S1与第二光学感测模块130b的讯号S2来计算出多个被第一触控物OB1与第二触控物OB2接近或触碰的可能位置，且多个被第一触控物OB1与第二触控物OB2接近或触碰的可能位置，例如为位置P1、P2、P3及P4，而位置P1、P2、P3及P4其中之一对应到第一触控物OB1相对于基准面SP的位置，位置P1、P2、P3及P4其中的另一对应到第二触控物OB2相对于基准面SP的位置。
请参照图3与图4，处理单元140计算出可能位置的几何中心位置C，且根据几何中心位置C决定光学感测模块130的至少其中之一的初始曝光时间长度。具体而言，在本实施例中，处理单元140计算出多个被第一触控物OB1与第二触控物OB2接近或触碰的可能位置P1、P2、P3及P4的几何中心位置C。在其他实施例中，处理单元140亦可根据二发光模块120其中之一所提供的检测光L1中的射线L1a与射线L1b的角平分线LN1，以及二发光模块120其中的另一所提供的检测光L2中的射线L2a与射线L2b的角平分线LN2，再计算出角平分线LN1与角平分线LN2的交点，此交点亦为多个被第一触控物OB1与第二触控物OB2接近或触碰的可能位置P1、P2、P3及P4的几何中心位置C。接着，处理单元140便可藉由查表法来根据几何中心位置C找出光学感测模块130的至少其中之一的初始曝光时间长度。
请参照图5A及图5B，第一光学感测模块130a与第二光学感测模块130b至少其中之一的曝光时间长度采用初始曝光时间长度，使相对应的第一光学感测模块130a与第二光学感测模块130b至少其中之一的讯号的第一部分的强度V1(V1’)与第二部分的强度V2(V2’)超过零，在其他实施例中，第一光学感测模块130a与第二光学感测模块130b至少其中之一的曝光时间长度采用的初始曝光时间长度，使相对应的第一光学感测模块130a与第二光学感测模块130b至少其中之一的讯号的第一部分的强度V1(V1’)与第二部分的强度V2(V2’)超过2。此时，若相对应的第一光学感测模块130a与第二光学感测模块130b至少其中之一的第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的差值未超过阈值时，如图5A所示，因此处理单元140增加第一光学感测模块130a与第二光学感测模块130b的至少其中之一的曝光时间长度，其增加一固定的时间长度，而相对应的第一光学感测模块130a与第二光学感测模块130b的至少其中之一再次产生对应于检测光L的讯号S’（未绘示），但第一部分的强度V1(V1’)与第二部分的强度V2(V2’)的差值仍未超过一预设程度时，处理单元140会再次增加光学感测模块130的曝光时间长度直到第一部分的强度V1(V1’)与第二部分的强度V2(V2’)的差值超过一预设程度，如图5B所示，以使所对应的讯号S’’的第一部分的强度V1(V1’)与第二部分的强度V2(V2’)的差值超过阈值。接着，处理单元140判断所对应的讯号S’’的第一部分的强度V1(V1’)与第二部分的强度V2(V2’)中的较大者所对应的被接近或触碰的位置与光学感测模块130的距离大于第一部分的强度V1(V1’)与第二部分的强度V2(V2’)中的较小者所对应的被接近或触碰的位置与光学感测模块130的距离。
请参照图5A至图5D，在本实施例中，第一光学感测模块130a可藉由上述过程而使讯号S1’’的第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的差值超过阈值，与第二光学感测模块130b亦可藉由上述过程而使讯号S2’’的第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的差值超过阈值。更进一步而言，处理单元140判断第一光学感测模块130a的讯号S1’’的第一部分的强度V1与第二部分的强度V2中的较大者所对应的被接近或触碰的位置与第一光学感测模块130a的距离较大，以及第二光学感测模块130b的讯号S2’’的第一部分的强度V1’与第二部分的强度V2’中的较大者所对应的被接近或触碰的位置与第二光学感测模块130a的距离较小。如此一来，从多个被第一触控物OB1与第二触控物OB2接近或触碰的可能位置（在本实施例中例如为位置P1、P2、P3及P4）可以得知其中对应至第一触控物OB1与第二触控物OB2相对于基准面SP的位置。举例而言，当处理单元140判断第一触控物OB1至第一光学感测模块130a的距离较近，且第二触控物OB2距离第一光学感测模块130a较远时，处理单元140可判断出第一触控物OB1与第二触控物OB2是分别位于位置P1与P3，而不是位于位置P2与P4。这是因为当第一触控物OB1与第二触控物OB2分别位于位置P2与P4时，处理单元140会判断出第一触控物OB1至第一光学感测模块130a的距离较远，且第二触控物OB2距离第一光学感测模块130a较近。藉由此种方法，处理单元140便可以从所有可能位置中挑选出实际的触碰或接近位置。
此外，在本实施例中，在处理单元140判断出第一触控物OB1与第一触控物OB2接近或触碰的实际位置之后，处理单元140使每一光学感测模块130的曝光时间返回至一预设值。
图6是测量不同距离与所对应的所需最小曝光时间的实验的示意图，图7是不同距离与所对应的所需最小曝光时间的数据图。请参照图6，在本实施例中，查表法所使用的表中的数据为经由实验所得，每一实验为将触控物OB接近或碰触基准面SP的多个位置上，多个位置例如为位置a至位置j，而位置a至位置j与光学感测模块130之间距离由近到远且彼此不同。举例而言，实验为将触控物OB接近或碰触基准面SP的位置a，便可测得位置a与光学感测模块130之间的距离，接着，于此距离且设定光学感测模块130的曝光时间长度为最小曝光时间长度，并量测光学感测模块130所检测的讯号S中对应于触控物OB的一部分的强度V’，若对应于触控物OB的一部分的强度V’为零，则增加光学感测模块130的曝光时间长度以固定的时间长度，固定的时间长度例如为1毫秒。若对应于触控物OB的一部分的强度V’超过零，则此时的曝光时间长度为此距离下使对应于触控物OB的一部分的强度V’超过零所需要的最小曝光时间长度，表中的数据包含位置a至位置j与光学感测模块130之间的距离以及每一距离所对应的使对应于触控物OB的一部分的强度V’超过零所需要的最小曝光时间长度。在其他实施例中，表中的数据包含位置a至位置j与光学感测模块130之间的距离以及每一距离所对应的使对应于触控物OB的一部分的强度V’超过2所需要的最小曝光时间长度。
请参照图6与图7，在本实施例中，藉由实验而得到包含位置a至位置j与光学感测模块130之间的距离以及每一距离所对应的使对应于触控物OB的一部分的强度V’超过零所需要的最小曝光时间长度的表后，更可藉由内插法得到位于每一位置a至位置j之间的间距的位置与光学感测模块130之间的距离以及此距离所对应的使对应于触控物OB的一部分的强度V’超过零所需要的最小曝光时间长度的数据，如图7所示。或者，也可以不采用内插法，而是增加量测位置的数量。
值得注意的是，触控物OB的位置a至位置j的数目、位置及间距仅用于举例说明本实施例，其中触控物OB更可放置于基准面SP上其他位置，且触控物OB的数目亦可有所增减，此外，触控物OB之间的间距亦可视实际情况调整，本发明不以此为限。
图8是本发明的一实施例中的触控检测方法的流程图。请参照图8，在本实施例中，触控检测方法可应用于上述的光学触控系统100或200。本实施例的触控检测方法可用以判断第一触控物OB1与第一触控物OB2的至少其中之一接近或触碰基准面SP的动作，其中用以执行触控检测方法的系统可参考图1到图7的光学检测系统，触控检测方法包括下列步骤：提供至少一检测光L，并使检测光L在基准面SP的前方传递(步骤S100)。在基准面SP的一侧反射检测光L(步骤S200)。检测被反射的至少一检测光L，并将至少一检测光L转换为至少一对应的讯号(步骤S300)。当第一触控物OB1与第一触控物OB2的至少其中之一接近或触碰基准面SP时，根据对应于检测光L的讯号判断基准面SP被接近或触碰的位置(步骤S400)，以及当第一触控物OB1与第一触控物OB2接近或触碰基准面SP时，分辨讯号中对应于第一触控物OB1的第一部分的强度V1与对应于第一触控物OB2的第二部分的强度V2的大小。与图1到图7的实施例相似，触控检测方法可藉由当第一触控物与第二触控物的至少其中之一接近或触碰基准面时，光学感测模块所感测的讯号中对应于第一触控物的一第一部分的强度与对应于第二触控物的一第二部分的强度的大小，并判断基准面被接近或触碰的位置。
详细而言，分辨讯号中对应于第一触控物OB1的一第一部分的强度V1与对应于第一触控物OB2的一第二部分的强度V2的大小的步骤包括：当第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的差值超过一预设程度时，判断第一部分的强度V1与第二部分的强度V2中的较大者所对应的被接近或触碰的位置与检测检测光L的位置的距离大于第一部分的强度V1与第二部分的强度V2中的较小者所对应的被接近或触碰的位置与检测检测光L的位置的距离。其中，用以执行上述步骤的装置及详细叙述可参考图1到图7的实施例所述，在此不再赘述。
此外，分辨讯号中对应于第一触控物OB1的一第一部分的强度V1与对应于第一触控物OB2的一第二部分的强度V2的大小的步骤还包括：当第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的差值未超过预设程度时，增加检测至少一检测光L的曝光时间长度，以使第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的差值超过预设程度。其中，用以执行上述步骤的装置及详细叙述可参考图1到图7的实施例所述，在此亦不再赘述。
另外，检测被反射的至少一检测光L并将至少一检测光L转换为至少一对应的讯号的步骤（即步骤S300）为在基准面SP旁的多个不同的检测位置检测至少一检测光L，并将至少一检测光L分别转换成多个对应的讯号，且根据对应于检测光L的讯号判断基准面SP被接近或触碰的位置的步骤包括：利用三角定位法以根据分别对应于检测位置的讯号来计算出多个被第一触控物OB1与第一触控物OB2接近或触碰的可能位置。
进一步而言，分辨讯号中对应于第一触控物OB1的一第一部分的强度V1与对应于第一触控物OB2的一第二部分的强度V2的大小的步骤包括：分辨讯号中的第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的大小，以从对应于讯号中的第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的位置中挑选出第一触控物OB1与第一触控物OB2接近或触碰的实际位置。
并且，分辨讯号中对应于第一触控物OB1的一第一部分的强度V1与对应于第一触控物OB2的一第二部分的强度V2的大小的步骤包括：当对应于检测位置的第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的差值皆未超过阈值时，增加检测位置中的至少其中之一所对应的曝光时间长度，以使其所对应的第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的差值超过阈值。
此外，其中分辨讯号中对应于第一触控物OB1的一第一部分的强度V1与对应于第一触控物OB2的一第二部分的强度V2的大小的步骤包括：计算出可能位置的几何中心位置，且根据几何中心位置决定在检测位置中的至少其中之一检测至少一检测光L的初始曝光时间长度。并且，其中分辨讯号中对应于第一触控物OB1的一第一部分的强度V1与对应于第一触控物OB2的一第二部分的强度V2的大小的步骤包括：藉由查表法来根据几何中心位置找出在检测位置中的至少其中之一检测至少一检测光L的初始曝光时间长度，其中查表法所查的表中的多个数值为实验或模拟所得的数据。藉此，当第一触控物与第二触控物的至少其中之一接近或触碰基准面时，判断光学感测模块所感测的讯号中对应于第一触控物的一第一部分的强度与对应于第二触控物的一第二部分的强度的大小，并判断基准面被接近或触碰的位置。其中，用以执行上述步骤的装置及详细叙述可参考图1到图7的实施例所述，在此亦不再赘述。
更进一步而言，分辨讯号中对应于第一触控物OB1的一第一部分的强度V1与对应于第一触控物OB2的一第二部分的强度V2的大小的步骤包括：判断出第一触控物OB1与第一触控物OB2接近或触碰的实际位置之后，使曝光时间返回至一预设值。
此外，触控检测方法还包括：根据讯号中对应于第一触控物OB1的一第一部分的强度V1与对应于第一触控物OB2的一第二部分的强度V2的大小，来判断第一触控物OB1与第一触控物OB2距离检测检测光L的位置的远近。
图9是图8实施例中的流程图。请参照图9，在本实施例中，步骤S400可为如图9的流程。具体而言，判断是否检测到对应于第一触控物OB1的一第一部分的强度V1与对应于第二触控物OB2的一第二部分的强度V2的大小，若是，则算出多个被第一触控物OB1与第一触控物OB2接近或触碰的可能位置，接着，算出多个被第一触控物OB1与第一触控物OB2接近或触碰的可能位置的座标的几何中心座标C与几何中心座标C到检测检测光的位置的距离，并且利用几何中心座标C到检测检测光L的位置的距离查表，决定适当的初始曝光时间长度。接着，判断是否第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的差值超过阈值，若是，则利用讯号中对应于第一触控物OB1的一第一部分的强度V1与对应于第二触控物的一第二部分的强度V2的大小，来判断第一触控物OB1与第二触控物OB2接近或触碰的实际位置。若第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的差值未超过阈值，则将曝光时间增加一定值，直到第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的差值超过阈值。更进一步而言，当获得第一触控物OB1与第二触控物OB2接近或触碰的实际位置，将曝光时间调回正常值。
图10是本发明的一实施例中的计算机程序产品的指令流程图。请参照图10。计算机程序产品适于储存于一计算机可读取记录介质，以判断一第一触控物OB1与一第一触控物OB2的至少其中之一接近或触碰一基准面SP的动作。在本实施例中，此计算机程序产品可载入如图1的处理单元140，以执行下列程序指令。此计算机程序产品可包括：第1程序指令(PG100)，提供至少一检测光L，其中检测光L在基准面SP的前方传递。第2程序指令(PG200)，检测被反射的检测光L，并将检测光L转换为一对应的讯号。第3程序指(PG300)，当第一触控物OB1与第一触控物OB2的至少其中之一接近或触碰基准面SP时，根据对应于检测光L的讯号判断基准面SP被接近或触碰的位置，以及当第一触控物OB1与第一触控物OB2接近或触碰基准面SP时，分辨讯号中对应于第一触控物OB1的一第一部分的强度V1与对应于第一触控物OB2的一第二部分的强度V2的大小。并且，计算机程序产品所包括的程序指令可藉由图1中的处理单元140执行处理。其中，上述的第1、第2、第3及第4程序指令仅用于标示以方便说明本实施例，本发明的程序指令执行顺序并不以此为限。并且，用以执行上述程序指令的装置及详细叙述可参考图1至图7实施例所述，在此亦不再赘述。
其中，第4程序指令可包括：当第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的差值超过一预设程度时，判断第一部分的强度V1与第二部分的强度V2中的较大者所对应的被接近或触碰的位置与检测检测光L的位置的距离大于第一部分的强度V1与第二部分的强度V2中的较小者所对应的被接近或触碰的位置与检测检测光L的位置的距离的程序指令。进一步而言，第4程序指令还包括：当第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的差值未超过预设程度时，增加检测至少一检测光L的曝光时间长度，以使第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的差值超过预设程度的程序指令。
更进一步而言，在本实施例中，其中检测被反射的至少一检测光L并将至少一检测光L转换为至少一对应的讯号的程序指令（即第2程序指令(PG200)）为在基准面SP旁的多个不同的检测位置检测至少一检测光L，并将至少一检测光L分别转换成多个对应的讯号，且根据对应于检测光L的讯号判断基准面SP被接近或触碰的位置的程序指令包括：利用三角定位法以根据分别对应于检测位置的讯号来计算出多个被第一触控物OB1与第一触控物OB2接近或触碰的可能位置的程序指令。其中，用以执行上述程序指令的装置及详细叙述可参考图1至图7实施例所述，在此亦不再赘述。
详细而言，第4程序指令包括：分辨讯号中的第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的大小，以从对应于讯号中的第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的位置中挑选出第一触控物OB1与第一触控物OB2接近或触碰的实际位置的程序指令。并且，第4程序指令包括：当对应于检测位置的第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的差值皆未超过阈值时，增加检测位置中的至少其中之一所对应的曝光时间长度，以使其所对应的第一部分的强度V1与第二部分的强度V2的差值超过阈值的程序指令。其中，用以执行上述程序指令的装置及详细叙述可参考图1至图7实施例所述，在此亦不再赘述。
更进一步而言，第4程序指令包括：计算出可能位置的几何中心位置，且根据几何中心位置决定在检测位置中的至少其中之一检测至少一检测光L的初始曝光时间长度的程序指令。并且，第4程序指令包括：藉由查表法来根据几何中心位置找出在检测位置中的至少其中之一检测至少一检测光L的初始曝光时间长度的程序指令。并且，第4程序指令包括：判断出第一触控物OB1与第一触控物OB2接近或触碰的实际位置之后，使曝光时间返回至一预设值的程序指令。其中用以执行上述程序指令的装置及详细叙述可参考图1至图7实施例所述，在此亦不再赘述。
此外，在本实施例中，计算机程序产品可还包括：根据讯号中对应于第一触控物OB1的一第一部分的强度V1与对应于第一触控物OB2的一第二部分的强度V2的大小，来判断第一触控物OB1与第一触控物OB2距离检测检测光L的位置的远近的程序指令。
综上所述，本发明的实施例中的光学触控系统藉由当第一触控物与第二触控物的至少其中之一接近或触碰基准面时，光学感测模块所感测的讯号中对应于第一触控物的一第一部分的强度与对应于第二触控物的一第二部分的强度的大小，因此可准确地判断基准面被接近或触碰的位置。本发明的实施例中的触控检测方法藉由当第一触控物与第二触控物的至少其中之一接近或触碰基准面时，判断所感测的讯号中对应于第一触控物的一第一部分的强度与对应于第二触控物的一第二部分的强度的大小，因此可准确地判断基准面被接近或触碰的位置。本发明的实施例中的计算机程序产品藉由当第一触控物与第二触控物的至少其中之一接近或触碰基准面时，判断所感测的讯号中对应于第一触控物的一第一部分的强度与对应于第二触控物的一第二部分的强度的大小，因此可准确地判断基准面被接近或触碰的位置。
虽然本发明已以实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的前提下，可作些许的更动与润饰，故本发明的保护范围是以本发明的权利要求为准。

Claims (30)

1.一种光学触控系统，用以判断一第一触控物与一第二触控物的至少其中之一接近或触碰一基准面的动作，该光学触控系统包括：
一反射单元，配置于该基准面旁；
至少一发光模块，配置于该基准面旁，且提供一检测光，其中该检测光经由该基准面前方传递至该反射单元；
至少一光学感测模块，配置于该基准面旁，其中该反射单元将该检测光反射，且使该检测光经由该基准面前方传递至该第一光学感测模块；以及
一处理单元，耦接至该光学感测模块，其中当该第一触控物与该第二触控物的至少其中之一接近或触碰该基准面时，该处理单元根据来自该光学感测模块的对应于其所检测到的该检测光的讯号判断该基准面被接近或触碰的位置，且当该第一触控物与该第二触控物接近或触碰该基准面时，该处理单元分辨该讯号中对应于该第一触控物的一第一部分的强度与对应于该第二触控物的一第二部分的强度的大小。
2.如权利要求1所述的光学触控系统，其中当该第一部分的强度与该第二部分的强度的差值超过一预设程度时，该处理单元判断该第一部分的强度与该第二部分的强度中的较大者所对应的该被接近或触碰的位置与该光学感测模块的距离大于该第一部分的强度与该第二部分的强度中的较小者所对应的该被接近或触碰的位置与该光学感测模块的距离。
3.如权利要求2所述的光学触控系统，其中当该第一部分的强度与该第二部分的强度的差值未超过该预设程度时，该处理单元增加该光学感测模块的曝光时间长度，以使该第一部分的强度与该第二部分的强度的差值超过该预设程度。
4.如权利要求2所述的光学触控系统，其中该至少一光学感测模块为多个配置于该基准面旁不同位置的光学感测模块，当该第一触控物与该第二触控物接近或触碰该基准面时，该处理单元利用三角定位法以根据这些光学感测模块的这些讯号来计算出多个被该第一触控物与该第二触控物接近或触碰的可能位置。
5.如权利要求4所述的光学触控系统，其中该处理单元分辨这些光学感测模块的至少其中之一的该讯号中的该第一部分的强度与该第二部分的强度的大小，以从这些可能位置中挑选出该第一触控物与该第二触控物接近或触碰的实际位置。
6.如权利要求4所述的光学触控系统，其中当这些光学感测模块的这些第一部分的强度与这些第二部分的强度的差值皆未超过该阈值时，该处理单元增加这些光学感测模块的至少其中之一的曝光时间长度，以使其所对应的该第一部分的强度与该第二部分的强度的差值超过该阈值。
7.如权利要求6所述的光学触控系统，其中该处理单元计算出这些可能位置的几何中心位置，且根据该几何中心位置决定这些光学感测模块的至少其中之一的初始曝光时间长度。
8.如权利要求7所述的光学触控系统，其中该处理单元藉由查表法来根据该几何中心位置找出这些光学感测模块的至少其中之一的该初始曝光时间长度。
9.如权利要求8所述的光学触控系统，其中在该处理单元判断出该第一触控物与该第二触控物接近或触碰的实际位置之后，该处理单元使这些光学感测模块的曝光时间返回至一预设值。
10.如权利要求1所述的光学触控系统，其中该处理单元根据该讯号中对应于该第一触控物的一第一部分的强度与对应于该第二触控物的一第二部分的强度的大小，来判断该第一触控物与该第二触控物距离该光学感测模块的远近。
11.一种触控检测方法，用以判断一第一触控物与一第二触控物的至少其中之一接近或触碰一基准面的动作，该触控检测方法包括：
提供至少一检测光，并使该检测光在该基准面的前方传递；
在该基准面的一侧反射该检测光；
检测被反射的该至少一检测光，并将该至少一检测光转换为至少一对应的讯号；
当该第一触控物与该第二触控物的至少其中之一接近或触碰该基准面时，根据对应于该检测光的该讯号判断该基准面被接近或触碰的位置；以及
当该第一触控物与该第二触控物接近或触碰该基准面时，分辨该讯号中对应于该第一触控物的一第一部分的强度与对应于该第二触控物的一第二部分的强度的大小。
12.如权利要求11所述的触控检测方法，其中分辨该讯号中对应于该第一触控物的一第一部分的强度与对应于该第二触控物的一第二部分的强度的大小的步骤包括：
当该第一部分的强度与该第二部分的强度的差值超过一预设程度时，判断该第一部分的强度与该第二部分的强度中的较大者所对应的该被接近或触碰的位置与检测该检测光的位置的距离大于该第一部分的强度与该第二部分的强度中的较小者所对应的该被接近或触碰的位置与检测该检测光的位置的距离。
13.如权利要求12所述的触控检测方法，其中分辨该讯号中对应于该第一触控物的一第一部分的强度与对应于该第二触控物的一第二部分的强度的大小的步骤还包括：
当该第一部分的强度与该第二部分的强度的差值未超过该预设程度时，增加检测该至少一检测光的曝光时间长度，以使该第一部分的强度与该第二部分的强度的差值超过该预设程度。
14.如权利要求12所述的触控检测方法，其中检测被反射的该至少一检测光并将该至少一检测光转换为至少一对应的讯号的步骤为在基准面旁的多个不同的检测位置检测该至少一检测光，并将该至少一检测光分别转换成多个对应的讯号，且根据对应于该检测光的该讯号判断该基准面被接近或触碰的位置的步骤包括：
利用三角定位法以根据分别对应于这些检测位置的这些讯号来计算出多个被该第一触控物与该第二触控物接近或触碰的可能位置。
15.如权利要求14所述的触控检测方法，其中分辨该讯号中对应于该第一触控物的一第一部分的强度与对应于该第二触控物的一第二部分的强度的大小的步骤包括：
分辨这些讯号中的该第一部分的强度与该第二部分的强度的大小，以从对应于这些讯号中的该第一部分的强度与该第二部分的强度的这些位置中挑选出该第一触控物与该第二触控物接近或触碰的实际位置。
16.如权利要求14所述的触控检测方法，其中分辨该讯号中对应于该第一触控物的一第一部分的强度与对应于该第二触控物的一第二部分的强度的大小的步骤包括：
当对应于这些检测位置的这些第一部分的强度与这些第二部分的强度的差值皆未超过该阈值时，增加这些检测位置中的至少其中之一所对应的该曝光时间长度，以使其所对应的该第一部分的强度与该第二部分的强度的差值超过该阈值。
17.如权利要求16所述的触控检测方法，其中分辨该讯号中对应于该第一触控物的一第一部分的强度与对应于该第二触控物的一第二部分的强度的大小的步骤包括：
计算出这些可能位置的几何中心位置，且根据该几何中心位置决定在这些检测位置中的至少其中之一检测该至少一检测光的初始曝光时间长度。
18.如权利要求17所述的触控检测方法，其中分辨该讯号中对应于该第一触控物的一第一部分的强度与对应于该第二触控物的一第二部分的强度的大小的步骤包括：
藉由查表法来根据该几何中心位置找出在这些检测位置中的至少其中之一检测该至少一检测光的初始曝光时间长度，其中该查表法所查的表中的多个数值为实验或模拟所得的数据。
19.如权利要求18所述的触控检测方法，其中分辨该讯号中对应于该第一触控物的一第一部分的强度与对应于该第二触控物的一第二部分的强度的大小的步骤包括：
判断出该第一触控物与该第二触控物接近或触碰的实际位置之后，使这些曝光时间返回至一预设值。
20.如权利要求11所述的触控检测方法，还包括：
根据该讯号中对应于该第一触控物的一第一部分的强度与对应于该第二触控物的一第二部分的强度的大小，来判断该第一触控物与该第二触控物距离检测该检测光的位置的远近。
21.一种计算机程序产品，储存于一计算机可读取记录介质，以判断一第一触控物与一第二触控物的至少其中之一接近或触碰一基准面的动作，该计算机程序产品包括：
第1程序指令，提供至少一检测光，其中该检测光在该基准面的前方传递；
第2程序指令，检测被反射的该检测光，并将该检测光转换为一对应的讯号；
第3程序指令，当该第一触控物与该第二触控物的至少其中之一接近或触碰该基准面时，根据对应于该检测光的该讯号判断该基准面被接近或触碰的位置;以及
第4程序指令，当该第一触控物与该第二触控物接近或触碰该基准面时，分辨该讯号中对应于该第一触控物的一第一部分的强度与对应于该第二触控物的一第二部分的强度的大小。
22.如权利要求21所述的计算机程序产品，其中该第4程序指令包括：
当该第一部分的强度与该第二部分的强度的差值超过一预设程度时，判断该第一部分的强度与该第二部分的强度中的较大者所对应的该被接近或触碰的位置与检测该检测光的位置的距离大于该第一部分的强度与该第二部分的强度中的较小者所对应的该被接近或触碰的位置与检测该检测光的位置的距离的程序指令。
23.如权利要求22所述的计算机程序产品，其中该第4程序指令还包括：
当该第一部分的强度与该第二部分的强度的差值未超过该预设程度时，增加检测该至少一检测光的曝光时间长度，以使该第一部分的强度与该第二部分的强度的差值超过该预设程度的程序指令。
24.如权利要求22所述的计算机程序产品，其中该第2程序指令为在基准面旁的多个不同的检测位置检测该至少一检测光，并将该至少一检测光分别转换成多个对应的讯号的程序指令，且根据对应于该检测光的该讯号判断该基准面被接近或触碰的位置的程序指令包括：
利用三角定位法以根据分别对应于这些检测位置的这些讯号来计算出多个被该第一触控物与该第二触控物接近或触碰的可能位置的程序指令。
25.如权利要求24所述的计算机程序产品，其中该第4程序指令包括：
分辨这些讯号中的该第一部分的强度与该第二部分的强度的大小，以从对应于这些讯号中的该第一部分的强度与该第二部分的强度的这些位置中挑选出该第一触控物与该第二触控物接近或触碰的实际位置的程序指令。
26.如权利要求24所述的计算机程序产品，其中该第4程序指令包括：
当对应于这些检测位置的这些第一部分的强度与这些第二部分的强度的差值皆未超过该阈值时，增加这些检测位置中的至少其中之一所对应的曝光时间长度，以使其所对应的该第一部分的强度与该第二部分的强度的差值超过该阈值的程序指令。
27.如权利要求26所述的计算机程序产品，其中该第4程序指令包括：
计算出这些可能位置的几何中心位置，且根据该几何中心位置决定在这些检测位置中的至少其中之一检测该至少一检测光的初始曝光时间长度的程序指令。
28.如权利要求27所述的计算机程序产品，其中该第4程序指令包括：
藉由查表法来根据该几何中心位置找出在这些检测位置中的至少其中之一检测该至少一检测光的初始曝光时间长度的程序指令。
29.如权利要求28所述的计算机程序产品，其中该第4程序指令包括：
判断出该第一触控物与该第二触控物接近或触碰的实际位置之后，使这些曝光时间返回至一预设值的程序指令。
30.如权利要求21所述的计算机程序产品，还包括：
根据该讯号中对应于该第一触控物的一第一部分的强度与对应于该第二触控物的一第二部分的强度的大小，来判断该第一触控物与该第二触控物距离检测该检测光的位置的远近的程序指令。
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