CN104567764A - 一种天线测量暗室主反射点区域确定方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种天线测量暗室的主反射点区域确定方法，该方法包括以暗室中的发射天线作为点源，暗室中的每个面分别作为镜面，将点源与各镜面进行几何镜像得到每个面的镜像点；将暗室测试区域的每一位置分别与每个面的镜像点连线，在每个面上得到连线与该面的交汇区域；将每个面上的交汇区域作为该暗室测试区域在暗室该面的主反射点区域。本发明所述技术方案，能够准确地确定测试区在各墙壁的主反射点区域，进行减少吸波材料的浪费。

Description

一种天线测量暗室主反射点区域确定方法

技术领域

本发明设计一种反射点区域确定方法。更具体地，涉及一种天线测量暗室的主反射点区域确定方法。

背景技术

随着室外测试场的电磁环境干扰问题日益严重，微波暗室成为室内天线性能测量的典型场所。暗室的性能设计好坏是影响天线性能测量精度的重要因素，微波暗室借助铺设吸波材料，可提供稳定可控的满足天线测量所需要的电磁信号环境。吸波材料的合理布局是保证微波暗室性能的重要保证，吸波材料的功能是减小电磁波的反射，使测试区背景电平满足待测天线的测量需求。

设计一个天线测量暗室，最主要的工作就是找到暗室的主反射区，并进行有效的抑制主反射区反射信号，达到有效控制测试区背景电平的目的。目前暗室设计多采用简单的镜像方法确定暗室的主反射点区域，根据测试区背景电平技术指标要求，在相应各墙主反射点区域铺设不同吸收性能的吸波材料。天线测量暗室一般设有六壁，相对发射天线来说，分别称之为暗室地面、暗室屋顶、暗室前墙、暗室后墙及两个暗室侧墙。根据发射天线与测试区相对暗室的几何布局，采用简单的镜像的方法确定暗室各墙的主反射点所在区域，如图1所示，发射天线与测试空间外部轮廓各延长虚线与各墙的交汇区域(图中吸波材料块数及高度仅是示意作用，并非实际铺设数目及高度比例)即为各墙主反射点所在区域。暗室设计时，不同发射区域需要设计铺设不同性能的吸波材料，一般在暗室后墙铺设最高性能的吸波材料，这是发射天线主瓣照射区域；在暗室地面、暗室屋顶及两个侧墙铺设稍差的吸波材料，这是发射天线旁瓣照射区域；在暗室前墙铺设性能最差的吸波材料，这是发射天线后瓣照射区域。为了保证测试区背景电平性能指标，各墙壁会适当放宽主反射点铺设区域，考虑到暗室的美观度问题，暗室前墙及后墙一般会铺敷同样尺寸的吸波材料，其它各墙非主反射点区域也会铺设与主反射点区域尺寸相差不大的吸波材料。这种吸波材料铺敷设计方式虽然可以满足测试区的背景电平要求，但不能快速有效的找到暗室的主反射区，并进行有效的抑制主反射区反射信号，往往是一种过设计，前墙及后墙完全不需要铺设相同指标更高性能的吸波材料，地面、屋顶及侧墙完全不需要大范围的主反射区域，吸波材料价格昂贵，这种简单镜像扩宽法设计会造成极大的资金浪费。

因此，需要提供一种天线测量暗室的主反射点区域确定方法，能够快速、准确地确定测试区在各墙壁的主反射点区域的几何位置及尺寸，有效缩小主反射点区域，设计更合理的暗室吸波材料铺设方式，极大的节省吸波材料的资金支出。

发明内容

本发明的一个目的在于提供一种天线测量暗室的主反射点区域确定方法，解决目前现有技术中不能快速有效的找到测试区在暗室的主反射区，并进行主反射区反射信号的有效抑制，而大范围的铺设吸波材料，造成资源浪费的问题。

为解决上述问题，本发明采用下述技术方案：

一种天线测量暗室的反射点区域确定方法，所述该方法包括：

以暗室中的发射天线作为点源，暗室中的每个面分别作为镜面，将点源与各镜面进行几何镜像得到每个面的镜像点；

将暗室测试区域的每一位置分别与每个面的镜像点连线，在每个面上得到连线与该面的交汇区域；

将每个面上的交汇区域作为该暗室测试区域在暗室该面的主反射点区域。

优选的，将所述发射天线设置在位于暗室内二分之一高度且二分之一宽度的任意位置处。

优选的，将所述测试空间设置在位于暗室内二分之一高度且二分之一宽度的远离发射天线的位置处。

优选的，所述测试区域为长方体测试区域。

优选的，所述该方法进一步包括：

在暗室中建立三维直角坐标系；

确定暗室测试区相对暗室的几何位置，确定测试区域各顶点的三维空间坐标；

将测试区域各顶点分别与暗室每个面的镜像点连线，确定连线在每个面上所确定的最大交汇区域，作为暗室测试区域在该面的交汇区域。

本发明的有益效果如下：

本发明所述技术方案与现有技术相比，有以下优点：

1、本发明对天线测量暗室每面墙壁通过对发射天线点源进行几何关系镜像，通过与测试区的各测试位置点进行连接判断，能够快速、准确地确定天线测量暗室各墙壁主反射点区域相对暗室的几何位置及尺寸；

2、与现有暗室设计相比，本发明所述技术方案有效的缩小了主反射点区域，有助于更加合理的设计暗室各墙壁的吸波材料铺设布局方式，可以很好的节省购置吸波材料在暗室造价中的占有比例。

附图说明

下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细的说明。

图1示出现有技术中天线测量暗室的布局示意图；

图2示出本发明实施例中一种天线测量暗室的主反射点区域确定方法流程图；

图3示出本发明实施例中一种天线测量暗室地面主反射点区域确定示意图；

图4示出本发明实施例中一种天线测量暗室前墙主反射点区域确定示意图。

具体实施方式

为了更清楚地说明本发明，下面结合优选实施例和附图对本发明做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本发明的保护范围。

如图2所示，本发明公开了一种天线测量暗室的主反射点区域确定方法，该方法包括：

S1、以发射天线的信号发射方向为参照方向，将位于发射天线前、后、左、右、上、下的天线测量暗室的六面墙壁定义为暗室后墙、暗室前墙、左暗室侧墙、右暗室侧墙、暗室屋顶、暗室地面。设定天线测量暗室长度为L，宽度为W，高度为H，将发射天线作为点源处理，以S表示，将点源S放置在距离暗室前墙L1、距离暗室地面H/2及距离左右暗室分别为W/2处；

S2、建立暗室三维几何模型直角坐标系，以点源S后方的暗室前墙一墙脚定位坐标系原点O，以长度方向为X轴，以宽度方向为Y轴，以高度方向为Z轴，确定点源S的三维坐标(Xs，Ys，Zs)；

S3、确定测试区与天线测量暗室同方向的高度为A、长度为B，宽度为C，通常测试区为一个正方体区域，即A＝B＝C；通过确定并依次记录测试区几个主要顶点如M1、M2、M3、M4等各点的三维坐标来得到暗室测试区相对天线测量暗室的几何位置；

S4、如图3所示，确定地面主反射点区域。将点源S通过暗室地面几何镜像得到地面镜像点S′，待测天线可以为测试区中的任意位置，将S′与测试区的任意位置进行连线，分别找出测试区中与暗室地面相交的相对点源S在暗室X轴方向距离最短和最长的X1、X2两点，再找出与暗室地面相交的相对点源S在暗室Y轴方向距离最短和最长的X3、X4两点。即得到四点的三维坐标，暗室地面主反射点区域X轴方向尺寸为(X2-X1)，Y轴方向尺寸为(X4-X3)，四点的交叉区域即为暗室地面主反射点区域；

S5、运用步骤S4所述原理，依次分别确定暗室屋顶及左、右两个暗室侧墙的相对点源S在暗室X轴方向的最短点和最长点和在暗室Y轴方向的最短点和最长点，得到各点的三维坐标及暗室屋顶及左、右两个暗室侧墙的主反射点区域；

S6、如图4所示，确定暗室前墙主反射点区域。将点源S通过暗室前墙几何镜像得到前墙镜像点S″，将S″与测试区的任意位置进行连线，分别找出测试区中与暗室前墙相交的相对点源S在暗室Z轴方向距离最长的Z1、Z2两点，在找出与暗室前墙相交的相对点源S在暗室Y轴方向距离最长的Z3、Z4两点。即得到四点的三维坐标，暗室前墙主反射点区域方Z轴方向尺寸为(Z2-Z1)，Y轴方向尺寸为(Z4-Z3)，四点的交叉区域即为暗室前墙主反射点区域；

S7、运用步骤S6所述原理，依次分别确定暗室后墙的相对点源S在暗室Z轴方向的最长两点和在暗室Y轴方向的最长两点，得到各点的三维坐标及暗室后墙的主反射点区域。

综上所述，本发明所述技术方案，能够将发射天线作为点源，对天线测量暗室每面墙壁均对发射天线进行几何镜像，通过与测试区的各测试位置点进行连接判断，能够快速、准确地确定天线测量暗室各墙壁主反射点区域相对暗室的几何位置及尺寸，找出各暗室墙壁满足测试区背景电平要求的最小的主反射区域；与现有暗室设计相比，本发明所述技术方案有效的缩小了主反射点区域，有助于更加合理的设计暗室各墙壁的吸波材料铺设布局方式，可以很好的节省购置吸波材料在暗室造价中的占有比例。

显然，本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非是对本发明的实施方式的限定，对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本发明的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之列。

Claims (5)

1.一种天线测量暗室的反射点区域确定方法，其特征在于，所述该方法包括：

以暗室中的发射天线作为点源，暗室中的每个面分别作为镜面，将点源与各镜面进行几何镜像得到每个面的镜像点；

将暗室测试区域的每一位置分别与每个面的镜像点连线，在每个面上得到连线与该面的交汇区域；

将每个面上的交汇区域作为该暗室测试区域在暗室该面的主反射点区域。

2.根据权利要求1所述的主反射点区域确认方法，其特征在于，将所述发射天线设置在位于暗室内二分之一高度且二分之一宽度的任意位置处。

3.根据权利要求1所述的主反射点区域确认方法，其特征在于，将所述测试空间设置在位于暗室内二分之一高度且二分之一宽度的远离发射天线的位置处。

4.根据权利要求1所述的主反射点区域确认方法，其特征在于，所述测试区域为长方体测试区域。

5.根据权利要求1所述的主反射点区域确认方法，其特征在于，所述该方法进一步包括：

在暗室中建立三维直角坐标系；

确定暗室测试区相对暗室的几何位置，确定测试区域各顶点的三维空间坐标；

将测试区域各顶点分别与暗室每个面的镜像点连线，确定连线在每个面上所确定的最大交汇区域，作为暗室测试区域在该面的交汇区域。