CN104567673A - 一种工件孔的圆心位置度校检方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种工件孔的圆心位置度校检方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)将工件放置在校检平台上，校检平台底部放置一深色辅助板；(2)对定位孔进行定位；(3)对工件孔进行定位；(4)数据分析仪器分析；(5)获得定位孔与工件孔的实际中心距，并将其与定位孔和工件孔的标准中心距进行对比。本发明解决了背景技术中存在的缺陷，方法简单，易操作、成本低、实用性强、精度高，可单独测量一个孔的位置度，也可批量测量一个工件中多个孔的位置度。

Description

一种工件孔的圆心位置度校检方法
技术领域
本发明涉及一种工件孔的圆心位置度校检方法。
背景技术
现代机械加工和制造行业的发展，机械产品结构越来越复杂，产品上的孔的质量要求也相应提高，孔的位置度直接影响到产品的质量。随着工业体系的发展，对位置度要求及精度越来越高，测量方法与手段也不断提升。目前主要是通过三坐标测量仪对被测产品表面进行数据点扫描、采集数据点，以获得被测产品在空间范围内的三坐标，从而获得产品上孔的位置度。
但是三坐标测量仪成本较高且不能批量进行测量，使得企业生产成本较高；为降低成本，有采用芯棒配合测量法，即根据被测孔的设计参数，制作相应的芯棒，然后使用仪器对芯棒进行测量而间接获得孔的相关数据，该测量方法虽然成本较低，但是测量精度较低，且不具备较好适应性，因为孔的尺寸变化多样，一棒配一孔的配套芯棒数量较大，管理成本较高，因此，实用性不强。。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种更加方便的，用于测量工件上孔的位置度的方法。
为解决上述问题，本发明提供了一种工件孔的圆心位置度校检方法，其特征在于，包括以下步骤：
(1)将工件放置在校检平台上，校检平台底部放置一深色辅助板；
(2)对定位孔进行定位，其包括：
(2.1)在所述定位孔正下方设置一光信号接收器，
(2.2)第一机械手带动光信号发射器从原点出发，向所述定位孔方向移动，所述光信号发射器移动到所述定位孔正下方时，光信号发射器发出的直线光穿过所述定位孔并照射在所述光信号接收器上，此时所述光信号接收器向所述第一机械手发出停止命令，记录此时所述第一机械手的坐标；
(3)对工件孔进行定位，其包括：
(3.1)第二机械手带动光线探测仪以及数据分析仪从原点出发，向工件孔方向移动；
(3.2)所述工件孔与所述辅助板间产生色差，所述光线探测器运动到所述工件孔边缘时，获取到反射光斑，控制所述第二机械手停止运动，记录此时所述第二机械手的第一坐标，同样的方式，获得工件孔的边缘上其他的两个坐标，并且记录为第二坐标和第三坐标；
(4)数据分析仪器分析:
(4.1)通过第一直线将第一坐标点和第二坐标点连接，通过第二直线将第二坐标点和第三坐标点连接，
(4.2)作出第一直线的中垂线以及第二直线的中垂线，两个中垂线的交与一点；
(4.3)获得该交点的坐标；
(5)获得定位孔与工件孔的实际中心距，并将其与定位孔和工件孔的标准中心距进行对比。
作为本发明的进一步改进，所述光信号发射器和光信号接收器分别为红外线发射器和红外线接收器。
本发明的有益效果在于，本发明解决了背景技术中存在的缺陷，方法简单，易操作、成本低、实用性强、精度高，可单独测量一个孔的位置度，也可批量测量一个工件中多个孔的位置度。
具体实施方式
下面对本发明的具体实施方式作进一步详细的描述。
包括以下步骤：
(1)将工件放置在校检平台上，校检平台底部放置一深色辅助板；
(2)对定位孔进行定位，其包括：
(2.1)在所述定位孔正下方设置一光信号接收器，
(2.2)第一机械手带动光信号发射器从原点出发，向所述定位孔方向移动，所述光信号发射器移动到所述定位孔正下方时，光信号发射器发出的直线光穿过所述定位孔并照射在所述光信号接收器上，此时所述光信号接收器向所述第一机械手发出停止命令，记录此时所述第一机械手的坐标(X0,Y0)；
(3)对工件孔进行定位，其包括：
(3.1)第二机械手带动光线探测仪以及数据分析仪从原点出发，向工件孔方向移动；
(3.2)所述工件孔与所述辅助板间产生色差，所述光线探测器运动到所述工件孔边缘时，获取到反射光斑，控制所述第二机械手停止运动，记录此时所述第二机械手的第一坐标(X1,Y1)，同样的方式，获得工件孔的边缘上其他的两个坐标，并且记录为第二坐标(X2,Y2)和第三坐标(X3,Y3)；
(4)数据分析仪器分析:
(4.1)通过第一直线将第一坐标点和第二坐标点连接，通过第二直线将第二坐标点和第三坐标点连接，
(4.2)作出第一直线的中垂线以及第二直线的中垂线，两个中垂线的交与一点；
(4.3)获得该交点的坐标；
(5)获得定位孔与工件孔的实际中心距m，并将其与定位孔和工件孔的标准中心距范围{n1,n2}进行对比。通过步骤1-4获得中心距将该m值与{n1,n2}进行对比，若在该范围内，则为合格品，否则为次品。
通过技术获得定位孔与工件孔的圆心距
作为本发明的进一步改进，所述光信号发射器和光信号接收器分别为红外线发射器和红外线接收器。
本发明解决了背景技术中存在的缺陷，方法简单，易操作、成本低、实用性强、精度高，可单独测量一个孔的位置度，也可批量测量一个工件中多个孔的位置度。
以上实施例仅为本发明其中的一种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (2)

1.一种工件孔的圆心位置度校检方法，其特征在于，包括以下步骤：
(1)将工件放置在校检平台上，校检平台底部放置一深色辅助板；
(2)对定位孔进行定位，其包括：
(2.1)在所述定位孔正下方设置一光信号接收器，
(2.2)第一机械手带动光信号发射器从原点出发，向所述定位孔方向移动，所述光信号发射器移动到所述定位孔正下方时，光信号发射器发出的直线光穿过所述定位孔并照射在所述光信号接收器上，此时所述光信号接收器向所述第一机械手发出停止命令，记录此时所述第一机械手的坐标；
(3)对工件孔进行定位，其包括：
(3.1)第二机械手带动光线探测仪以及数据分析仪从原点出发，向工件孔方向移动；
(3.2)所述工件孔与所述辅助板间产生色差，所述光线探测器运动到所述工件孔边缘时，获取到反射光斑，控制所述第二机械手停止运动，记录此时所述第二机械手的第一坐标，同样的方式，获得工件孔的边缘上其他的两个坐标，并且记录为第二坐标和第三坐标；
(4)数据分析仪器分析:
(4.1)通过第一直线将第一坐标点和第二坐标点连接，通过第二直线将第二坐标点和第三坐标点连接，
(4.2)作出第一直线的中垂线以及第二直线的中垂线，两个中垂线的交与一点；
(4.3)获得该交点的坐标；
(5)获得定位孔与工件孔的实际中心距，并将其与定位孔和工件孔的标准中心距进行对比。
2.根据权利要求1所述的一种工件孔的圆心位置度校检方法，其特征在于，所述光信号发射器和光信号接收器分别为红外线发射器和红外线接收器。
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