CN104539248A - 一种功放元件的过流保护、电流检测控制方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种功放元件的过流保护、电流检测控制方法及装置，用以减小从输出采样控制信号到功放元件出现过流时控制关闭功放元件之间的时延，从而能够在功放元件出现过流时，及时关闭功放元件，有效的保护了功放元件。所述功放元件的过流保护方法，包括：可擦除可编辑逻辑器件EPLD接收处理器发送的工作模式配置信息；当EPLD根据工作模式配置信息确定自身处于第一工作模式时，EPLD发送采样控制信号至检测器，以指示检测器检测功放元件的电流值；EPLD接收到检测器发送的检测完成信号后，读取检测器检测到的电流值，并将所述电流值与预设阈值进行比较，当所述电流值大于所述预设阈值时，关闭所述功放元件。

Description

一种功放元件的过流保护、电流检测控制方法及装置

技术领域

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种功放元件的过流保护、电流检测控制方法及装置。

背景技术

时分复用(Time Division，TD)系统工作过程中，为了降低功耗，在接收时隙下会关闭功放元件，而在发射时隙下，需要对功放元件的工作状态进行监控，一旦功放元件出现过流现象，需要及时关闭功放元件，以保证功放元件不受损坏。

目前，微控制单元(Micro Control Unit，MCU)采用德州仪器(TI)的AMC7812芯片来获取射频拉远单元(Radio Remote Unit，RRU)板卡上的电流电压值，该AMC7812芯片包含12位(bit)，16通道(SE)，500每秒千次采样(KSPS)的模数转换器(Analog-to-Digital Converter，ADC)和12个12位的数模转换器(Digital to Analog Converter，DAC)，通过内部多路开关(Multiplexer，Mux)切换通道的方式采集各个通道的电流电压值，控制接口为IO接口，数据传输采用I2C接口。MCU获取RRU功放元件的电流也是通过AMC7812芯片实现的。

现有技术中MCU获取功放元件的电流值的原理，如图1所示，MCU 102按照一定的频率，连续的通过通用数据交换格式(MapInfo，MIF)接口配置可擦除可编辑逻辑器件(Erasable Programmable Logic Device，EPLD)104的寄存器0x44，EPLD中控制单元CONTROL控制IO输出CNTV信号给AMC7812106，当MCU 102确定AMC7812 106输出DAV信号时，确定AMC7812 106完成一次电流检测，MCU 102通过EPLD 104的I2C通道获取AMC7812 106检测到的电流值，从而完成MCU102对功放元件电流值的读取，EPLD的I2C通道透传AMC7812 106检测到的电流值。

从MCU获取功放元件的电流的过程可以看出，获取功放元件电流的功能比较简单，MCU连续检测功放元件的电流值，也即MCU通过EPLD输出采样控制信号至AMC7812，当AMC7812完成电流值的检测时获取功放元件的电流值(EPLD只是做透传)，这种方式由MCU控制EPLD的管脚产生延时，输出采样控制信号，从MCU控制EPLD输出采样控制信号到MCU获取到功放元件的电流值之间存在较大的时延，而且，MCU获取功放元件的电流值之后，MCU将功放元件的电流值与预设阈值进行比较，以在功放元件出现过流时，输出关闭功放元件的信号控制关闭功放元件，由MCU中的软件实现功放元件的电流值与预设阈值比较，在功放元件出现过流时，输出关闭功放元件的信号控制关闭功放元件，软件实现方法存在较大的时延。

综上所述，现有技术中从输出采样控制信号到功放元件出现过流时控制关闭功放元件之间存在较大的时延，功放元件出现过流时，无法及时关闭功放元件。

发明内容

本发明实施例提供了一种功放元件的过流保护、电流检测控制方法及装置，用以减小从输出采样控制信号到功放元件出现过流时控制关闭功放元件之间的时延，从而能够在功放元件出现过流时，及时关闭功放元件，有效的保护了功放元件。

本发明实施例提供的一种功放元件的过流保护方法，包括：可擦除可编辑逻辑器件EPLD接收处理器发送的工作模式配置信息；当所述EPLD根据所述工作模式配置信息确定自身处于第一工作模式时，所述EPLD发送采样控制信号至检测器，以指示所述检测器检测功放元件的电流值；所述EPLD接收到所述检测器发送的检测完成信号后，读取所述检测器检测到的电流值，并将所述电流值与预设阈值进行比较，当所述电流值大于所述预设阈值时，关闭所述功放元件。

本发明实施例提供的上述方法中，EPLD根据接收到的处理器发送的工作模式配置信息，确定自身处于第一工作模式时，EPLD自动触发发送采样控制信号至检测器，检测并获取功放元件的电流值，获取功放元件的电流值之后，由EPLD硬件实现功放元件的电流值与预设阈值的比较，在功放元件的电流值大于预设阈值时控制关闭功放元件，与现有技术中由MCU控制EPLD的管脚产生延时，输出采样控制信号，在获取功放元件的电流值之后，由MCU中的软件将功放元件的电流值与预设阈值比较，在功放元件出现过流时，输出关闭功放元件的信号控制关闭功放元件相比，EPLD自动触发发送采样控制信号并获取功放元件的电流值，由于EPLD控制时序比处理器更加精确，因此，无需通过MCU产生的延时输出采样控制信号，减小了从输出采样控制信号到获取到功放元件的电流值之间的时延，且由EPLD硬件实现功放元件的电流值与预设阈值的比较，在功放元件的电流值大于预设阈值时控制关闭功放元件，减小了功放元件的电流值与预设阈值比较的时延和输出关闭功放元件的信号控制关闭功放元件的时延，从而减小了从输出采样控制信号到功放元件出现过流时控制关闭功放之间的时延，能够在功放元件出现过流时，及时关闭功放元件，有效的保护了功放元件，同时无需处理器控制EPLD输出采样控制信号，节省了处理器定时触发控制EPLD输出采样控制信号的开销。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述方法中，所述EPLD发送采样控制信号至检测器，具体为：所述EPLD接收到用于指示所述功放元件每个帧起始的中断信号后，启动预设计时器，并在所述计时器的计时时间等于预设采样时间点的时间时，发送采样控制信号至检测器。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述方法中，所述功放元件任一时隙配置中的每个时隙存在至少一个所述预设采样时间点。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述方法中，所述EPLD将所述电流值与预设阈值进行比较之前，该方法还包括：所述EPLD接收所述处理器发送的所述功放元件当前的时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息、发射时隙的预设阈值以及接收时隙的预设阈值；所述EPLD将所述电流值与预设阈值进行比较，包括：当所述EPLD根据所述发射时隙和接收时隙的配置信息确定当前采样时间点对应的时隙为发射时隙时，所述EPLD将所述电流值与发射时隙的预设阈值进行比较；当所述EPLD根据所述发射时隙和接收时隙的配置信息确定当前采样时间点对应的时隙为接收时隙时，所述EPLD将所述电流值与接收时隙的预设阈值进行比较；其中，所述发射时隙的预设阈值与所述接收时隙的预设阈值不同。

本发明实施例提供的上述方法中，由于功放元件发射时隙和接收时隙的电流不同，将发射时隙的预设阈值和接收时隙的预设阈值设置为不同，在获取到预设采样时间点的电流值之后，根据功放元件当前的时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息确定当前采样时间点属于发射时隙还是接收时隙，若属于发射时隙，则将获取到的电流值与发射时隙的预设阈值进行比较；若属于接收时隙，则将获取到的电流值与接收时隙的预设阈值进行比较，与采用同一预设阈值进行比较相比，针对发射时隙和接收时隙设置不同的预设阈值，实现发射时隙和接收时隙的差别化过流保护，更加精确的保护功放元件。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述方法中，所述EPLD获取所述检测器检测到的电流值之后，该方法还包括：所述EPLD将所述预设采样时间点与所述电流值的对应关系存储到预先存储的电流记录表中；当所述EPLD确定所有预设采样时间点与电流值的对应关系均添加到所述电流记录表中时，所述EPLD将用于标识电流值采样状态的标志位更新为采样完成。

本发明实施例提供的上述方法中，EPLD在电流记录表中存储预设采样时间点与电流值的对应关系，并在所有预设采样时间点与对应关系均添加到电流记录表中时，将用于标识电流值采样状态的标志位更新为采样完成，以便处理器读取预设采样时间点与电流值的对应关系，进而计算功放元件的功耗和效率。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述方法中，该方法还包括：当所述EPLD根据所述工作模式配置信息确定自身处于第二工作模式，所述EPLD接收到所述处理器发送的采样控制信号后，将所述采样控制信号转发至所述检测器；所述EPLD接收到所述检测器发送的检测完成信号后，获取所述检测器检测到的电流值，并将所述电流值转发至所述处理器。

本发明实施例提供的一种功放元件的电流检测控制方法，该方法包括：处理器生成可擦除可编辑逻辑器件EPLD的工作模式配置信息；所述处理器将所述工作模式配置信息发送至所述EPLD，以指示所述EPLD在根据所述工作模式配置信息确定自身处于第一工作模式时，发送采样控制信号至检测器，以指示所述检测器检测功放元件的电流值；或者所述处理器将所述工作模式配置信息发送至所述EPLD，以指示所述EPLD在根据所述工作模式配置信息确定自身处于第二工作模式时，将接收到的所述处理器发送的采样控制信号转发至所述检测器，以指示所述检测器检测功放元件的电流值。

在发明实施例提供的上述方法中，EPLD以第一工作模式工作时，处理器只需为该EPLD配置一次工作模式，EPLD就能够自动触发检测功放元件的电流值，与现有技术中处理器连续控制EPLD输出采样控制信号检测功放元件的电流值相比，节省了处理器定时触发控制EPLD输出采样控制信号的开销。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述方法中，该方法还包括：所述处理器发送所述功放元件当前的时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息、发射时隙的预设阈值以及接收时隙的预设阈值至所述EPLD，以指示工作模式为第一工作模式的EPLD在读取所述检测器检测到的电流值之后，将采集到的电流值与预设阈值进行比较。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述方法中，该方法还包括：所述处理器确定所述工作模式为第一工作模式的EPLD中用于标识电流值采样状态的标志位为采样完成时，所述处理器读取所述工作模式为第一工作模式的EPLD的电流记录表中存储的预设采样时间点与电流值的对应关系。

本发明实施例提供的上述方法中，处理器读取EPLD的电流记录表中存储的预设采样时间点与电流值的对应关系，进而能够根据功放元件当前时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息确定每个预设采样时间点对应的时隙属于发射时隙还是接收时隙，从而能够更加准确的计算功放元件的功耗及效率。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述方法中，该方法还包括：所述处理器发送采样控制信号至所述EPLD，以指示工作模式为第二工作模式的EPLD在接收到所述采样控制信号之后，将所述采样控制信号转发至所述检测器，以及，在接收到所述检测器发送的检测完成信号后，获取所述检测器检测到的电流值，将所述电流值转发至所述处理器；所述处理器接收所述工作模式为第二工作模式的EPLD发送的所述电流值。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述方法中，所述处理器发送采样控制信号至所述EPLD之前，该方法还包括：所述处理器确定所述EPLD中用于标识电流值采样状态的标志位为采样完成时，所述处理器发送采样控制信号至所述EPLD。

本发明实施例提供的一种功放元件的过流保护装置，包括：接收单元，用于接收处理器发送的工作模式配置信息；发送单元，连接至所述接收单元，用于当根据所述工作模式配置信息确定自身处于第一工作模式时，发送采样控制信号至检测器，以指示所述检测器检测功放元件的电流值；处理单元，连接至所述接收单元，用于在接收到所述检测器发送的检测完成信号后，读取所述检测器检测到的电流值，并将所述电流值与预设阈值进行比较，当所述电流值大于所述预设阈值时，关闭所述功放元件。

本发明实施例提供的上述装置中，该装置所在的EPLD根据接收到的处理器发送的工作模式配置信息，确定自身处于第一工作模式时，EPLD自动触发发送采样控制信号至检测器，检测并获取功放元件的电流值，获取功放元件的电流值之后，由EPLD硬件实现功放元件的电流值与预设阈值的比较，在功放元件的电流值大于预设阈值时控制关闭功放元件，与现有技术中由MCU控制EPLD的管脚产生延时，输出采样控制信号，在获取功放元件的电流值之后，由MCU中的软件将功放元件的电流值与预设阈值比较，在功放元件出现过流时，输出关闭功放元件的信号控制关闭功放元件相比，EPLD自动触发发送采样控制信号并获取功放元件的电流值，由于EPLD控制时序比处理器更加精确，因此，无需通过MCU产生的延时输出采样控制信号，减小了从输出采样控制信号到获取到功放元件的电流值之间的时延，且由EPLD硬件实现功放元件的电流值与预设阈值的比较，在功放元件的电流值大于预设阈值时控制关闭功放元件，减小了功放元件的电流值与预设阈值比较的时延和输出关闭功放元件的信号控制关闭功放元件的时延，从而减小了从输出采样控制信号到功放元件出现过流时控制关闭功放之间的时延，能够在功放元件出现过流时，及时关闭功放元件，有效的保护了功放元件，同时无需处理器控制EPLD输出采样控制信号，节省了处理器定时触发控制EPLD输出采样控制信号的开销。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述装置中，所述发送单元发送采样控制信号至检测器，具体为：所述发送单元接收到用于指示所述功放元件每个帧起始的中断信号后，启动预设计时器，并在所述计时器的计时时间等于预设采样时间点的时间时，发送采样控制信号至检测器。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述装置中，所述功放元件任一时隙配置中的每个时隙存在至少一个所述预设采样时间点。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述装置中，所述接收单元还用于：接收所述处理器发送的所述功放元件当前的时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息、发射时隙的预设阈值以及接收时隙的预设阈值；所述处理单元将所述电流值与预设阈值进行比较，包括：当所述处理单元根据所述发射时隙和接收时隙的配置信息确定当前采样时间点对应的时隙为发射时隙时，所述处理单元将所述电流值与发射时隙的预设阈值进行比较；当所述处理单元根据所述发射时隙和接收时隙的配置信息确定当前采样时间点对应的时隙为接收时隙时，所述处理单元将所述电流值与接收时隙的预设阈值进行比较；其中，所述发射时隙的预设阈值与所述接收时隙的预设阈值不同。

本发明实施例提供的上述装置中，由于功放元件发射时隙和接收时隙的电流不同，将发射时隙的预设阈值和接收时隙的预设阈值设置为不同，在获取到预设采样时间点的电流值之后，根据功放元件当前的时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息确定当前采样时间点属于发射时隙还是接收时隙，若属于发射时隙，则将获取到的电流值与发射时隙的预设阈值进行比较；若属于接收时隙，则将获取到的电流值与接收时隙的预设阈值进行比较，与采用同一预设阈值进行比较相比，针对发射时隙和接收时隙设置不同的预设阈值，实现发射时隙和接收时隙的差别化过流保护，更加精确的保护功放元件。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述装置中，所述处理单元获取所述检测器检测到的电流值之后，还用于：将所述预设采样时间点与所述电流值的对应关系存储到预先存储的电流记录表中；当所述处理单元确定所有预设采样时间点与电流值的对应关系均添加到所述电流记录表中时，所述处理单元将用于标识电流值采样状态的标志位更新为采样完成。

本发明实施例提供的上述装置中，该装置所在的EPLD在电流记录表中存储预设采样时间点与电流值的对应关系，并在所有预设采样时间点与对应关系均添加到电流记录表中时，将用于标识电流值采样状态的标志位更新为采样完成，以便处理器读取预设采样时间点与电流值的对应关系，进而计算功放元件的功耗和效率。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述装置中，所述发送单元还用于：当根据所述工作模式配置信息确定自身处于第二工作模式，接收到所述处理器发送的采样控制信号后，将所述采样控制信号转发至所述检测器；所述处理单元还用于，接收到所述检测器发送的检测完成信号后，获取所述检测器检测到的电流值，并将所述电流值转发至所述处理器。

本发明实施例提供的一种功放元件的电流检测控制装置，包括：处理单元，用于生成可编程逻辑器件EPLD的工作模式配置信息；发送单元，连接至所述处理单元，用于将所述工作模式配置信息发送至所述EPLD，以指示所述EPLD在根据所述工作模式配置信息确定自身处于第一工作模式时，发送采样控制信号至检测器，以指示所述检测器检测功放元件的电流值；或者将所述工作模式配置信息发送至所述EPLD，以指示所述EPLD在根据所述工作模式配置信息确定自身处于第二工作模式时，将接收到的所述处理器发送的采样控制信号转发至所述检测器，以指示所述检测器检测功放元件的电流值。

在发明实施例提供的上述装置中，EPLD以第一工作模式工作时，该装置所在的处理器只需为该EPLD配置一次工作模式，EPLD就能够自动触发检测功放元件的电流值，与现有技术中处理器连续控制EPLD输出采样控制信号检测功放元件的电流值相比，节省了处理器定时触发控制EPLD输出采样控制信号的开销。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述装置中，所述发送单元还用于：发送所述功放元件当前的时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息、发射时隙的预设阈值以及接收时隙的预设阈值至所述EPLD，以指示工作模式为第一工作模式的EPLD在读取所述检测器检测到的电流值之后，将采集到的电流值与预设阈值进行比较。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述装置中，所述处理单元还用于：确定所述工作模式为第一工作模式的EPLD中用于标识电流值采样状态的标志位为采样完成时，读取所述工作模式为第一工作模式的EPLD的电流记录表中存储的预设采样时间点与电流值的对应关系。

本发明实施例提供的上述装置中，该装置所在的处理器读取EPLD的电流记录表中存储的预设采样时间点与电流值的对应关系，进而能够根据功放元件当前时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息确定每个预设采样时间点对应的时隙属于发射时隙还是接收时隙，从而能够更加准确的计算功放元件的功耗及效率。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述装置中，所述发送单元还用于：发送采样控制信号至所述EPLD，以指示工作模式为第二工作模式的EPLD在接收到所述采样控制信号之后，将所述采样控制信号转发至所述检测器，以及，在接收到所述检测器发送的检测完成信号后，获取所述检测器检测到的电流值，将所述电流值转发至所述发送单元所在的处理器；所述装置还包括：接收单元，连接至所述处理单元，用于接收所述工作模式为第二工作模式的EPLD发送的所述电流值。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述装置中，所述发送单元发送采样控制信号至所述EPLD，具体为：当所述发送单元确定所述EPLD中用于标识电流值采样状态的标志位为采样完成时，所述发送单元发送采样控制信号至所述EPLD。

附图说明

图1为现有技术中MCU获取功放元件的电流值的原理示意图；

图2为本发明实施例提供的一种功放元件的过流保护方法的流程示意图；

图3为本发明实施例提供的确定预设采样时间点的原理示意图；

图4为本发明实施例提供的EPLD控制检测器检测电流值的时序示意图；

图5为本发明实施例提供的EPLD存储检测到的电流值的时序示意图；

图6为本发明实施例提供的处理器获取功放元件的电流值的流程示意图；

图7为本发明实施例提供的MCU获取功放元件的电流值的原理示意图；

图8为本发明实施例提供的功放元件的电流检测控制方法的流程示意图；

图9为本发明实施例提供的功放元件的过流保护装置的结构示意图；

图10为本发明实施例提供的功放元件的电流检测控制装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图，对本发明实施例提供的一种功放元件的过流保护、电流检测控制方法及装置的具体实施方式进行详细地说明。

需要说明的是，时分复用系统中，功放元件的时隙配置中每个帧周期均包含多个时隙，多个时隙又可以分为发射时隙和接收时隙，其中，发射时隙用于传输下行数据，接收时隙用于接收上行数据。

本发明实施例中提到的处理器配置EPLD的工作模式以及处理器根据EPLD中用于标识电流值采样状态的标志位确定EPLD是否采样完成均是通过对EPLD的0x44寄存器进行读写完成的。

在EPLD侧，本发明实施例提供的一种功放元件的过流保护方法，如图2所示，包括：

步骤202，可擦除可编辑逻辑器件EPLD接收处理器发送的工作模式配置信息；

步骤204，当EPLD根据工作模式配置信息确定自身处于第一工作模式时，EPLD发送采样控制信号至检测器，以指示检测器检测功放元件的电流值；

步骤206，EPLD接收到检测器发送的检测完成信号后，读取检测器检测到的电流值，并将电流值与预设阈值进行比较，当电流值大于预设阈值时，关闭功放元件。

本发明实施例提供的方法中，EPLD根据接收到的处理器发送的工作模式配置信息，确定自身处于第一工作模式时，EPLD自动触发发送采样控制信号至检测器，检测并获取功放元件的电流值，获取功放元件的电流值之后，由EPLD硬件实现功放元件的电流值与预设阈值的比较，在功放元件的电流值大于预设阈值时控制关闭功放元件，与现有技术中由MCU控制EPLD的管脚产生延时，输出采样控制信号，在获取功放元件的电流值之后，由MCU中的软件将功放元件的电流值与预设阈值比较，在功放元件出现过流时，输出关闭功放元件的信号控制关闭功放元件相比，EPLD自动触发发送采样控制信号并获取功放元件的电流值，由于EPLD控制时序比处理器更加精确，因此，无需通过MCU产生的延时输出采样控制信号，减小了从输出采样控制信号到获取到功放元件的电流值之间的时延，且由EPLD硬件实现功放元件的电流值与预设阈值的比较，在功放元件的电流值大于预设阈值时控制关闭功放元件，减小了功放元件的电流值与预设阈值比较的时延和输出关闭功放元件的信号控制关闭功放元件的时延，从而减小了从输出采样控制信号到功放元件出现过流时控制关闭功放之间的时延，能够在功放元件出现过流时，及时关闭功放元件，有效的保护了功放元件，同时无需处理器控制EPLD输出采样控制信号，节省了处理器定时触发控制EPLD输出采样控制信号的开销。

作为较为具体的实施例，处理器控制EPLD输出采样控制信号至检测器，例如：处理器控制EPLD的CNTV输出低电平信号输出采样控制信号，则处理器需要通过延时来控制EPLD的CNTV输出低电平信号，假设延迟为1毫秒(ms)延迟时间为毫秒级，而本发明实施例中EPLD自动触发输出采样控制信号，由EPLD内部定时器控制输出低电平信号，则延时时间可以降为纳秒(ns)级，大大降低发送采样控制信号到获取电流值之间的延迟时间，从而能够及时的将功放元件的电流值与预设阈值进行比较，在功放元件出现过流时，及时关闭功放。当然，预设阈值可以根据功放元件的具体参数进行设定，例如：100毫安(mA)。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的方法中，EPLD发送采样控制信号至检测器，具体为：EPLD接收到用于指示所述功放元件每个帧起始的中断信号后，启动预设计时器，并在计时器的计时时间等于预设采样时间点的时间时，发送采样控制信号至检测器。

具体实施时，预设采样时间点可以预先存储在EPLD中，预设采样时间点可以是多个，多个预设采样时间点的选取可以自由选取，较佳地，功放元件任一时隙配置中的每个时隙存在至少一个预设采样时间点，则每个时隙的电流值均能够被获取，并与预设阈值进行比较，从而更好的保护功放元件。

具体来说，多个预设的采样时间点根据功放元件的时隙配置确定，如图3所示，以3个时隙配置(时隙配置1、时隙配置2和时隙配置3)为例进行说明，其中，时隙配置1的1帧数据包括7个时隙，时隙1-2和时隙5-7为发射时隙，时隙3-4为接收时隙；时隙配置2的1帧数据包括5个时隙，时隙1和时隙4-5为发射时隙，时隙3-4为接收时隙；时隙配置3的1帧数据包括7个时隙，时隙1-3和时隙7为发射时隙，时隙4-6为接收时隙，当然，本领域技术人员应当理解的是，图3中示出的仅仅是每个时隙配置中1帧数据。

在确定采样时间点时，需保证3个时隙配置中任一时隙配置的每个时隙存在至少一个预设采样时间点，也即确保能够在至少一个预设采样时间点采集任一时隙配置中每个时隙下功放元件的电流值。图3中对应于3个时隙配置确定了8个采样时间点(采样时间点1-8)，其中，采样时间点1可以相对于每帧数据中的时隙1进行记录，例如：320微秒(us)，则EPLD在接收到用于指示功放元件每个帧起始的中断信号之后320us发送第一个采样控制信号至检测器；采样时间点2可以相对于每帧数据中的时隙1进行记录，例如：500us，则EPLD在接收到用于指示功放元件每个帧起始的中断信号之后500us发送第二个采样控制信号至检测器，也可以相对于采样时间点1进行记录，例如：180us，则EPLD在发送第一个采样控制信号之后180us发送第二个采样控制信号至检测器。

值得说明的是，一旦功放元件的时隙配置确定，则可以根据多个预设采样时间点与该时隙配置的关系，确定每个预设采样时间点处于发射时隙还是接收时隙，例如：功放元件采用时隙配置1进行上下行数据传输，则根据时隙配置1每个帧周期中发射时隙和接收时隙的配置信息以及采样时间点1-8的关系，可以确定采样时间点1-3和采样时间点6-8对应的时隙为发射时隙，采样时间点4-5对应的时隙为接收时隙。

具体实施时，以RRU功放元件为例，用于指示RRU功放元件每个帧起始的中断信号由整个基站的时间同步系统解析并发送至EPLD，EPLD接收到用于指示RRU功放元件每个帧起始的中断信号后，启动计时器，在预先存储的预设采样时间点发送采样控制信号至检测器，检测并获取RRU功放元件的电流值，获取每个预设采样时间点的电流值，也即能够获取每个时隙的电流值，从而能够更加精确的计算功放元件的功耗和效率。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的方法中，EPLD将电流值与预设阈值进行比较之前，该方法还包括：EPLD接收处理器发送的功放元件当前的时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息、发射时隙的预设阈值以及接收时隙的预设阈值；EPLD将电流值与预设阈值进行比较，包括：当EPLD根据发射时隙和接收时隙的配置信息确定当前采样时间点对应的时隙为发射时隙时，EPLD将电流值与发射时隙的预设阈值进行比较；当EPLD根据发射时隙和接收时隙的配置信息确定当前采样时间点对应的时隙为接收时隙时，EPLD将电流值与接收时隙的预设阈值进行比较；其中，发射时隙的预设阈值与接收时隙的预设阈值不同。

本发明实施例提供的方法中，由于功放元件发射时隙和接收时隙的电流不同，将发射时隙的预设阈值和接收时隙的预设阈值设置为不同，在获取到预设采样时间点的电流值之后，根据功放元件当前的时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息确定当前采样时间点属于发射时隙还是接收时隙，若属于发射时隙，则将获取到的电流值与发射时隙的预设阈值进行比较；若属于接收时隙，则将获取到的电流值与接收时隙的预设阈值进行比较，与采用同一预设阈值进行比较相比，针对发射时隙和接收时隙设置不同的预设阈值，实现发射时隙和接收时隙的差别化过流保护，更加精确的保护功放元件。

当然，发射时隙的预设阈值和接收时隙的预设阈值可以根据功放元件的参数以及实际工作情况进行设定，例如：发射时隙的预设阈值为100mA，接收时隙的预设阈值为40mA。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的方法中，EPLD获取检测器检测到的电流值之后，该方法还包括：EPLD将预设采样时间点与电流值的对应关系存储到预先存储的电流记录表中；当EPLD确定所有预设采样时间点与电流值的对应关系均添加到电流记录表中时，EPLD将用于标识电流值采样状态的标志位更新为采样完成。

具体实施时，EPLD在电流记录表中存储预设采样时间点与电流值的对应关系，并在所有预设采样时间点与对应关系均添加到电流记录表中时，将用于标识电流值采样状态的标志位更新为采样完成，以便处理器读取采样时间点与电流值的对应关系，进而计算功放元件的功耗和效率。值得说明的是，预设采样时间点与功放元件的一帧数据相对应，对于每一帧数据，EPLD均采集预设采样时间点对应的电流值，在存储时，后一次存储的数据将覆盖前一次采集的数据。

作为较为具体的实施例，检测器以7812为例，CNTV、DAV、sig_i2c_work、I2C_SCL、I2C_SDA_O、I2C_SDA_I的控制时序如图4所示，具体来说，当EPLD将CNTV信号发送给AMC7812后，AMC7812会触发一次模数转换，当转换结束后，AMC7812会将DAV信号拉低，作为转换结束的标志，EPLD会将DAV信号拉低的标志作为I2C开始工作的标志，也即EPLD会将DAV信号拉低的标志作为判断是否发送I2C时钟和数据的触发，I2C内部的sig_i2c_work包含整个I2C传输过程，I2C_SCL是I2C输出的I2C时钟，I2C_SDA_O为EPLD输出的I2C数据(例如：协议和地址信息)，I2C_SDA_I是EPLD通过I2C通道接收到的数据(例如：协议和电流值信息)。

如图5所示，EPLD输出CNTV信号之后，EPLD接收到AMC7812输出的I2C数据后将数据通过双口随机存储器(Double Port Random AccessMemory，DPRAM)存储到内部的EBR中，DPRAM为EPLD内部的IP核，存储的时钟由每次I2C收到的最后一个数据产生，在DPRAM的时钟到来时，数据通过时钟的上升沿将信号存储进随机存储器(Random Access Memory，RAM)，I2C_SDA_I为AMC7812输出的数据，DPRAM CLK为存储数据的时钟信号，存储时钟信号的上升沿触发存储数据，存储数据可以采用大端存储模式或小端存储模式。

以8个采样时间点、双通道0x2C和0x2D采集电流值、大端存储模式、存储地址从0x60-0x7F为例，具体的数据存储如表1所示。

采样时隙

7812地址

MIF地址

存储数据

采样时隙

7812地址

MIF地址

存储数据

采样点1

0x2C

0x60

CH10 D(15:8)

采样点5

0x2C

0x70

CH10 D(15:8)

采样点1

0x2C

0x61

CH10 D(7:0)

采样点5

0x2C

0x71

CH10 D(7:0)

采样点1

0x2D

0x62

CH11 D(15:8)

采样点5

0x2D

0x72

CH11 D(15:8)

采样点1

0x2D

0x63

CH11 D(7:0)

采样点5

0x2D

0x73

CH11 D(7:0)

采样点2

0x2C

0x64

CH10 D(15:8)

采样点6

0x2C

0x74

CH10 D(15:8)

采样点2

0x2C

0x65

CH10 D(7:0)

采样点6

0x2C

0x75

CH10 D(7:0)

采样点2

0x2D

0x66

CH11 D(15:8)

采样点6

0x2D

0x76

CH11 D(15:8)

采样点2

0x2D

0x67

CH11 D(7:0)

采样点6

0x2D

0x77

CH11 D(7:0)

采样点3

0x2C

0x68

CH10 D(15:8)

采样点7

0x2C

0x78

CH10 D(15:8)

采样点3

0x2C

0x69

CH10 D(7:0)

采样点7

0x2C

0x79

CH10 D(7:0)

采样点3

0x2D

0x6a

CH11 D(15:8)

采样点7

0x2D

0x7a

CH11 D(15:8)

采样点3

0x2D

0x6b

CH11 D(7:0)

采样点7

0x2D

0x7b

CH11 D(7:0)

采样点4

0x2C

0x6c

CH10 D(15:8)

采样点8

0x2C

0x7c

CH10 D(15:8)

采样点4

0x2C

0x6d

CH10 D(7:0)

采样点8

0x2C

0x7d

CH10 D(7:0)

采样点4

0x2D

0x6e

CH11 D(15:8)

采样点8

0x2D

0x7e

CH11 D(15:8)

采样点4

0x2D

0x6f

CH11 D(7:0)

采样点8

0x2D

0x7f

CH11 D(7:0)

表1

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的方法中，该方法还包括：当EPLD根据工作模式配置信息确定自身处于第二工作模式，EPLD接收到处理器发送的采样控制信号后，将采样控制信号转发至检测器；EPLD接收到检测器发送的检测完成信号后，获取检测器检测到的电流值，并将电流值转发至处理器。

具体实施时，当EPLD处于第二工作模式时，EPLD仍然受到处理器的控制，接收到处理器发送的采样控制信号时，将采样控制信号转发至检测器，以指示检测器检测功放元件的电流值，并在接收到检测器检测完成的信号时，读取检测器检测到的电流值，并将电流值转发至处理器，也即EPLD透传检测器检测到的电流值。

下面结合图6对处理器控制EPLD检测功放元件的电流值的工作过程进行具体说明，EPLD的工作模式通过0x44寄存器的Bit4进行确定。

步骤602，EPLD初始化，配置采集通道，确定工作模式。

步骤604，EPLD确定0x44寄存器的Bit4是否等于1，若Bit4＝1则执行步骤606，否则执行步骤624。

步骤606，EPLD中0x44寄存器的Bit4＝1，则EPLD确定自身处于第一工作模式，EPLD在接收到用于指示功放元件每个帧起始的中断信号时，启动计时器，在计时器的计时时间等于预设采样时间点的时间时，输出采样控制信号(CNTV信号)，其中，EPLD在接收到用于指示功放元件每个帧起始的中断信号时，启动计时器，以保证EPLD发送采样控制信号的计时起点与功放元件的每帧数据起始同步。

步骤608，EPLD等待AMC7812的转化结束信号(DAV信号)。

步骤610，EPLD确定是否收到AMC7812发送的DAV信号，收到DAV信号，则执行步骤612，否则，执行步骤608。

步骤612，EPLD收到AMC7812发送的DAV信号时，确定AMC7812完成电流值采集，则EPLD触发I2C输出时钟和数据。

步骤614，EPLD通过I2C通道接收AMC7812返回的电流值。

步骤616，EPLD输出存储时钟信号，将采样时间点与接收到的电流值的对应关系按地址存储到EBR中，当所有预设的采样时间点均完成本轮的电流值采集时，EPLD将用于标识电流值采样状态的标志位(内部0x44寄存器的Bit5)置0，以标识采样完成。

步骤618，处理器读取EPLD中0x44寄存器Bit5的值。

步骤620，处理器判断EPLD中0x44寄存器Bit5是否等于0，若Bit5＝0，则执行步骤622，否则，执行步骤618。

步骤622，处理器确定EPLD中0x44寄存器Bit5＝0，则表明EPLD完成本轮预设的采样时间点的电流值采集，则处理器通过MIF接口访问EPLD内部寄存器获取所需的功放元件的电流值。

步骤624，EPLD中0x44寄存器的Bit4＝0，则EPLD确定自身处于第二工作模式，则EPLD根据处理器的控制检测并读取功放元件的电流值。处理器读取EPLD中0x44寄存器Bit5的值。

步骤626，处理器判断EPLD中0x44寄存器Bit5是否等于0，若Bit5＝0则执行步骤628，否则执行步骤624。

步骤628，EPLD中0x44寄存器Bit5＝0，则表明EPLD处于空闲状态，也即EPLD未处于第一工作模式的自动检测功放元件电流状态，则处理器将EPLD中0x44寄存器Bit2置0。

步骤630，处理器将EPLD中0x44寄存器Bit2置0后，延时10ms，处理器将EPLD中0x44寄存器Bit2置1，控制EPLD的CNTV管脚输出低电平信号，触发AMC7812检测功放元件的电流值。

步骤632，处理器读取EPLD中0x44寄存器Bit6的值，EPLD中0x44寄存器Bit6与AMC7812的DAV信号相连接，若Bit6＝0，则表明AMC7812输出用于指示一次检测完成的DAV信号，AMC7812已完成电流值的检测。

步骤634，处理器判断EPLD中0x44寄存器Bit6的值是否等于0，若Bit6＝0则执行步骤636，否则执行步骤632。

步骤636，处理器确定EPLD中0x44寄存器Bit6＝0，则EPLD通过I2C通道将AMC7812检测到的电流值透传至处理器，也即处理器通过EPLD的I2C通道获取AMC7812检测的电流值。

作为较为具体的实施例，处理器以MCU、检测器以AMC7812为例结合图7对本发明实施例提供的处理器通过EPLD获取功放元件电流值的原理进行说明。

如图7所示，MCU 702，EPLD 704和AMC7812(检测器)706共同完成对功放元件的电流值的检测，其中，EPLD 704包括：Mux模块、CLK模块、RAM模块、shift模块、CONTROL模块和0x44寄存器。

MCU 702通过配置EPLD的0x44寄存器，配置EPLD的工作模式，当EPLD704工作在第一工作模式时，EPLD内部的CLK模块根据功放元件的帧周期在预设的采样时间点输出采样控制信号，控制AMC7812 706检测功放元件的电流值，并在检测完成之后，读取AMC7812 706检测到的电流值存储在内部的RAM模块中，其中，shift模块用于在接收到存储时钟时，将采样时间点与电流值的对应关系存储到分配的存储地址中，Mux模块用于选择I2C的数据通道，当所有预设的采样时间点均完成本轮电流值的采集时，EPLD 704将0x44寄存器中用于标识电流值采样状态的标志位置为采样完成，MCU 702在确定EPLD704的0x44寄存器中用于标识电流值采样状态的标志位为采样完成时，通过MIF接口读取EPLD 704的RAM模块中存储的采样时间点与电流值的对应关系；当EPLD 704确定自身处于第二工作模式时，MCU 702通过MIF接口读写EPLD 704的0x44寄存器，控制EPLD 704内部的CONTROL模块输出采样控制信号(CNTV信号)，并通过检测EPLD 704的0x44寄存器，判断AMC7812706是否向EPLD 704发送用于指示检测完成的DAV信号，在确定AMC7812706完成电流值的检测时，通过EPLD 704中的I2C通过获取AMC7812 706检测到的电流值。

在处理器侧，例如：MCU，本发明实施例提供的一种功放元件的电流检测控制方法，如图8所示，该方法包括：

步骤802，处理器生成可擦除可编辑逻辑器件EPLD的工作模式配置信息；

步骤804，处理器将工作模式配置信息发送至EPLD，以指示EPLD在根据工作模式配置信息确定自身处于第一工作模式时，发送采样控制信号至检测器，以指示检测器检测功放元件的电流值；或者处理器将工作模式配置信息发送至EPLD，以指示EPLD在根据工作模式配置信息确定自身处于第二工作模式时，将接收到的处理器发送的采样控制信号转发至检测器，以指示检测器检测功放元件的电流值。

在本发明实施例提供的方法中，EPLD以第一工作模式工作时，处理器只需为该EPLD配置一次工作模式，EPLD就能够自动触发检测功放元件的电流值，与现有技术中处理器连续控制EPLD输出采样控制信号检测功放元件的电流值相比，节省了处理器定时触发控制EPLD输出采样控制信号的开销。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述方法中，该方法还包括：所述处理器发送所述功放元件当前的时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息、发射时隙的预设阈值以及接收时隙的预设阈值至所述EPLD，以指示工作模式为第一工作模式的EPLD在读取所述检测器检测到的电流值之后，将采集到的电流值与预设阈值进行比较。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述方法中，该方法还包括：所述处理器确定所述工作模式为第一工作模式的EPLD中用于标识电流值采样状态的标志位为采样完成时，所述处理器读取所述工作模式为第一工作模式的EPLD的电流记录表中存储的预设采样时间点与电流值的对应关系。

本发明实施例提供的方法中，处理器读取EPLD的电流记录表中存储的预设采样时间点与电流值的对应关系，进而能够根据功放元件当前时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息确定每个预设采样时间点对应的时隙属于发射时隙还是接收时隙，从而能够更加准确的计算功放元件的功耗及效率。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述方法中，该方法还包括：所述处理器发送采样控制信号至所述EPLD，以指示工作模式为第二工作模式的EPLD在接收到所述采样控制信号之后，将所述采样控制信号转发至所述检测器，以及，在接收到所述检测器发送的检测完成信号后，获取所述检测器检测到的电流值，将所述电流值转发至所述处理器；所述处理器接收所述工作模式为第二工作模式的EPLD发送的所述电流值。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述方法中，所述处理器发送采样控制信号至所述EPLD之前，该方法还包括：所述处理器确定所述EPLD中用于标识电流值采样状态的标志位为采样完成时，所述处理器发送采样控制信号至所述EPLD。

在EPLD侧，本发明实施例提供的一种功放元件的过流保护装置，如图9所示，包括：接收单元902，用于接收处理器发送的工作模式配置信息；发送单元904，连接至接收单元902，用于当根据所述工作模式配置信息确定自身处于第一工作模式时，发送采样控制信号至检测器，以指示所述检测器检测功放元件的电流值；处理单元906，连接至接收单元902，用于在接收到所述检测器发送的检测完成信号后，读取所述检测器检测到的电流值，并将所述电流值与预设阈值进行比较，当所述电流值大于所述预设阈值时，关闭所述功放元件。

本发明实施例提供的装置中，该装置所在的EPLD根据接收到的处理器发送的工作模式配置信息，确定自身处于第一工作模式时，EPLD自动触发发送采样控制信号至检测器，检测并获取功放元件的电流值，获取功放元件的电流值之后，由EPLD硬件实现功放元件的电流值与预设阈值的比较，在功放元件的电流值大于预设阈值时控制关闭功放元件，与现有技术中由MCU控制EPLD的管脚产生延时，输出采样控制信号，在获取功放元件的电流值之后，由MCU中的软件将功放元件的电流值与预设阈值比较，在功放元件出现过流时，输出关闭功放元件的信号控制关闭功放元件相比，EPLD自动触发发送采样控制信号并获取功放元件的电流值，由于EPLD控制时序比处理器更加精确，因此，无需通过MCU产生的延时输出采样控制信号，减小了从输出采样控制信号到获取到功放元件的电流值之间的时延，且由EPLD硬件实现功放元件的电流值与预设阈值的比较，在功放元件的电流值大于预设阈值时控制关闭功放元件，减小了功放元件的电流值与预设阈值比较的时延和输出关闭功放元件的信号控制关闭功放元件的时延，从而减小了从输出采样控制信号到功放元件出现过流时控制关闭功放之间的时延，能够在功放元件出现过流时，及时关闭功放元件，有效的保护了功放元件，同时无需处理器控制EPLD输出采样控制信号，节省了处理器定时触发控制EPLD输出采样控制信号的开销。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的装置中，发送单元904发送采样控制信号至检测器，具体为：发送单元904接收到用于指示所述功放元件每个帧起始的中断信号后，启动预设计时器，并在所述计时器的计时时间等于预设采样时间点的时间时，发送采样控制信号至检测器。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的装置中，所述功放元件任一时隙配置中的每个时隙存在至少一个所述预设采样时间点。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的装置中，接收单元902还用于：接收所述处理器发送的所述功放元件当前的时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息、发射时隙的预设阈值以及接收时隙的预设阈值；处理单元906将所述电流值与预设阈值进行比较，包括：当处理单元906根据所述发射时隙和接收时隙的配置信息确定当前采样时间点对应的时隙为发射时隙时，处理单元906将所述电流值与发射时隙的预设阈值进行比较；当处理单元906根据所述发射时隙和接收时隙的配置信息确定当前采样时间点对应的时隙为接收时隙时，处理单元906将所述电流值与接收时隙的预设阈值进行比较；其中，所述发射时隙的预设阈值与所述接收时隙的预设阈值不同。

本发明实施例提供的装置中，由于功放元件发射时隙和接收时隙的电流不同，将发射时隙的预设阈值和接收时隙的预设阈值设置为不同，在获取到预设采样时间点的电流值之后，根据功放元件当前的时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息确定当前采样时间点属于发射时隙还是接收时隙，若属于发射时隙，则将获取到的电流值与发射时隙的预设阈值进行比较；若属于接收时隙，则将获取到的电流值与接收时隙的预设阈值进行比较，与采用同一预设阈值进行比较相比，针对发射时隙和接收时隙设置不同的预设阈值，实现发射时隙和接收时隙的差别化过流保护，更加精确的保护功放元件。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的装置中，处理单元906获取所述检测器检测到的电流值之后，还用于：将所述预设采样时间点与所述电流值的对应关系存储到预先存储的电流记录表中；当处理单元906确定所有预设采样时间点与电流值的对应关系均添加到所述电流记录表中时，处理单元906将用于标识电流值采样状态的标志位更新为采样完成。

本发明实施例提供的装置中，该装置所在的EPLD在电流记录表中存储预设采样时间点与电流值的对应关系，并在所有预设采样时间点与对应关系均添加到电流记录表中时，将用于标识电流值采样状态的标志位更新为采样完成，以便处理器读取预设采样时间点与电流值的对应关系，进而计算功放元件的功耗和效率。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的装置中，发送单元904还用于：当根据所述工作模式配置信息确定自身处于第二工作模式，接收到所述处理器发送的采样控制信号后，将所述采样控制信号转发至所述检测器；处理单元906还用于，接收到所述检测器发送的检测完成信号后，获取所述检测器检测到的电流值，并将所述电流值转发至所述处理器。

本发明实施例提供的功放元件的过流保护装置可以是EPLD，也可以是EPLD的一部分，集成在EPLD中，其中，接收单元902可以采用接收机或信号接收器，发送单元904可以采用发射机或信号发射器，处理单元906可以采用CPU等处理器。

在处理器侧，本发明实施例提供的一种功放元件的电流检测控制装置，如图10所示，包括：处理单元1002，用于生成可编程逻辑器件EPLD的工作模式配置信息；发送单元1004，连接至处理单元1002，用于将所述工作模式配置信息发送至所述EPLD，以指示所述EPLD在根据所述工作模式配置信息确定自身处于第一工作模式时，发送采样控制信号至检测器，以指示所述检测器检测功放元件的电流值；或者将所述工作模式配置信息发送至所述EPLD，以指示所述EPLD在根据所述工作模式配置信息确定自身处于第二工作模式时，将接收到的所述处理器发送的采样控制信号转发至所述检测器，以指示所述检测器检测功放元件的电流值。

在发明实施例提供的装置中，EPLD以第一工作模式工作时，该装置所在的处理器只需为该EPLD配置一次工作模式，EPLD就能够自动触发检测功放元件的电流值，与现有技术中处理器连续控制EPLD输出采样控制信号检测功放元件的电流值相比，节省了处理器定时触发控制EPLD输出采样控制信号的开销。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的装置中，发送单元1004还用于：发送所述功放元件当前的时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息、发射时隙的预设阈值以及接收时隙的预设阈值至所述EPLD，以指示工作模式为第一工作模式的EPLD在读取所述检测器检测到的电流值之后，将采集到的电流值与预设阈值进行比较。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的装置中，处理单元1002还用于：确定所述工作模式为第一工作模式的EPLD中用于标识电流值采样状态的标志位为采样完成时，读取所述工作模式为第一工作模式的EPLD的电流记录表中存储的预设采样时间点与电流值的对应关系。

本发明实施例提供的装置中，该装置所在的处理器读取EPLD的电流记录表中存储的预设采样时间点与电流值的对应关系，进而能够根据功放元件当前时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息确定每个预设采样时间点对应的时隙属于发射时隙还是接收时隙，从而能够更加准确的计算功放元件的功耗及效率。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的装置中，发送单元1004还用于：发送采样控制信号至所述EPLD，以指示工作模式为第二工作模式的EPLD在接收到所述采样控制信号之后，将所述采样控制信号转发至所述检测器，以及，在接收到所述检测器发送的检测完成信号后，获取所述检测器检测到的电流值，将所述电流值转发至发送单元1004所在的处理器；所示装置还包括：接收单元1006，连接至处理单元1002，用于接收所述工作模式为第二工作模式的EPLD发送的所述电流值。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的装置中，发送单元1004发送采样控制信号至所述EPLD，具体为：当发送单元1004确定所述EPLD中用于标识电流值采样状态的标志位为采样完成时，发送单元1004发送采样控制信号至所述EPLD。

本发明实施例提供的功放元件的电流检测控制装置可以是处理器的一部分，集成在处理器中，其中，处理单元1002可以采用CPU等处理器，发送单元1004可以采用发射机或信号发射器，接收单元1006可以采用接收机或信号接收器。

综上所述，本发明实施例提供的一种功放元件的过流保护、电流检测控制方法及装置，EPLD根据接收到的处理器发送的工作模式配置信息，确定自身处于第一工作模式时，EPLD自动触发发送采样控制信号至检测器，检测并获取功放元件的电流值，获取功放元件的电流值之后，由EPLD硬件实现功放元件的电流值与预设阈值的比较，在功放元件的电流值大于预设阈值时控制关闭功放元件，由于EPLD控制时序比处理器更加精确，因此，无需通过MCU产生的延时输出采样控制信号，减小了从输出采样控制信号到获取到功放元件的电流值之间的时延，且由EPLD硬件实现功放元件的电流值与预设阈值的比较，在功放元件的电流值大于预设阈值时控制关闭功放元件，减小了功放元件的电流值与预设阈值比较的时延和输出关闭功放元件的信号控制关闭功放元件的时延，从而减小了从输出采样控制信号到功放元件出现过流时控制关闭功放之间的时延，能够在功放元件出现过流时，及时关闭功放元件，有效的保护了功放元件，同时无需处理器控制EPLD输出采样控制信号，节省了处理器定时触发控制EPLD输出采样控制信号的开销。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (22)

1.一种功放元件的过流保护方法，其特征在于，包括：

可擦除可编辑逻辑器件EPLD接收处理器发送的工作模式配置信息；

当所述EPLD根据所述工作模式配置信息确定自身处于第一工作模式时，所述EPLD发送采样控制信号至检测器，以指示所述检测器检测功放元件的电流值；

所述EPLD接收到所述检测器发送的检测完成信号后，读取所述检测器检测到的电流值，并将所述电流值与预设阈值进行比较，当所述电流值大于所述预设阈值时，关闭所述功放元件。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述EPLD发送采样控制信号至检测器，具体为：

所述EPLD接收到用于指示所述功放元件每个帧起始的中断信号后，启动预设计时器，并在所述计时器的计时时间等于预设采样时间点的时间时，发送采样控制信号至检测器。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述功放元件任一时隙配置中的每个时隙存在至少一个所述预设采样时间点。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述EPLD将所述电流值与预设阈值进行比较之前，该方法还包括：所述EPLD接收所述处理器发送的所述功放元件当前的时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息、发射时隙的预设阈值以及接收时隙的预设阈值；

所述EPLD将所述电流值与预设阈值进行比较，包括：

当所述EPLD根据所述发射时隙和接收时隙的配置信息确定当前采样时间点对应的时隙为发射时隙时，所述EPLD将所述电流值与发射时隙的预设阈值进行比较；

当所述EPLD根据所述发射时隙和接收时隙的配置信息确定当前采样时间点对应的时隙为接收时隙时，所述EPLD将所述电流值与接收时隙的预设阈值进行比较；

其中，所述发射时隙的预设阈值与所述接收时隙的预设阈值不同。

5.根据权利要求2-4中任一项所述的方法，其特征在于，所述EPLD获取所述检测器检测到的电流值之后，该方法还包括：

所述EPLD将所述预设采样时间点与所述电流值的对应关系存储到预先存储的电流记录表中；

当所述EPLD确定所有预设采样时间点与电流值的对应关系均添加到所述电流记录表中时，所述EPLD将用于标识电流值采样状态的标志位更新为采样完成。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，该方法还包括：

当所述EPLD根据所述工作模式配置信息确定自身处于第二工作模式，所述EPLD接收到所述处理器发送的采样控制信号后，将所述采样控制信号转发至所述检测器；

所述EPLD接收到所述检测器发送的检测完成信号后，获取所述检测器检测到的电流值，并将所述电流值转发至所述处理器。

7.一种功放元件的电流检测控制方法，其特征在于，该方法包括：

处理器生成可擦除可编辑逻辑器件EPLD的工作模式配置信息；

所述处理器将所述工作模式配置信息发送至所述EPLD，以指示所述EPLD在根据所述工作模式配置信息确定自身处于第一工作模式时，发送采样控制信号至检测器，以指示所述检测器检测功放元件的电流值；或者

所述处理器将所述工作模式配置信息发送至所述EPLD，以指示所述EPLD在根据所述工作模式配置信息确定自身处于第二工作模式时，将接收到的所述处理器发送的采样控制信号转发至所述检测器，以指示所述检测器检测功放元件的电流值。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，该方法还包括：

所述处理器发送所述功放元件当前的时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息、发射时隙的预设阈值以及接收时隙的预设阈值至所述EPLD，以指示工作模式为第一工作模式的EPLD在读取所述检测器检测到的电流值之后，将采集到的电流值与预设阈值进行比较。

9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，该方法还包括：

所述处理器确定所述工作模式为第一工作模式的EPLD中用于标识电流值采样状态的标志位为采样完成时，所述处理器读取所述工作模式为第一工作模式的EPLD的电流记录表中存储的预设采样时间点与电流值的对应关系。

10.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，该方法还包括：

所述处理器发送采样控制信号至所述EPLD，以指示工作模式为第二工作模式的EPLD在接收到所述采样控制信号之后，将所述采样控制信号转发至所述检测器，以及，在接收到所述检测器发送的检测完成信号后，获取所述检测器检测到的电流值，将所述电流值转发至所述处理器；

所述处理器接收所述工作模式为第二工作模式的EPLD发送的所述电流值。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述处理器发送采样控制信号至所述EPLD之前，该方法还包括：

所述处理器确定所述EPLD中用于标识电流值采样状态的标志位为采样完成时，所述处理器发送采样控制信号至所述EPLD。

12.一种功放元件的过流保护装置，其特征在于，包括：

接收单元，用于接收处理器发送的工作模式配置信息；

发送单元，连接至所述接收单元，用于当根据所述工作模式配置信息确定自身处于第一工作模式时，发送采样控制信号至检测器，以指示所述检测器检测功放元件的电流值；

处理单元，连接至所述接收单元，用于在接收到所述检测器发送的检测完成信号后，读取所述检测器检测到的电流值，并将所述电流值与预设阈值进行比较，当所述电流值大于所述预设阈值时，关闭所述功放元件。

13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述发送单元发送采样控制信号至检测器，具体为：

所述发送单元接收到用于指示所述功放元件每个帧起始的中断信号后，启动预设计时器，并在所述计时器的计时时间等于预设采样时间点的时间时，发送采样控制信号至检测器。

14.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述功放元件任一时隙配置中的每个时隙存在至少一个所述预设采样时间点。

15.根据权利要求14所述的装置，其特征在于，所述接收单元还用于：接收所述处理器发送的所述功放元件当前的时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息、发射时隙的预设阈值以及接收时隙的预设阈值；

所述处理单元将所述电流值与预设阈值进行比较，包括：

当所述处理单元根据所述发射时隙和接收时隙的配置信息确定当前采样时间点对应的时隙为发射时隙时，所述处理单元将所述电流值与发射时隙的预设阈值进行比较；

当所述处理单元根据所述发射时隙和接收时隙的配置信息确定当前采样时间点对应的时隙为接收时隙时，所述处理单元将所述电流值与接收时隙的预设阈值进行比较；

其中，所述发射时隙的预设阈值与所述接收时隙的预设阈值不同。

16.根据权利要求13-15中任一项所述的装置，其特征在于，所述处理单元获取所述检测器检测到的电流值之后，还用于：将所述预设采样时间点与所述电流值的对应关系存储到预先存储的电流记录表中；

当所述处理单元确定所有预设采样时间点与电流值的对应关系均添加到所述电流记录表中时，所述处理单元将用于标识电流值采样状态的标志位更新为采样完成。

17.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述发送单元还用于：

当根据所述工作模式配置信息确定自身处于第二工作模式，接收到所述处理器发送的采样控制信号后，将所述采样控制信号转发至所述检测器；

所述处理单元还用于，接收到所述检测器发送的检测完成信号后，获取所述检测器检测到的电流值，并将所述电流值转发至所述处理器。

18.一种功放元件的电流检测控制装置，其特征在于，包括：

处理单元，用于生成可编程逻辑器件EPLD的工作模式配置信息；

发送单元，连接至所述处理单元，用于将所述工作模式配置信息发送至所述EPLD，以指示所述EPLD在根据所述工作模式配置信息确定自身处于第一工作模式时，发送采样控制信号至检测器，以指示所述检测器检测功放元件的电流值；或者

将所述工作模式配置信息发送至所述EPLD，以指示所述EPLD在根据所述工作模式配置信息确定自身处于第二工作模式时，将接收到的所述处理器发送的采样控制信号转发至所述检测器，以指示所述检测器检测功放元件的电流值。

19.根据权利要求18所述的装置，其特征在于，所述发送单元还用于：发送所述功放元件当前的时隙配置中发射时隙和接收时隙的配置信息、发射时隙的预设阈值以及接收时隙的预设阈值至所述EPLD，以指示工作模式为第一工作模式的EPLD在读取所述检测器检测到的电流值之后，将采集到的电流值与预设阈值进行比较。

20.根据权利要求18所述的装置，其特征在于，所述处理单元还用于：确定所述工作模式为第一工作模式的EPLD中用于标识电流值采样状态的标志位为采样完成时，读取所述工作模式为第一工作模式的EPLD的电流记录表中存储的预设采样时间点与电流值的对应关系。

21.根据权利要求18所述的装置，其特征在于，所述发送单元还用于：发送采样控制信号至所述EPLD，以指示工作模式为第二工作模式的EPLD在接收到所述采样控制信号之后，将所述采样控制信号转发至所述检测器，以及，在接收到所述检测器发送的检测完成信号后，获取所述检测器检测到的电流值，将所述电流值转发至所述发送单元所在的处理器；

所述装置还包括：接收单元，连接至所述处理单元，用于接收所述工作模式为第二工作模式的EPLD发送的所述电流值。

22.根据权利要求21所述的装置，其特征在于，所述发送单元发送采样控制信号至所述EPLD，具体为：当所述发送单元确定所述EPLD中用于标识电流值采样状态的标志位为采样完成时，所述发送单元发送采样控制信号至所述EPLD。