CN104459569A - Led测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种LED测试装置,属于LED照明领域。包括积分球和支撑架,所述积分球架设在支撑架上,还包括振动器、光学分析仪、电性测试仪和控制主机;振动器穿入积分球内,振动器的上部连接试件承载板,试件承载板电连接电性测试仪;积分球上安装用于采集积分球内的漫反射光线的光采集器,光采集器连接光学分析仪,光学分析仪和电性测试仪连接控制主机;积分球内设有加热层;积分球上设有冷气输入孔。本发明可以快速测试LED试件高温、低温、常温及振动等环境下LED试件的光、色及电等性能参数,避免了LED试件测试时频繁更换设备,提高了LED试件的测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及一种电灯测试装置,具体讲是一种LED测试装置,属于LED照明领域。
背景技术
目前,LED在照明领域得到广泛应用,特别是随着液晶显示技术的快速发展,LED作为液晶显示面板的背光源得到了更为广泛的应用,其原因在于,与冷阴极射线管相比,LED具体功耗低、寿命长等优点。
LED生产厂家在生产了大批量的LED之后,通常会抽取部分样品进行LED的性能测试。现有技术中使用LED的性能测试装置,通常仅能测试LED的单一环境下的一种性能,对于LED不同环境下的多性能测试,要分别采用各种不同的测试装置,给LED测试带来了诸多不便,影响了测试效率。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于克服现有技术缺陷,提供一种能全面测试不同环境下LED的各种性能测试装置。
为了解决上述技术问题,本发明提供的LED测试装置,包括积分球和支撑架,所述积分球架设在支撑架上,还包括振动器、光学分析仪、电性测试仪和控制主机;所述振动器穿入积分球内,所述振动器的上部连接试件承载板,所述试件承载板电连接电性测试仪;所述积分球上安装用于采集积分球内的漫反射光线的光采集器,所述光采集器连接光学分析仪,所述光学分析仪和电性测试仪连接控制主机;所述积分球内设有加热层;所述积分球上设有冷气输入孔。
本发明的测试装置可以快速测试LED试件高温、低温、常温及振动等环境下LED试件的光、色及电等性能参数,避免了LED试件测试时频繁更换设备,提高了LED试件的测试效率。
积分球外包覆保温层,可以保证测试环境更逼真,测得的LED试件性能更准确。
振动器包括上部和下部,所述振动器下部与上部之间弹性连接,可以进一步提高振动效果,同时减少与积分球之间的摩擦。
振动器与积分球连接处设有弹性密封件,使振动器与积分球连接密封更好。
附图说明
图1为本发明LED测试装置结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步详细说明。
如图1所示,本发明LED测试装置,包括支撑架1、积分球2、振动器、光学分析仪10、电性测试仪8和控制主机11。积分球2固定架设在支撑架1上。振动器设置在积分球2的下方,振动器包括底座3、振动发生部4和振动平台5,振动平台5和振动发生部4通过弹簧15连接,弹簧15内设有活动连杆,振动平台5穿入积分球2的内部,振动平台5上平面连接试件承载板6,振动平台5与积分球2的连接处设有密封胶条15。
试件承载板6上可摆放LED试件7,试件承载板6电连接电性测试仪8,电性测试仪8连接控制主机11。
积分球2内设有加热层13,用于积分球2的加温;外包覆保温层12;积分球2上设有可密封开孔,开孔可以冷气连接,用于积分球2内部制冷。外包覆保温层12,要提高积分球2加热和制冷效果。
积分球2上安装光采集器14,光采集器14用于采集积分球内的漫反射光线,光采集器14连接光学分析仪10,光学分析仪10连接控制主机11。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下还可以做出若干改进,这些改进也应视为本发明的保护范围。
Claims (4)
1.一种LED测试装置,包括积分球和支撑架,所述积分球架设在支撑架上,其特征在于:还包括振动器、光学分析仪、电性测试仪和控制主机;所述振动器穿入积分球内,所述振动器的上部连接试件承载板,所述试件承载板电连接电性测试仪;所述积分球上安装用于采集积分球内的漫反射光线的光采集器,所述光采集器连接光学分析仪,所述光学分析仪和电性测试仪连接控制主机;所述积分球内设有加热层;所述积分球上设有冷气输入孔。
2.根据权利要求1所述的LED测试装置,其特征在于:所述积分球外包覆保温层。
3.根据权利要求1或2所述的LED测试装置,其特征在于:所述振动器包括上部和下部,所述振动器下部与上部之间弹性连接。
4.根据权利要求3所述的LED测试装置,其特征在于:所述振动器与积分球连接处设有弹性密封件。
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