CN104296611A - 一种测量尺 - Google Patents
一种测量尺 Download PDFInfo
- Publication number
- CN104296611A CN104296611A CN201410609657.8A CN201410609657A CN104296611A CN 104296611 A CN104296611 A CN 104296611A CN 201410609657 A CN201410609657 A CN 201410609657A CN 104296611 A CN104296611 A CN 104296611A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- light
- dip stick
- light source
- passing board
- scale
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
本发明涉及一种测量尺，其包括平行设置的面光源和透光板；所述面光源用于向所述透光板发射平行光线；所述透光板上设有刻度，所述刻度区域的透光率不等于所述刻度区域外的透光板其他区域的透光率。上述测量尺可以在保持与待检测物之间的安全距离的位置上，准确地检测待检测物的相应尺寸值。
Description
技术领域
本发明涉及尺寸测量的技术领域，具体地，涉及一种能在保持与待检测物之间的安全距离的位置上，对待检测物的尺寸进行精确检测的测量尺。
背景技术
在工业生产及日常生活中，人们经常需要测量一些物体的尺寸；其测量方法一般是将具有刻度的测量尺贴在待检测物的表面，并根据测量尺表面的刻度，读取所需的物体的尺寸。但在一些特殊情况下，将测量尺直接贴在待检测物的表面，会带来一些不良后果，这时就需要在与待检测物保持安全距离的情况下测量待检测物的尺寸。
例如，在薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor LiquidCrystal Display，以下简称为TFT LCD)领域，利用取向膜印刷机制备取向膜时，需要检测聚酰亚胺(Polyimide，简称为PI)液被匀胶辊(Anilox Roller)和印刷感光树脂版(APR版)挤压，以及被APR版和玻璃基板挤压时所形成PI膜的宽度(NIP值)来确定匀胶辊和印刷感光树脂版之间，以及印刷感光树脂版和玻璃基板之间的压力是否合适。并且，由于APR版和玻璃基板易损坏，且造价较高，在检测NIP值时，测量尺不能与APR版和玻璃基板接触；具体地，检测NIP值的方法一般如下：将测量尺贴近PI膜，根据测量尺表面的刻度，估读出检测结果。
在根据上述方法检测NIP值时，由于测量尺不能与APR版及玻璃基板接触，从而会导致：在测量尺与其的距离较近时，测量尺容易意外碰到APR版及玻璃基板，造成APR版及玻璃基板的损坏；在测量尺与其的距离较远时，估读出的检测结果会不准确。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种测量尺，其可以在保持与待检测物之间的安全距离的位置上，准确地检测待检测物的尺寸值。
为实现本发明的目的而提供一种测量尺，包括平行层叠设置的面光源和透光板；所述面光源用于向所述透光板发射平行光线；所述透光板上设有刻度，所述刻度区域的透光率大于所述刻度区域外的透光板其他区域的透光率。
其中，所述测量尺还包括框架，所述面光源和透光板设置在所述框架上。
其中，所述测量尺还包括开关，所述开关用于开启和关闭所述面光源。
其中，所述面光源包括多个子光源。
其中，所述子光源为条状光源，多个所述条状光源平行设置。
其中，所述子光源为点光源或贴片光源，多个所述点光源或贴片光源排列成矩阵。
优选地，所述子光源为贴片光源，所述贴片光源的厚度小于2mm。
其中，所述子光源为发光二极管。
其中，所述发光二极管的发光角度小于30度。
其中，所述面光源的发光颜色为黄色或红色。
其中，所述刻度区域的透光率和所述刻度区域外的透光板其他区域的透光率的差值大于50％。
本发明具有以下有益效果：
本发明提供的测量尺，其透光板上设有刻度，并且刻度区域的透光率大于刻度区域外的透光板其他区域的透光率，从而在面光源向透光板发射光线时，透光板上的刻度被投影到光线到达的物体上；并且，由于面光源和透光板平行设置，投影到物体上的刻度不会产生变形；从而使待检测物置于光线传播的路径上，并保持待检测物和测量尺之间具有安全距离，通过读取投影到待检测物上的刻度，即可获得待检测物的相应尺寸的准确值；与现有技术相比，本发明提供的测量尺在不与待检测物接触，从而不会导致不良后果的情况下，可以准确地检测待检测物的尺寸。
附图说明
附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中：
图1为本发明提供的测量尺的实施方式的示意图；
图2为图1所示测量尺的结构图；
图3为图1所示测量尺测量时的状态图。
其中，附图标记：
1：测量尺；10：面光源；11：透光板；12：框架；13：开关；100：子光源。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。
请参看图1和图2，图1为本发明提供的测量尺的实施方式的示意图；图2为图1所示测量尺的结构图。在本实施方式中，测量尺1包括平行层叠设置的面光源10和透光板11；所述面光源10用于向所述透光板11发射平行光线；所述透光板11上设有刻度，所述刻度区域的透光率大于所述刻度区域外的透光板11其他区域的透光率。
在本实施方式中，透光板11的刻度区域的透光率大于刻度区域外的其他区域的透光率，在与透光板11平行层叠设置的面光源10向透光板11发射平行光线时，透光板11上的刻度会被投影到光线到达的物体上；从而在将待检测物放置到透光板11与面光源10所在一侧相对的另一侧，或者将透光板11与面光源10所在一侧相对的另一侧对准待检测物，透光板11上的刻度被投影到待检测物上，如图3所示；进而，可以理解，在将待检测物的需要测量的尺寸置于与面光源10及透光板11平行的平面内时，通过读取投影到待检测物上的刻度，可以获得待检测物的需要检测的尺寸的准确值。
具体地，所述测量尺1还包括框架12，所述面光源10和透光板11设置在所述框架12上；这样设置不仅可以实现面光源10和透光板11的固定，还可以使面光源10与透光板11之间稳定地保持相互平行的位置关系，从而避免在每次测量前校正面光源10和透光板11之间的位置关系。
所述测量尺还包括开关13，所述开关13用于开启和关闭所述面光源10；在进行检测时，开关13开启面光源10，而在检测结束后，关闭面光源10。
具体地，所述面光源10可以包括多个子光源100，所述多个子光源100可以为条状光源，多个所述条状光源平行设置，所述条状光源的尺寸相同。此外，所述子光源100还可以为点光源或贴片光源，多个所述点光源或贴片光源排列成矩阵。优选地，所述子光源100为贴片光源，其的厚度小于2mm，以减小测量尺1的厚度。
优选地，子光源100为发光二极管。进一步优选地，所述发光二极管的发光角度小于30度，这样可以使每个子光源100发出的光线尽可能地近似于平行光，从而在投影过程中，尽可能避免投影到待检测物上的刻度发生变形。
优选地，所述面光源的发光颜色为黄色或红色；由于黄色和红色光容易被人眼辨别，这样设置可以提高投影到待检测物上的刻度的精确度，从而使刻度更容易被读取，以及提高检测结果的准确性。
优选地，所述刻度区域的透光率和所述刻度区域外的透光板11其他区域的透光率的差值大于50％；这样可以提高投影到待检测物上的刻度的对比度，从而使投影到待检测物上的刻度更容易被读取。
综上所述，本发明实施方式提供的测量尺1，透光板11上设有刻度，并且刻度区域的透光率大于刻度区域外的透光板11其他区域的透光率，从而在面光源10向透光板11发射光线时，透光板11上的刻度被投影到光线到达的物体上；并且，由于面光源10和透光板11平行设置，投影到物体上的刻度不会产生变形；从而使待检测物置于光线传播的路径上，并保持待检测物和测量尺1之间具有安全距离，通过读取投影到待检测物上的刻度，即可获得待检测物的相应尺寸的准确值；与现有技术相比，本实施方式提供的测量尺1在不与待检测物接触，从而不会导致不良后果的情况下，可以准确地检测待检测物的尺寸。
可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。
Claims (11)
1.一种测量尺，其特征在于，包括平行层叠设置的面光源和透光板；所述面光源用于向所述透光板发射平行光线；所述透光板上设有刻度，所述刻度区域的透光率大于所述刻度区域外的透光板其他区域的透光率。
2.根据权利要求1所述的测量尺，其特征在于，所述测量尺还包括框架，所述面光源和透光板设置在所述框架上。
3.根据权利要求1所述的测量尺，其特征在于，所述测量尺还包括开关，所述开关用于开启和关闭所述面光源。
4.根据权利要求1所述的测量尺，其特征在于，所述面光源包括多个子光源。
5.根据权利要求4所述的测量尺，其特征在于，所述子光源为条状光源，多个所述条状光源平行设置，所述条状光源的尺寸相同。
6.根据权利要求4所述的测量尺，其特征在于，所述子光源为点光源或贴片光源，多个所述点光源或贴片光源排列成矩阵。
7.根据权利要求6所述的测量尺，其特征在于，所述子光源为贴片光源，所述贴片光源的厚度小于2mm。
8.根据权利要求6或7所述的测量尺，其特征在于，所述子光源为发光二极管。
9.根据权利要求8所述的测量尺，其特征在于，所述发光二极管的发光角度小于30度。
10.根据权利要求1所述的测量尺，其特征在于，所述面光源的发光颜色为黄色或红色。
11.根据权利要求1所述的测量尺，其特征在于，所述刻度区域的透光率和所述刻度区域外的透光板其他区域的透光率的差值大于50％。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201410609657.8A CN104296611A (zh) | 2014-10-31 | 2014-10-31 | 一种测量尺 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201410609657.8A CN104296611A (zh) | 2014-10-31 | 2014-10-31 | 一种测量尺 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN104296611A true CN104296611A (zh) | 2015-01-21 |
Family
ID=52316447
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201410609657.8A Pending CN104296611A (zh) | 2014-10-31 | 2014-10-31 | 一种测量尺 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN104296611A (zh) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106323352A (zh) * | 2015-07-09 | 2017-01-11 | 云光科技股份有限公司 | 光学量测装置 |
| CN110142879A (zh) * | 2019-04-29 | 2019-08-20 | 锐奇控股股份有限公司 | 云石机 |
| CN111780672A (zh) * | 2020-06-12 | 2020-10-16 | 河海大学 | 一种公路桥梁支座滑移量自动监测装置 |
| CN113041600A (zh) * | 2021-04-26 | 2021-06-29 | 湖州师范学院 | 一种体育用投掷测量设备 |
| CN113188402A (zh) * | 2021-05-07 | 2021-07-30 | 华纬科技股份有限公司 | 一种弹簧检测工装 |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4271596A (en) * | 1979-11-06 | 1981-06-09 | Ganis G Robert | Instrument and method for determining map coordinates |
| CN2279808Y (zh) * | 1996-07-17 | 1998-04-29 | 唐忠义 | 一种裁剪投影装置 |
| CN201600541U (zh) * | 2009-11-13 | 2010-10-06 | 惠州市华阳多媒体电子有限公司 | 一种微投影仪光源装置及微投影仪 |
| CN102121662A (zh) * | 2011-01-24 | 2011-07-13 | 广州市雅江光电设备有限公司 | 一种用于能够成像的灯具的多颗led灯珠合光聚光方法 |
| CN102162911A (zh) * | 2011-05-13 | 2011-08-24 | 东北石油大学 | 新型地质放大镜 |
| CN202033008U (zh) * | 2011-01-21 | 2011-11-09 | 名硕电脑(苏州)有限公司 | 投影式测量装置 |
| CN103300863A (zh) * | 2013-06-19 | 2013-09-18 | 张英泽 | 外科手术用激光尺 |
| KR101425862B1 (ko) * | 2013-02-26 | 2014-08-01 | 안동과학대학교 산학협력단 | 휴대용 레이저 자 및 그 제어방법 |
-
2014
- 2014-10-31 CN CN201410609657.8A patent/CN104296611A/zh active Pending
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4271596A (en) * | 1979-11-06 | 1981-06-09 | Ganis G Robert | Instrument and method for determining map coordinates |
| CN2279808Y (zh) * | 1996-07-17 | 1998-04-29 | 唐忠义 | 一种裁剪投影装置 |
| CN201600541U (zh) * | 2009-11-13 | 2010-10-06 | 惠州市华阳多媒体电子有限公司 | 一种微投影仪光源装置及微投影仪 |
| CN202033008U (zh) * | 2011-01-21 | 2011-11-09 | 名硕电脑(苏州)有限公司 | 投影式测量装置 |
| CN102121662A (zh) * | 2011-01-24 | 2011-07-13 | 广州市雅江光电设备有限公司 | 一种用于能够成像的灯具的多颗led灯珠合光聚光方法 |
| CN102162911A (zh) * | 2011-05-13 | 2011-08-24 | 东北石油大学 | 新型地质放大镜 |
| KR101425862B1 (ko) * | 2013-02-26 | 2014-08-01 | 안동과학대학교 산학협력단 | 휴대용 레이저 자 및 그 제어방법 |
| CN103300863A (zh) * | 2013-06-19 | 2013-09-18 | 张英泽 | 外科手术用激光尺 |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106323352A (zh) * | 2015-07-09 | 2017-01-11 | 云光科技股份有限公司 | 光学量测装置 |
| CN110142879A (zh) * | 2019-04-29 | 2019-08-20 | 锐奇控股股份有限公司 | 云石机 |
| CN111780672A (zh) * | 2020-06-12 | 2020-10-16 | 河海大学 | 一种公路桥梁支座滑移量自动监测装置 |
| CN113041600A (zh) * | 2021-04-26 | 2021-06-29 | 湖州师范学院 | 一种体育用投掷测量设备 |
| CN113188402A (zh) * | 2021-05-07 | 2021-07-30 | 华纬科技股份有限公司 | 一种弹簧检测工装 |
| CN113188402B (zh) * | 2021-05-07 | 2022-06-28 | 华纬科技股份有限公司 | 一种弹簧检测工装 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN104296611A (zh) | 一种测量尺 | |
| EP1737024A4 (en) | EXPOSURE DEVICES, EXPOSURE METHOD AND COMPONENT MANUFACTURING METHOD | |
| BR112013029561A2 (pt) | unidade de medição de estrutura para rastrear, medir e marcar bordas e cantos de superfícies adjacentes | |
| KR101756904B1 (ko) | 광학 필름 첩부 위치 측정 장치 | |
| TW200951491A (en) | 3D image display, aligning system and method thereof | |
| WO2008114471A1 (ja) | 膜厚計測方法及びその装置ならびに薄膜デバイスの製造システム | |
| MX2010003691A (es) | Sistema de captura de objeto combinado con dispositivo de visualizacion y metodo asociado. | |
| KR20030093957A (ko) | 편광 필름의 검사 방법 및 검사 장치 | |
| SG11201902847PA (en) | Optical measurement device and method | |
| BR112015009672A2 (pt) | dispositivo de monitoramento para monitorar uma superfície de um rolo, britador de rolos de alta pressão, calibrador, uso de um dispositivo de monitoramento, método para monitorar uma superfície de um rolo de um britador de rolos e programa de computador | |
| US9430976B2 (en) | Detection system and method for automatically adjusting gray scale | |
| SG11201809509SA (en) | Dual-layer alignment device and method | |
| CN103791835A (zh) | 条状光学玻璃截面轮廓及体积检测方法 | |
| CN203405177U (zh) | 厚板钢板形状尺寸测量装置 | |
| BR112022011765A2 (pt) | Método e sistema para análise óptica de um componente de um artigo gerador de aerossol | |
| TW200745776A (en) | Method and apparatus for measuring plotting position, method and apparatus for plotting | |
| CN102902102B (zh) | 裸眼3d显示屏中3d光栅的贴合方法及裸眼3d显示屏 | |
| CN201746081U (zh) | 一种基于图像与光电信息融合的传送带监测装置 | |
| CN103837091A (zh) | 一种玻璃翘曲度测试装置及方法 | |
| CN203857956U (zh) | 检测并定位板材凹凸处装置 | |
| CN204184927U (zh) | 玻璃自动光学定位装置 | |
| CN204202559U (zh) | 测针器 | |
| CN205301202U (zh) | 印刷品视觉检测装置 | |
| TWI588932B (zh) | Wafer positioning identification device and method thereof | |
| CN202511773U (zh) | 一种ic卡检测装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20150121 |