CN104237660A - 自动测试装置和方法 - Google Patents

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    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26—Functional testing
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Abstract

一种自动测试方法，包括以下步骤：主控设备初始化第一输入输出接口，测试仪初始化第二输入输出接口和第三输入输出接口；测试仪接收待测产品的测试参数并根据测试参数生成测试数据，测试仪将测试数据发送给主控设备；主控设备读取测试数据，并将接收到测试数据发送给数据解析单元；数据解析单元解析测试数据，并根据解析出的测试数据判断测试数据是否有效；数据解析单元根据判断结果将有效的测试数据发送给测试结果显示单元，测试结果显示单元显示有效的测试数据；数据解析单元将有效的测试数据发送并储存在数据存储单元中；主控设备判断测试仪是否还有测试数据发送，若测试仪没有测试数据发送，测试结束。本发明还揭示了一种自动测试装置。

Description

自动测试装置和方法
技术领域
本发明涉及测试装置和方法，特别涉及一种自动测试装置和方法。
背景技术
为了给用户提供质量可靠的电子产品，电子产品出厂前都要通过测试仪器进行严格的检测。传统的测试仪器多为半自动测试仪，需要测试人员手动读取并记录测试数据和测试结果，测试效率不高。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种高效、方便检测电子产品的自动测试装置和方法。
一种自动测试装置，包括一主控设备、一测试仪及一电性连接所述主控设备和测试仪的转接线，所述主控设备上设有一第一输入输出接口，所述测试仪包括一第二输入输出接口和一第三输入输出接口，所述主控设备的第一输入输出接口通过所述转接线电性连接测试仪的第二输入输出接口，所述测试仪的第三输入输出接口电性连接一待测产品，所述测试仪接收待测产品的测试参数并根据测试参数生成测试数据，所述测试仪将测试数据发送给主控设备，所述主控设备解析测试数据，并根据解析出的测试数据判断测试数据是否有效，所述主控设备根据判断结果指示并储存测试数据和测试结果。
一种自动测试方法，包括以下步骤：
一主控设备初始化第一输入输出接口，一测试仪初始化第二输入输出接口和第三输入输出接口；
所述测试仪接收待测产品的测试参数并根据测试参数生成测试数据，所述测试仪将测试数据发送给主控设备；
所述主控设备读取测试数据，并将接收到测试数据发送给数据解析单元；
所述数据解析单元解析测试数据，并根据解析出的测试数据判断测试数据是否有效；
所述数据解析单元根据判断结果将有效的测试数据发送给测试结果显示单元，所述测试结果显示单元显示测试数据和测试结果；
所述数据解析单元将有效的测试数据发送并储存在数据存储单元中；
所述主控设备判断测试仪是否还有测试数据发送，若所述测试仪没有测试数据发送，测试结束。
与现有技术相比，上述自动测试装置和方法通过所述数据解析单元将有效的测试数据发送给测试结果显示单元，所述测试结果显示单元显示有效的测试数据。所述数据解析单元将有效的测试数据发送并储存在数据存储单元中，实现了对测试数据的自动显示和记录，提高了测试效率并节省了测试成本。
附图说明
图1是本发明自动测试装置一较佳实施例的框图，所述自动测试装置包括一主控设备和一测试仪。
图2是图1中主控设备的组成图。
图3是本发明自动测试方法一较佳实施例的流程图。
主要元件符号说明
主控设备 10
数据接收单元 11
数据解析单元 12
测试结果显示单元 13
数据存储单元 14
第一输入输出接口 15
测试仪 20
第二输入输出接口 21
第三输入输出接口 22
转接线 30
待测产品 40
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1和图2，图中示意性的示出了根据本发明一种实施方式的自动测试装置的组成图，所述自动测试装置包括一主控设备10、至少一测试仪20及一电性连接所述主控设备10和测试仪20的转接线30，所述自动测试装置用来测试一待测产品40。
所述主控设备10内设有一数据接收单元11、一数据解析单元12、一测试结果显示单元13及一数据存储单元14。所述主控设备10上设有一第一输入输出接口15。所述测试仪20包括一第二输入输出接口21和一第三输入输出接口22。所述主控设备10的第一输入输出接口15通过所述转接线30电性连接测试仪20的第二输入输出接口21。所述测试仪20的第三输入输出接口22电性连接所述待测产品40。所述转接线30用以实现第一输入输出接口15和第二输入输出接口21之间的数据传输。其中，所述第一输入输出接口15为一USB接口，所述第二输入输出接口21和第三输入输出接口22为DVI接口。
所述测试仪20通过第三输入输出接口22接收所述待测产品40的测试参数。所述测试仪20对待测产品40进行测试后生成测试数据，所述测试仪20通过第二输入输出接口21将测试数据发送给所述主控设备10。
所述主控设备10的数据接收单元11接收测试数据，并将接收到测试数据发送给数据解析单元12。所述数据解析单元12解析测试数据，并根据解析出的测试数据判断测试数据是否有效。所述数据存储单元14内储存有若干测试项目的预设测试数据，所述数据解析单元12将解析出的测试数据与预设的测试数据相比较。若解析出的测试数据在预设的测试数据范围内，则测试数据有效；若解析出的测试数据超出预设的测试数据范围，则测试数据无效。
所述数据解析单元12根据判断结果将有效的测试数据发送给测试结果显示单元13，所述测试结果显示单元13显示有效的测试数据。所述数据解析单元12将有效的测试数据发送并储存在数据存储单元14中。此时测试人员根据所述测试结果显示单元13上显示的测试数据即可判断待测产品40是否合格。
上述装置实施例中所包含的各个单元可以集成设置于一计算机设备或工具中，也可以设置成单独的功能实体，和所述计算机设备或工具连接以向所述计算机设备或工具提供各个单元的功能。
值得注意的是，上述装置实施例中所包含的各个单元只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可。另外，各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。
上述装置实施例中并不局限于接入一台测试仪20，可根据实际需要接入多台测试仪20，并在所述测试仪20上连接多台待测产品40。理论上，一台主控设备10可接入256台测试仪20。
与现有技术相比，上述自动测试装置可通过所述数据解析单元12将有效的测试数据发送给测试结果显示单元13，所述测试结果显示单元13显示有效的测试数据。所述数据解析单元12将有效的测试数据发送并储存在数据存储单元14中，实现了对测试数据的自动显示和记录，提高了测试效率并节省了测试成本。
请参阅图3，图中示意性的示出了本发明自动测试方法一较佳实施例的流程图，所述方法包括以下步骤：
步骤S301，所述主控设备10初始化第一输入输出接口15，所述测试仪20初始化第二输入输出接口21和第三输入输出接口22。
步骤S302，所述测试仪20接收待测产品40的测试参数并根据测试参数生成测试数据，所述测试仪20将测试数据发送给主控设备10。
步骤S303，所述主控设备10读取测试数据，并将接收到测试数据发送给数据解析单元12。
步骤S304，所述数据解析单元12解析测试数据，并根据解析出的测试数据判断测试数据是否有效。所述数据解析单元12将解析出的测试数据与预设的测试数据相比较，若解析出的测试数据在预设的测试数据范围内，则测试数据有效，进入步骤S305；若解析出的测试数据超出预设的测试数据范围，则测试数据无效，返回步骤S303。
步骤S305，所述数据解析单元12根据判断结果将有效的测试数据发送给测试结果显示单元13，所述测试结果显示单元13显示有效的测试数据。
步骤S306，所述数据解析单元12将有效的测试数据发送并储存在数据存储单元14中。
步骤S307，所述主控设备10将有效的测试数据和若干测试项目的预设测试数据进行比较，以判断所述测试仪20是否还有测试数据发送。若所述测试仪20没有测试数据发送，进入步骤S308；若所述测试仪20还有测试数据发送，返回步骤S303。
步骤S308，所述主控设备10关闭第一输入输出接口15，所述测试仪20关闭第二输入输出接口21和第三输入输出接口22，测试结束。
本领域的普通技术人员可以理解，实现上述方法实施例中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，相应的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是ROM（只读存储器）、RAM（随机访存存储器）、磁盘或光盘等。
对本领域的技术人员来说，可以根据本发明的发明方案和发明构思结合生产的实际需要做出其他相应的改变或调整，而这些改变和调整都应属于本发明公开的范围。

Claims (9)

1.一种自动测试装置，包括一主控设备、一测试仪及一电性连接所述主控设备和测试仪的转接线，其特征在于：所述主控设备上设有一第一输入输出接口，所述测试仪包括一第二输入输出接口和一第三输入输出接口，所述主控设备的第一输入输出接口通过所述转接线电性连接测试仪的第二输入输出接口，所述测试仪的第三输入输出接口电性连接一待测产品，所述测试仪接收待测产品的测试参数并根据测试参数生成测试数据，所述测试仪将测试数据发送给主控设备，所述主控设备解析测试数据，并根据解析出的测试数据判断测试数据是否有效，所述主控设备显示并储存有效的测试数据。
2.如权利要求1所述的自动测试装置，其特征在于：所述转接线用以实现第一输入输出接口和第二输入输出接口之间的数据传输，所述第一输入输出接口为一USB接口，所述第二输入输出接口和第三输入输出接口为DVI接口。
3.如权利要求1所述的自动测试装置，其特征在于：所述主控设备内设有一数据接收单元和一数据解析单元，所述数据接收单元接收测试数据，并将接收到测试数据发送给数据解析单元，所述数据解析单元解析测试数据，并根据解析出的测试数据判断测试数据是否有效。
4.如权利要求3所述的自动测试装置，其特征在于：所述主控设备内还设有一测试结果显示单元和一数据存储单元，所述数据解析单元根据判断结果将有效的测试数据发送给测试结果显示单元，所述测试结果显示单元显示有效的测试数据，所述数据解析单元将有效的测试数据发送并储存在数据存储单元中。
5.如权利要求4所述的自动测试装置，其特征在于：所述数据存储单元内储存有若干测试项目的预设测试数据，所述数据解析单元将解析出的测试数据与预设的测试数据相比较，若解析出的测试数据在预设的测试数据范围内，则测试数据有效，若解析出的测试数据超出预设的测试数据范围，则测试数据无效。
6.一种自动测试方法，包括以下步骤：
一主控设备初始化第一输入输出接口，一测试仪初始化第二输入输出接口和第三输入输出接口；
所述测试仪接收待测产品的测试参数并根据测试参数生成测试数据，所述测试仪将测试数据发送给主控设备；
所述主控设备读取测试数据，并将接收到测试数据发送给数据解析单元；
所述数据解析单元解析测试数据，并根据解析出的测试数据判断测试数据是否有效；
所述数据解析单元根据判断结果将有效的测试数据发送给测试结果显示单元，所述测试结果显示单元显示有效的测试数据；
所述数据解析单元将有效的测试数据发送并储存在数据存储单元中；
所述主控设备判断测试仪是否还有测试数据发送，若所述测试仪没有测试数据发送，测试结束。
7.如权利要求6所述的自动测试方法，其特征在于：所述数据存储单元内储存有若干测试项目的预设测试数据，所述数据解析单元将解析出的测试数据与预设的测试数据相比较，若解析出的测试数据在预设的测试数据范围内，则测试数据有效；若解析出的测试数据超出预设的测试数据范围，则测试数据无效。
8.如权利要求6所述的自动测试方法，其特征在于：所述主控设备将有效的测试数据和若干测试项目的预设测试数据进行比较，以判断所述测试仪是否还有测试数据发送。
9.如权利要求8所述的自动测试方法，其特征在于：若所述测试仪没有测试数据发送，所述主控设备关闭第一输入输出接口，所述测试仪关闭第二输入输出接口和第三输入输出接口。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108650033A (zh) * 2018-04-19 2018-10-12 摩比天线技术（深圳）有限公司 射频器件的测试方法、测试终端、测试系统及存储介质
CN111983532A (zh) * 2020-07-30 2020-11-24 南昌工程学院 石墨烯器件电磁性测试系统及其测试装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10429437B2 (en) * 2015-05-28 2019-10-01 Keysight Technologies, Inc. Automatically generated test diagram

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SG114493A1 (en) * 2001-07-06 2005-09-28 Jie Wu A test handling apparatus and method
US6876206B2 (en) * 2002-08-23 2005-04-05 Adc Telecommunications, Inc. Automatic jack tester
CN100468069C (zh) * 2004-07-15 2009-03-11 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 显示装置测试系统及方法
DE602005002131T2 (de) * 2005-05-20 2008-05-15 Verigy (Singapore) Pte. Ltd. Prüfvorrichtung mit Anpassung des Prüfparameters
TWI297080B (en) * 2005-06-10 2008-05-21 Innolux Display Corp Inspecting device and inspecting method use the same
US7810006B2 (en) * 2008-01-14 2010-10-05 Emerging Display Technologies Corp. Testing system for a device under test
CN101577922A (zh) * 2008-05-06 2009-11-11 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 手机声音系统测试装置及方法
CN101715145B (zh) * 2008-10-06 2012-08-15 辉达公司 利用级联存储器评估处理能力的设备和方法
CN101902659A (zh) * 2009-05-26 2010-12-01 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电子产品拍照功能的自动测试方法
CN101937380A (zh) * 2009-06-30 2011-01-05 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电脑测试系统及方法
CN102110037A (zh) * 2009-12-29 2011-06-29 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电子装置测试系统
CN102122260A (zh) * 2010-01-08 2011-07-13 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Usb端口测试装置及测试方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108650033A (zh) * 2018-04-19 2018-10-12 摩比天线技术（深圳）有限公司 射频器件的测试方法、测试终端、测试系统及存储介质
CN108650033B (zh) * 2018-04-19 2021-09-07 摩比天线技术（深圳）有限公司 射频器件的测试方法、测试终端、测试系统及存储介质
CN111983532A (zh) * 2020-07-30 2020-11-24 南昌工程学院 石墨烯器件电磁性测试系统及其测试装置

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