CN104165589A - 一种用于可转位数控周边磨床b轴精度测量的系统 - Google Patents

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吴建强
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Abstract

本发明公开了一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统；包括数控系统和主机B轴；还包括依次连接的测量块、高精度圆光栅、数显变送器和上位机组成；所述测量块安装于B轴一侧；所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块。本发明通过测量块和高精度圆光栅配合，在整机试磨前检验其精度问题，并将其数据回送到数控系统，进行适当的补偿；同时也可以自动生成系统补偿表。

Description

一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统
技术领域
本发明涉及用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，属于数控加工设备技术领域。
背景技术
在现有技术中，在利用数控可转位刀片周边磨床在磨削硬质合金数控刀片时，其加工精度是重要的指标；在加工过程中，B轴是周边磨床最主要的轴之一，他的精度直接影响到加工工件(刀片)的精度；而周边磨床内B轴的位置比较特殊，其体积比较小，因此一般的激光干涉仪等设备都无法安装和测量；从而导致B轴的精度无法检测，加工工件无法保证质量；现有的技术中一般只能通过大量试磨的方法来检验精度，这样会带来一旦出现精度问题，更换和安装都比较困难。
发明内容
(一)要解决的技术问题
为了解决上述问题，本发明提出了一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，通过测量块和高精度圆光栅配合，在整机试磨前检验其精度问题，并进行适当的补偿。
(二)技术方案
本发明的用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统；包括数控系统和主机B轴；还包括依次连接的测量块、高精度圆光栅、数显变送器和上位机组成；所述测量块安装于B轴一侧；所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块。
进一步地，所述的高精度圆光栅为18000线的圆光栅，其测量步距可以达到0.005°。
进一步地，所述的上位机通过USB口连接数显变送器。
进一步地，所述的目标设定模块包括输入第一定位点、最终定位点、间距值、目标值和点数点后位数预输入模块。
进一步地，所述的采集数据启动模块包括定位方式、测量次数和选择测量方向预输入模块。
进一步地，所述的自动数据采集设定模块由采集方式设定模块组成；所述采集方式设定模块包括定时采集模块和位置采集模块。
(三)有益效果
本发明与现有技术相比较，其具有以下有益效果：本发明通过测量块和高精度圆光栅配合，在整机试磨前检验其精度问题，并将其数据回送到数控系统，进行适当的补偿；同时也可以自动生成系统补偿表。
附图说明
图1为本发明的整体流程示意图；
图2为本发明的目标设定模块示意图；
图3为本发明的采集数据启动模块示意图；
图4为本发明的自动数据采集设定模块示意图。
具体实施方式
本发明通过测量系统和上位机预输入模块的配合，实现对误差适当的补偿；同时也可以自动生成系统补偿表。
如图1所示，本发明的用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统；包括数控系统和主机B轴；还包括依次连接的测量块、高精度圆光栅、数显变送器和上位机组成；所述测量块安装于B轴一侧；所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块。
所述的高精度圆光栅为18000线的圆光栅，其测量步距可以达到0.005°；所述的上位机通过USB口连接数显变送器。
如图2所示，所述的目标设定模块包括输入第一定位点、最终定位点、间距值、目标值和点数点后位数预输入模块。
如图3所示，所述的采集数据启动模块包括定位方式、测量次数和选择测量方向预输入模块。
如图4所示，所述的自动数据采集设定模块由采集方式设定模块组成；所述采集方式设定模块包括定时采集模块和位置采集模块。
上面所述的实施例仅仅是对本发明的优选实施方式进行描述，并非对本发明的构思和范围进行限定。在不脱离本发明设计构思的前提下，本领域普通人员对本发明的技术方案做出的各种变型和改进，均应落入到本发明的保护范围，本发明请求保护的技术内容，已经全部记载在权利要求书中。

Claims (6)

1.一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统；包括数控系统和主机B轴；其特征在于，还包括依次连接的测量块、高精度圆光栅、数显变送器和上位机组成；所述测量块安装于B轴一侧；所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块。
2.根据权利要求1所述的用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于：所述的高精度圆光栅为18000线的圆光栅，其测量步距可以达到0.005°。
3.根据权利要求1所述的用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于：所述的上位机通过USB口连接数显变送器。
4.根据权利要求1所述的用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于：所述的目标设定模块包括输入第一定位点、最终定位点、间距值、目标值和点数点后位数预输入模块。
5.根据权利要求1所述的用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于：所述的采集数据启动模块包括定位方式、测量次数和选择测量方向预输入模块。
6.根据权利要求1所述的用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于：所述的自动数据采集设定模块由采集方式设定模块组成；所述采集方式设定模块包括定时采集模块和位置采集模块。
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