CN104136883A - 用于在非可见光谱范围内生成3d位置分辨的测量结果的测量方法和测量装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种包括用于在非可见光谱范围内检测位置分辨的测量结果的拍摄装置(2)的测量装置(1)，借助图像深度测量单元(6)进行图形深度测量，该图形深度测量为位置分辨的测量结果的测量值分别指派一个距离或位置信息(x、y、z)，所述距离或位置信息表示测量目标(5)的表面区域(9)相对于拍摄装置(2)的距离或位置，从所述表面区域检测电磁辐射以生成测量值(16、T)。

Description

用于在非可见光谱范围内生成3D位置分辨的测量结果的测量方法和测量装置

技术领域

本发明涉及一种用于在非可见光谱范围内生成位置分辨的测量结果的测量方法，其中，在图像拍摄过程中借助拍摄装置在非可见光谱范围内位置分辨地检测和测量测量目标的电磁辐射并且用检测到的辐射的测量值来填充一个二维像素阵列的像素。

本发明还涉及一种测量装置，其包括具有用于在非可见光谱范围内位置分辨地检测测量目标的电磁辐射的检测器的拍摄装置，在此，检测器定义像素的一个二维像素阵列，该像素阵列可被填充关于检测到的辐射的测量值。

背景技术

这类方法和测量装置是已知的并且以下述方式提供测量值的二维像素阵列，即，与角度有关地检测电磁辐射以生成位置分辨的测量结果。

发明内容

本发明的任务在于扩大进一步处理这种测量结果的可能性。

为了解决所述任务，在开头所描述类型的测量方法中，根据本发明规定，进行图像深度测量，其中，为像素阵列的每个像素分别测量或计算一个距离或位置信息，该距离或位置信息表示在图像拍摄过程的时刻测量目标的配属给相应像素的表面区域相对于拍摄装置的距离或位置。因此，借助该距离或位置信息可提供测量目标的三维的表面结构或表面状态的说明。因此，借助所述说明可将二维的像素阵列用于下游的进一步处理或评估，方法是，例如可计算三维、即立体的测量值梯度或3D测量曲线(Messprofil)。替换或附加地，距离或位置信息可用于在所拍摄的包含测量目标的场景中确定深度，以便控制拍摄装置的自动聚焦。距离或位置信息还可用于推导关于测量目标上的表面的定向和设置的空间信息并且可将其用于考虑或补偿电磁辐射的反射特性和/或发射特性。

此外，借助图像深度测量的距离或位置信息还可对测量目标进行目标识别，以便自动识别测量目标的确定等级，因为距离或位置信息允许进行立体或三维结构的特征识别。这例如能够实施，以使特性曲线或空间形状能够自动被识别。

此外，距离或位置信息还可用于将多个具有测量值的像素阵列尤其是通过拼合(stitching)组合成一个3D全景，所述测量值针对不同的、彼此重叠的立体角所拍摄。

最后，借助距离或位置信息可从具有测量值的二维像素阵列中生成3D轮廓或3D模型，其被填充测量值或从其推导出的值。

距离或位置信息在此可以作为测量目标的表面区域——从该表面区域在每个像素上生成测量值——和拍摄装置的一个虚拟点或真实点之间的与像素有关的距离参数存在。但也可规定，距离或位置信息例如作为所述表面区域的三维或多维的绝对位置参数而被测量。

在本发明的一种方案中可规定，在图像深度测量中从不同拍摄位置拍摄测量目标的至少两个图像。因此可将在从不同拍摄位置产生的图像之间测量目标的视差或看起来的位置变化用于几何计算距离或位置信息。为此可使用已知的几何定律。特别有利的是同时拍摄图像。在此有利的是，测量目标在两个图像之间不能改变，从而可避免在测量或计算距离或位置信息时出现测量或计算误差。已证明有利的是，在图像深度测量中在可见光谱范围内拍摄测量目标的所述至少两个图像。在此有利的是，在可见光谱范围内拍摄情况下的图像数据特别适合用于计算距离或位置信息。为此，优选使用至少一个VIS摄像机(可见光摄像机)。

在本发明的一种方案中可规定，从对所拍摄图像的比较、尤其是通过逐像素的比较中推导出距离或位置信息。这例如可通过确定在所述图像之间测量目标的表面区域的位置的至少一个看起来的变化来进行。在此有利的是，可借助已知的几何定律来推导所需的距离或位置信息。为此可借助交叉相关或特征分析或以其它方式来比较图像，以便确定在所述图像之间测量目标的表面区域的位置的看起来的变化。由该看起来的变化可对于每个图像计算与像素有关的拍摄方向。针对计算的拍摄方向，为彼此在内容上对应的像素分别计算拍摄方向的交点。从该交点可逐像素地计算出所需的距离或位置信息。

在本发明的一种方案中可规定，在图像深度测量中，可测量扫描光束的运行时间。在此有利的是，可直接从运行时间计算出相对于测量目标的距离参数形式的距离或位置信息。替换或附加地可规定，在图像深度测量中，可测量扫描光束的相位调制。在此，例如可使用干涉效应来测量距离或位置信息。为了生成与像素有关的距离或位置信息可规定，扫描光束在测量目标上运动。在此有利的是，对于测量目标的不同表面区域可获取独特的距离或位置信息。运行时间的测量例如可借助脉冲扫描光束来实现。

在本发明的一种方案中可规定，在图像深度测量中将图样序列投影到测量目标上并且接收和评估从测量目标反射回的图样序列。通过测量目标的三维的表面结构或表面状态，所投影的图样序列的图样分别在测量目标的拍摄中相对于原始图样形态变形。由该变形可以以已知方式计算所需的距离或位置信息。在此有利的是，可在很短的时间内同时为像素阵列的大量像素进行图像深度测量。因此，也可很好地处理运动的或剧烈变化的测量目标。

在本发明的一种方案中可规定，所述像素阵列的测量值自动转换成视觉上可感知的信号。例如像素阵列的测量值可转换成伪彩色编码的信号。优选为此设置色彩条(Farbkeil)，借助该色彩条可将测量值转换成色值。在此有利的是，位置分辨的测量值可简单地在视觉上可感知。

在本发明的一种方案中可规定，从测量或计算出的距离或位置信息自动生成测量目标或其一部分的数字立体图。在此有利的是，可自动考虑由测量目标的立体表面结构或表面形态造成的影响。附加或替换地，可生成测量目标的3D模型，该3D模型在其三维像素点上记录有相配的测量值。在这种方式中，测量目标例如可借助其测量值被描绘于测量目标的所提供的CAD数据中。

在本发明的一种方案中可规定，从位置分辨的测量结果和测量到或计算出的距离或位置信息计算测量目标的两个图像示图，通过所述图像示图源自彼此错开设置的拍摄位置地再现测量目标。在此有利的是，通过这种方式可立体地显示或示出测量目标以及包含测量目标的场景。例如可彼此分开地生成和示出所述图像示图。

在本发明的一种方案中可规定，在立体的显示单元上示出测量目标的图像示图。在此可同时或交替地示出图像示图。立体的显示单元因此可构造为具有相应透镜光栅或相应条纹掩模的自动立体显示器、具有快门镜技术的显示器、具有偏振滤光器技术的显示器、具有快门和/或偏振滤光器的投影仪和/或2D或3D电脑显示器。

为了检测与温度有关的测量值可规定，作为非可见光谱范围使用红外光谱范围。在此有利的是，作为拍摄装置使用热成像仪。

为了解决所述任务，在开头所提类型的测量装置中根据本发明规定，设置图像深度测量单元，借助该图像深度测量单元可为像素阵列的每个像素测量或计算一个距离或位置信息，该距离或位置信息表示测量目标的配属给相应像素的表面区域相对于拍摄装置的距离或位置。在此有利的是，可提供距离或位置信息形式的附加的数据组，借助该附加数据组可立体地显示或处理测量值。

在本发明的一种方案中可规定，所述图像深度测量单元构造和定位用于从不同的拍摄位置拍摄测量目标的至少两个图像。因此构造了简单的器件，以便从所述至少两个图像之间的视差或看起来的图像位移来计算所需的距离或位置信息。为了避免测量目标在两个图像的拍摄之间改变，有利的是，图像深度测量单元构造和定位用于从不同的拍摄位置同时拍摄测量目标的至少两个图像。

可规定，所述图像深度测量单元具有至少一个用于拍摄测量目标的图像的摄像机。当图像深度测量单元构造和设立用于在可见光谱范围内的拍摄时，可在距离或位置信息的计算中获得特别好的结果。为此图像深度测量单元具有至少一个VIS摄像机。

在本发明的一种方案中可规定，所述图像深度测量单元构造和设立用于比较所拍摄的图像并且从该比较中推导出距离或位置信息。例如可规定，图像深度测量单元构造和设立用于确定在所述图像之间测量目标的表面区域的位置的至少一个看起来的变化。在此有利的是，可为其中每个所拍摄的图像计算与像素有关的拍摄方向，由该拍摄方向可推导出与像素有关的距离或位置信息。

在此特别有利的是，在图像深度测量单元中存储所拍摄的图像的像素和测量值的像素阵列的像素之间的对应关系并且准备使用。在此有利的是，为所拍摄图像的像素计算的距离或位置信息可简单地配属给像素阵列的像素。

在本发明的一种方案中可规定，所述图像深度测量单元设立用于测量扫描光束的运行时间和/或相位调制。为此可规定，扫描光束可被振幅调制和/或相位调制。借助振幅调制例如可使脉冲变形，借助脉冲可简单地进行运行时间测量。特别有利的是，扫描光束可在测量目标上运动地设定。在此有利的是，可进行与角度有关的运行时间测量和/或相位调制测量，从所述测量中可推导出与像素有关的距离或位置信息。在此情况下，图像深度测量单元可具有用于扫描光束的相应控制单元。

在本发明的一种方案中可规定，所述图像深度测量单元设立用于将图样序列投影在测量目标上以及用于接收和评估从测量目标反射回的图样序列。在此有利的是，从在拍摄中图样序列的所投影的图样的失真可得出测量目标的表面结构或表面形态。在此情况下图像深度测量单元具有相应的计算装置，其能够从所投影的图样序列的失真图样计算出距离或位置信息。

在本发明的一种方案中可规定，构造数据处理单元，其设立用于将像素阵列的测量值自动转换为视觉上可感知的信号。例如可规定，所述信号是伪彩色编码的。为此，色彩条可在测量装置中存储地被准备，借助所述色彩条可将测量值转换为色值。

在本发明的一种方案中可规定，所述数据处理单元设立用于从测量或计算出的距离或位置信息自动生成测量目标或其一部分的数字立体图。在此有利的是，通过这种方式可形成测量目标的3D模型，该3D模型可提供用于进一步处理。

计算出的数字立体图例如可用于从不同视向显示测量目标。

在本发明的一种方案中可规定，所述数据处理单元设立用于从位置分辨的测量结果和测量或计算出的距离或位置信息计算两个图像示图，通过所述图像示图源自彼此错开设置的拍摄位置再现测量目标。在此有利的是，可进行立体显示或输出。此外有利的是，可三维地显示测量结果的测量值。例如可通过这种方式计算立体的测量值梯度。

在本发明的一种方案中可规定，构造显示单元，其设立用于立体地显示测量目标的图像示图。在此有利的是，使用者可直接观察测量目标的三维图像示图。在此立体显示可以设立用于测量目标图像示图的同时显示或测量目标图像示图的交替显示。

根据本发明的测量装置的一种特别有利的应用情况在于借助拍摄装置检测与温度有关的测量值。为此，可规定，作为非可见光谱范围可使用红外光谱范围。例如在此情况下拍摄装置可构造成热成像仪。

特别有利的是，计算出或测量到的距离或位置信息可生成和生成为二维数据区。因此可为测量值的像素阵列的每个像素配属一个与像素有关的距离或位置信息。

附图说明

现在，借助实施例详细说明本发明，但本发明不局限于这些实施例。其它实施例通过权利要求的单个或多个特征彼此间的和/或与实施例的单个或多个特征的组合来获得。附图如下：

图1以三维斜视图示出从前面看的根据本发明的测量装置；

图2以三维斜视图示出从后面看的根据图1的测量装置；

图3示出测量情况的高度简化原理图用以说明根据本发明的方法；

图4示出借助根据本发明的测量装置的立体显示的高度简化的原理图；

图5示出一种高度简化原理图用以说明借助根据本发明的图像深度测量单元的图像深度测量。

图6示出一种高度简化原理图用以说明借助另一种图像深度测量单元的图像深度测量；

图7示出一种高度简化原理图用以说明借助第三种图像深度测量单元的图像深度测量。

具体实施方式

在图1和图2中所示的整体以附图标记1表示的根据本发明的测量装置包括拍摄装置2，该拍摄装置构造用于在非可见光谱范围内检测电磁辐射。

为了说明本发明原理并且作为优选的实施例示出作为热成像仪的测量装置1，借助其可检测红外辐射，以便生成作为与温度相关的测量值、如温度值的像素阵列的热图像。

拍摄装置2为此在其内部具有以已知方式构造的检测器3，该检测器对于检测到的非可见光谱范围内的电磁辐射是敏感的。

检测器3设置在拍摄镜头4后方，该拍摄镜头对于待检测的非可见的电磁辐射是可通过的。

检测器3构造用于例如通过检测器元件的网格状阵列分开地检测来自不同立体角范围的电磁辐射。

因此，在图像拍摄过程中可借助拍摄装置2与角度有关地检测测量目标5(参见图3)的通过拍摄镜头4进入的电磁辐射。相应立体角的各测量值被写入像素阵列中，从而生成位置分辨的测量结果。该测量结果提供关于测量目标5的测量值的二维、即平面分布的信息。

在此，测量装置1构造为具有手柄6的手持式测量仪。

为了生成测量目标5的位置分辨的测量结果，拍摄镜头4朝向测量目标5定向。

所拍摄的测量结果因此存在于具有二维位置信息的像素阵列中，该像素阵列实现测量值的平面分布及测量值与立体角范围的相互对应。为了增加测量结果的信息内容，即，为像素阵列的测量值给出三维位置信息，测定装置1具有图像深度测量单元6。

图像深度测量单元6在根据图1至图3的实施例中具有一个右侧摄像机7和一个左侧摄像机8。

因此，借助摄像机7、8在可见范围内可拍摄且拍摄测量目标5的两个图像、即右侧图像和左侧图像。

这两个拍摄同时进行，但在不同的拍摄位置进行，所述拍摄位置在拍摄期间分别通过摄像机7、8的定向和站立位置被预先规定。

由于拍摄位置不同，在一方面由右侧摄像机7并且另一方面由左侧摄像机8所拍摄的图像中，形成测量目标5不同的图像位置。不同的图像位置相应于测量目标5在所拍摄的图像之间的看起来的运动(scheinbare Bewegung)或视差。

从该看起来的运动中借助已知的几何定律为借助图像深度测量单元6的摄像机7、8拍摄的图像的各像素计算出至少一个距离或位置信息。

由于图像深度测量单元6设置在关于拍摄装置2固定的相对位置上，所以在测量装置1中可提供和利用借助图像深度测量单元6拍摄的图像的像素和借助拍摄装置2生成的测量结果的像素之间的对应关系。

充分利用该对应关系为位置分辨的测量结果的像素配属距离或位置信息，使得可对于像素阵列的每个像素给出测量目标5的配属给该像素的表面区域9的距离或位置。

图3示出相配的测量情况，在该测量情况中，借助拍摄装置2的检测器3检测该表面区域9的电磁辐射。通过比较借助图像深度测量单元6的摄像机7、8拍摄的图像，附加地计算出距离或位置信息，该距离或位置信息再现表面区域9相对于拍摄装置2的距离或位置。

在测量装置1的内部设置数据处理单元10，借助该数据处理单元可将位置分辨的测量结果逐像素地(pixelweise)转换成视觉上可感知的伪彩色编码信号。

转换后的测量结果随后显示于显示单元11上或通过未详细示出的数据接口输出。

通过相应的编程使数据处理单元11可计算测量目标9的数字立体图12。为此，数据处理单元11使用之前确定的与像素有关(pixelbezogen)的距离或位置信息并且在测量装置1的存储区域中提供测量目标5的自动生成的数字立体图12作为3D模型。

该数字立体图12在图3中以虚线示出，虽然其虚拟地被暂存于存储区域中。

可以看出，数字立体图12很好地模仿了测量目标5的三维的表面结构或表面形态。

另外，通过相应的编程使数据处理单元11从数字立体图12或所属数据可计算和计算出两个图像的、即二维示图，并且，其中每个图像示图从彼此错开设置的拍摄位置再现测量目标5。

在图4中示出，在显示单元11上这样显示这两个图像示图，使得使用者以其右眼13只能视觉上感知针对图3中右侧摄像机7的虚拟拍摄位置计算出的那个图像示图，并且使用者以其左眼14只能视觉上感知针对图3的情况中左侧摄像机8的虚拟拍摄位置计算出的图像示图。

因此，图3中的原理图一方面示出在测量过程中用于图像深度测量的摄像机7、8的位置并且另一方面示出虚拟摄像机7、8的彼此相对错开设置的配属于所提到的图像示图的虚拟拍摄位置。

因此，在图4的情况下，在测量值的所提到的伪彩色显示中使用者获得测量目标5的三维印象。

因此，使用者可通过观察显示单元11借助附加的立体印象感知测量结果的像素阵列中的测量值。

显示单元11因此设立用于立体显示测量目标5的图像示图。

在此可借助快门镜或偏光镜来实现眼睛13、14只能分别视觉上感知为其确定的图像示图。

但也可在显示单元11上构造透镜光栅或条纹掩模，借助其可分开地感知所述图像示图。在此情况下，显示单元因而构造成自动立体显示单元。根据图5至图7的两种实施例在功能或结构上与图1至4相同的或作用相同的部件使用相同附图标记并且不再赘述。

图5示出测量装置1的另一种根据本发明的实施例。

在该测量装置1中，图像深度测量单元6具有一个3D传感器，借助该3D传感器可位置分辨地、即与角度有关地测量位置信息(x、y、z)。这例如可通过将图样序列投影到测量目标5上或通过扫描光束15的运行时间测量(Laufzeitmessung)或相位调制测量来进行。

以所述距离或位置信息，完善测量值16、在当前情况下为温度值T，由此产生三维的测量值分布。

图6示出在测量装置1的另一种根据本发明的实施例中在图像深度测量中使用两个摄像机7、8。

摄像机7、8分别形成一个立体角或在所述角度下分别可见表面区域9。

在此借助特征分析或相关计算在摄像机7、8所拍摄的图像中识别彼此相配的表面区域9。

由所确定的角度借助已知的几何公式可计算距离或位置信息(x、y、z)。这在数据处理单元10中对于位置分辨的测量结果的像素阵列的所有像素进行，由此产生测量值16、T的立体分布。

为了从所述角度或计算距离或位置信息(x、y、z)，通过刚性耦联装置17实现摄像机7、8彼此间以及相对于检测器3的固定定向。

通过该刚性机械耦联装置17形成借助摄像机7、8拍摄的图像的像素和借助拍摄装置2生成的位置分辨的测量结果的像素阵列的像素的对应关系。

图7示出根据本发明装置1的另一种实施例。

在该实施例中，图像深度测量单元6仅具有一个唯一的摄像机7。

在图6中，摄像机7、8同时各拍摄一个图像，与根据图6的情况不同，在根据图7的实施例中为了图像深度测量借助唯一的摄像机7在时间连续的时间点上依次拍摄至少两个图像。

由于测量装置1的拍摄位置在各次拍摄之间发生改变(这在图7中通过加撇的附图标记示出)，在所拍摄的图像中测量目标5分别从不同的拍摄位置被拍摄。

通过这种方式，例如表面区域9在图像中看起来是在不同的立体角或情况下。借助来自运动算法(Motion-Algorithmus)的结构可由此计算所需的距离或位置信息(x、y、z)，所述信息被添加到测量值T。

借助根据图5、6和7的测量装置1在生成距离或位置信息(x、y、z)之后，在显示单元11上进行立体显示，如这已在图1至4中被说明的那样。

在所描述的实施例中，借助计算出的与像素有关的距离或位置信息(x、y、z)在数据处理单元10中计算测量目标5的3D模型，该3D模型相应于测量目标5的表面形态地再现拍摄装置2的测量值16、T的立体分布。

在具有用于在非可见光谱范围内检测位置分辨的测量结果的拍摄装置2的测量装置1中提出，借助图像深度测量单元6进行图像深度测量，其为位置分辨的测量结果的测量值16、T分别指派一个距离或位置信息(x、y、z)，该距离或位置信息表示测量目标5的表面区域9相对于拍摄装置2的距离或位置，从其检测电磁辐射以生成测量值(16、T)。

Claims (18)

1.用于在非可见光谱范围内生成位置分辨的测量结果的测量方法，其中，在图像拍摄过程中借助拍摄装置(2)在非可见光谱范围内对测量目标(5)的电磁辐射位置分辨地进行检测和测量并且用关于检测到的辐射的测量值(16、T)来填充一个二维像素阵列的像素，其特征在于，进行图像深度测量，在所述图像深度测量中，为像素阵列的每个像素分别测量或计算一个距离或位置信息(x、y、z)，该距离或位置信息表示在图像拍摄过程的时刻测量目标(5)的配属给相应像素的表面区域(9)相对于拍摄装置(2)的距离或位置。

2.根据权利要求1的测量方法，其特征在于，在图像深度测量中，优选同时和/或在可见光谱范围内从不同拍摄位置拍摄测量目标(5)的至少两个图像。

3.根据权利要求1或2的测量方法，其特征在于，从对所拍摄图像的比较中、尤其是通过确定在所述图像之间测量目标(5)的表面区域(9)的位置的至少一个看起来的变化推导出距离或位置信息(x、y、z)。

4.根据权利要求1至3之一的测量方法，其特征在于，在图像深度测量中，测量优选可在测量目标(5)上运动的扫描光束(15)的运行时间和/或相位调制。

5.根据权利要求1至4之一的测量方法，其特征在于，在图像深度测量中，将图样序列投影到测量目标(5)上并且接收和评估从测量目标(5)反射回的图样序列。

6.根据权利要求1至5之一的测量方法，其特征在于，所述像素阵列的测量值(16、T)自动转换成视觉上可感知的尤其是伪彩色编码的信号。

7.根据权利要求1至6之一的测量方法，其特征在于，从测量到或计算出的距离或位置信息(x、y、z)自动生成测量目标(5)或其一部分的数字立体图(12)。

8.根据权利要求1至7之一的测量方法，其特征在于，从位置分辨的测量结果和测量到或计算出的距离或位置信息(x、y、z)计算出测量目标(5)的两个图像示图，通过所述图像示图，源自彼此错开设置的拍摄位置地再现测量目标(5)。

9.根据权利要求1至8之一的测量方法，其特征在于，优选同时或交替地在立体的显示单元(11)上示出测量目标(5)的图像示图。

10.测量装置(1)，包括拍摄装置(2)，所述拍摄装置具有用于在非可见光谱范围内位置分辨地检测测量目标(5)的电磁辐射的检测器(3)，其中，检测器(3)定义像素的一个二维像素阵列，该像素阵列可被填充关于检测到的辐射的测量值(16、T)，其特征在于，设置图像深度测量单元(6)，借助该图像深度测量单元可为像素阵列的每个像素测量或计算一个距离或位置信息(x、y、z)，该距离或位置信息表示测量目标(5)的配属给相应像素的表面区域(9)相对于拍摄装置(2)的距离或位置。

11.根据权利要求10的测量装置(1)，其特征在于，所述图像深度测量单元(6)构造和设立用于优选同时和/或在可见光谱范围内从不同的拍摄位置拍摄测量目标(5)的至少两个图像。

12.根据权利要求10或11的测量装置(1)，其特征在于，所述图像深度测量单元(6)构造和设立用于比较所拍摄的图像，尤其是通过确定在所述图像之间测量目标(5)的表面区域(9)的位置的至少一个看起来的变化，以及从比较中推导出距离或位置信息(x、y、z)。

13.根据权利要求10至12之一的测量装置(1)，其特征在于，所述图像深度测量单元(6)设立用于测量优选可在测量目标(5)上运动的扫描光束(15)的运行时间和/或相位调制。

14.根据权利要求10至13之一的测量装置(1)，其特征在于，所述图像深度测量单元(6)设立用于将图样序列投影到测量目标(5)上以及用于接收和评估从测量目标(5)反射回的图样序列。

15.根据权利要求10至14之一的测量装置(1)，其特征在于，构造数据处理单元(10)，所述数据处理单元设立用于将像素阵列的测量值(16、T)自动转换为视觉上可感知的尤其是伪彩色编码的信号。

16.根据权利要求10至15之一的测量装置(1)，其特征在于，所述数据处理单元(10)设立用于从测量到或计算出的距离或位置信息(x、y、z)自动生成测量目标(5)或其一部分的数字立体图(12)。

17.根据权利要求10至16之一的测量装置(1)，其特征在于，所述数据处理单元(10)设立用于从位置分辨的测量结果和测量到或计算出的距离或位置信息(x、y、z)计算的两个图像示图，通过所述图像示图源自彼此错开设置的拍摄位置地再现测量目标(5)。

18.根据权利要求10至17之一的测量装置(1)，其特征在于，构造显示单元(11)，所述显示单元设立用于立体地、优选同时或交替地示出测量目标(5)的图像示图。