CN104076978B - 电子机器以及电子机器的控制方法 - Google Patents

Abstract

一种电子机器以及电子机器的控制方法，电子机器包括：显示设备，具备：多个第1电极，配置成矩阵状；第2电极，与第1电极对置配置，包括沿着第1方向延伸并且在与上述第1方向交叉的第2方向上排列配置的多个电极图案；以及第3电极，与第2电极对置配置，包括沿着第2方向延伸并且在第1方向上排列配置的多个电极图案；显示驱动器，将传感器驱动信号施加到第2电极；检测电路，发送包括物理量数据的检测数据，该物理量数据是在对第2电极施加上述传感器驱动信号的每个定时从第3电极的多个电极图案检测出的数据；以及应用处理器，处理从检测电路接收到的检测数据。

Description

电子机器以及电子机器的控制方法

关联申请

本申请享受以日本专利申请2013－073874号（申请日：2013年3月29日）为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的全部的内容。

技术领域

本发明涉及电子机器以及电子机器的控制方法。

背景技术

移动手机、智能手机、平板电脑终端以及笔记本型个人计算机等的能够携带的电子机器已经普及。这些电子机器具有例如与显示面板成为一体的输入面板。输入面板在例如用户接触到显示画面时，检测接触了的位置。输入面板具备例如检测静电电容的变化的传感器。

以往，包括输入面板的模块计算出所接触的位置坐标。因此，包括输入面板的模块不必将三维信息输出至应用处理器，该三维信息具有输入面板的位置坐标以及该位置的物理量（电极间电容值或者检测电极电压值）的信息。

然而，如果应用处理器能够与应用协作使用三维信息，则对电子机器的性能提升的期待提高。

发明内容

本发明的实施方式的目的在于提供一种通用性高的电子机器以及电子机器的控制方法。

一种电子机器，包括：显示设备，具备：多个第1电极，配置成矩阵状；第2电极，与上述第1电极对置配置，包括沿着第1方向延伸并且在与上述第1方向交叉的第2方向上排列配置的多个电极图案；以及第3电极，与上述第2电极对置配置，包括沿着上述第2方向延伸并且在上述第1方向上排列配置的多个电极图案；显示驱动器，将传感器驱动信号施加到上述第2电极；检测电路，发送包括物理量数据的检测数据，该物理量数据是在对上述第2电极施加上述传感器驱动信号的每个定时从上述第3电极的多个电极图案检测出的数据；以及应用处理器，处理从上述检测电路接收到的上述检测数据。

下面参照附图，对实施方式的静电保护电路详细地进行说明。实施方式的附图以及描述只为解释说明本发明，这些实施方式并不限定本发明。

附图说明

图1为示意性地表示一实施方式的电子机器的一结构例的示意框图。

图2为示意性地表示图1所示的带传感器的显示设备的一结构例的示意剖视图。

图3为用于说明图2所示的带传感器的显示设备的公共电极与检测电极的一结构例的示意立体图。

图4为表示静电电容型传感器的驱动信号与检测信号的一例的示意图。

图5为示意性地表示图1所示的电子机器的检测电路以及显示驱动器的一结构例的示意框图。

图6为表示数据集（set）的内容的一例的示意图。

图7为表示数据集的输出定时的一例的示意图。

图8为表示基于从传感器处理部输出的原始数据（Raw data）群的三维数据的一例的示意图。

图9为表示基于从传感器处理部输出的原始数据（Raw data）群的三维数据的一例的示意图。

具体实施方式

以下，参照附图，对实施方式的静电保护电路详细地进行说明

根据一个实施方式，电子机器包括：显示设备，具备：多个第1电极，配置成矩阵状；第2电极，与上述第1电极对置配置，包括沿着第1方向延伸并且在与上述第1方向交叉的第2方向排列配置的多个电极图案；以及第3电极，与上述第2电极对置配置，包括沿着上述第2方向延伸并且在上述第1方向排列配置的多个电极图案；显示驱动器，将传感器驱动信号施加到上述第2电极；检测电路，发送包括物理量数据的检测数据，该物理量数据是在对上述第2电极施加上述传感器驱动信号的各定时从上述第3电极的多个电极图案检测出的数据；以及应用处理器，处理从上述检测电路接收到的上述检测数据。

以下，参照附图对实施方式的电子机器以及电子机器的控制方法进行详细地说明。

图1为示意性地表示一实施方式的电子机器的一结构例的示意框图。

本实施方式的电子机器具备带传感器的显示设备10、检测电路20、显示驱动器30以及应用处理器40。另外，应用处理器40是在移动手机等的电子机器内嵌入的例如半导体集成电路（LSI）。应用处理器40具有通过OS等的软件复合地执行Web浏览、多媒体处理等的多个功能处理的作用。应用处理器40是进行高速的运算处理的处理器，也可以是双核或者四核（Quad-Core）的处理器。作为工作速率，例如优选500MHz以上，更优选为1GHz。

带传感器的显示设备10具备显示设备和传感器。带传感器的显示设备10向检测电路20输出传感器检测值Rx，按照从显示驱动器30接收的图像显示信号Sigx显示图像，按照传感器驱动信号Tx驱动传感器。

检测电路20将从带传感器的显示设备10接收的检测值Rx与表示各种信息的数据合并而生成数据集Data，向应用处理器40输出。另外，检测电路20按照从应用处理器40接收的表选择信号（Table Sel.）向显示驱动器30输出表选择请求TRCRQ。进一步地，检测电路20按照从应用处理器40接收的传感器设定信号（TP setting），向显示驱动器30输出控制传感器的驱动定时的控制信号。

显示驱动器30以显示设备10能够显示的方式处理从应用处理器40接收的图形数据（Graphic），将图像显示信号Sigx输出至显示设备10。另外，显示驱动器30按照从检测电路20接收的控制信号EXVCOM，将传感器驱动信号Tx施加到显示设备10。

应用处理器40根据从检测电路20接收的数据集Data，用基于传感器检测值Rx的原始数据（Raw data）进行各种各样的处理。关于原始数据，在后叙述。应用处理器40从数据集Data含有的信号取得显示驱动器30的状态，经由检测电路20控制显示驱动器30，取得检测电路20与显示驱动器30的同步。

图2为示意性地表示图1所示的带传感器的显示设备10的一结构例的示意剖视图。另外，图2中的第1方向X与第2方向Y为相互地大致正交的方向，第3方向Z为与由第1方向X与第2方向Y规定的平面大致正交的方向。

带传感器的显示设备10使用液晶显示设备作为显示设备，并且兼用该液晶显示设备原先具备的电极的一部分（后述的公共电极CE）以及显示用驱动信号（后述的公用驱动信号VCOM）来构成静电电容型传感器。

带传感器的显示设备10具备阵列基板AR、对置基板CT以及在阵列基板AR与对置基板CT之间保持的液晶层LQ。

阵列基板AR具备第1偏光板POL1、TFT基板12、公共电极CE以及像素电极PE。

TFT基板12具备玻璃等的透明绝缘基板，未图示的切换元件，源极布线、栅极布线等的各种布线，以及作为覆盖这些的绝缘膜的平整层。切换元件配置成例如第1方向X作为行方向，第2方向Y作为列方向的矩阵状，通过供给至栅极布线的信号，切换源极布线与像素电极PE的连接。

公共电极CE由在TFT基板12上配置的绝缘层13覆盖。公共电极CE例如，在第1方向X延伸并且在第2方向Y排列配置多个。公共电极CE由例如ITO（Indium Tin Oxide）、IZO（Indium zinc oxide）等的透明电极材料形成。在本实施方式中，公共电极CE也作为传感器用驱动电极而使用。

像素电极PE由在绝缘层13上配置的图示的定向膜覆盖。像素电极PE排列配置成例如第1方向X作为行方向，第2方向Y作为列方向的矩阵状。多行的像素电极PE隔着绝缘层13与1个公共电极CE对置。像素电极PE由例如ITO、IZO等的透明电极材料形成。

第1偏光板POL1配置于TFT基板12的外侧（与公共电极CE相反的一侧）的主面。

对置基板CT具备玻璃等的透明绝缘基板14、彩色滤光片CF、检测电极SE以及第2偏光板POL2。

彩色滤光片CF以覆盖了在透明绝缘基板14以网格状配置的黑色矩阵（未图示）的状态被配置。彩色滤光片CF例如具备多个着色层，在第1方向X上相邻的像素上分别配置的彩色滤光片CF的着色层成为相互地不同的颜色。例如，彩色滤光片CF具备由分别着色成红色、蓝色、绿色的3原色的树脂材料形成的着色层。由着色成红色的树脂材料构成的红色着色层（未图示）与红色像素对应地被配置。由着色成蓝色的树脂材料构成的蓝色着色层（未图示）与蓝色像素对应地被配置。由着色成绿色的树脂材料构成的绿色着色层与绿色像素对应地被配置。上述的着色层彼此的边界位于与黑色矩阵重合的位置。彩色滤光片CF由保护层（overcoat layer）（未图示）覆盖。保护层缓和彩色滤光片CF的表面的凹凸的影响。保护层由未图示的定向膜覆盖。

检测电极SE配置于透明绝缘基板14的外侧（与彩色滤光片CF相反的一侧）的主面。检测电极SE在与公共电极CE延伸的方向（第1方向X）大致正交的方向（第2方向Y）上延伸，并且在第1方向X排列配置多个。检测电极SE由例如ITO、IZO等的透明电极材料形成。

第2偏光板POL2配置于检测电极SE上（透明绝缘基板14的与彩色滤光片CF相反的一侧）。第1偏光板POL1的第1偏光轴与第2偏光板POL2的第2偏光轴处于例如正交的位置关系（正交尼科耳）。此时，一方的偏光板配置成例如，该偏光轴与液晶分子的初始定向方向平行或者正交。

图3为用于说明图2所示的带传感器的显示设备的公共电极CE与检测电极SE的一结构例的示意立体图。

在该例子中，公共电极CE被分割成在第2方向Y（图的左右方向）延长的多个条纹状的电极图案。写入图像信号时，通过显示驱动器30，对电极图案依次施加公共电压VCOM，以时分的方式按线依次进行扫描驱动。另外，在传感器驱动时，通过显示驱动器30，对各电极图案（或者，多个电极图案作为1组的各电极图案群）依次施加传感器驱动信号Tx。在本实施方式中，对各电极图案（或者，多个电极图案作为1组的各电极图案群）依次施加的传感器驱动信号Tx称为传感器驱动信号Tx1～Txn。Tx的尾标“n”在对各电极图案依次施加传感器驱动信号Tx时，表示电极图案的个数，在对多个电极图案作为1组而形成的各电极图案群依次施加传感器驱动信号Tx时，表示电极图案群的个数。

另一方面，检测电极SE由在与公共电极CE的电极图案的延长方向正交的方向上延伸的多个（m）条纹状的电极图案1～电极图案m构成。从检测电极SE的各电极图案分别输出有传感器检测值Rx，并输入至图1所示的检测电路20。在本实施方式中，特别地，将分别从电极图案1～电极图案m输出的传感器检测值Rx称为传感器检测值Rx1～Rxm。

图4为表示静电电容型传感器的驱动信号与检测信号的一例的示意图。静电电容型传感器具备夹着电介质且相互地对置配置的一对的电极（公共电极CE以及检测电极SE），构成第1电容元件。

第1电容元件的一端与交流信号源连接，另一端经由电阻被接地，并且与图1所示的检测电路20连接。从交流信号源到公共电极CE（电容元件的一端）施加规定的频率（例如数kHz～数十kHz程度）的交流矩形波（传感器驱动信号Tx）时，在检测电极SE（第1电容元件的另一端），出现如图4所示那样的输出波形（传感器检测值Rx）。

在没有接触手指的状态下，伴随对第1电容元件的充放电，与第1电容元件的电容值对应的电流流动。此时的第1电容元件的另一端的电位波形变成例如图4的波形VO那样，该电位波形通过检测电路20被检测。

另一方面，在接触了手指的状态下，成为通过手指形成的第2电容元件串联地追加至第1电容元件的形状。在该状态下，伴随对第1电容元件以及第2电容元件的充放电，电流分别流动。此时的第1电容元件的另一端的电位波形变成例如图4的波形Vl那样，该电位波形通过检测电路20被检测。此时，第1电容元件的另一端的电位成为通过在第1电容元件以及第2电容元件中流动的电流的值而决定的分压电位。因此，波形Vl成为比非接触状态下的波形VO小的值。所以，通过比较传感器检测值Rx与阈值Vth，判断手指的到传感器的接触的有无。

另外，在上述说明中，对检测手指与传感器是否接触的方法进行了说明，但即使在手指没有与传感器接触的状态下，传感器检测值Rx也变化，因此也能进行悬停（hovering）检测等。

在本实施方式中，所谓原始数据是三维信息，该三维信息具有公共电极CE的电极图案（或者电极图案群）与检测电极SE的电极图案交叉的位置坐标，和该位置中的传感器检测值Rx的物理量（电极间电容值或者检测电极电压值）建立对应的信息。

从检测电极SE输出在将传感器驱动信号Tx1施加至电极图案的定时得到的m个传感器检测值Rx1～Rxm所构成的原始数据（称为原始数据Tx#1）。相同地，从检测电极SE输出在将传感器驱动信号Tx2施加至电极图案的定时得到的m个传感器检测值Rxl～Rxm所构成的原始数据（称为原始数据Tx#2）。以后相同地，从检测电极SE输出在1检测期间（1帧期间）在施加传感器驱动信号Txn的定时得到的m个传感器检测值Rx1～Rxm所构成的原始数据（称为原始数据Tx#n）。在本实施方式中，将合并了原始数据Tx#1～Tx#n的原始数据特别地称为原始数据群。

图5为示意性地表示图1所示的电子机器的检测电路20以及显示驱动器30的一结构例的示意框图。

显示驱动器30具备从多个表（Table1，Table2，……）中选择1个表的表选择部TB。在各表中，存储有传感器的检测期间（传感器水平期间TSHD成为H电平的期间），传感器驱动信号Tx的脉冲宽度以及传感器的驱动方法等的值。显示驱动器30选择多个表中的1个并使用所存储的信息，控制图像显示信号Sigx以及传感器驱动信号Tx的定时。例如，在通过传感器检测悬停动作时，以及检测到显示设备的接触时，变更传感器驱动信号Tx的脉冲宽度是所希望的。

检测电路20具备传感器处理部22、同步处理部24、表控制器26、传感器驱动定时控制器28以及数据集处理部DS。

传感器处理部22具备比较器COMP、A/D转换器222、滤波器224以及定时控制器TCON。

比较器COMP从带传感器的显示设备10接收传感器检测值Rx，输出与阈值Ref的差分值。在比较器COMP上，并联地连接有电容与开关SW2。另外，在比较器COMP的前级配置有开关SW1，通过该开关SW1，切换带传感器的显示设备10与电容以及开关SW2的连接。比较器COMP的输出通过切换开关SW2被复位。开关Sw1以及开关SW2的切换通过定时控制器TCON被控制。

A/D转换器222对从比较器COMP输出的值在规定的定时进行采样并且规定期间保持，作为数字信号向滤波器224输出。滤波器224包括例如FIR滤波器等的数字滤波器。在滤波器224的运算中，使用从应用处理器40发送的传感器设定信号（TP setting）所含有的系数（FIR coefficient）。滤波器224将运算处理后的值作为原始数据向数据集处理部DS输出。即，原始数据是从传感器检测值Rx与阈值Ref的差分值中去除了噪声成分的数字数据。

表控制器26基于从应用处理器40接收的表选择信号（Table Sel.），生成表选择请求TRCRQ，向显示驱动器输出。表选择信号（Table Sel.）从应用处理器40向检测电路20以基于串行通信的规格，例如SPI、I2C通信规格的构造被发送。表控制器26将接收的表选择信号（Table Sel.）转换成并行信号并输出。

传感器驱动定时控制器28从应用处理器40接收传感器设定信号（TP setting）。传感器设定信号（TP setting）从应用处理器40向检测电路20以基于串行通信的规格，例如SPI、I2C通信规格的构造被发送。传感器驱动定时控制器28使用传感器设定信号（TPsetting）含有的传感器驱动信号Tx的频率、传感器驱动信号Tx的脉冲数，生成传感器驱动定时信号EXVCOM，向显示驱动器30输出。

另外，优选地，传感器驱动信号Tx的脉冲数以及频率被变更成使用显示驱动器30的各表所存储的传感器的检测期间（水平期间TSHD成为H电平的期间）整体的高度。因此，优选地，应用处理器40与使用的表对应地变更传感器设定信号（TP setting）含有的传感器驱动信号Tx的频率、传感器驱动信号T x的脉冲数的值。

同步处理部24从显示驱动器30接收传感器水平期间TSHD以及传感器垂直期间TSVD，区分驱动第几个电极图案（或者电极图案群），以及帧期间。进而，同步处理部24根据区分出的电极图案以及帧期间，将预先设定的符号、号码等的标识值向数据集处理部DS输出。

数据集处理部DS合并从传感器处理部22接收的原始数据、从应用处理器40接收的传感器设定信号（TP setting）、从显示驱动器30接收的基于表设定TRCST的与显示驱动器30的控制相关的信息、以及从同步处理部24以及传感器处理部22得到的与检测电路20的控制相关的信息，生成数据集Data。关于数据集Data含有的信息，在后叙述。数据集处理部DS将数据集Data向应用处理器40输出。另外，数据集处理部DS以例如SPI、I2C等的基于串行通信规格的构造发送数据集Data。数据集处理部DS在将数据集Data向应用处理器40输出之前，将中断请求信号IRQ向应用处理器40输出。

图6为表示数据集处理部DS生成的数据集Data含有的内容的一例的示意图。

数据集Data根据其含有的原始数据Tx#，包括不同的数据。包括原始数据Tx#1的数据集Data包括原始数据、DDI状态、Touch IC状态、开始标志以及帧索引。帧索引也可以是任意的。原始数据是原始数据Tx#1。DDI状态包括触摸时间、触摸报告速率（显示的分割数）、传感器驱动信号Tx的电压以及传感器驱动信号Tx的脉冲宽度等。DDI状态是与显示驱动器30的控制有关的信息。Touch IC状态包括传感器驱动信号Tx的频率、传感器驱动信号Tx脉冲数以及伴随这些的参数的检测部常量。Touch IC状态是与检测电路20的控制有关的信息。开始标志是表示在1个检测期间中对最初（第1线）所施加的传感器驱动信号Tx1所对应的原始数据Tx#1的标志。帧索引是数据集Data的亏损对策的数据。

另外，包括原始数据Tx#1的数据集Data至少包括原始数据与开始标志即可，也可以不包括DDI状态、Touch IC状态、帧索引。

包括原始数据Tx#2～Tx#n的任意一个的数据集Data包括原始数据（原始数据Tx#2～Tx#n的任意一个）、DDI状态、Touch IC状态、Tx号（Tx number）以及帧索引。DDI状态、Touch IC状态、Tx号以及帧索引也可以是任意的。

另外，数据集Data至少包括原始数据即可，也可以不包括DDI状态、Touch IC状态、Tx号、帧索引。Tx号是表示在1个检测期间中对第几个（第几线）施加的传感器驱动信号Tx所对应的原始数据的标志。Tx号是用于防止数据的掉落的标志。

图7为对检测电路20以H-Sync模式（H-Sync Mode）向应用处理器40输出的数据集Data的输出定时进行说明的示意图。

数据集处理部DS从检测电极SE接受1个检测期间中的最初的原始数据Tx#1时，将中断请求信号IRQ向应用处理器40输出。应用处理器40对中断请求信号IRQ进行响应，要从数据集处理部DS读出数据集Data。数据集处理部DS将包括图6所示的原始数据Tx#1的数据集Data向应用处理器40输出。换言之，数据集处理部DS将原始数据Tx#1（1个检测期间中的最初的检测数据）与开始标志一起向应用处理器40输出。

另外，数据集处理部DS变成在对公共电极CE施加驱动电压Tx2时（换言之，要得到原始数据Tx#2时），将包括原始数据Tx#1的数据集Data向应用处理器40输出。

从数据集处理部DS到应用处理器40的数据集Data的传输时间为例如0.03ms以内。数据集Data的数据尺寸为例如Tx线数×16bit。Rx线数与检测电极SE的电极图案数m对应。

相同地，数据集处理部DS从检测电极SE接受原始数据Tx#2时，将中断请求信号IRQ向应用处理器40输出。应用处理器40对中断请求信号IRQ进行响应，要从检测电路20读出数据集Data。数据集处理部DS将包括图6所示的原始数据Tx#2的数据集Data向应用处理器40输出。

另外，数据集处理部DS向应用处理器40发送IRQ的间隔，换言之，数据集处理部DS向应用处理器40发送数据集Data的间隔（1个Tx期间）为例如0.1ms以上。

相同地，数据集处理部DS从检测电极SE接受1个检测期间中的最后的原始数据Tx#n时，将中断请求信号IRQ向应用处理器40输出。应用处理器40对中断请求信号IRQ进行响应，要从数据集处理部DS读出数据集Data。数据集处理部DS将包括图6所示的原始数据Tx#n的数据集Data向应用处理器40输出。数据集处理部DS以传感器驱动信号Tx为单位，换言之，在每次得到原始数据Tx#1～Tx#n时，依次向应用处理器40输出。

换言之，检测电路20将包括在对公共电极CE施加传感器驱动信号Tx的各定时从检测电极SE的电极图案得到的物理量数据的检测数据（原始数据Tx#1～Tx#n）向应用处理器40输出。

数据集处理部DS对于下一个的1个检测期间的原始数据Tx#1～Tx#n与上述相同，将包括不同的原始数据的数据集Data依次向应用处理器40输出。另外，数据集处理部DS向应用处理器40发送全部的1个检测期间中的原始数据的间隔（从包括原始数据Tx#1的数据集Data的输出开始时开始到包括原始数据Tx#n的数据集Data的输出开始时为止的间隔）为例如8.4ms。

应用处理器40将1个检测期间中的原始数据Tx#1～Tx#n依次保持到存储器中。应用处理器40在1个检测期间中的原始数据Tx#1～Tx#n备齐后，使用包括原始数据Tx#1～Tx#n的原始数据群，执行运算处理（三维数据处理）。

图8以及图9为表示基于原始数据群的三维数据的一例的图。在图8中，表示基于用户的手指不处于传感器的附近时的原始数据群的三维数据的一例。在图9中，表示基于用户的手指等处于传感器的附近时的原始数据群的三维数据的一例。

另外，在图8以及图9中，宽度方向（传感器驱动信号Tx的扫描方向）与进深方向作为位置坐标，高度方向作为物理量，对原始数据群进行绘图。

应用处理器40使用通过运算处理得到的三维数据执行各种应用的处理（App.layer）。

另外，在1个检测期间中的原始数据Tx#1～Tx#n中至少1个原始数据具有缺损的情况下，应用处理器40也可以设为不利用1检测期问中的全部的原始数据（原始数据Tx#1～Tx#n）。这是为了防止应用处理器40由于原始数据的缺乏而进行误检测。

根据本实施方式，提高了检测电路20的向应用处理器40的数据传输的效率，改善了等待时间（latency）。另外，根据本实施方式，检测电路20能够以简单的结构将包括原始数据Tx#1～Tx#n的任意一个的数据集Data依次向应用处理器40输出。检测电路20不必将原始数据Tx#1～Tx#n依次保持到存储器。因此，不必增大检测电路20内的存储器的容量。

进一步地，在1个检测期间中的最后从检测电路20向应用处理器40输出的数据集Data含有的原始数据只是原始数据Tx#n。因此，应用处理器40能够一接收到原始数据Tx#n，立即使用原始数据群开始运算处理。

换言之，从检测电路20开始1个检测期间中的最后的数据集Data的发送时开始到应用处理器40使用原始数据群开始运算处理为止的时间，与将原始数据Tx#1～原始数据Tx#n全部作为1个数据集Data，从检测电路20开始发送时开始到应用处理器40使用该1个数据集Data开始运算处理为止的时间相比变短。作为结果是，应用处理器40能够快速地进行显示画面的更新。

进一步地，应用处理器40能够并非使用通过传感器检测的坐标，而是使用包括三维信息的原始数据群执行运算处理，使用三维数据执行各种应用，该三维信息包括坐标位置与物理量。因此，能够期待电子机器的性能提升。即使传感器是高解析度，本实施方式也不必对检测电路20进行特别的结构上的变更，也能够应用。如上所述，能够提供通用性高的电子机器以及电子机器的控制方法。

另外，在本实施方式中，应用处理器40的结构可以以硬件来实现，也可以以软件来实现。

另外，在上述的说明中，对带传感器的显示设备具备液晶显示设备作为显示设备的结构进行了说明，也可以是具备有机电激发光显示设备等其他的显示设备的结构。

另外，在图2等所示的例子中，对液晶显示设备是像素电极PE以及公共电极CE的双方配备到阵列基板AR的结构，即，IPS（In-Plane Switching）模式、FFS（Fringe FieldSwitching）模式等的主要利用横电场（也包括边缘电场）的结构进行了说明，但液晶显示设备的结构不限于此。也可以是至少像素电极PE配备到阵列基板AR，公共电极CE配备到阵列基板AR以及对置基板CT的任意一个上。

在TN（Twisted Nematic）模式，OCB（Optically Compensated Bend）模式，VA（Vertical Aligned）模式等的主要利用纵电场的结构的情况下，公共电极CE配备到对置基板CT。换言之，配置有公共电极CE的位置也可以是构成TFT基板12的绝缘基板与构成对置基板CT的绝缘基板14之间。

对本发明的几个实施方式进行了说明，但这些实施方式是作为例子而提出的，并没有意图限定发明的范围。这些实施方式可以以其他各种方式进行实施，在不超出发明主旨的范围内，可进行各种省略、调换以及变更。这些实施方式及其变形包括在发明的范围和主旨内，同样，也包括在权利要求所记载的发明和与其等同的范围内。

Claims (6)

1.一种电子机器，包括：

显示设备，具备：多个第1电极，配置成矩阵状；第2电极，与上述第1电极对置配置，包括沿着第1方向延伸并且在与上述第1方向交叉的第2方向上排列配置的多个电极图案；以及第3电极，与上述第2电极对置配置，包括沿着上述第2方向延伸并且在上述第1方向上排列配置的多个电极图案；

显示驱动器，将传感器驱动信号施加到上述第2电极；

检测电路，发送包括物理量数据的检测数据，该物理量数据是在对上述第2电极施加上述传感器驱动信号的每个定时从上述第3电极的多个电极图案检测出的数据；以及

应用处理器，处理从上述检测电路接收到的上述检测数据，

上述检测电路在检测来自上述第3电极的多个电极图案的新的检测数据的期间，将前次检测出的检测数据向上述应用处理器发送。

2.如权利要求1记载的电子机器，

上述检测电路将1个检测期间中的最初的检测数据与表示是最初的检测数据的开始标志一起发送。

3.如权利要求2记载的电子机器，

上述检测数据具有表示上述第2电极的多个电极图案与上述第3电极的多个电极图案交叉的位置的多个位置坐标，以及与各个上述位置坐标建立了对应的电压值数据。

4.如权利要求3记载的电子机器，

上述应用处理器在接收到1个检测期间中的检测数据群后，处理上述1个检测期间的量的检测数据群。

5.一种电子机器的控制方法，

该电子机器包括：

显示设备，具备：多个第1电极，配置成矩阵状；第2电极，与上述第1电极对置配置，包括沿着第1方向延伸并且在与上述第1方向交叉的第2方向上排列配置的多个电极图案；以及第3电极，与上述第2电极对置配置，包括沿着上述第2方向延伸并且在上述第1方向上排列配置的多个电极图案；

显示驱动器，将传感器驱动信号施加到上述第2电极；以及

检测电路，在对上述第2电极施加上述传感器驱动信号的定时，从上述第3电极的多个电极图案检测物理量数据，

上述控制方法中，将包括在对上述第2电极施加上述传感器驱动信号的每个定时检测出的上述物理量数据的检测数据向应用处理器发送，

上述检测电路在检测来自上述第3电极的多个电极图案的新的检测数据的期间，将前次检测出的检测数据向上述应用处理器发送。

6.如权利要求5记载的控制方法，

将1个检测期间中的最初的检测数据与表示是最初的检测数据的开始标志一起向上述应用处理器输出。