CN104062473A - 用于fpc光学芯片模组的测试插座 - Google Patents

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CN104062473A
CN104062473A CN201410314251.7A CN201410314251A CN104062473A CN 104062473 A CN104062473 A CN 104062473A CN 201410314251 A CN201410314251 A CN 201410314251A CN 104062473 A CN104062473 A CN 104062473A
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CN201410314251.7A
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朱小刚
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SUZHOU CHUANGRUI MACHINERY AND ELECTRICAL TECHNOLOGY Co Ltd
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SUZHOU CHUANGRUI MACHINERY AND ELECTRICAL TECHNOLOGY Co Ltd
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Abstract

本发明提供一种用于FPC光学芯片模组的测试插座,所述FPC光学芯片模组包括镜头模块和连接器,所述镜头模块通过柔性线路板与所述连接器连接,所述测试插座至少包括:一上盖主体和一底座,所述上盖主体压在所述底座上,所述上盖主体上设有镜头模块容纳腔,所述底座上设有连接器容纳腔,所述连接器容纳腔的底部设有探针,所述探针与转接PCB板连接,所述上盖主体上还设有一调焦环安装孔,所述调焦环安装孔上安装有一调焦环,所述调焦安装孔的位置与所述镜头模块容纳腔位置相对应。采用该FPC光学芯片模组可有效提高检测的精度和速度,每小时的测试量高于1KPCS。

Description

用于FPC光学芯片模组的测试插座
技术领域
本发明涉及一种芯片模组测试插座,特别涉及一种用于FPC光学芯片模组的测试插座。
背景技术
FPC光学芯片模组(Flexible-Printed-Circui)是随着电路集成和光学集成而应运而生的一种光感芯片模组,其被广泛的应用在手机、电脑、照相机,摄像机等领域。目前由于大多数的光学芯片模组都是采用加载柔性线路板进行SMT组装,即包括镜头模块和连接器,镜头模块和连接器通过柔性线路板连接,其结构上相对比较复杂。其产品测试过程即要求连接器的接触稳定,又要求镜头焦距可调且固定确实。
现有带连接器的FPC模组测试插座结构一般是在转接PCB板上安装连接器进行检测,其结构虽能保证信号的正常传输,但在测试过程中,容易对产品造成损伤,同时对于大批量测试而言,反复的插拔也容易造成转接PCB板上连接器的损坏,大大降低了检具寿命;另一类在通过转接PCB板在稳定性较差,同时测试寿命大大降低。目前市场上也有的测试插座会采用SEMI-CONTACTOR探针(POGO PIN)进行检测,由于连接器上测试点的尺寸不稳定,在探针接触时经常出现信号采集不稳定,可靠性上存在很大的问题,测试效率不高。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种可靠性好、测试效率高的用于FPC光学芯片模组的测试插座。
为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种用于FPC光学芯片模组的测试插座,所述FPC光学芯片模组包括镜头模块和连接器,所述镜头模块通过柔性线路板与所述连接器连接,所述测试插座至少包括:一上盖主体和一底座,所述上盖主体压在所述底座上,所述上盖主体上设有镜头模块容纳腔,所述底座上设有连接器容纳腔,所述连接器容纳腔的底部设有探针,所述探针与转接PCB板连接,所述上盖主体上还设有一调焦环安装孔,所述调焦环安装孔上安装有一调焦环,所述调焦安装孔的位置与所述镜头模块容纳腔位置相对应。
优选地,所述上盖主体与所述底座的一端铰接,所述上盖主体与所述底座的另一端通过卡扣固定连接。
优选地,所述镜头模块容纳腔内设有镜头模块压板。
优选地,所述上盖主体上设有连接器压板,所述连接器压板与所述连接器容纳腔位置相对应。
优选地,所述连接器容纳腔内还设有一浮动板,所述浮动板的底部设有浮动弹簧,所述探针可活动的穿过所述浮动板。
如上所述,本发明的用于FPC光学芯片模组的测试插座具有以下有益效果:该FPC光学芯片模组在使用时,可首先将镜头模块和连接器分别放置在镜头模块容纳腔和连接器容纳腔内,通过上盖主体与底座将其压紧,这样就能使镜头模块和连接器压紧固定,从而方便对FPC光学芯片模组进行检测。采用该FPC光学芯片模组可有效提高检测的精度和速度,每小时的测试量高于1KPCS。
附图说明
图1为本发明实施例的结构示意图。
图2为本发明实施例中FPC光学芯片模组的结构示意图。
元件标号说明
1、卡扣 2、上盖主体 3、调焦环 4、镜头模块压板 5、连接器压板 6、底座 7、转接PCB板 8、连接器固定件 9、底板 10、探针 11、浮动板 12、FPC光学芯片模组121、镜头模块 122、柔性线路板 123、连接器 13、销轴
具体实施方式
以下由特定的具体实施例说明本发明的实施方式,熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点及功效。
请参阅图1、2。须知,本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等,均仅用以配合说明书所揭示的内容,以供熟悉此技术的人士了解与阅读,并非用以限定本发明可实施的限定条件,故不具技术上的实质意义,任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整,在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下,均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。同时,本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语,亦仅为便于叙述的明了,而非用以限定本发明可实施的范围,其相对关系的改变或调整,在无实质变更技术内容下,当亦视为本发明可实施的范畴。
如图1所示,本发明提供一种用于FPC光学芯片模组的测试插座,该测试插座包括一上盖主体2和一底座6,上盖主体2位于底座6的上方,上盖主体2压在底座6上。作为一种优选方式,上盖主体2的一端与底座6的一端通过销轴13铰接,上盖主体2与底座6的另一端通过卡扣1固定连接,这样在进行测试时,只需锁紧卡扣1就可将FPC光学芯片模组放入插座内进行测试,测试完成后只需打开卡扣1就可非常方便的将FPC光学芯片模组从插座内取出。
在上盖主体2上设有镜头模块容纳腔,镜头模块容纳腔用于放置FPC光学芯片模组的镜头模块121,FPC光学芯片模组由镜头模块121、连接器123两部分组成,镜头模块121与连接器123之间通过柔性线路板122连接(如图2所示)。在底座6上设有连接器容纳腔,连接器容纳腔内用于放置FPC光学芯片模组12的连接器123。在连接器容纳腔的底部设有探针10,探针10与转接PCB板7连接,由探针10检测到的信号可通过转接PCB板7向外传输。在上盖主体2上还设有一调焦环安装孔,调焦环安装孔上安装有一调焦环3,调焦安装孔的位置与镜头模块容纳腔位置相对应,调焦环3用于调节镜头模块121的焦距。
为了能使镜头模块121、连接器123在各自的容纳腔内充分固定,在镜头模块容纳腔内设有镜头模块压板4,在上盖主体2上设有连接器压板5,连接器压板5与连接器容纳腔位置相对应,连接器容纳腔内还设有连接器的连接器固定件8。镜头模块压板4、连接器压板5和连接器固定件8均采用TORLON4203材料,使得防静电等级达到:1014Ohm cm等级,连接器固定件8的底部设有底板9。
为了能使探针10与连接器123上的管脚充分接触,在连接器容纳腔内还设有一浮动板11,浮动板11的底部设有浮动弹簧,探针10可活动的穿过浮动板。这样浮动板11可根据压力的大小及弹簧的参数上下浮动,从而可确保探针11与管脚充分接触,同时可放在探针插破管脚。
如上所述,本发明的用于FPC光学芯片模组的测试插座具有以下有益效果:该FPC光学芯片模组在使用时,可首先将镜头模块和连接器分别放置在镜头模块容纳腔和连接器容纳腔内,通过上盖主体与底座将其压紧,这样就能使镜头模块和连接器压紧固定,从而方便对FPC光学芯片模组进行检测。采用该FPC光学芯片模组可有效提高检测的精度和速度,每小时的测试量高于1KPCS。所以,本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效,而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下,对上述实施例进行修饰或改变。因此,举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变,仍应由本发明的权利要求所涵盖。

Claims (5)

1.一种用于FPC光学芯片模组的测试插座,所述FPC光学芯片模组包括镜头模块和连接器,所述镜头模块通过柔性线路板与所述连接器连接,其特征在于,所述测试插座至少包括:一上盖主体和一底座,所述上盖主体压在所述底座上,所述上盖主体上设有镜头模块容纳腔,所述底座上设有连接器容纳腔,所述连接器容纳腔的底部设有探针,所述探针与转接PCB板连接,所述上盖主体上还设有一调焦环安装孔,所述调焦环安装孔上安装有一调焦环,所述调焦安装孔的位置与所述镜头模块容纳腔位置相对应。
2.根据权利要求1所述的用于FPC光学芯片模组的测试插座,其特征在于:所述上盖主体与所述底座的一端铰接,所述上盖主体与所述底座的另一端通过卡扣固定连接。
3.根据权利要求1所述的用于FPC光学芯片模组的测试插座,其特征在于:所述镜头模块容纳腔内设有镜头模块压板。
4.根据权利要求1所述的用于FPC光学芯片模组的测试插座,其特征在于:所述上盖主体上设有连接器压板,所述连接器压板与所述连接器容纳腔位置相对应。
5.根据权利要求1所述的用于FPC光学芯片模组的测试插座,其特征在于:所述连接器容纳腔内还设有一浮动板,所述浮动板的底部设有浮动弹簧,所述探针可活动的穿过所述浮动板。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113030523A (zh) * 2021-03-04 2021-06-25 西安微电子技术研究所 一种用于光学成像微系统模块的老化测试插座

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