CN104062351A - 一种改进的磁环测试装置 - Google Patents

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顾肖红
章隆泉
陈伟新
肖运根
过俊宏
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Abstract

本发明公开了一种改进的磁环测试装置，包括通过伸缩导柱连接的上盖板和下盖板，所述上盖板和下盖板均均匀设置有若干个滑槽；上盖板上的每个滑槽内均设置有一个插针；下盖板上的每个滑槽内均设置有一个第一固定柱；每个第一固定柱内均设置有与插针相配合的能上下移动的插槽，每个插槽的底部均设置有一个弹簧。采用上述结构后，上述每个插针和带有插槽的每个第一固定柱均能在相应的滑槽内滑动，故能适应不能外径或不同内径规格的磁环的固定与测量。上述插槽能在弹簧的带动下，在相应的第一固定柱内上下移动，故能适应不同厚度规格的磁环的固定与测量，从而通用性强。另外，伸缩导柱能使上盖板和下盖板自动对位，测试数据准确，测试效率高。

Description

一种改进的磁环测试装置
技术领域
本发明涉及一种铁氧体磁心生产中的检验装置，特别是一种改进的磁环测试装置。
背景技术
2010年12月29日公布的申请号为201020140997.8号的中国实用新型专利，该专利公开了一种磁环测试装置。该测试装置包括上盖板、下盖板和两个防护皮套，所述上盖板上沿同一圆心不同半径的两个圆周方向设置有多个插针，下盖板上设置有与插针相配合的若干个插槽，每个外圈插针和内圈插针通过设置在插针根部的导线连接，相对应的两个插槽根部也用导线连接，形成一个完整的单根通路。
上述测试装置确实解决了同一种磁环绕线测试困难的技术问题，带来了有益的技术效果，但也存在着如下不足:
1.通用性不强，同一种测试装置只能适应一种规格的磁环，对于外径或内径不同尺寸的磁环，以及厚度尺寸不同的磁环来说，均必须再制作与其相对应的测试装置。同一生产厂家，磁环规格众多，多则有上千种，每种规格均制作一套测试装置，一方面需要投入较高的制作成本以及较长的制作周期，另一方面也带来存储和使用困难，容易错拿和错用，使用极不方便。
2. 插针和插槽多次使用后易磨损，导致接触不良，测试数据不准确。如果其中一根插针或插槽磨损，将使整个测试装置报废，造成了严重的浪费。
3. 每次测试前，需要操作人员将带有插针的上盖与带有插槽的下盖进行配合，而插针和插槽数量多，每个都准确配合，需要较长时间，测试效率低下，另外，还需出现个别插针与插槽配合不良的现象，导致测试数据不准确。
发明内容
本发明要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足，而提供一种通用性强、测试数据准确、测试效率高的改进的磁环测试装置。
为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：
一种改进的磁环测试装置，包括绝缘的上盖板和绝缘的下盖板，所述上盖板的一侧和下盖板的一侧均沿同一圆心不同半径的两个圆周方向上均匀设置有若干个滑槽，每个滑槽的长度方向均与半径同向；位于上盖板上的每个滑槽内均设置有一个可在滑槽内滑动并固定的插针，每个外圈的插针和其相邻的内圈的插针通过导线相连接；位于下盖板上的每个滑槽内均设置有一个可在滑槽内滑动并固定的第一固定柱，每个外圈的第一固定柱和其相邻的内圈的第一固定柱通过导线相连接；每个第一固定柱内均设置有与插针相配合的插槽，每个插槽的底部均设置有一个弹簧，每个插槽能在相对应的第一固定柱内上下移动。
所述上盖板和下盖板通过伸缩导柱相连接。
所述伸缩导柱上设置有位移传感器。
所述每个插针均包括与相应滑槽滑动连接的第二固定柱和与第二固定柱可拆卸连接的针头。
所述上盖板和下盖板的厚度大于2cm。
本发明采用上述结构后，上述每个插针和带有插槽的每个第一固定柱均能在相应的滑槽内滑动，故能适应不能外径或不同内径规格的磁环的固定与测量。上述插槽能在弹簧的带动下，在相应的第一固定柱内上下移动，故能适应不同厚度规格的磁环的固定与测量，从而通用性强。另外，伸缩导柱能使上盖板和下盖板自动对位，对位准确，测试数据准确，测试效率高。进一步，插针包括可拆卸的针头，可直接将磨损的针头进行更换，从而提高了本装置的使用寿命。
附图说明
图1是本发明一种改进的磁环测试装置的结构示意图；
图2是图1中下盖板的俯视图。
其中有：1.上盖板；2.下盖板；3.伸缩导柱；4.滑槽；5.插针；6.第一固定柱；7.弹簧；8.插槽；9.位移传感器。
具体实施方式
下面结合附图和具体较佳实施方式对本发明作进一步详细的说明。
如图1所示，一种改进的磁环测试装置，包括绝缘的上盖板1和绝缘的下盖板2，上盖板1和下盖板2优选通过伸缩导柱3相连接，伸缩导柱3上设置有位移传感器9。该位移传感器9能对伸缩导柱3的升降高度进行检测。上盖板1和下盖板2的厚度优选均大于2cm，这样，在不影响绝缘性能的同时，也将便于后续滑槽4的设置。
如图1和图2所示，上盖板1的一侧和下盖板2的一侧均沿同一圆心不同半径的两个圆周方向上均匀设置有若干个滑槽4，每个滑槽4的长度方向均与半径同向。滑槽4的设置数量可根据实际需要进行设置。
位于上盖板1上的每个滑槽4内均设置有一个可在滑槽4内滑动并固定的插针5，每个插针5优选均包括与相应滑槽4滑动连接的第二固定柱和与第二固定柱可拆卸连接的针头。这样，当个别插针5出现磨损，导致测试数据不准确时，可直接将磨损的针头进行更换，从而提高了本装置的使用寿命。
位于下盖板2上的每个滑槽4内均设置有一个可在滑槽4内滑动并固定的第一固定柱6，每个第一固定柱6内均设置有与插针5相配合的插槽8，每个插槽8的底部均设置有一个弹簧7，每个插槽8能在相对应的第一固定柱6内上下移动。
另外，每个外圈的插针5和其相邻的内圈的插针5通过导线相连接；每个外圈的第一固定柱6和其相邻的内圈的第一固定柱6通过导线相连接；从而形成一个完整的单根通路，并用引线连接，引线图中未示出。
使用前，先根据测试要求，对插针5的针头和第一固定柱6进行安装和拆卸操作，以选择合适的数量。
使用时，先根据待测试磁环的内、外尺寸值，将下盖板2上的每个第一固定柱6以及上盖板1上的插针5均在滑槽4内滑动至合适位置，后将待测试磁环放置在两圈第一固定柱6之间。然后，伸缩导柱3下降，使上盖板1带动插针5下降，使每个插针5与相应的插槽8相匹配，弹簧7能自动调整插槽8的高度，以适应不同厚度的待测试磁环。

Claims (5)

1.一种改进的磁环测试装置，包括绝缘的上盖板（1）和绝缘的下盖板（2），其特征在于：所述上盖板（1）的一侧和下盖板（2）的一侧均沿同一圆心不同半径的两个圆周方向上均匀设置有若干个滑槽（4），每个滑槽（4）的长度方向均与半径同向；位于上盖板（1）上的每个滑槽（4）内均设置有一个可在滑槽（4）内滑动并固定的插针（5），每个外圈的插针（5）和其相邻的内圈的插针（5）通过导线相连接；位于下盖板（2）上的每个滑槽（4）内均设置有一个可在滑槽（4）内滑动并固定的第一固定柱（6），每个外圈的第一固定柱（6）和其相邻的内圈的第一固定柱（6）通过导线相连接；每个第一固定柱（6）内均设置有与插针（5）相配合的插槽（8），每个插槽（8）的底部均设置有一个弹簧（7），每个插槽（8）能在相对应的第一固定柱（6）内上下移动。
2.根据权利要求1所述的改进的磁环测试装置，其特征在于：所述上盖板（1）和下盖板（2）通过伸缩导柱（3）相连接。
3.根据权利要求2所述的改进的磁环测试装置，其特征在于：所述伸缩导柱（3）上设置有位移传感器（9）。
4.根据权利要求1所述的改进的磁环测试装置，其特征在于：所述每个插针（5）均包括与相应滑槽（4）滑动连接的第二固定柱和与第二固定柱可拆卸连接的针头。
5.根据权利要求1所述的改进的磁环测试装置，其特征在于：所述上盖板（1）和下盖板（2）的厚度均大于2cm。
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