CN103995523A - 检测设备事件的电子设备及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种检测设备事件的电子设备及方法。电子设备包括：控制单元，用于输出同步输出控制信号和同步扫描控制信号；与至少一个待检测设备和控制单元相连的检测单元，用于在同步扫描控制信号的控制下，检测所连接的各待检测设备的事件，并将所检测的结果予以保存；其中，检测单元的数量为多个，且各检测单元通过级联方式与控制单元相连；各检测单元在同步输出控制信号的控制下，将所检测的结果逐级地输出至控制单元。本发明将检测多个设备事件的检测单元通过级联的方式连接至控制单元，只需一个接口就能连接任意多个检测单元，使得检测单元的数量能够按实际需求任意增减，而不必再受控制单元的接口数量的限制。
Description
技术领域
本发明涉及一种检测设备事件技术，特别是涉及一种检测设备事件的电子设备及方法。
背景技术
随着现代电子技术的发展，特别在工业类行业，一个工业用电子设备通常配置大量接口，以便随时增减电子设备所需的硬件设备。为了确保硬件设备在电子设备上能够正常运转，该电子设备需要进行设备事件的检测。
目前的设备检测方式是每个接口对应一个检测单元，该检测单元通过通用输入输出接口与处理器相连。当设备增加时，所需的通用输入输出接口也随之增加。由此可见，若设备检测事件变多，则需要占用处理器大量的通用输入输出接口，消耗处理器大量的资源；同时，从可靠性方面性能不好，容易损坏产品，很不利于产品的生命周期和原理图的设计。因此，需要为了应对工业用电子设备中硬件设备的增加所带来的事件检测的增多，需要对现有技术进行改进。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种检测设备事件的电子设备及方法，用于解决现有技术中设备事件检测数量的增加所带来的处理器的接口不够用、处理器资源消耗过大等问题。
为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种检测设备事件的电子设备，包括：控制单元，用于输出同步输出控制信号和同步扫描控制信号；与至少一个待检测设备和所述控制单元相连的检测单元，用于在所述同步扫描控制信号的控制下，检测所连接的各所述待检测设备的事件，并将所检测的结果予以保存；其中，所述检测单元的数量为多个，且各所述检测单元通过级联方式与所述控制单元相连；各所述检测单元在所述同步输出控制信号的控制下，将所检测的结果逐级地输出至所述控制单元。
优选地，所述控制单元通过通用输入输出端口与所述检测单元相连。
优选地，所述控制单元包括：同步输出控制接口和同步扫描控制接口。
优选地，所述检测单元包括：与每个待检测设备和所述同步扫描控制接口相连的检测模块，与所述检测模块和所述同步输出控制接口相连的移位存储器，以及与所述移位存储器相连、且用于级联的数据读/写端。
优选地，所述检测单元用于检测所连接的待检测设备所输出的电信号，以确定所连接的各待检测设备是否发生事件。
优选地，所述电子设备还包括：与每个所述检测单元相连的同步时钟源，用于输出时钟信号；所述检测单元还用于在接收到所述同步输出控制信号后，按照所述时钟信号的周期同步地将所保存的检测结果输出至级联的下一级。
基于上述目的，本发明还提供一种检测设备事件的方法，所述检测方法适用于包含多个检测单元、和与每个检测单元相连的控制单元的电子设备中，其中，所述检测单元连接至少一个待检测设备，各所述检测单元通过级联方式与所述控制单元相连，所述检测方法包括：各所述检测单元在所述控制单元所输出的同步扫描控制信号的控制下，检测所连接的各待检测设备的事件，并将所检测的结果予以保存；各所述检测单元在所述控制单元所输出的同步输出控制信号的控制下，将保存在多个所述检测单元中的各检测结果逐级地输送至所述控制单元。
优选地，所述检测单元检测所连接的各待检测设备的事件的方式包括：检测所连接的待检测设备所输出的电信号，以确定所连接的各待检测设备是否发生事件；
优选地，所述电子设备还包括：与每个所述检测单元相连的同步时钟源；则所述检测方法还包括：在所述同步输出控制信号的控制下，在接收到所述同步输出控制信号后，按照所述同步时钟源所提供的时钟信号的周期同步地将所保存的检测结果输出至级联的下一级。
如上所述，本发明的检测设备事件的电子设备及方法，具有以下有益效果：将检测多个设备事件的检测单元通过级联的方式连接至控制单元，只需一个接口就能连接任意多个检测单元，使得检测单元的数量能够按实际需求任意增减，而不必再受控制单元的接口数量的限制；同时，由于串行传输各设备事件，有效解决并行传输所带来的控制单元的负担过重的问题。
附图说明
图1显示为本发明的检测设备事件的电子设备的结构示意图。
图2显示为本发明的检测设备事件的电子设备的一种优选方式的结构示意图。
图3显示为本发明的检测设备事件的方法的流程图。
具体实施方式
以下由特定的具体实施例说明本发明的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点及功效。
请参阅图1。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本发明可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。
如图1所示，本发明提供一种检测设备事件的电子设备。其中，所述设备2包括任何能够安装或连接在所述电子设备上的硬件，其包括但不限于：板卡等。所述事件是指：所述设备在使用时出现异常的情况，其包括但不限于：接触异常、供电异常等。所述电子设备可以是专门用于检测设备事件的设备，也可以是安装有待检测设备的电子设备。例如，所述电子设备包括但不限于：安装有多个板卡的工业设备等。
所述电子设备1包括：控制单元11、检测单元12。
所述控制单元11包括控制端和输入端。其中，所述控制单元11用于通过所述控制端输出用于控制各所述检测单元12检测设备事件的同步扫描控制信号和输出用于控制各所述检测单元12输出所检测到的设备事件检测结果的同步输出控制信号。其中，所述控制单元11包括但不限于：内置有CPU的芯片或电路，或者包含触发器、同步时钟的集成电路。其中，所述同步扫描控制信号和同步输出控制信号可以是用电平表示的模拟信号，也可以是数字信号。其中，所述控制端可以是一个接口，优选地，所述控制端包括：同步输出控制接口和同步扫描控制接口。所述输入端优选为通用输入输出接口。
例如，所述控制单元11按照预设的时序规则，每隔预设的时间间隔输出同步扫描控制信号至各所述检测单元12，再按照内置的同步时钟周期所提供的节奏输出多个同步输出控制信号至各所述检测单元12。
所述检测单元12与至少一个待检测设备相连，用于在所述同步扫描控制信号的控制下，检测所连接的各所述待检测设备的事件，并将所检测的结果予以保存。其中，所述检测单元12通过接口与所述待检测设备相连，所述检测单元12可以与多个接口相连，以检测多个待检测设备。所述检测单元12的数量为多个。每个所述检测单元12还与所述控制端相连，各所述检测单元12还通过级联方式与所述控制单元11的输入端相连。例如，所述电子设备包括三个检测单元A1、A2、A3和控制单元B，检测单元A1连接检测单元A2，检测单元A2连接检测单元A3，检测单元A3与控制单元B相连。
其中，所述检测单元检测待检测设备的事件的方式包括但不限于：通过向待检测设备发送检测指令来检测设备事件。
优选地，所述检测单元检测所连接的待检测设备所输出的电信号，以确定所连接的各待检测设备是否发生事件。
例如，检测单元A1在接收到所述同步扫描控制信号时，检测连接所述待检测设备的接口的电源引脚的电信号为低电平，则所述检测单元A1检测认定所述待检测设备有供电异常的事件发生，并将供电异常的检测结果予以保存。
接着，在多个同步输出控制信号的控制下，每个所述检测单元12将所保存的各设备事件的检测结果逐级输出，以串行的方式逐个的将各待检测设备的检测结果输送至所述控制单元11。
优选地，所述检测单元12包括：与每个待检测设备和所述同步扫描控制接口相连的检测模块，与所述检测模块和所述同步输出控制接口相连的移位存储器，以及与所述移位存储器相连、且用于级联的数据读/写端(均未予图示)。
其中，所述检测模块可以是用于检测电平信号跳变的集成电路或芯片等。所述移位存储器可以是移位寄存器、或可读写的ROM芯片等。所述数据读/写端可以是通用输入输出接口、或其他串行接口等。
例如，N个所述检测单元12，每个检测单元12检测M个设备，其中，M和N均为大于1的整数，在所述同步扫描控制信号的控制下，每个所述检测单元12中的检测模块通过检测所连接的接口的电平值来检测各自的设备是否有事件产生，并将检测结果输送至所述移位存储器；当所述移位存储器接收到同步输出控制信号时，第n个检测单元12中的移位存储器将所保存的各设备的检测结果通过彼此相连的数据读/写端输送至第(n+1)检测单元12的移位存储器中，其中，1<n<N，第N个检测单元12中的移位存储器中的检测结果输送至所述控制单元11的输入端。
作为一种优选方案，如图2所示，所述电子设备还包括：与每个所述检测单元12相连的同步时钟源，用于输出时钟信号。
所述检测单元12还用于在接收到所述同步输出控制信号后，按照所述时钟信号的周期同步地将所保存的检测结果输出至级联的下一级。
例如，所述电子设备中包含检测单元A1、A2、A3，其中，检测单元A1、A2和A3依次级联，并由检测单元A3连接至控制单元11的输入端。
当所述检测单元A1、A2、A3在接收到控制单元11所输出同步输出控制信号后的第一个时钟信号上跳变沿时，同步地将所保存的检测结果a1、a2和a3依次输出至检测单元A2、检测单元A3和所述控制单元11，其中，检测单元A1输出检测结果后将自身的移位存储器清零；
在第二个时钟信号上跳变沿时，同步地将所保存的检测结果0、a1、a2依次输出至检测单元A2、检测单元A3和所述控制单元11；
在第三个时钟信号上跳变沿时，同步地将所保存的检测结果0、0、a1依次输出至检测单元A2、检测单元A3和所述控制单元11，则所有检测结果输出完成。
所述电子设备1的工作过程举例如下：
所述电子设备1中的控制单元11按照预设的时序规则，先通过同步扫描控制接口向各检测单元12发送同步扫描控制信号，各检测单元12中的检测模块根据所述同步扫描控制信号检测连接待检测设备的接口的电信号，以确定是否产生事件(如连接异常等情况)，并将所检测的结果输送至所述检测单元12中的移位存储器，所述控制单元11在若干个同步时钟周期之后(即确保各检测单元12已检测完毕)，通过同步输出控制接口向各检测单元12发送多个同步输出控制信号，则各所述检测单元12中的移位存储器按照在每个同步输出控制信号的控制下将一个设备的检测结果通过数据读写端输送至下一级的移位存储器，最后一级的移位存储器将一个设备的检测结果通过通用输入输出接口输送至所述控制单元11，所述控制单元11根据预设的所述设备的数量发送多个同步输出控制信号，由此来接收所检测的每个设备的事件。
需要说明的是，本领域技术人员应该理解，当所述检测单元连接多个待检测设备时，可以在同步输出控制信号的控制下，一次性的将多个检测结果输出至下一级；还可以逐个的输出至下一级，同时，将上一级所接收的检测结果补充至自身的移位存储器中。
如图3所示，本发明还提供一种检测设备事件的方法。所述检测方法主要由如上各实施例中的电子设备中的控制单元和检测单元来执行。
在步骤S1中，各所述检测单元在所述控制单元所输出的同步扫描控制信号的控制下，检测所连接的各待检测设备的事件，并将所检测的结果予以保存。其中，所述事件是指：所述设备在使用时出现异常的情况，其包括但不限于：接触异常、供电异常等。
例如，所述控制单元按照预设的时序规则，每隔预设的时间间隔输出同步扫描控制信号至各所述检测单元，各所述检测单元基于所述同步扫描控制信号来检测待检测设备。
其中，所述检测单元检测待检测设备的事件的方式包括但不限于：通过向待检测设备发送检测指令来检测设备事件。
优选地，所述检测单元检测所连接的待检测设备所输出的电信号，以确定所连接的各待检测设备是否发生事件。
例如，检测单元A1在接收到所述同步扫描控制信号时，检测连接所述待检测设备的接口的电源引脚的电信号为低电平，则所述检测单元A1检测认定所述待检测设备有供电异常的事件发生，并将供电异常的检测结果予以保存。
在步骤S2中，各所述检测单元在所述控制单元所输出的同步输出控制信号的控制下，将保存在多个所述检测单元中的各检测结果逐级地输送至所述控制单元。
具体地，所述控制单元可以按照预设的时间间隔输出多个同步输出控制信号，在每个同步输出控制信号的控制下，各所述检测单元将所保存的各设备事件的检测结果逐级输出，以串行的方式逐个的将各待检测设备的检测结果输送至所述控制单元。
例如，所述电子设备中包含检测单元A1’、A2’、A3’，其中，检测单元A1’、A2’和A3’依次级联，并由检测单元A3’连接至控制单元的输入端。
当所述检测单元A1’、A2’、A3’在接收到控制单元所输出第一个同步输出控制信号时，同步地将所保存的检测结果A1’、A2’和A3’依次输出至检测单元A2’、检测单元A3’和所述控制单元，其中，检测单元A1’输出检测结果后将自身的移位存储器清零；
在接收到控制单元所输出第二个同步输出控制信号时，同步地将所保存的检测结果0、A1’、A2’依次输出至检测单元A2’、检测单元A3’和所述控制单元；
在接收到控制单元所输出第三个同步输出控制信号时，，同步地将所保存的检测结果0、0、A1’依次输出至检测单元A2’、检测单元A3’和所述控制单元，则所有检测结果输出完成。
作为一种优选方案，所述电子设备还包括：与每个所述检测单元12相连的同步时钟源，用于输出时钟信号。
所述检测单元12还用于在接收到所述同步输出控制信号后，按照所述时钟信号的周期同步地将所保存的检测结果输出至级联的下一级。
例如，所述电子设备中包含检测单元A1、A2、A3，其中，检测单元A1、A2和A3依次级联，并由检测单元A3连接至控制单元的输入端。
当所述检测单元A1、A2、A3在接收到控制单元所输出同步输出控制信号后的第一个时钟信号上跳变沿时，同步地将所保存的检测结果a1、a2和a3依次输出至检测单元A2、检测单元A3和所述控制单元，其中，检测单元A1输出检测结果后将自身的移位存储器清零；
在第二个时钟信号上跳变沿时，同步地将所保存的检测结果0、a1、a2依次输出至检测单元A2、检测单元A3和所述控制单元；
在第三个时钟信号上跳变沿时，同步地将所保存的检测结果0、0、a1依次输出至检测单元A2、检测单元A3和所述控制单元，则所有检测结果输出完成。
综上所述，本发明的检测设备事件的电子设备及方法，将检测多个设备事件的检测单元通过级联的方式连接至控制单元，只需一个接口就能连接任意多个检测单元，使得检测单元的数量能够按实际需求任意增减，而不必再受控制单元的接口数量的限制；同时，由于串行传输各设备事件，有效解决并行传输所带来的控制单元的负担过重的问题。所以，本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。
Claims (9)
1.一种检测设备事件的电子设备，其特征在于，包括：
控制单元，用于输出同步输出控制信号和同步扫描控制信号；
与至少一个待检测设备和所述控制单元相连的检测单元，用于在所述同步扫描控制信号的控制下，检测所连接的各所述待检测设备的事件，并将所检测的结果予以保存；
其中，所述检测单元的数量为多个，且各所述检测单元通过级联方式与所述控制单元相连；
各所述检测单元在所述同步输出控制信号的控制下，将所检测的结果逐级地输出至所述控制单元。
2.根据权利要求1所述的检测设备事件的电子设备，其特征在于，所述控制单元通过通用输入输出端口与所述检测单元相连。
3.根据权利要求1所述的检测设备事件的电子设备，其特征在于，所述控制单元包括：同步输出控制接口和同步扫描控制接口。
4.根据权利要求3所述的检测设备事件的电子设备，其特征在于，所述检测单元包括：与每个待检测设备和所述同步扫描控制接口相连的检测模块，与所述检测模块和所述同步输出控制接口相连的移位存储器，以及与所述移位存储器相连、且用于级联的数据读/写端。
5.根据权利要求1所述的检测设备事件的电子设备，其特征在于，所述检测单元用于检测所连接的待检测设备所输出的电信号，以确定所连接的各待检测设备是否发生事件。
6.根据权利要求1至5中任一所述的检测设备事件的电子设备，其特征在于，所述电子设备还包括：与每个所述检测单元相连的同步时钟源，用于输出时钟信号；
所述检测单元还用于在接收到所述同步输出控制信号后，按照所述时钟信号的周期同步地将所保存的检测结果输出至级联的下一级。
7.一种检测设备事件的方法，其特征在于，所述检测方法适用于包含多个检测单元、和与每个检测单元相连的控制单元的电子设备中，其中，所述检测单元连接至少一个待检测设备，各所述检测单元通过级联方式与所述控制单元相连，所述检测方法包括：
各所述检测单元在所述控制单元所输出的同步扫描控制信号的控制下，检测所连接的各待检测设备的事件，并将所检测的结果予以保存；
各所述检测单元在所述控制单元所输出的同步输出控制信号的控制下，将保存在多个所述检测单元中的各检测结果逐级地输送至所述控制单元。
8.根据权利要求6所述的检测设备事件的方法，其特征在于，所述检测单元检测所连接的各待检测设备的事件的方式包括：检测所连接的待检测设备所输出的电信号，以确定所连接的各待检测设备是否发生事件。
9.根据权利要求6所述的检测设备事件的方法，其特征在于，所述电子设备还包括：与每个所述检测单元相连的同步时钟源；
则所述检测方法还包括：在所述同步输出控制信号的控制下，在接收到所述同步输出控制信号后，按照所述同步时钟源所提供的时钟信号的周期同步地将所保存的检测结果输出至级联的下一级。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| ASS | Succession or assignment of patent right |
Owner name: INNOINSTRUMENT (WEIHAI) CO., LTD. Free format text: FORMER OWNER: SHANGHAI WENGUANG AUTOMATION TECHNOLOGY CO., LTD. Effective date: 20150525 |
|
| C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
| TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20150525 Address after: 264209 Weihai high tech Zone, Tianjin, No. 190 Shandong Road Hospital Applicant after: DH INFOTECH (WEIHAI) Inc. Address before: 201103 room 1888, No. 701, Xuhui District, Shanghai, Yishan Road Applicant before: SHANGHAI WENGUANG AUTOMATION TECHNOLOGY CO.,LTD. |
|
| CB02 | Change of applicant information |
Address after: 264209 Weihai high tech Zone, Tianjin, No. 190 Shandong Road Hospital Applicant after: INNO INSTRUMENT (CHINA). Inc. Address before: 264209 Weihai high tech Zone, Tianjin, No. 190 Shandong Road Hospital Applicant before: INNO INSTRUMENT (WEI HAI) Inc. Address after: 264209 Weihai high tech Zone, Tianjin, No. 190 Shandong Road Hospital Applicant after: INNO INSTRUMENT (WEI HAI) Inc. Address before: 264209 Weihai high tech Zone, Tianjin, No. 190 Shandong Road Hospital Applicant before: DH INFOTECH (WEIHAI) Inc. |
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| COR | Change of bibliographic data | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20161130 Termination date: 20200611 |