CN103994874A - 标准光源以及测量方法 - Google Patents

Abstract

提供一种标准光源以及测量方法，是适合于具有与以往的标准光源不同的配光特性的光源的总光通量测量的、具有更简单结构的新的标准光源以及使用了该标准光源的测量方法。标准光源(10)包含发光部(14)、与发光部电连接的供电部(18)以及限制部(16)，该限制部(16)设置于发光部与供电部之间，限制从发光部放射的光向供电部一侧传播。限制部的被来自发光部的光入射的表面构成为进行漫反射。

Description

标准光源以及测量方法

技术领域

本发明涉及一种用于测量光源的总光通量等光学特性的标准光源以及使用了该标准光源的测量方法。

背景技术

以往，作为光源、照明器具的光学特性之一，评价总光通量(流明：lm)。在通常的总光通量测量中，使用该总光通量的值已知的(即，预先校正过的)标准光源。更具体地说，在相同的测量系统(典型地，积分球)中，通过将在点亮标准光源的状态下测量的总光通量(或者照度)与在点亮测量对象光源的状态下测量的总光通量(或者照度)进行比较，来计算测量对象光源的总光通量的值。

近年来，LED(Light Emitting Diode：光电二极管)、有机EL(ElectroLuminescence：电致发光)等新的发光设备正在普及。这种发光设备具有与以往的荧光灯、白炽灯泡等不同的配光特性。随着这种配光特性的差异，提出了适合于测量LED、有机EL等的总光通量的新的标准光源(例如，入江優他、「2π配光全光束標準光源の検討」、平成23年度(第44回)照明学会全国大会予稿集11-6、2011年9月，神門賢二他、「高強度LED校正用標準LEDの開発」、平成23年度(第44回)照明学会全国大会予稿集11-9、2011年9月)。

在上述文献中提出的标准光源是以与LED的配光特性相应地专门设计为前提的。这种标准光源与以往的灯泡型的标准光源不同，其结构复杂化。另外，上述文献所公开的标准光源包含光源部和积分球，因此作为标准光源，非发光的结构物相对变大。

发明内容

本发明是考虑这种状况而完成的，其目的在于提供一种适合于测量具有与以往的标准光源不同的配光特性的光源的总光通量的、结构更简单的新的标准光源以及使用了该标准光源的测量方法。

本发明的一个方面的标准光源具备：发光部；供电部，其与发光部电连接；以及限制部，其设置于发光部与供电部之间，限制从发光部放射的光向供电部一侧传播。限制部的被来自发光部的光入射的表面构成为进行漫反射。

优选的是，限制部的、与通过发光部以及供电部的光轴垂直的方向上的截面面积是根据发光部的配光分布来决定的。

优选的是，限制部具有被来自发光部的光入射的平坦的表面。

或者，优选的是，限制部具有被来自发光部的光入射的凹状的表面。

优选的是，还具备罩，该罩覆盖包含限制部的表面和发光部的空间。

本发明的另一方面的测量方法具备以下步骤：准备校正过的标准光源；将标准光源安装到测量装置，并且在点亮的状态下测量标准光源的光学特性值；将测量对象的光源安装到测量装置，并且在点亮的状态下测量测量对象的光源的光学特性值；以及根据标准光源的测量得到的光学特性值、测量对象的光源的测量得到的光学特性值以及对标准光源附加值所得到的光学特性值，来决定测量对象的光源的光学特性值。标准光源包括：发光部；供电部，其与发光部电连接；以及限制部，其设置于发光部与供电部之间，限制从发光部放射的光向供电部一侧传播。限制部的被来自发光部的光入射的表面构成为进行漫反射。

根据与附图相关联地理解的与本发明有关的以下详细说明可清楚本发明的上述和其它目的、特征、方面以及优点。

附图说明

图1A和1B是表示市场上销售的LED灯泡的配光特性的测量例的图。

图2A～2C是表示总光通量的测量系统的示意图。

图3A和3B是表示利用使用了积分球的测量系统和使用了积分半球的测量系统的总光通量的测量结果的一例的图。

图4A和4B是用于说明实施方式1的标准光源的示意图。

图5A和5B是用于说明实施方式2的标准光源的示意图。

图6是用于说明实施方式3的标准光源的示意图。

图7是表示使用本实施方式的标准光源的针对样品光源的总光通量测量的处理过程的流程图。

附图标记说明

1、2、120样品光源；10、30、30A、110：标准光源；12、32：主体部；14、34：发光部；16、36：配光控制板；16a、36a：表面；18、38：电极部；20、22、40、42：配光特性；50：保护圆顶罩；100：积分球；102：光源支承部；104、204：挡板；106：挡板支承部；108、208：光谱测量器；200：积分半球；202：平面镜；230虚像。

具体实施方式

参照附图详细说明本发明的实施方式。此外，对图中相同或者相当部分附加相同的附图标记而不重复其说明。

<A.背景技术>

首先，说明与本实施方式相关联的背景技术。

例如，市场上销售的LED灯泡的配光特性主要根据其发光部的形状等区分为4π配光与2π配光。“4π配光”是指从光源放射的光束在以该光源为中心的4π空间(从光源观察处于4π的立体角的范围)内存在那样的配光特性，“2π配光”是指从光源放射的光束仅在以该光源为中心的2π空间(从光源观察处于2π的立体角的范围)内存在那样的配光特性。也就是说，沿着光源的放射轴(光轴)仅向前侧放射光束的光源的配光特性为2π配光，除了前侧以外还向后侧放射光束的光源的配光特性为4π配光。

图1A和1B示出对市场上销售的LED灯泡中的具有4π配光和2π配光的配光特性的两个样品光源1和2实际进行测量得到的配光特性。作为图1A示出的样品光源1(4π配光)，采用松下制LED灯泡(<全方向型>形状相当于亮度灯泡40W(485lm)/编号LDA7DG)，作为图1B示出的样品光源2(2π配光)，采用松下制LED灯泡(<下方向型>形状相当于亮度灯泡60W(825lm)/编号LDA9DH)。

在图1A和1B中同时示出用于总光通量测量的标准光源的配光特性的一例。通常，作为标准光源，使用总分光辐射通量已知的具有4π配光的配光特性的标准灯泡。作为该标准光源，采用Gilway公司制187(带透镜的超小型氪灯)。

如图1A所示，4π配光的LED灯泡具有与标准光源的配光特性类似的配光特性，但是如图1B所示，2π配光的LED灯泡具有与标准光源的配光特性大不相同的配光特性。

在进行光源、照明器具(以下总称为“样品光源”)的总光通量测量的情况下，通常使用组合了积分球与光谱测量器的球形光通量计。也就是说，使用这种球形光通量计和标准光源(典型地，图1A示出的4π配光)来测量样品光源的总光通量。在使用这种测量系统对具有与标准光源的配光特性大不相同的配光特性的2π配光的LED灯泡(例如图1B示出的样品光源2)的总光通量进行测量的情况下，受到积分球大小的影响、积分球内部的结构物的影响而可能产生测量误差。

图2A～2C是表示总光通量的测量系统的示意图。图2A和2B示出使用积分球的结构例，图2C示出使用积分半球的结构例。

在图2A和2B示出的测量系统中，使用光源支承部102在积分球100的内部配置光源(标准光源和样品光源)，并且在点亮光源的状态下，从积分球100的内壁面的一部分取出光，由光谱测量器108测量该部分的照度。此时，在两者之间配置挡板104，以避免从光源放射的光直接入射到光谱测量器108。挡板104被挡板支承部106定位在规定的位置。

图2A示出将具有4π配光的配光特性(附图标记112的虚线表示的配光分布)的标准光源110安装于光源支承部102的例子。在该例中，从标准光源110放射的光中的向标准光源110的后方(纸面上方向)放射的光(或者该光在积分球100的内壁面反射而产生的一次反射光)的一部分入射到光源支承部102和/或者挡板支承部106。例如，从标准光源110放射的一部分光在积分球100的内壁面反射(附图标记114)，在光源支承部102进一步反射(附图标记116)。也就是说，在积分球100内点亮具有4π配光的配光特性的标准光源110的情况下，容易受到积分球100内部的结构物的反射、吸收的影响。

图2B示出将具有2π配光的配光特性(附图标记122的虚线表示的配光分布)的样品光源120安装于光源支承部102的例子。在样品光源120的情况下，不存在向样品光源120的后方(纸面上方向)放射的光，因此不容易产生图2A示出那样的光源支承部102和/或挡板支承部106处的光的反射、吸收。因此，可以说在2π配光的样品光源120的总光通量测量中，与4π配光的标准光源110的总光通量测量相比，积分球100内部的结构物的影响小。并且，从2π配光的样品光源120向水平方向(纸面左右方向)放射的光与4π配光的标准光源110相比极小。因此，在样品光源120的水平方向存在的挡板104的影响也变小。

如图2A和2B所示，在测量4π配光的标准光源110时产生的积分球100内部产生的损失比例与在测量2π配光的样品光源120时产生的积分球100内部产生的损失比例不同。也就是说，由于配光特性大不相同，由此无法保持测量条件的相同性。

另一方面，在图2C中，在使用了积分半球200的测量系统中，在平面镜202的中心部配置光源。在点亮光源的状态下，从积分半球200的内壁面的一部分取出光，由光谱测量器208来测量该部分的照度。此时，在两者之间配置挡板204，以避免从光源放射的光直接入射到光谱测量器208。此外，使用了积分半球200的测量系统的详细说明请参照日本特开平06-167388号公报、日本特开2008-292497号公报等。

如图2C所示，在光学上，通过平面镜202生成被积分半球200包围的积分空间(实像)的虚像230。通过积分半球200和虚像230，使用了积分半球200的测量系统实质上也实现与图2A和2B示出的积分球100所提供的积分空间相同的积分空间。除此以外，在使用了积分半球200的测量系统中，不使用光源支承部102就能够将光源配置在中心部。如果从光学方面来看，与图2A和2B示出的积分球100不同，不存在从内壁面突出的光源支承部102，能够降低光源支承部102的影响。

也就是说，即使在安装2π配光的样品光源120并点亮的情况下，由于虚像230，也与安装并点亮4π配光的标准光源110的情况同样地照明内壁面整体，因此认为虽然配光特性不同，但是给测量结果带来的影响变得更小。

接着，示出利用各使用了积分球的测量系统和使用了积分半球的测量系统对样品光源的总光通量进行测量得到的结果的一例。图3A和3B是表示利用使用了积分球的测量系统和使用了积分半球的测量系统的总光通量的测量结果的一例的图。图3A示出4π配光的两种LED灯泡(LED灯泡A1和A2)的测量结果，图3B示出2π配光的两种LED灯泡(LED灯泡B1和B2)的测量结果。

在图3A和3B中，为了评价测量系统的差异对测量精度的影响，以能够对比的方式示出相同的标准光源(4π配光)的条件下使用了图2C示出的积分半球200的测量系统(一种)以及使用了图2A和2B示出的积分球100的测量系统(四种)这共计五个测量系统各自的测量结果。作为使用了积分球100的测量系统，使用其直径为2.0m、1.6m、1.0m这三种不同的积分球，并且通过使用2mm直径的供电线悬挂来将样品光源配置在积分球的中心。其中，关于直径为2.0m的积分球，对使用直径40mm的光源支承部102将样品光源配置于积分球的中心的情况也进行了测量。

图3A和3B示出对样品光源与测量系统的各组合进行多次测量、对由此得到的测量结果进行统计处理所得到的结果。图3A和3B的纵轴示出通过测量得到的总光通量除以对应的规格(总光通量)得到的比例(相对总光通量)。意味着该比例越小则测量系统中的损失越大。

在图3A和3B中，作为误差条，示出扩展不确定度(包含系数k=2)的范围。

首先，如图3A所示，关于具有与标准灯泡相同的4π配光的配光特性的LED灯泡A1和A2，可知在任意测量系统中均以误差在±1%以内一致。也就是说，如果标准灯泡和样品光源的配光特性均为4π配光，则可以说不受积分球大小、结构影响而能够适当地测量总光通量。

与此相对，关于具有与标准灯泡不同的2π配光的配光特性的LED灯泡B1和B2，如图3B所示，可知依赖于积分球大小、结构而总光通量的测量值受到影响。也就是说，如参照图2A和2B说明那样，作为原因可举出光源支承部的反射、吸收以及由积分空间的小型化引起的损失比例相对增加等。即，LED灯泡B1和B2的总光通量的测量值产生依赖于积分球大小的倾向的理由在于，标准灯泡与样品光源之间的配光特性的差异。

这样，存在以下问题：在使用组合积分球与光谱测量器的球形光通量计对配光特性与标准灯泡不同的LED灯泡、照明器具等样品光源的总光通量进行测量的情况下，产生相对大的测量误差。

<B.概要>

根据本实施方式，提供一种适合于测量配光特性与以往的标准光源不同的LED灯泡等光源的总光通量的标准光源。如在后文中所述，通过更简单的结构来实现本实施方式的标准光源。

更具体地说，本实施方式的标准光源包括：发光部；供电部，其与发光部电连接；以及限制部，其设置于发光部与供电部之间，限制从发光部放射的光向供电部一侧传播。该限制部的被来自发光部的光入射的表面构成为进行漫反射。

通过这种结构，即使在采用具有4π配光的配光特性的发光部的情况下，也由于通过限制部限制光向后方传播，因此基本上能够实现接近2π配光的配光特性。即，能够实现维持与以往的由白炽灯泡、卤素灯泡等构成的标准光源类似的结构并且适合于测量LED灯泡等的总光通量的标准光源。

以下，作为具体实现例而说明实施方式1～3。此外，还有时将实施方式1～3总称为“本实施方式”。

<C.实施方式1>

图4A和4B是用于说明实施方式1的标准光源10的示意图。图4A示出标准光源10的截面示意图，图4B示出标准光源10的配光特性。

参照图4A，标准光源10包括主体部12、发光部14、配光控制板16以及电极部18。

主体部12与配光控制板16和电极部18一体地构成并且具有能够安装发光部14的结构。主体部12与电极部18和发光部14电连接。

发光部14是放射光的部位，基本上具有4π配光的配光特性。作为发光部14，能够采用白炽灯泡或者卤素灯泡那样的使用了灯丝的光源。或者，也可以使用氙气(Xe)灯、放电灯等。并且，根据用途，还能够采用产生红外线的加热器。

将电极部18安装到未图示的插座，将从该插座提供的电力提供给发光部14。也就是说，电极部18相当于与发光部14电连接的供电部。典型地，作为电极部18，采用具有规定标准(例如E型)的形状的灯口。

配光控制板16设置于发光部14与电极部18(供电部)之间，作为限制从发光部14放射的光向电极部18侧传播的限制部而发挥功能。配光控制板16接近电极部18地设置于主体部12。配光控制板16控制发光部14的后方侧(纸面下侧)的配光分布。

配光控制板16的被来自发光部14的光入射的平坦的表面16a构成为进行漫反射。也就是说，在表面16a形成有漫反射层，由此，能够降低在表面16a反射的来自发光部14的光再次入射到发光部14的现象(回归反射)的发生比例。通过这种结构，能够降低发光部14(光源)自吸收的比例。作为该漫反射层，优选使用漫反射率高且耐热性良好的树脂散射材料(典型地，Spectralon等)。这是考虑到由于发光部14点亮而配光控制板16的表面也会变为较高温(作为一例，300℃左右)。作为代替的结构，也可以使用以硫酸钡为主体的涂布剂来形成漫反射层。此外，当考虑作为标准光源的配光特性时，作为配光控制板16的表面16a，使用镜面反射层并不理想。

配光控制板16用于限制从发光部14放射的光向后方传播，因此根据发光部14的配光特性来决定其表面16a的大小。也就是说，配光控制板16(限制部)的、与通过发光部14和电极部18(供电部)的轴X1垂直的方向(轴X2)上的截面面积(表面面积)是根据发光部14的配光分布来决定的。更具体地说，配光控制板16的半径是根据表面16a的面内方向上的与发光部14的配光特性的交叉点来决定的。当然，如果配光控制板16的表面面积充分大，则能够完全妨碍从发光部14放射的光向后方传播，但是，另一方面，标准光源10所包含的非发光的结构物的比例变大，在测量精度、处理等方面可能产生不利影响。因此，优选根据发光部14的配光特性来将配光控制板16的截面面积(表面面积)设为合理的大小。

通过采用图4A示出的结构，如图4B示出那样能够改善作为标准光源10的配光特性。即，图4B示出在不设置配光控制板16的情况下产生的配光特性22(虚线)以及在设置配光控制板16的情况下产生的配光特性20(实线)。当将配光特性20与配光特性22进行比较时，可知通过设置配光控制板16，标准光源10向后方(纸面下方向)放射的光的比例降低，整体上更多的光向标准光源10的前方(纸面上方向)放射。也就是说，通过配光控制板16对从发光部14放射的光的分布进行控制，能够实现更接近2π配光的配光特性。

图4A示出的标准光源10的总光通量或者总分光辐射通量被按照公知的配光测量法附加值(校正)。而且，作为具有对各标准光源10附加值而得到的总光通量、总分光辐射通量的值的标准灯泡，使用于总光通量测量。

通过使用这种具有更接近2π配光的配光特性的标准光源10来进行总光通量测量，能够以更高精度测量具有2π配光的样品光源的总光通量。

<D.实施方式2>

接着，例示使更多的光向前方放射而能够实现完全的2π配光的结构。图5A和5B是用于说明实施方式2的标准光源30的示意图。图5A示出标准光源30的截面示意图，图5B示出标准光源30的配光特性。

参照图5A，标准光源30包括主体部32、发光部34、配光控制板36以及电极部38。

主体部32、发光部34、电极部38与上述实施方式1的标准光源10的主体部12、发光部14、电极部18相同，因此不反复进行详细说明。

配光控制板36具有被来自发光部34的光入射的凹状的表面36a。表面36a构成为进行漫反射。更具体地说，在表面36a形成有漫反射层。

配光控制板36具有相对于发光部34弯曲的结构，将该弯曲的曲率设定为实现目标配光特性所需的值。也就是说，配光控制板36限制从发光部34放射的光向后方传播并且使入射到其表面36a的光向前方反射，由此实现更完全的2π配光的配光特性。在图5A示出的例子中，构成为配光控制板36的周边部(端部)所定义的平面(包含轴X2的平面)与发光部34的中心部交叉。通过采用这种凹状结构，能够使从与轴X1正交的方向(轴X2方向)起发光部34向后方放射的光在表面36a反射而向前方再次放射。

通过采用图5A示出的结构，如图5B所示那样能够改善作为标准光源30的配光特性。即，图5B示出在不设置配光控制板36的情况下产生的配光特性42(虚线)以及在设置配光控制板36的情况下产生的配光特性40(实线)。当将配光特性40与配光特性42进行比较时，可知通过设置配光控制板36，能够将标准光源10向后方(纸面下方向)放射的光全部变换为向前方(纸面上方向)放射的成分。也就是说，通过配光控制板36控制从发光部34放射的光的分布，能够实现2π配光的配光特性。

图5A示出的标准光源30的总光通量或者总分光辐射通量被按照公知的配光测量法附加值(校正)。而且，作为具有对各标准光源30附加值得到的总光通量、总分光辐射通量的值的标准灯泡，使用于总光通量测量。

通过使用这种具有2π配光的配光特性的标准光源30来进行总光通量测量，能够以更高精度测量具有2π配光的样品光源的总光通量。

<E.实施方式3>

在上述实施方式1和2中，当形成于配光控制板表面的漫反射层污损时，需要再次进行校正。因此，作为实施方式3，说明用于防止这种配光控制板的表面污损的结构。

图6是用于说明实施方式3的标准光源30A的示意图。图6示出标准光源30A的截面示意图。参照图6，关于标准光源30A，与图5A示出的标准光源30相比，相当于还追加了保护圆顶罩50的结构。

保护圆顶罩50由使从发光部34放射的光透过的透光性的材质构成。其中，由于之后对总光通量或者总分光辐射通量附加值(校正)，因此并不需要必须提高构成保护圆顶罩50的材质的透光度。这样，保护圆顶罩50保护发光部34和配光控制板36。也就是说，保护圆顶罩50相当于覆盖包含配光控制板36的表面36a和发光部34的空间的罩。

通过设置这种保护圆顶罩50，能够防止配光控制板36的表面36a和发光部34的污损，能够防止由于污损而精度下降。

此外，图6示出与实施方式2的标准光源30类似的结构，但是实施方式3的技术思想还能够应用于图4A示出的实施方式1的标准光源10。

<F.其它实施方式>

本实施方式的标准光源能够通过配光控制板的有无来切换4π配光与2π配光，因此标准光源的厂商等也可以统一地制造主体部、发光部、电极部共通的标准灯泡，并且根据所要求的配光特性来追加还附加配光控制板的工序。通过采用这种制造方法，能够降低标准光源的制造成本。

此外，在预先认定的试验处、校正单位对这样制造出的光源的总光通量或者总分光辐射通量附加值(校正)，之后作为标准光源而出厂。

<G.测量过程>

接着，说明使用了本实施方式的标准光源的针对样品光源的总光通量测量的处理过程的一例。

图7是表示使用了本实施方式的标准光源的针对样品光源的总光通量测量的处理过程的流程图。本处理过程包含对标准光源的校正以及使用校正过的标准光源的针对样品光源的测量这两个阶段的过程。

更具体地说，参照图7，首先，将更上级的标准器(标准光源)安装于校正用测量装置，在点亮状态下测量光学特性值(总光通量或者总分光辐射通量)(步骤S2)。接着，将本实施方式的标准光源安装于相同的校正用测量装置，在点亮状态下测量光学特性值(总光通量或者总分光辐射通量)(步骤S4)。然后，根据在步骤S2中测量得到的光学特性值和在步骤S4中测量得到的光学特性值的相对关系以及对更上级的标准器(标准光源)附加值所得到的光学特性值，来决定标准光源的光学特性值(总光通量或者总分光辐射通量)(步骤S6)。此外，也可以多次反复进行步骤S4的处理。另外，步骤S2与步骤S4的执行顺序也没有特别限定。由此，完成对标准光源的校正处理。这些步骤S2～S6相当于准备校正过的标准光源的工序。然后，使用该校正后的标准光源来进行样品光源的测量。

更具体地说，将校正后的标准光源安装于测量装置，在点亮状态下测量光学特性值(总光通量或者总分光辐射通量)(步骤S12)。即，执行以下工序：将标准光源安装于测量装置，并且在点亮的状态下测量该标准光源的光学特性值。接着，将测量对象的样品光源安装于相同的测量装置，在点亮状态下测量光学特性值(总光通量或者总分光辐射通量)(步骤S14)。即，执行以下工序：将测量对象的样品光源安装于测量装置，并且在点亮的状态下测量该样品光源的光学特性值。

然后，根据在步骤S12中测量得到的光学特性值和在步骤S14中测量得到的光学特性值的相对关系以及进一步对标准光源附加值所得到的值，来决定样品光源的光学特性值(总光通量或者总分光辐射通量)(步骤S16)。即，执行以下工序：根据标准光源的测量得到的光学特性值、样品光源的测量得到的光学特性值以及对标准光源附加值所得到的光学特性值，来决定样品光源的光学特性值。此外，也可以多次反复进行步骤S14的处理。另外，步骤S12和步骤S14的执行顺序也没有特别限定。由此，完成对样品光源的测量处理。

通常，在预先认定的试验处、校正单位执行图7示出的步骤S2～S6，由测量样品光源的各用户执行步骤S12～S16。典型地，应用于光源、照明装置的制造生产线上的产品或者半成品的抽样调查等。

<H.作用效果>

根据本实施方式的标准光源，能够维持较简单的结构并且实现适合于LED灯泡等具有2π配光的配光特性的样品光源的配光特性。由此，能够以更高精度进行LED灯泡等的总光通量测量。

根据上述说明，本实施方式的标准光源以及使用了该标准光源的测量方法所涉及的除此以外的优点变得更清楚。

详细说明示出了本发明的实施方式，但是这仅是用于例示，并非用于限定，应清楚地理解为发明的范围根据附加的权利要求来解释。

Claims (6)

1.一种标准光源，具备：

发光部；

供电部，其与上述发光部电连接；以及

限制部，其设置于上述发光部与上述供电部之间，限制从上述发光部放射的光向上述供电部一侧传播，

其中，上述限制部的被来自上述发光部的光入射的表面构成为进行漫反射。

2.根据权利要求1所述的标准光源，其特征在于，

上述限制部的、与通过上述发光部以及上述供电部的光轴垂直的方向上的截面面积是根据上述发光部的配光分布来决定的。

3.根据权利要求1所述的标准光源，其特征在于，

上述限制部具有被来自上述发光部的光入射的平坦的表面。

4.根据权利要求1所述的标准光源，其特征在于，

上述限制部具有被来自上述发光部的光入射的凹状的表面。

5.根据权利要求1～4中的任一项所述的标准光源，其特征在于，

还具备罩，该罩覆盖包含上述限制部的表面和上述发光部的空间。

6.一种测量方法，具备以下步骤：

准备校正过的标准光源；

将上述标准光源安装到测量装置，并且在点亮的状态下测量上述标准光源的光学特性值；

将测量对象的光源安装到上述测量装置，并且在点亮的状态下测量上述测量对象的光源的光学特性值；以及

根据上述标准光源的测量得到的光学特性值、上述测量对象的光源的测量得到的光学特性值以及对上述标准光源附加值所得到的光学特性值，来决定上述测量对象的光源的光学特性值，

其中，上述标准光源包括：

发光部；

供电部，其与上述发光部电连接；以及

限制部，其设置于上述发光部与上述供电部之间，限制从上述发光部放射的光向上述供电部一侧传播，

其中，上述限制部的被来自上述发光部的光入射的表面构成为进行漫反射。