CN103901039A - 检测系统 - Google Patents

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CN103901039A
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Inventor
李后贤
李章荣
罗治平
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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Abstract

一种检测系统，用于检测待测物件表面的瑕疵，该检测系统包括：承载台，用于承载待测物件；平面镜，设置于该承载台的一侧，用于对放置于该承载台上的待测物件进行成像；摄像单元，设置于该承载台与平面镜相对的一侧，与该平面镜相对设置，该摄像单元能够在一次拍摄中同时拍摄到放置于该承载台上的待测物件本身的图像和该待测物件在平面镜中的成像；以及处理单元，通过分析该获取到的该待测物件的多个角度的图像确定该待测物件表面有无瑕疵。本发明中的检测系统通过设置平面镜对待测物件成像，使得摄像单元在一次拍摄中可以拍摄到整个待测物件各个表面的图像，提高了检测效率。

Description

检测系统
技术领域
本发明涉及检测系统，特别涉及一种用于检测待测物件表面是否有瑕疵的检测系统。
背景技术
在生产线上，产品加工完成后一般都需要检测产品表面是否有刮痕、污渍等瑕疵。现有技术中检测一个产品的表面是否有瑕疵时一般至少需要分别获取该产品的前、后、左、右以及上表面等各个表面的图像，然后再将各个表面的图像与标准样本图像进行比对来确定该待测产品表面是否有瑕疵。这种检测方式在检测一个产品过程中需要摄像机不断变换角度去先后获取该产品各个表面的图像，这样分多次获取图像的方法使得检测效率不高。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种检测系统，用于高效的检测待测物件的表面是否有瑕疵。
一种检测系统，用于检测待测物件表面的瑕疵，该检测系统包括：承载台，用于承载待测物件；平面镜，设置于该承载台的一侧，用于对放置于该承载台上的待测物件进行成像；摄像单元，设置于该承载台与平面镜相对的一侧，与该平面镜相对设置，该摄像单元能够在一次拍摄中同时拍摄到放置于该承载台上的待测物件本身的图像和该待测物件在平面镜中的成像；以及处理单元，该处理单元包括控制模块、图像获取模块以及判断模块，该控制模块用于控制该摄像单元拍摄该放置在承载台上的待测物件本身的图像和该平面镜中该待测物件的图像，该图像获取模块用于由该摄像单元中获取拍摄到的图像，该判断模块通过分析该图像获取模块获取到的该待测物件的多个角度的图像来确定该待测物件表面是否有瑕疵。
本发明中的检测装置，通过设置平面镜对该待测物件进行成像，使得该摄像单元可以在一次拍摄中同时拍摄到设置于承载台上的待测物件本身的图像和平面镜中的成像，从而在一次拍摄中能够获取该待测物件各个表面的图像，而不需要摄像单元调整不同的角度分别拍摄各个表面的图像，从而节省了检测时间，提高了检测效率。
附图说明
图1为本发明一实施方式中检测系统的立体结构示意图。
图2为图1所示检测系统的功能模块架构示意图。
主要元件符号说明
检测系统 100
待测物件 200
承载台 10
平面镜 20
摄像单元 30
处理单元 40
控制模块 41
图像获取模块 42
判断模块 43
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
下面结合附图，对本发明中的检测系统作进一步的详细描述。
请参考图1和图2，在本发明一较佳实施方式中的检测系统100用于检测待测物件200表面是否有瑕疵，例如刮痕、污渍等。该检测系统100包括承载台10、平面镜20、摄像单元30以及处理单元40。
该承载台10用于承载待测物件200。在本实施方式中，该承载台10为生产线中用于传输待测物件200的传送带。在其他实施方式中，该承载台10为一承载该待测物件200的固定平台。
该平面镜20设置于该承载台10的一侧，且与该承载台10所在的平面呈一定角度设置，例如该平面镜20与该承载台10之间的夹角为八十度，使得放置在该承载台10上的待测物件200能够在该平面镜20中成像。在本实施方式中，该待测物件200为手机、平板电脑等方形的装置，该待测物件200放置在承载台10上时，其一个顶角朝向该平面镜20，如此，在该平面镜20中可以观察到该待测物件200上与该顶角相连的两个侧面及该待测物件200的上表面。
该摄像单元30设置于该承载台10与平面镜20相对的一侧，与该平面镜20相对，该摄像单元30的摄像范围能够覆盖该放置于承载台10上的待测物件200和该平面镜20中该待测物件200的镜像，从而该摄像单元30在一次拍摄中能够同时拍摄到放置于该承载台10上的待测物件200本身的图像和该待测物件200在平面镜20中的镜像。如此，由于该摄像单元30与平面镜20相对设置，那么该待测物件200远离平面镜20的顶角即朝向该摄像单元30，该摄像单元30拍摄到的该待测物件200本身的图像为与远离平面镜20的顶角相连的两个侧边和上表面，而该摄像单元30拍摄到的该平面镜20中该待测物件200的像为与朝向平面镜20的顶角相连的两个侧边及上表面，所以，该摄像单元30可以在一次拍摄中同时拍摄到该待测物件200的四个侧边及上表面的全部图像，而不需要调整摄像单元30的方向去获取不同角度的待测物件200的图像，从而提高了拍摄的效率。在本实施方式中，该摄像单元30为一摄像头，该摄像头的角度可以根据需要进行调整。
如图2所示，该处理单元40包括控制模块41、图像获取模块42以及判断模块43。该控制模块41与该摄像单元30进行通信，用于控制该摄像单元30拍摄放置在该承载台10上的该待测物件200本身的图像和在平面镜20中的镜像。在本实施方式中，该处理单元40设置于一外部电脑300中，该处理单元40与该摄像单元30通过数据线进行通信。该控制模块41还可以响应用户通过电脑300中的键盘（图未示）等输入设备输入的对测试过程中该摄像单元30每两次拍摄的时间间隔进行设定，例如，两次拍摄的时间间隔为两秒，在该两秒的时间间隔内可以更换新的待测物件200来进行检测。在本实施方式中，该摄像单元30每两次拍摄的时间间隔与该传送带传输待测物件200的速度相关联。
该图像获取模块42用于从该摄像单元30中获取拍摄到的图像。在本实施方式中，该判断模块43用于将该获取到的图像与预先存储的标准样本图像进行比较，其中，该标准样本图像中包括该待测物件200本身的图像和该待测物件在平面镜20中的成像。当该判断模块43确定该摄像单元30拍摄的该待测物件200的图像与该标准样本图像完全相同时，则确定该待测物件200表面没有瑕疵，为合格产品，否则，该判断模块43确定该待测物件200表面有瑕疵，为不合格产品。
在另一实施方式中，该判断模块63将该图像获取模块62获取的该待测物件200的多个角度的图像进行傅里叶变换从而得到该些图像的频谱图，该判断模块63通过对该些图像进行频谱分析确定该待测物件200的表面是否有瑕疵。由于采用图像频谱分析进行瑕疵检测为现有技术，故在此不再赘述。
该判断模块43还控制输出设备输出提示信息提示用户检测结果。在本实施方式中，该判断模块43控制一发声装置发出声音提示信息提示用户检测结果。可以理解的是，在其他实施方式中，该判断模块43可以控制显示装置显示文字提示信息提示用户检测结果，还可以控制发光组件通过发出不同颜色光作为提示信息提示用户检测结果。
本发明中的检测装置，通过设置平面镜20对该待测物件200进行成像，使得该摄像单元30可以在一次拍摄中同时拍摄到设置于承载台10上的待测物件200本身的图像和平面镜20中的镜像，从而在一次拍摄中能够获取该待测物件200各个表面的图像，而不需要摄像单元调整不同的角度分别拍摄各个表面的图像，从而节省了检测时间，提高了检测效率。

Claims (7)

1.一种检测系统，用于检测待测物件表面的瑕疵，其特征在于，该检测系统包括：
承载台，用于承载待测物件；
平面镜，设置于该承载台的一侧，用于对放置于该承载台上的待测物件进行成像；
摄像单元，设置于该承载台与平面镜相对的一侧，与该平面镜相对设置，该摄像单元能够在一次拍摄中同时拍摄到放置于该承载台上的待测物件本身的图像和该待测物件在平面镜中的镜像；以及
处理单元，该处理单元包括控制模块、图像获取模块以及判断模块，该控制模块用于控制该摄像单元拍摄该放置在承载台上的待测物件本身的图像和该平面镜中该待测物件的图像，该图像获取模块用于由该摄像单元中获取拍摄到的图像，该判断模块通过分析该图像获取模块获取到的该待测物件的多个角度的图像来确定该待测物件表面是否有瑕疵。
2.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该承载台为生产线中用于传输待测物件的传送带。
3.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该承载台为一承载该待测物件的固定平台。
4.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该处理单元设置于一外部电脑中，该处理单元与该摄像单元通过数据线进行通信，该控制模块还可以响应用户的操作对测试过程中该摄像单元每两次拍摄的时间间隔进行设定。
5.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该判断模块还控制输出设备输出提示信息提示用户检测结果。
6.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该判断模块将该图像获取模块获取到的该待测物件的多个角度的图像分别与预先存储的标准样本图像进行比较，并在确定该摄像单元拍摄的该待测物件的多个角度的图像均与预先存储的标准样本图像相同时，确定该待测物件表面没有瑕疵，否则，确定该待测物件表面有瑕疵。
7.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该判断模块将该图像获取模块获取到的该待测物件的多个角度的图像进行傅里叶变换，从而得到该些图像的频谱图，该判断模块在通过频谱分析确定该待测物件表面是否有瑕疵。
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