CN103852423B - 一种深低温三维可调样品架 - Google Patents

一种深低温三维可调样品架 Download PDF

Info

Publication number
CN103852423B
CN103852423B CN201210501870.8A CN201210501870A CN103852423B CN 103852423 B CN103852423 B CN 103852423B CN 201210501870 A CN201210501870 A CN 201210501870A CN 103852423 B CN103852423 B CN 103852423B
Authority
CN
China
Prior art keywords
adjustable
support plate
sample
specimen holder
horizontal adjustment
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201210501870.8A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103852423A (zh
Inventor
胡志高
陈啸
褚君浩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
East China Normal University
Original Assignee
East China Normal University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by East China Normal University filed Critical East China Normal University
Priority to CN201210501870.8A priority Critical patent/CN103852423B/zh
Publication of CN103852423A publication Critical patent/CN103852423A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103852423B publication Critical patent/CN103852423B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Agricultural Chemicals And Associated Chemicals (AREA)

Abstract

本发明公开了一种深低温三维可调样品架,包括:恒温器样品架;水平调整支板,其通过水平调节尼龙螺丝与所述恒温器样品架连接,调节与固定样品的水平位置;可调样品托,其通过倾角调节尼龙螺丝与所述可调样品托连接,调节与固定样品的倾斜角度。本发明实现了在样品端的三维光路调整,提高了测量的准确性和可靠度。

Description

一种深低温三维可调样品架
技术领域
本发明涉及光学测量技术领域,尤其涉及一种深低温三维可调样品架。
背景技术
在当今科研工作中,深低温是一种非常普遍的手段,特别是在光学测量中,深低温手段的使用对于研究晶格振动,电子能带,结构相变等物理现象有很大的帮助。在实验中深低温的手段通常使用深低温恒温器实现,这些深低温恒温器通常的温度变化范围是3-300K。英国的Oxford公司和美国Janis公司是目前国际上主要从事研究生产深低温系统的两家公司。通常的低温光谱实验需要低温恒温器与光谱仪相联使用,由于光谱仪的光路是固定的,这样就要求低温恒温器的位置来配合光谱仪的光路。然而,这两家公司提供的样品架均为固定的样品架,无法做调整,由于光学测量的需要,在样品端进行调整是非常必要的,目前使用的方法是通过移动整个深低温恒温器来达到调整目的,这种调整有两大弊端:1、深低温恒温器往往比较笨重,调整难度很大。2、由于深低温恒温器的固定方式,对整个深低温恒温器的调整维度有限。由于这两大弊端,现有的调整手段往往很难调整到最佳位置,这对于光谱测量的对光是非常困难的。给测量带来了诸多不便,也影响了测量的准确性和可靠性。
发明内容
本发明克服了现有技术中的上述缺陷,提出了一种深低温三维可调样品架。
本发明提出了一种深低温三维可调样品架,包括:
恒温器样品架;
水平调整支板,其通过水平调节尼龙螺丝与所述恒温器样品架连接,调节与固定样品的水平位置;
可调样品托,其通过倾角调节尼龙螺丝与所述可调样品托连接,调节与固定样品的倾斜角度。
其中,所述恒温器样品架为T型结构;所述恒温器样品架的底部设置有至少三个第一螺纹孔。
其中,所述水平调整支板为T型结构;所述水平调整支板的一端设置有至少三个第二螺纹孔;所述水平调整支板的另一端上设置有至少三个腰型孔。
其中,所述可调样品托上设置有至少三个螺丝通孔;所述可调样品托的中间设置有至少三个样品固定螺纹孔。
其中,所述水平调节尼龙螺丝穿入所述腰型孔与第一螺纹孔中;沿所述腰型孔调节所述水平调整支板的水平位置,并由所述水平调节尼龙螺丝紧固,固定连接所述恒温器样品架与所述水平调整支板。
其中,所述倾角调节尼龙螺丝穿入所述螺丝通孔与第二螺纹孔中连接所述水平调整支板与所述可调样品托;通过调节所述倾角调节尼龙螺丝的旋紧程度调节所述可调样品托的倾斜角度。
其中,所述样品固定螺纹孔固定连接所述可调样品托与样品。
其中,进一步地,所述可调样品托的中心设置有凸起结构;所述凸起结构的外缘与所述水平调整支板接触。
本发明通过安装在恒温器样品架上的水平可调支板实现了对光路的水平一维可调;通过安装在水平可调支板上的可调样品托实现了对样品倾角的二维可调。本发明在不影响原装样品架正常使用的前提下,通过改造,实现了在样品端的三维光路调整。并且调整后的样品位置稳定性好,可实现对于不同大小不同厚度的样品在深低温环境下光学测量。相比原装样品架,克服了样品段光路无法调整的缺陷,提高了测量的准确性和可靠度。
本发明可以通过更换螺纹孔开孔位置不同的可调样品托实现对于不同大小样品的测量。
本发明结构简单,实现方便,使用便捷,稳定耐用。
附图说明
图1是深低温三维可调样品架的示意图。
图2是深低温三维可调样品架的侧视图。
图3是深低温三维可调样品架的光路示意图。
图4是恒温器样品架的示意图。
图5是水平可调支板的示意图。
图6是可调样品托的剖面图。
具体实施方式
结合以下具体实施例和附图,对本发明作进一步的详细说明。实施本发明的过程、条件、实验方法等,除以下专门提及的内容之外,均为本领域的普遍知识和公知常识,本发明没有特别限制内容。
如图1至图6,1-恒温器样品架,2-水平调整支板,3-可调样品托,4-水平调节尼龙螺丝,5-倾角调节尼龙螺丝,11-第一螺纹孔,21-第二螺纹孔,22-腰型孔,31-螺丝通孔,32-样品固定螺纹孔,33-凸起结构。
如图1所示,本发明的深低温三维可调样品架,包括:恒温器样品架1、水平调整支板2与可调样品托3。恒温器样品架1通过四个水平调节尼龙螺丝4与水平调整支板2连接。水平调整支板2通过四个倾角调节尼龙螺丝5与可调样品托3连接。
图4显示的是恒温器样品架的示意图。其中,恒温器样品架1为T型结构。恒温器样品架1的底部成对设置有两对第一螺纹孔11。第一螺纹孔11的直径与螺纹与四个水平调节尼龙螺丝4相契合。
图5显示的是水平可调支板的示意图。其中,水平调整支板2为T型结构。水平调整支板2的水平结构的四个角落上各设置有一个第二螺纹孔21。第二螺纹孔21通过与倾角调节尼龙螺丝5紧固,连接水平调整支板2与可调样品托3。水平调整支板2的一端上成对设置有两对腰型孔22。腰型孔22与第一螺纹孔11相对应。水平调节尼龙螺丝4穿入腰型孔22与第一螺纹孔11中,沿腰型孔22移动水平调整支板2可改变其水平位置,从而调节样品的水平位置。当水平调整支板2调节完毕后由水平调节尼龙螺丝4紧固,固定连接恒温器样品架1与水平调整支板2。
图6显示的是可调样品托的剖面图。其中,可调样品托3的四个角落上各设置有一个螺丝通孔31。螺丝通孔31与第二螺纹孔21相对应。倾角调节尼龙螺丝5穿过螺丝通孔31与第二螺纹孔21紧固,连接水平调整支板2与可调样品托3。可调样品托3的中间设置有四个样品固定螺纹孔32,样品固定螺纹孔32固定连接可调样品托3与样品。
优选地,如图2与图6所示,可调样品托3的中心设置有半球形的凸起结构33。凸起结构33的外缘与水平调整支板2接触。凸起结构33为半圆形固体,其表面光滑。凸起结构33可以凸起结构33与水平调整支板2的接触点为支点转动,再由设置在四个角落的四个倾角调节尼龙螺丝5分别调节旋紧深度,改变可调样品托3的倾斜角度,从而调节固定在可调样品托3上的样品的倾斜角度。
图3显示的深低温三维可调样品架的光路示意图。外部的入射光线经过安装在可调样品托3上的样品的反射为反射光线并由光学探测器接收。
本发明包括现有技术原装的恒温器样品架1,以及水平可调支板2与可调样品托3。通过水平调节尼龙螺丝4连接固定恒温器样品架1与水平可调支板2,恒温器样品架1与水平可调支板2的金属接触面需涂抹真空导热硅脂以确保在深低温环境下的导热良好。通过倾角调节尼龙螺丝5连接安装可调样品托3与水平可调支板2。可调样品托3上的半球形的凸起结构33与水平可调支板2的接触面也需涂抹真空导热硅脂确保导热良好。样品通过样品固定螺纹孔32固定于可调样品托3上。
本发明可基于现有技术中带螺纹固定孔的样品架实施改造。通过调整腰形孔22的开口大小和位置,可实现对于不同深低温恒温器的样品架改造。通过更换样品固定螺纹孔32位置和大小不同的可调样品托3可实现对于不同大小样品的测量需求。
通过调节水平调节尼龙螺丝4在腰形孔22中的位置实现样品在水平方向上的平动调整,以使得不同厚度的样品在最佳的测量光焦平面处得到测量,提高测量的可靠性。但是本发明并不仅限于此,本领域技术人员可以根据实际设计和使用需要任意选择其他方式调节水平可调支板2的水平位置。例如,利用在恒温器样品架1上设置一个尼龙材料的导轨,使水平可调支板2在导轨中水平滑动,并由至少一个尼龙螺丝固定水平可调支板2,确保水平可调支板2在深低温下的稳定工作状态。通过调节四枚倾角调节尼龙螺丝5,可以实现可调样品托3在倾斜角度不同的二维调整。以确保反射光束最大限度的进入探测器,提高测量的信噪比。无论水平平动调整和倾角的二维调整,在调整到位后用水平调节尼龙螺丝4和倾角调节尼龙螺丝5固定,因此在恒温器工作时的振动不会影响到样品放置位置的稳定性,确保了本发明在深低温下的稳定工作。
本发明的保护内容不局限于以上实施例。在不背离发明构思的精神和范围下,本领域技术人员能够想的变化和优点都被包括在本发明中,并且以所附的权利要求书为保护范围。

Claims (7)

1.一种深低温三维可调样品架,其特征在于,包括:
恒温器样品架(1);
水平调整支板(2),其通过水平调节尼龙螺丝(4)与所述恒温器样品架(1)连接,调节与固定样品的水平位置;
可调样品托(3),其通过倾角调节尼龙螺丝(5)与所述水平调整支板(2)连接,调节与固定样品的倾斜角度;所述可调样品托(3)的中心设置有凸起结构(33);所述凸起结构(33)的外缘与所述水平调整支板(2)接触。
2.如权利要求1所述深低温三维可调样品架,其特征在于,所述恒温器样品架(1)为T型结构;所述恒温器样品架(1)的底部设置有至少三个第一螺纹孔(11)。
3.如权利要求2所述深低温三维可调样品架,其特征在于,所述水平调整支板(2)为T型结构;所述水平调整支板(2)的一端设置有至少三个第二螺纹孔(21);所述水平调整支板(2)的另一端上设置有至少三个腰型孔(22)。
4.如权利要求3所述深低温三维可调样品架,其特征在于,所述可调样品托(3)上设置有至少三个螺丝通孔(31);所述可调样品托(3)的中间设置有至少三个样品固定螺纹孔(32)。
5.如权利要求3所述深低温三维可调样品架,其特征在于,所述水平调节尼龙螺丝(4)穿入所述腰型孔(22)与第一螺纹孔(11)中;沿所述腰型孔(22)调节所述水平调整支板(2)的水平位置,并由所述水平调节尼龙螺丝(4)紧固,固定连接所述恒温器样品架(1)与所述水平调整支板(2)。
6.如权利要求4所述深低温三维可调样品架,其特征在于,所述倾角调节尼龙螺丝(5)穿入所述螺丝通孔(31)与第二螺纹孔(21)中连接所述水平调整支板(2)与所述可调样品托(3);通过调节所述倾角调节尼龙螺丝(5)的旋紧程度调节所述可调样品托(3)的倾斜角度。
7.如权利要求4所述深低温三维可调样品架,其特征在于,所述样品固定螺纹孔(32)固定连接所述可调样品托(3)与样品。
CN201210501870.8A 2012-11-30 2012-11-30 一种深低温三维可调样品架 Expired - Fee Related CN103852423B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210501870.8A CN103852423B (zh) 2012-11-30 2012-11-30 一种深低温三维可调样品架

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210501870.8A CN103852423B (zh) 2012-11-30 2012-11-30 一种深低温三维可调样品架

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103852423A CN103852423A (zh) 2014-06-11
CN103852423B true CN103852423B (zh) 2016-09-14

Family

ID=50860337

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201210501870.8A Expired - Fee Related CN103852423B (zh) 2012-11-30 2012-11-30 一种深低温三维可调样品架

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN103852423B (zh)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106526826B (zh) * 2015-09-10 2019-07-05 中国计量科学研究院 一种非接触式可透光的支架
EP3405769B1 (en) 2016-01-19 2020-03-04 Anton Paar TriTec SA Sample holder arrangement
CN107363646A (zh) * 2017-08-22 2017-11-21 科德数控股份有限公司 一种激光尺光路调整装置及方法
CN110749547B (zh) * 2019-10-16 2024-07-19 厦门行者科创科技有限公司 一种电动位移调节装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2403016Y (zh) * 1999-12-24 2000-10-25 中国科学院沈阳科学仪器研制中心 高精密五维微调样品架
CN2638082Y (zh) * 2003-07-14 2004-09-01 中国科学院福建物质结构研究所 一种无簧四维光学调整架
CN200976003Y (zh) * 2006-10-31 2007-11-14 中国科学院上海应用物理研究所 转动样品架
CN102628791A (zh) * 2012-03-20 2012-08-08 中国科学院化学研究所 X-射线散射仪和光散射仪成像板检测器的三维可控移动台

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2403016Y (zh) * 1999-12-24 2000-10-25 中国科学院沈阳科学仪器研制中心 高精密五维微调样品架
CN2638082Y (zh) * 2003-07-14 2004-09-01 中国科学院福建物质结构研究所 一种无簧四维光学调整架
CN200976003Y (zh) * 2006-10-31 2007-11-14 中国科学院上海应用物理研究所 转动样品架
CN102628791A (zh) * 2012-03-20 2012-08-08 中国科学院化学研究所 X-射线散射仪和光散射仪成像板检测器的三维可控移动台

Also Published As

Publication number Publication date
CN103852423A (zh) 2014-06-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103852423B (zh) 一种深低温三维可调样品架
CN103293173B (zh) 一种x射线衍射仪薄膜测试样品台
CN203414328U (zh) 一种用于聚焦离子束制样的多功能预倾样品台
CN209043216U (zh) 一种水平校准装置
CN105423843B (zh) 轴承综合滚道测量仪
CN204165498U (zh) 刀具角度测量装置
CN102564873A (zh) 粘弹性材料动态力学特性宽频带测量装置
CN101979906A (zh) 位置可调的平面镜定位装置
CN102323165A (zh) 材料剪应变多点激光检测装置
CN207396384U (zh) 一种用于x射线衍射仪测试的样品托架
CN102756347A (zh) 一种检测壳型零件的支撑装置
CN221594818U (zh) 一种高精度晶片角度测量设备
CN208383591U (zh) 一种维氏硬度计用试样夹具
CN104022184B (zh) 薄膜太阳能电池的刻划装置
CN106841255A (zh) 一种用于晶体测定的可调夹持工具
WO2024031770A1 (zh) 一种固定装置及具有其的芯片测试机
CN207751423U (zh) 一种厚度测量装置
CN117805036A (zh) 一种光学检测装置
CN2655365Y (zh) 小型多功能光学实验仪
CN202532120U (zh) 支撑架
CN211517236U (zh) 一种用于小型航空叶片三维测量的可调节夹具
CN210850550U (zh) 一种用于光学定心仪的调整装置
CN206848154U (zh) 一种光电性质测量装置
CN206348072U (zh) 一种用于测量温度场的热像仪支架
CN208109733U (zh) 用于变温x射线衍射仪的阻光刀

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20160914

Termination date: 20201130

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee