CN103822596A - 空间轴平衡度检测系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种空间轴平衡度检测系统，所述检测系统包括第一激光位移传感器、第二激光位移传感器、第一固定支架、第二固定支架、直线导轨，所述第一激光位移传感器与所述第一固定支架固定连接，所述第二激光位移传感器与所述第二固定支架固定连接，所述第一固定支架与所述第二固定支架均与所述直线导轨滑动连接，且两者在所述直线导轨上一体移动；所述第一激光位移传感器与所述第二激光位移传感器处于同一水平面。相应地，本发明提供了一种空间轴平衡度检测方法，本发明的有益效果为，本发明提供一种实用的空间轴平衡度检测系统及方法，弥补了当前没有实用的判断空间轴平行度的技术空白，满足了用户的需求，提高了产品的生产效率和质量。
Description
技术领域
本发明属于电容生产技术领域，尤其涉及一种空间轴平衡度检测系统及方法。
背景技术
在电容的生产过程中，需要在构成电容的多层薄膜上进行印刷，电容薄膜的层数不同，电容的容量也不相同。
在薄膜印刷过程中，设备空间轴用来缠绕薄膜，对薄膜进行导向，影响薄膜印刷质量的一个关键参数为设备空间轴的相对水平度，空间轴之间如果出现不平行的情况，不仅会让薄膜的行进方向产生波动，还会影响薄膜的张力。薄膜在行进过程中方向产生波动会影响薄膜的卷取整齐度，会对下一工序积层产生影像识别不良；影片张力的波动会影响印刷过程电极的大小，对积层工序产生电极错位不良。
当前没有实用的判断空间轴平行度的方法，无法满足用户的需求，以致影响产品的生产效率和质量。鉴于此，迫切需要开发一种测量空间轴平行度的系统及方法。
发明内容
本发明的目的是提供一种空间轴平衡度检测系统及方法，用以解决现有技术中存在的当前没有实用的测量空间轴平行度的方法，无法满足用户的需求，以致影响产品的生产效率和质量的缺陷。
为实现本发明的目的，本发明提供了一种空间轴平衡度检测系统，所述检测系统包括第一激光位移传感器、第二激光位移传感器、第一固定支架、第二固定支架、直线导轨，所述第一激光位移传感器与所述第一固定支架固定连接，所述第二激光位移传感器与所述第二固定支架固定连接，所述第一固定支架与所述第二固定支架均与所述直线导轨滑动连接，且两者在所述直线导轨上一体移动；所述第一激光位移传感器与所述第二激光位移传感器处于同一水平面。
相应地，本发明提供了一种空间轴平衡度检测方法，所述检测方法包括如下步骤：
第一步，将第一激光位移传感器和第二激光位移传感器置于待检测的两个空间轴中间，任意获取直线导轨上或者空间轴上n个（n为自然数，n=1、2、3…n）数据采集点；
第二步，在直线导轨上移动所述第一激光位移传感器和第二激光位移传感器，在数据采集点处分别获取所述第一激光位移传感器和第二激光位移传感器到最邻近的空间轴第一距离数据和第二距离数据；
第三步，根据获取的所述第一距离数据和第二距离数据，判断所述待检测空间轴平衡度。
其中，所述第三步具体为，分别将获取的多个所述第一距离数据和多个所述第二距离数据相加得到值1和值2，通过比较所述值1和值2的大小，若所述值1和值2不相等，则待检测的两个空间轴不平行；若所述值1和值2相等，则待检测的两个空间轴平行。
本发明的有益效果为，与现有技术比较，本发明提供一种实用的空间轴平衡度检测系统及方法，弥补了当前没有实用的判断空间轴平行度的技术空白，满足了用户的需求，提高了产品的生产效率和质量。
附图说明
图1为本发明系统结构示意图；
图2为本发明方法流程示意图；
图中：1-第一激光位移传感器，2-第二激光位移传感器，3-第一固定支架，4-第二固定支架，5-直线导轨，6-空间轴。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解为此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限制本发明的保护范围。
如图1所示，本发明提供了一种空间轴平衡度检测系统，所述检测系统包括第一激光位移传感器、第二激光位移传感器、第一固定支架、第二固定支架、直线导轨，所述第一激光位移传感器与所述第一固定支架固定连接，所述第二激光位移传感器与所述第二固定支架固定连接，所述第一固定支架与所述第二固定支架均与所述直线导轨滑动连接，且两者在所述直线导轨上一体移动；所述第一激光位移传感器与所述第二激光位移传感器处于同一水平面。
薄膜印刷过程中，需要将薄膜经过十几个空间轴，为了检测这些空间轴的平衡度，首先固定一个第一空间轴，将上述检测系统置于第一空间轴和与之相邻的第二空间轴之间的中间部位，使得满足：若待检测的两个空间轴平行的话，两个激光位移传感器分别到最相邻近的空间轴的距离相同。在直线导轨上取n个数据采集点，或者依据空间轴取n个数据采集点，移动两个激光位移传感器到这些采集点上，并计算激光位移传感器在这些数据采集点分别到最相近的空间轴的距离，然后，分别将两个激光位移传感器测量的距离相加，将相加结果进行比较，若相同，则平行；若不同，则不平行。
如图2所示，本发明提供了一种空间轴平衡度检测方法，所述检测方法包括如下步骤：
S101，将第一激光位移传感器和第二激光位移传感器置于待检测的两个空间轴中间，任意获取直线导轨上或者空间轴上n个（n为自然数，n=1、2、3…n）数据采集点；
S102，在直线导轨上移动所述第一激光位移传感器和第二激光位移传感器，在数据采集点处分别获取所述第一激光位移传感器和第二激光位移传感器到最邻近的空间轴第一距离数据和第二距离数据；
S103，根据获取的所述第一距离数据和第二距离数据，判断所述待检测空间轴平衡度。
其中，所述第三步具体为，分别将获取的多个所述第一距离数据和多个所述第二距离数据相加得到值1和值2，通过比较所述值1和值2的大小，若所述值1和值2不相等，则待检测的两个空间轴不平行；若所述值1和值2相等，则待检测的两个空间轴平行。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (3)
1.一种空间轴平衡度检测系统，其特征在于，所述检测系统包括第一激光位移传感器、第二激光位移传感器、第一固定支架、第二固定支架、直线导轨，所述第一激光位移传感器与所述第一固定支架固定连接，所述第二激光位移传感器与所述第二固定支架固定连接，所述第一固定支架与所述第二固定支架均与所述直线导轨滑动连接，且两者在所述直线导轨上一体移动；所述第一激光位移传感器与所述第二激光位移传感器处于同一水平面。
2.一种空间轴平衡度检测方法，其特征在于，所述检测方法包括如下步骤：
第一步，将第一激光位移传感器和第二激光位移传感器置于待检测的两个空间轴中间，任意获取直线导轨上或者空间轴上n个（n为自然数，n=1、2、3…n）数据采集点；
第二步，在直线导轨上移动所述第一激光位移传感器和第二激光位移传感器，在数据采集点处分别获取所述第一激光位移传感器和第二激光位移传感器到最邻近的空间轴第一距离数据和第二距离数据；
第三步，根据获取的所述第一距离数据和第二距离数据，判断所述待检测空间轴平衡度。
3.根据权利要求2所述的平衡度检测方法，其特征在于，所述第三步具体为，分别将获取的多个所述第一距离数据和多个所述第二距离数据相加得到值1和值2，通过比较所述值1和值2的大小，若所述值1和值2不相等，则待检测的两个空间轴不平行；若所述值1和值2相等，则待检测的两个空间轴平行。
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| CN201410063106.6A CN103822596A (zh) | 2014-02-25 | 2014-02-25 | 空间轴平衡度检测系统及方法 |
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2014
- 2014-02-25 CN CN201410063106.6A patent/CN103822596A/zh active Pending
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