CN103820759A - 一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法 - Google Patents

一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103820759A
CN103820759A CN201310379478.5A CN201310379478A CN103820759A CN 103820759 A CN103820759 A CN 103820759A CN 201310379478 A CN201310379478 A CN 201310379478A CN 103820759 A CN103820759 A CN 103820759A
Authority
CN
China
Prior art keywords
target
magnet
cathode
magnetron sputtering
target material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201310379478.5A
Other languages
English (en)
Inventor
彭寿
葛承全
张超群
井治
张仰平
李险峰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
China Triumph International Engineering Co Ltd
Original Assignee
China Triumph International Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by China Triumph International Engineering Co Ltd filed Critical China Triumph International Engineering Co Ltd
Priority to CN201310379478.5A priority Critical patent/CN103820759A/zh
Publication of CN103820759A publication Critical patent/CN103820759A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

本发明涉及磁控溅射镀膜生产设备技术领域,具体来说是一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法,其特征在于靶材经过两次安装,两次溅射,具体方法为:当靶材第一次安装后,经过溅射,刻蚀区域位于靶材的一侧;然后将靶材水平旋转180°再重新安装在阴极上,进行第二次溅射,两次的刻蚀区域恰好连接成一个较大的刻蚀区域。本发明同现有技术相比,将靶材第一次安装后,经过溅射,刻蚀区域位于靶材的一侧,然后将靶材水平旋转180°再重新安装在阴极上,进行第二次溅射,使两次的刻蚀区域恰好连接成一个较大的刻蚀区域,另外,在阴极座外部两侧设有截面为L形的屏蔽罩,屏蔽了靶材上50%以上的区域,提高了靶材的利用率,降低成本。

Description

一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法
[技术领域]
本发明涉及磁控溅射镀膜生产设备技术领域,具体来说是一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法。
[背景技术]
磁控溅射是为了在低气压下进行高速溅射,必须有效地提高气体的离化率,通过在靶阴极表面引入磁场,利用磁场对带电粒子的约束来提高等离子体密度以增加溅射率的方法。因为磁控溅射可以将任何镀材的薄膜沉积在任何基材上,因此磁控溅射已成为溅射技术的主流并广泛应用于大面积镀膜生产中。
磁控溅射镀膜就是在真空中利用荷能粒子轰击靶表面,使被轰击出的粒子沉积在基片上的技术。通常,利用低压惰性气体辉光放电来产生入射离子,阴极靶由镀膜材料制成,基片作为阳极,真空室中通入0.1-10Pa的氩气或其它惰性气体,在阴极(靶)1-3KV直流负高压或13.56MHz的射频电压作用下产生辉光放电,电离出的氩离子轰击靶表面,使得靶原子溅出并沉积在基片上,形成薄膜。
通常矩形平面磁控溅射阴极的靶面有效尺寸和靶座内磁铁的宽度相当。阴极工作时,真空腔室内的工艺气体发生辉光放电,电离出的离子轰击靶材,轰击出靶材材料并沉积在基片上,由于受到辉光放电区域的限制,电离出的工艺气体离子被限制在一个狭窄环形的跑道上,对应的靶面上形成一个狭窄的刻蚀区域,随着辉光放电的进行,靶面刻蚀区域呈“V”形且刻蚀区域越来越狭窄,随着“V”形沟槽的逐渐加深,刻蚀会变得更为剧烈,靶材很快被刻蚀“穿透”,此时必须更换靶材,因此矩形平面阴极的靶材利用率很低,一般在30%左右,而靶材一般采用金属钛、银、铂等价格昂贵的材料制成,因此,靶材的浪费会增加生产成本。
[发明内容]
本发明的目的是提供一种能有效解决矩形平面阴极的靶材利用率很低等问题的一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法。
为实现上述目的,设计一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法,所述的矩形平面磁控溅射阴极包括中靶材压条1、中压条2、边靶材压条3、边压条4、背板5、冷却板6、阴极座7、支撑块8、磁轭9、中立柱10、中磁铁11、中磁靴12、边磁铁13、边磁靴14和靶材15,其特征在于靶材经过两次安装,两次溅射,具体方法为:当靶材第一次安装后,经过溅射,刻蚀区域位于靶材的一侧;然后将靶材水平旋转180°再重新安装在阴极上,进行第二次溅射,两次的刻蚀区域恰好连接成一个较大的刻蚀区域,提高靶材的利用率。
所述的矩形平面磁控溅射阴极的阴极座为不导磁的不锈钢材料,阴极座内设有磁轭9,磁轭9为高导磁材料并通过螺栓和阴极座7固定在一起,磁轭9上设有磁铁组件,所述的磁铁组件包括四列磁铁,中部两列为中磁铁,极性相同;两侧为边磁铁,极性相同,中磁铁和边磁铁极性相反;磁铁上部设有磁靴,磁铁组件顶部设有冷却板,冷却板顶部设有背板,背板上部设有靶材,所述的阴极座外部两侧设有截面为L形的屏蔽罩,屏蔽罩顶部设置于靶材上方,所述的阴极座7宽度大于两侧边磁铁的总跨度,靶材的总跨度大于边磁铁的总跨度。
所述的阴极座的宽度大于两侧边磁铁的总跨度的1.5倍,靶材的总跨度大于边磁铁总跨度的1.5倍。
所述的屏蔽罩屏蔽靶材上50%以上的区域。
所述的冷却板6的材料为铜。
所述的两中磁铁之间设有中立柱,两边磁铁与阴极座之间分别设有支撑块,冷却板的中间位置由中立柱10支撑,两侧分别由支撑块8和阴极座7支撑。
所述的背板5上部安装中压条2和边压条4。
所述的冷却板6、中压条2和边压条4、背板5、中立柱10之间通过螺栓固定在阴极座7上且通过螺栓的紧固力将密封材料压紧,支撑块8、背板5、冷却板6通过螺栓紧固在一起并把密封材料压紧,形成对冷却水通道的密封。
本发明同现有技术相比,将靶材第一次安装后,经过溅射,刻蚀区域位于靶材的一侧,然后将靶材水平旋转180°再重新安装在阴极上,进行第二次溅射,使两次的刻蚀区域恰好连接成一个较大的刻蚀区域,另外,在阴极座外部两侧设有截面为L形的屏蔽罩,屏蔽了靶材上50%以上的区域,提高了靶材的利用率,降低成本。
[附图说明]
图1本发明的剖面图;
如图所示,图中:1.中靶材压条  2.中压条  3.边靶材压条  4.边压条  5.背板  6.冷却板  7.阴极座  8.支撑块  9.磁轭  10.中立柱  11.中磁铁  12.中磁靴  13.边磁铁  14.边磁靴  15.靶材16.屏蔽罩。
[具体实施方式]
下面结合附图对本发明作进一步说明,这种装置的结构和原理对本专业的人来说是非常清楚的。
实施例1
如图1所示,一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法的矩形平面磁控溅射阴极包括中靶材压条1、中压条2、边靶材压条3、边压条4、背板5、冷却板6、阴极座7、支撑块8、磁轭9、中立柱10、中磁铁11、中磁靴12、边磁铁13、边磁靴14和靶材15,其特征在于靶材经过两次安装,两次溅射,具体方法为:当靶材第一次安装后,经过溅射,刻蚀区域位于靶材的一侧;然后将靶材水平旋转180°再重新安装在阴极上,进行第二次溅射,两次的刻蚀区域恰好连接成一个较大的刻蚀区域,提高靶材的利用率。
矩形平面磁控溅射阴极的阴极座为不导磁的不锈钢材料,阴极座内设有磁轭9,磁轭9为高导磁材料并通过螺栓和阴极座7固定在一起,磁轭9上设有磁铁组件,磁铁组件包括四列磁铁,中部两列为中磁铁,极性相同;两侧为边磁铁,极性相同,中磁铁和边磁铁极性相反;磁铁上部设有磁靴,磁铁组件顶部设有冷却板,冷却板顶部设有背板,背板上部设有靶材,阴极座外部两侧设有截面为L形的屏蔽罩,屏蔽罩顶部设置于靶材上方,屏蔽罩屏蔽靶材上50%以上的区域,阴极座的宽度大于两侧边磁铁的总跨度的1.5倍,靶材的总跨度大于边磁铁总跨度的1.5倍。背板5上部安装中压条2和边压条4。
两中磁铁之间设有中立柱,两边磁铁与阴极座之间分别设有支撑块,冷却板的中间位置由中立柱10支撑,两侧分别由支撑块8和阴极座7支撑。
冷却板6、中压条2和边压条4、背板5、中立柱10之间通过螺栓固定在阴极座7上且通过螺栓的紧固力将密封材料压紧,支撑块8、背板5、冷却板6通过螺栓紧固在一起并把密封材料压紧,形成对冷却水通道的密封,冷却板6的材料为铜。

Claims (8)

1.一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法,所述的矩形平面磁控溅射阴极包括中靶材压条(1)、中压条(2)、边靶材压条(3)、边压条(4)、背板(5)、冷却板(6)、阴极座(7)、支撑块(8)、磁轭(9)、中立柱(10)、中磁铁(11)、中磁靴(12)、边磁铁(13)、边磁靴(14)和靶材(15),其特征在于靶材经过两次安装,两次溅射,具体方法为:当靶材第一次安装后,经过溅射,刻蚀区域位于靶材的一侧;然后将靶材水平旋转180°再重新安装在阴极上,进行第二次溅射,两次的刻蚀区域恰好连接成一个较大的刻蚀区域,提高靶材的利用率。
2.如权利要求1所述的一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法,其特征在于所述的矩形平面磁控溅射阴极的阴极座为不导磁的不锈钢材料,阴极座内设有磁轭(9),磁轭(9)为高导磁材料并通过螺栓和阴极座7固定在一起,磁轭(9)上设有磁铁组件,所述的磁铁组件包括四列磁铁,中部两列为中磁铁,极性相同;两侧为边磁铁,极性相同,中磁铁和边磁铁极性相反;磁铁上部设有磁靴,磁铁组件顶部设有冷却板,冷却板顶部设有背板,背板上部设有靶材,所述的阴极座外部两侧设有截面为L形的屏蔽罩,屏蔽罩顶部设置于靶材上方,所述的阴极座(7)宽度大于两侧边磁铁的总跨度,靶材的总跨度大于边磁铁的总跨度。
3.如权利要求2所述的一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法,其特征在于所述的阴极座的宽度大于两侧边磁铁的总跨度的1.5倍,靶材的总跨度大于边磁铁总跨度的1.5倍。
4.如权利要求2所述的一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法,其特征在于所述的屏蔽罩屏蔽靶材上50%以上的区域。
5.如权利要求2所述的一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法,其特征在于所述的冷却板(6)的材料为铜。
6.如权利要求2所述的一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法,其特征在于所述的两中磁铁之间设有中立柱,两边磁铁与阴极座之间分别设有支撑块,冷却板的中间位置由中立柱(10)支撑,两侧分别由支撑块(8)和阴极座(7)支撑。
7.如权利要求2所述的一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法,其特征在于所述的背板(5)上部安装中压条(2)和边压条(4)。
8.如权利要求2所述的一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法,其特征在于所述的冷却板(6)、中压条(2)和边压条(4)、背板(5)、中立柱(10)之间通过螺栓固定在阴极座(7)上且通过螺栓的紧固力将密封材料压紧,支撑块(8)、背板(5)、冷却板(6)通过螺栓紧固在一起并把密封材料压紧,形成对冷却水通道的密封。
CN201310379478.5A 2013-08-27 2013-08-27 一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法 Pending CN103820759A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310379478.5A CN103820759A (zh) 2013-08-27 2013-08-27 一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310379478.5A CN103820759A (zh) 2013-08-27 2013-08-27 一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN103820759A true CN103820759A (zh) 2014-05-28

Family

ID=50756040

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310379478.5A Pending CN103820759A (zh) 2013-08-27 2013-08-27 一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN103820759A (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107032630A (zh) * 2017-04-26 2017-08-11 张家港市铭斯特光电科技有限公司 一种用于玻璃磁控溅射镀膜的方法
CN109706428A (zh) * 2019-02-25 2019-05-03 常州星宇车灯股份有限公司 一种溅射靶装置
CN109735821A (zh) * 2019-03-19 2019-05-10 杭州朗为科技有限公司 一种高场强高靶材利用率的阴极
CN112011771A (zh) * 2019-05-30 2020-12-01 北京北方华创微电子装备有限公司 偏置磁场控制方法、磁性薄膜沉积方法、腔室及设备

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101250687A (zh) * 2008-03-26 2008-08-27 合肥工业大学 一种矩形平面磁控溅射阴极
CN102122599A (zh) * 2010-01-08 2011-07-13 郭信生 衬底处理系统,和衬底处理方法
CN102409301A (zh) * 2010-09-21 2012-04-11 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 磁控溅射靶结构
WO2012101850A1 (ja) * 2011-01-26 2012-08-02 Jx日鉱日石金属株式会社 スパッタリングターゲット

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101250687A (zh) * 2008-03-26 2008-08-27 合肥工业大学 一种矩形平面磁控溅射阴极
CN102122599A (zh) * 2010-01-08 2011-07-13 郭信生 衬底处理系统,和衬底处理方法
CN102409301A (zh) * 2010-09-21 2012-04-11 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 磁控溅射靶结构
WO2012101850A1 (ja) * 2011-01-26 2012-08-02 Jx日鉱日石金属株式会社 スパッタリングターゲット

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107032630A (zh) * 2017-04-26 2017-08-11 张家港市铭斯特光电科技有限公司 一种用于玻璃磁控溅射镀膜的方法
CN109706428A (zh) * 2019-02-25 2019-05-03 常州星宇车灯股份有限公司 一种溅射靶装置
CN109735821A (zh) * 2019-03-19 2019-05-10 杭州朗为科技有限公司 一种高场强高靶材利用率的阴极
CN112011771A (zh) * 2019-05-30 2020-12-01 北京北方华创微电子装备有限公司 偏置磁场控制方法、磁性薄膜沉积方法、腔室及设备
WO2020238594A1 (zh) * 2019-05-30 2020-12-03 北京北方华创微电子装备有限公司 偏置磁场控制方法、磁性薄膜沉积方法、腔室及设备
CN112011771B (zh) * 2019-05-30 2022-02-22 北京北方华创微电子装备有限公司 偏置磁场控制方法、磁性薄膜沉积方法、腔室及设备
JP2022525259A (ja) * 2019-05-30 2022-05-11 ベイジン・ナウラ・マイクロエレクトロニクス・イクイップメント・カンパニー・リミテッド バイアス磁界制御方法、磁性薄膜堆積方法、チャンバ及び装置
TWI787610B (zh) * 2019-05-30 2022-12-21 大陸商北京北方華創微電子裝備有限公司 偏置磁場控制方法、磁性薄膜沉積方法、腔室及設備
JP7218456B2 (ja) 2019-05-30 2023-02-06 ベイジン・ナウラ・マイクロエレクトロニクス・イクイップメント・カンパニー・リミテッド バイアス磁界制御方法、磁性薄膜堆積方法、チャンバ及び装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101097329B1 (ko) 스퍼터링 장치
TWI414621B (zh) Sputtering target and sputtering method using the target
WO1993024674A1 (en) Improved planar magnetron sputtering magnet assembly
CN103820759A (zh) 一种提高矩形平面磁控溅射阴极靶材利用率的方法
US20130092533A1 (en) Sputter deposition apparatus
JP2009158416A (ja) 固体電解質薄膜の製造方法、平行平板型マグネトロンスパッタ装置、及び薄膜固体リチウムイオン2次電池の製造方法
US6432285B1 (en) Planar magnetron sputtering apparatus
JP5186297B2 (ja) スパッタリング装置
US20130068614A1 (en) Sputter deposition apparatus
CN101550536A (zh) 一种用于磁控溅射的高纯镍靶材
CN203462120U (zh) 一种矩形平面磁控溅射阴极
US6740212B2 (en) Rectangular magnetron sputtering cathode with high target utilization
JPS61221363A (ja) スパツタ装置
CN201530858U (zh) 一种磁控溅射设备的阴极冷却装置
CN202246844U (zh) 磁水分离型平面磁控溅射靶
CN104213089B (zh) 磁控溅射设备及磁控溅射方法
CN110965036B (zh) 稀土永磁体表面真空镀膜设备
CN210065899U (zh) 一种高靶材利用率的磁控溅射阴极
CN208649457U (zh) 一种阴极体组件、磁控溅射阴极及磁控溅射装置
CN209974874U (zh) 一种高靶材利用率的矩形磁控溅射阴极
CN103602953A (zh) 一种矩形平面磁控溅射阴极
TWI618809B (zh) 具高靶材利用率之磁性靶材陰極裝置
CN216550672U (zh) 一种带有偏压活性阳极的磁控溅射装置
TWI391514B (zh) 磁控濺鍍機
CN210085559U (zh) 一种刻蚀阳极屏蔽绝缘装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20140528