CN103777383B - 液晶基板配向检查系统 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及液晶基板配向检查系统，即HVA配向后盒内液晶检查机的整列系统，包括位于基板四角的整列机构，所述整列机构设有对基板边沿施压的水平整列机构，其特征在于，还包括用于纵向向基板施加压力的压平装置。这种液晶基板配向检查系统可以对整列过程中基板弯曲进行矫正，减少因为基板的弯曲变形造成的探针与基板接触不良，进一步减少人员误判。

Description

液晶基板配向检查系统
技术领域
本发明涉及液晶面板制作过程中，HVA配向后盒内液晶检查机的整列系统。
背景技术
液晶面板制作过程中，HVA配向后盒内液晶检查机是通过对配向后基板施加设定电压，使基板点亮，用CCD取得配向后的影像，再与机台内部预先建立好的影像进行对比，从而判断配向是否合格。对于达到2200mmX2500mm这样大规格的基板来说，基板进入检查机后在整列时基板容易出现弯曲变形，在加电压装置上升时，容易造成探针与基板的接触不良，从而造成CCD取得的影像与实际不符，造成误判。
发明内容
本发明的目的之一是对原来的整列系统进行改造，提供一种可以克服上述缺陷的液晶基板配向检查系统。
为达到本发明目的，这种液晶基板配向检查系统，包括位于基板四角的整列机构，所述整列机构设有对基板边沿施压的水平整列机构，其特征在于，还包括用于纵向向基板施加压力的压平装置。
优选地，所述整列机构包括水平整列轮、与水平整列轮连接的整列气缸和用于控制整列气缸的第一控制装置，整列机构还包括机台，其中整列气缸连接于机台上。
优选地，所述第一控制装置为电磁阀。
优选地，所述压平装置包括用于作用在基板上的压轮、与压轮连接的压轮气缸和用于控制压轮气缸的第二控制装置。
优选地，所述第二控制装置为电磁阀。
优选地，所述压平装置的压轮气缸连接于机台上。
优选地，所述压轮与压轮气缸的连接方式为：压轮通过固定轴固定在一力臂上，力臂通过一力臂气缸连接于压轮气缸上；其中力臂设有一孔槽，压轮气缸上设有一穿过孔槽的定位柱。或者，
优选地，所述压轮与压轮气缸的连接方式为：压轮通过固定轴固定在一力臂上，力臂通过自身重力活动连接于压轮气缸上，力臂气缸通过第三控制装置控制。
优选地，在基板的四角各配备一台压平装置。
有益效果：这种液晶基板配向检查系统可以对整列过程中基板弯曲进行矫正，减少因为基板的弯曲变形造成的探针与基板接触不良，进一步减少人员误判。
附图说明
图1本发明液晶基板配向检查系统俯视图。
图2本发明液晶基板配向检查系统的整列机构示意图。
图3本发明另一实施例液晶基板配向检查系统的整列机构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明做进一步说明。
如图1、图2所示，这种液晶基板配向检查系统，检查系统包括设于大尺度基板10的四个角的多组整列机构，其中整列机构由水平整列机构20和压平装置30组成。水平整列机构20由机台21、水平整列轮22、与水平整列轮22连接的整列气缸23和用于控制整列气缸的第一控制装置24组成；其中整列气缸23连接于机台21上，第一控制装置24为电磁阀，由水平整列轮22对基板10的四角边沿对基板10的位置进行调整。当基板10发生弯曲时，使用压平装置30向基板10施加纵向的压力用于压平基板10。具体如下：
压平装置30包括作用在基板10上的压轮31、与压轮31连接的压轮气缸32和用于控制压轮气缸32的第二控制装置33；其中第二控制装置33为电磁阀，安装在机台21控制盘内，两端有气管连接到压轮气缸32的两进气管，机台21通过PLC控制电磁阀的打开和关闭，当电磁阀打开时压轮气缸32会推动压轮31前进到基板10上方，当电磁阀关闭时，压轮气缸32会将压轮31拉回到复原，避免基板10搬出时与压轮31发生干涉。所述压平装置30的压轮气缸32连接于机台21上。压轮31通过固定轴34固定在一力臂35上，力臂35通过自身重力活动连接于压轮气缸32上，本实施中，如力臂35设有一孔槽36，而压轮气缸32上设有一穿过孔槽36的定位柱37。
下面通过操作过程对本检查系统做更进一步说明，以便更清楚地理解本发明。
当基板10从入料处被送进操作室后，分置于基板10四个角的八台整列机构对四边两侧进行整列，其中每个角各有一台整列机构结构做了如上的改进，即压平装置30；在整列时，基板10由于尺寸太大，又比较薄，容易发生弯曲，这时，操作压平装置30对基板10施加纵向作用力，便基板10恢复平整。图中可以看出，本申请的平压装置30是通过增加了一组压轮气缸32和电磁阀(即第二控制装置33)来达到压轮31水平方向运动以达所需的位置，并且压轮31是通过固定轴34固定于一力臂35上，而力臂35是通过自身重力活动连接于压轮气缸33上的，即压轮31由于自身重力而位于最低的位置，在压轮气缸32驱动其水平运动以向基板10内伸进时，压轮31先是抵触到基板10的边沿，在压轮31向基板10内运动时，受基板边沿的作用力压轮31慢慢抬起，依靠其自身重力压在基板10上，如果基板10发生弯曲，在受到该作用力时将恢复平整，力臂35和压轮气缸32的连接是一种活动连接方式，即孔槽36在相对固定不动的定位柱37内上下移动。
在另外的实施例中，如图3所示，也可以设计压轮31与压轮气缸32的连接方式为：压轮31通过固定轴34固定在一力臂38上，力臂38通过一力臂气缸39连接于压轮气缸32上。
尽管已经参照其示例性实施例具体显示和描述了本发明，但是本领域的技术人员应该理解，在不脱离权利要求所限定的本发明的精神和范围的情况下，可以对其进行形式和细节上的各种改变。

Claims (9)

1.一种液晶基板配向检查系统，包括位于基板(10)四角的整列机构，所述整列机构设有对基板(10)边沿施压的水平整列机构(20)，其特征在于，还包括用于纵向向基板(10)施加压力的压平装置(30)；
其中，所述水平整列机构(20)包括水平整列轮(22)、与水平整列轮(22)连接的整列气缸(23)和用于控制整列气缸(23)的第一控制装置(24)，水平整列机构(20)还包括机台(21)，其中整列气缸(23)连接于机台(21)上。
2.根据权利要求1所述的液晶基板配向检查系统，其特征在于，所述第一控制装置(24)为电磁阀。
3.根据权利要求1所述的液晶基板配向检查系统，其特征在于，所述压平装置(30)包括用于作用在基板(10)上的压轮(31)、与压轮(31)连接的压轮气缸(32)和用于控制压轮气缸(32)的第二控制装置(33)。
4.根据权利要求3所述的液晶基板配向检查系统，其特征在于，所述第二控制装置(33)为电磁阀。
5.根据权利要求3所述的液晶基板配向检查系统，其特征在于，所述压平装置(30)的压轮气缸(32)连接于机台(21)上。
6.根据权利要求1至5中任一所述的液晶基板配向检查系统，其特征在于，所述压轮(31)与压轮气缸(32)的连接方式为：压轮(31)通过固定轴(34)固定在一力臂(38)上，力臂(38)通过一力臂气缸(39)连接于压轮气缸(32)上，力臂气缸(39)通过第三控制装置(40)控制。
7.根据权利要求1至5中任一所述的液晶基板配向检查系统，其特征在于，所述压轮(31)与压轮气缸(32)的连接方式为：压轮(31)通过固定轴(34)固定在一力臂(35)上，力臂(35)通过自身重力活动连接于压轮气缸(32)上。
8.根据权利要求7所述的液晶基板配向检查系统，其特征在于，所述力臂(35)设有一孔槽(36)，压轮气缸(32)上设有一穿过孔槽(36)的定位柱(37)。
9.根据权利要求6所述的液晶基板配向检查系统，其特征在于，在基板(10)的四角各配备一台压平装置(30)。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103777383B (zh) * 2013-12-31 2016-06-08 深圳市华星光电技术有限公司 液晶基板配向检查系统
CN104407455B (zh) * 2014-11-05 2018-02-13 长沙市宇顺显示技术有限公司 液晶面板制作方法及液晶面板
CN105204199B (zh) * 2015-10-19 2019-03-15 京东方科技集团股份有限公司 测试机台及测试装置
CN106910444B (zh) * 2017-02-28 2020-11-27 京东方科技集团股份有限公司 点灯装置和点灯测试方法
CN109739032A (zh) * 2019-01-24 2019-05-10 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 一种光配向后盒内液晶检查机及其检测方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1326824A (zh) * 2000-05-29 2001-12-19 美蓓亚株式会社 用于平面体的变形矫正方法及装置
CN101712155A (zh) * 2008-09-29 2010-05-26 优志旺电机株式会社 基板输送臂
CN201569821U (zh) * 2009-11-23 2010-09-01 福建华冠光电有限公司 一种液晶面板按压治具
CN101889199A (zh) * 2008-03-27 2010-11-17 日本电气硝子株式会社 玻璃基板检查装置及玻璃基板检查方法
CN102402030A (zh) * 2011-12-07 2012-04-04 苏州华兴源创电子科技有限公司 一种液晶面板检测治具

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01242989A (ja) * 1988-03-24 1989-09-27 Kazuya Hirose テーブルの縦横移動旋回機構
US5501436A (en) * 1994-03-30 1996-03-26 Miller; Dennis K. Substrate retention fixture
EP0948806A2 (en) * 1997-10-03 1999-10-13 Koninklijke Philips Electronics N.V. Holder for a semiconductor substrate, and method of manufacturing a semiconductor device using such a holder
US6262582B1 (en) * 1999-10-15 2001-07-17 International Business Machines Corporation Mechanical fixture for holding electronic devices under test showing adjustments in multiple degrees of freedom
TWI347469B (en) * 2007-04-27 2011-08-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Fixation device and method for controlling thereof
CN103777383B (zh) * 2013-12-31 2016-06-08 深圳市华星光电技术有限公司 液晶基板配向检查系统

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1326824A (zh) * 2000-05-29 2001-12-19 美蓓亚株式会社 用于平面体的变形矫正方法及装置
CN101889199A (zh) * 2008-03-27 2010-11-17 日本电气硝子株式会社 玻璃基板检查装置及玻璃基板检查方法
CN101712155A (zh) * 2008-09-29 2010-05-26 优志旺电机株式会社 基板输送臂
CN201569821U (zh) * 2009-11-23 2010-09-01 福建华冠光电有限公司 一种液晶面板按压治具
CN102402030A (zh) * 2011-12-07 2012-04-04 苏州华兴源创电子科技有限公司 一种液晶面板检测治具

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Publication number Publication date
CN103777383A (zh) 2014-05-07
US20150323314A1 (en) 2015-11-12
WO2015100802A1 (zh) 2015-07-09
US9546864B2 (en) 2017-01-17

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