CN103745253B - 基于双芯片电子标签的加密校验方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提出一种基于双芯片电子标签的加密校验方法，它采用了两个射频识别芯片A芯片和B芯片，在A芯片中的EPC区任取a位字符，在B芯片的EPC区任取8-a位字符组成8位字符的密码，并将该密码存入加密区，将A芯片的TID存入到B芯片的用户区，将B芯片的TID存入到A芯片的用户区，作为校验依据，校验时，读取B芯片的TID并与存储在A芯片中的B芯片的TID做比较，而且读取A芯片的TID并与存储在B芯片中的A芯片的TID作比较，如果有一个不相同，则校验失败，不进入输入密码的步骤，如果两个都相同，则可以输入密码。采用这种方法加密等级非常高，理论上密码是不会被破解。
Description
技术领域：
本发明涉及一种应用在银行、票据等安全认证等级较高的领域中的基于双芯片电子标签的加密校验方法。
背景技术：
目前在RFID(射频识别技术)应用领域中，一般是采用单芯片电子标签，如一般的射频识别卡，但是在一些对安全认证等级要求苛刻的行业(如银行、票据等领域)，在使用现有的单芯片电子作为防伪或者唯一凭证的时候，行业应用者就会对RFID的安全性提出疑问，因为单芯片电子标签在理论上密码是可以被破解的。本发明人为解决上述问题，开发出一款双芯片电子标签，这种电子标签是一张射频识别卡内含有两个RFID芯片，因此，目前急需一种基于次双芯片电子标签的加密校验方法。
发明内容：
为解决上述的技术问题，本发明提供一种加密等级非常高，理论上密码是不会被破解的基于双芯片电子标签的加密校验方法。
本发明的技术方案是，提供一种基于双芯片电子标签的加密校验方法，它采用了两个射频识别芯片A芯片和B芯片，所述加密校验方法包括以下步骤：
1、在A芯片中的EPC区任取a位字符，在B芯片的EPC区任取8-a位字符组成8位字符的密码，并将该密码存入加密区，所述EPC为产品电子编码；
2、将A芯片的TID存入到B芯片的用户区，将B芯片的TID存入到A芯片的用户区，作为校验依据，其中TID为芯片的芯片身份标识；
3、校验时，读取B芯片的TID并与存储在A芯片中的B芯片的TID做比较，而且读取A芯片的TID并与存储在B芯片中的A芯片的TID作比较，如果有一个不相同，则校验失败，不进入输入密码的步骤，如果两个都相同，则可以输入密码。
采用上述方法后，本发明具有以下显著优点和有益效果：
该方法基于具备双芯片的电子标签产品，这种安全等级要求苛刻的RFID产品采用RFID超高频芯片，这种芯片的物理擦写次数是10万次，这种芯片的存储区一般包括TID区、EPC区以及用户区，其中TID区用于存放芯片的TID编码，这个区为只读，EPC区用于存放芯片的产品电子编码，用户区是用来供用户使用，RFID超高频芯片的TID是全球唯一编码，RFID超高频芯片加密位数为8位，即加密区中有8位字符，而采用这种双芯片加密方法之后，由于每个芯片的EPC都有96位，因此两个芯片就具有192位，而加密区的密码是由这192位中选8位组成，因此每个加密区破解理论上需要32的64次方，而这种芯片的擦写次数为2的16次方，故在破解过程中芯片区已经损坏。
并且，在输入密码之前，还要进行产品校验，即检测与A芯片配对的是否是B芯片，此校验通过TID码进行校验，如果校验不合格，则无法进入输入密码的步骤，因此也无法通过更换芯片来对密码进行破解，因此在理论上采用本加密校验方法之后的双芯片电子标签在理论上无法破解，能到达极高的加密需求。
具体实施方式：
下面结合具体实施例对本发明作进一步说明。
本发明提供一种基于双芯片电子标签的加密校验方法，它采用了两个射频识别芯片A芯片和B芯片，所述加密校验方法包括以下步骤：
1、在A芯片中的EPC区任取m位字符，在B芯片的EPC区任取8-m位字符组成8位字符的密码，并将该密码存入加密区，所述EPC为产品电子编码；
2、将A芯片的TID存入到B芯片的用户区，将B芯片的TID存入到A芯片的用户区，作为校验依据，其中TID为芯片的芯片身份标识；
3、输入密码之前先进行校验，校验时，读取B芯片的TID并与存储在A芯片中的B芯片的TID做比较，而且读取A芯片的TID并与存储在B芯片中的A芯片的TID作比较，如果有一个不相同，则校验失败，不进入输入密码的步骤，如果两个都相同，则可以输入密码；
其中，8＞m＞0。
下面举例说明：
例如，A芯片中的EPC区有96位，B芯片中的EPC区也有96位，在A芯片中选择其中三位，例如1、4、8位作为密码的前3位，那么在B芯片中选择4、5、6、7、8作为后5位。那么密码就为A芯片的1、4、8位加上B芯片的、4、5、6、7、8位共8位。将这8位作为密码存入加密区。当然，具体选择A芯片还是B芯片中的几位以及是哪几位这种密码制订规则是由密码设定方设置的。
在输入密码之前需要先进行校验，其校验方法就是根据A芯片和B芯片中存储的对应芯片的TID码，TID码为每个芯片全球所唯一的编码。这样就只能是A芯片与B芯片配对时才可以尽心输入密码的操作。因为EPC区为快速存储区，有可能破解者会采用C芯片复制B芯片中的EPC区，伪造B芯片来进行破解，采用本发明所述的加密校验方法之后，会先进行校验，C芯片的TID区是只读而不可更改的，因此如果是将B芯片替换成C芯片，那么由于C芯片中的TID与A芯片中存储的TID不相同，因此校验不通过，则不进入输入密码的步骤，那么就无法通过更换芯片的方法来对密码进行破解。
Claims (1)
1.一种基于双芯片电子标签的加密校验方法，其特征在于：它采用了两个射频识别芯片A芯片和B芯片，所述加密校验方法包括以下步骤：
1、在A芯片中的EPC区任取m位字符，在B芯片的EPC区任取8-m位字符组成8位字符的密码，并将该密码存入加密区，所述EPC为产品电子编码；
2、将A芯片的TID存入到B芯片的用户区，将B芯片的TID存入到A芯片的用户区，作为校验依据，其中TID为芯片的芯片身份标识；
3、输入密码之前先进行校验，校验时，读取B芯片的TID并与存储在A芯片中的B芯片的TID做比较，而且读取A芯片的TID并与存储在B芯片中的A芯片的TID作比较，如果有一个不相同，则校验失败，不进入输入密码的步骤，如果两个都相同，则进入输入密码的步骤；
其中，8>m>0。
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