CN110457970A - 一种rfid芯片上存储器的自校验方法 - Google Patents

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孙晓霞
张建伟
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Shanghai Mingsi Microelectronics Co Ltd
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    • G06K7/10—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation
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    • G06K7/10019—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation sensing by radiation using wavelengths larger than 0.1 mm, e.g. radio-waves or microwaves resolving collision on the communication channels between simultaneously or concurrently interrogated record carriers.
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Abstract

本发明提出一种RFID芯片上，TID存储器中序列号的自校验方法‑‑奇校验。使用异或运算，计算出序列号中“1”的个数，并产生相应的校验位置于存储区中。用户读取序列号后，用同样的异或运算，计算出检验码并与存储器中的预置校验位比较，一致则代表序列号正确，否则代表序列号有误。

Description

一种RFID芯片上存储器的自校验方法
技术领域
本发明属于集成电路芯片设计领域，具体来说属于超高频射频识别芯片领域。
背景技术
射频识别技术(Radio Frequency Identification，RFID)是一项利用射频信号通过空间耦合实现非接触信息传输，并通过传输的信息实现自动目标识别的技术，无需人工干预。
RFID系统由读写器、标签和软件系统组成。在高速发展的物联网时代，需要读卡器可同时快速识别多个标签，达到便捷的操作。给标签的识别技术提出了新的要求和挑战。读卡器通过无线通信来识别标签。如果多张标签在同一时间内发送自己的ID给读卡器，必定会产生冲突。为了解决冲突问题，做到快速而准确筛选出所需的标签。每一张标签都需要一个序列号作为唯一的标识。制造厂家在标签出厂之前，已经将此序列号固化，不可被更改，简而言之，世界上没有任何两张标签有相同的序列号。因此在标签被广泛应用于物联网中的当今社会，提高标签序列号识别的能力是毋庸置疑的，增加序列号读取的可靠性和稳定性也成为了另一个研究的方向。
发明内容
RFID的标签存储区主要分位四大类：预留存储区，EPC(Electronic ProductCode，简称EPC)存储区，TID(Tag Identifier，简称TID)存储区和用户自定义存储区。如图1所示。
读卡器与标签通信时，用户会根据需求，自定义一些特殊的标签命令。这些命令，只有在得到标签厂家标识与存于标签TID存储区的厂家标识相一致后才可使用。标签TID存储区中的96位数据，包含了标签和提供商特有的识别信息。TID数据在工厂测试过程中，这些识别信息被直接写入芯片TID存储区中。用户只能读取该数，不能改写它的值。为了保证序列号能正确地被用户读取，需要使用校验方法来确保正确性。
TID具备唯一性的原因，依赖于序列号、芯片出厂版本等信息，它们位于TID区的最后48位(30h－5Fh)，如图2所示，38位SNR(Serial Number)就是序列号所在位置。
本实施例中，针对TID中最后48位数据信息，为了增强编码和数据读取的可靠性，也为了让读卡器快速检测出TID数据的变化或者传输过程中的错误，标签在出厂测试过程中，将序列号经过奇校验运算得出校验位值，并存放于存储区。如图2中，红色标注的奇校验码，是本发明提出的一种校验方式——奇校验。出厂后，用户通过读卡器读出序列号后，也使用相同的奇校验方法，自行计算TID中48位数据奇校验值，并检测其正确性。具体方法如下：
本实施例中，奇校验的本质，是将读取出的二进制数据中“1”的个数进行统计，如果数据位加上校验位加起来1的个数是一个奇数，那么就认为这个数据串符合奇校验规则。例如：
序列码100110100110100110100110100110100110100110100110
其中含有24个“1”，24是偶数，所以添上校验码“1”后的个数是一个奇数。
序列码101110101110101110101110101110101110101110101111
其中含有33个“1”，33是奇数，所以添上校验码“0”后的个数还是个奇数。
附图说明
附图1示例了超高频芯片存储器的组成方式。
附图2示例了TID存储区的具体分布。
附图3示例了TID奇校验运算框图。
具体实施方式
本实施例中，具体实施方法如下：
排除图3中，红色标注的奇校验位，把TID存储区47位数据进行异或运算，如果计算结果得到1，那么红色校验位就是0；如果计算结果得到0，那么红色校验位就是1。运算方法如下：
X＝TID[48]⊕TID[49]⊕…⊕TID[94]⊕TID[95]
假如X＝1，则图3中，红色校验位的值是0。
假如X＝0，则图3中，红色校验位的值是1。
本实施例中，在出厂设置阶段，运用以上算法，计算TID序列码信息的X值和校验码并存放于存储区中。在标签的用户端，按照相同算法得出校验码，再与其接收到的校验码进行比较，由此判断接受到的序列码等信息是否正确。如果读取的序列号等信息不符合此规则，则认为数据有误，当前的标签是无效的，或者标签无法相应各类特殊的用户自定义命令。
尽管本发明的内容已经通过上述优选实施例作了详细介绍，在本领域技术人员阅读了上述内容后，对于本发明的多种修改和替代都将是显而易见的。以上的描述和附图仅仅是实施本发明的范例，但应当认识到上述的描述不应被认为是对本发明的限制。

Claims (4)

1.一种RFID芯片上TID存储器的自校验方法，其特征在于，使用奇校验方法为TID存储区中的序列号做校验，当序列号含有奇数个“1”时，校验码为“0”，当序列号含有偶数个“1”时，校验码为“1”。
2.如权利要求1所述的一种RFID芯片上TID存储器的自校验方法，其特征在于，针对TID中48位序列号等信息，为了增强编码和数据读取的可靠性，也为了让读卡器快速检测出TID数据的变化或者传输过程中的错误，标签在出厂测试过程中，将序列号经过奇校验运算得出校验位值，并存放于存储区。
3.如权利要求1所述的一种RFID芯片上TID存储器的自校验方法，其特征在于，如图2中，红色标注的是奇校验码。出厂后，用户通过读卡器读出序列号后，也使用相同的奇校验方法，自行计算TID中序列号等信息的奇校验值，并检测序列号是否正确。
4.如权利要求1所述的一种RFID芯片上TID存储器的自校验方法，其特征在于，本实施例中，奇校验的本质，是将读取出的二进制数据中“1”的个数进行统计，如果数据位加上校验位加起来1的个数是一个奇数，那么就认为这个数据串符合奇校验规则。
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