CN103728285A - 一种荧光分析仪检量线的制作及校准方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种荧光分析仪检量线的制作及校准方法，包括高、中、低成分批次样品的选取、重复测试、最终成分确认；检量线的制作、检量线的中成分的校准以及检量线的高、低成分的校准。采用上述方法后，上述高、中、低成分批次样品可直接从各自生产线中的大批量产品中选取，取样方便，成本低，可保证后续3-10年内每班次的自动校准要求，为产线产品的配方校准及纠偏提供了统一的测试标准，测试准确。另外，检量线校准时，先校准中成分的批次样品，使每次校准标准一致，减少了检量线的漂移几率。

Description

一种荧光分析仪检量线的制作及校准方法

技术领域

本发明涉及一种荧光分析仪的使用方法，特别是一种荧光分析仪检量线的制作及校准方法。

背景技术

荧光分析仪主要用来对各种材料的成分配方进行校准及纠偏，防止成分的偏离，带来性能的下降。荧光分析仪使用前需要对待分析材料配备一个或多个标准样品同时测试。为保证配方的准确或权威性，该标准样品一般均从国家材料中心购买，价格高，且数量有限。然而，荧光分析仪，大多数需要成型压饼后进行测试，压饼时，为方便成型，一般需要添加润滑或粘接成分，故压饼后样品不能回收。而国家购买的标准样品远远不能满足使用要求，为此，为保证配方校准的准确性，便需要从各自的产线中选取样品制作检量线。

发明内容

本发明要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足，而提供一种取样、测试方便，成分测试准确的荧光分析仪检量线的制作及校准方法。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：

   一种荧光分析仪检量线的制作及校准方法，包括以下步骤：

    第一步，高、中、低成分批次样品的选取：从产线高、中、低成分的不同批次的批量品中各选取2-3份与相应的标准样品进行测试比对后，各选取1-2批次；

    第二步，高、中、低成分批次样品的重复测试：将第一步中选取的高、中、低成分批次样品每班次至少测试一次，连续测试至少20个班次；

    第三步，高、中、低成分批次样品的最终成分确认：将第二步中高、中、低各成分批次样品的成分测试值取总测试次数的平均值，并将该平均值作为各成分的最终成分；

    第四步，检量线的制作；将第三步中的高、中、低成分的最终成分连线后，即为检量线；

    第五步，检量线的中成分的校准：使用第一步中选取的一个中成分的批次样品每班次对第四步中的检量线的中成分进行校准；

    第六步，检量线的高、低成分的校准：使用第一步中选取的高、低成分的批次样品每班次对第四步中的检量线的对应的高、低成分进行校准。

    所述第一步中，从产线高、中、低成分的不同批次的批量品中各选取3份与相应的标准样品进行测试比对后，各选取2批次。

    所述第二步中，每班次测试三次，连续测试25个班次。 

本发明采用上述方法后，上述高、中、低成分批次样品可直接从各自生产线中的大批量产品中选取，取样方便，成本低，可保证后续3-10年内每班次的自动校准要求，为产线产品的配方校准及纠偏提供了统一的测试标准，测试准确。另外，检量线校准时，先校准中成分的批次样品，使每次校准标准一致，减少了检量线的漂移几率。

具体实施方式

下面就具体较佳实施方式对本发明作进一步详细的说明。

    一种荧光分析仪检量线的制作及校准方法，一种荧光分析仪检量线的制作及校准方法，包括以下步骤：

    第一步，高、中、低成分批次样品的选取：从产线高、中、低成分的不同批次的批量品中各选取2-3份，优选为3份，与相应的标准样品进行测试比对后，各选取1-2批次，优选2批次。选取后，对每次做好标记与编号，后续测试与校准时，均与相应标记一致。

    第二步，高、中、低成分批次样品的重复测试：将第一步中选取的高、中、低成分批次样品每班次至少测试一次，优选测试三次，避免人为测试误差，连续测试至少20个班次，优选测试25班次，能避免系统测试误差。

    第三步，高、中、低成分批次样品的最终成分确认：将第二步中高、中、低各成分批次样品的成分测试值取总测试次数的平均值，并将该平均值作为各成分的最终成分。

第四步，检量线的制作；将第三步中的高、中、低成分的最终成分连线后，即为检量线。      

第五步，检量线的中成分的校准：使用第一步中选取的一个中成分的批次样品每班次对第四步中的检量线的中成分进行校准。

    第六步，检量线的高、低成分的校准：使用第一步中选取的高、低成分（优选为最高、最低）成分的批次样品每班次对第四步中的检量线的对应的高、低成分（优选为最高、最低）进行校准。

Claims (3)

1.一种荧光分析仪检量线的制作及校准方法，其特征在于：包括以下步骤：

第一步，高、中、低成分批次样品的选取：从产线高、中、低成分的不同批次的批量品中各选取2-3份与相应的标准样品进行测试比对后，各选取1-2批次；

第二步，高、中、低成分批次样品的重复测试：将第一步中选取的高、中、低成分批次样品每班次至少测试一次，连续测试至少20个班次；

第三步，高、中、低成分批次样品的最终成分确认：将第二步中高、中、低各成分批次样品的成分测试值取总测试次数的平均值，并将该平均值作为各成分的最终成分；

第四步，检量线的制作；将第三步中的高、中、低成分的最终成分连线后，即为检量线；

第五步，检量线的中成分的校准：使用第一步中选取的一个中成分的批次样品每班次对第四步中的检量线的中成分进行校准；

第六步，检量线的高、低成分的校准：使用第一步中选取的高、低成分的批次样品每班次对第四步中的检量线的对应的高、低成分进行校准。

2.根据权利要求1所述的荧光分析仪检量线的制作及校准方法，其特征在于：所述第一步中，从产线高、中、低成分的不同批次的批量品中各选取3份与相应的标准样品进行测试比对后，各选取2批次。

3.根据权利要求1所述的荧光分析仪检量线的制作及校准方法，其特征在于：所述第二步中，每班次测试三次，连续测试25个班次。