CN103703340A - 感测和跟踪表面上的辐射阻挡对象的系统和方法 - Google Patents

Abstract

公开了各种系统和方法，其用于估算表面上的一个或多个辐射阻挡对象的位置。多个辐射源和辐射传感器定位在表面周围。基于每个辐射传感器的辐射强度信号，确定对应相对于每个辐射传感器的至少一些辐射阻挡对象的位置的多个的扇区。通过分析扇区的各种组合估算辐射阻挡对象的位置。在一些实施例中，基于对应扇区的组合的多边形的特征，估算辐射阻挡对象的尺寸。

Description

感测和跟踪表面上的辐射阻挡对象的系统和方法

技术领域

描述的实施例涉及用来感测和跟踪表面上的一个或多个辐射阻挡对象的系统、方法和传感器。

背景技术

当一个或多个对象如手指、触针、笔或其它对象定位在表面上或移动通过表面时，各种各样的计算机输入和其它装置都需要跟踪它们。例如，计算机监视器和其它显示屏可配备有触摸屏，其允许用户使用手指或触针在它们移动通过屏幕的显示表面时向计算机提供输入。相似地，白色书写板可配备有笔定位传感系统，其跟踪一个或多个笔在它们移动通过白色书写板的书写表面时的位置。

现有的系统存在各种各样的缺陷，包括复杂度和成本过高、影响其精度和响应时间的高计算开销以及其它缺陷。

发明内容

本发明提供各种各样的系统，用于当辐射阻挡对象定位在表面上或移动通过表面时，检测一个或多个辐射阻挡对象的存在和位置。该表面可以是任意类型的表面，如，计算机监视器或其它显示器件的显示表面（如白色书写板、电子公告板、纸板或墙壁的书写表面）或者如玩具或游戏的其它表面。

根据本发明的第一方面的各种实施例包括框架或外壳，多个辐射源和辐射传感器安装在其上面。该框架将典型地但不一定安装到底层系统的外壳、框架或支架上或者与之结合，底层系统如白色书写板、监视器、电子公告板、游戏、玩具或其它装置。在一些实施例中，该框架或外壳可以与监视器结合，以形成触摸屏。控制器顺序激活部分或全部辐射源。辐射源可以以扫描方式从框架的一侧向另一侧被激活，或者它们可以以不同的次序激活。当每个辐射源被激活时，测量部分或全部辐射传感器上的辐射事件。

存在于框架内的辐射阻挡对象典型地阻挡或衰减一些辐射源和一些辐射传感器之间的一个或多个路径。通过逐次测量由这种阻挡造成的辐射衰减，可以估算辐射阻挡对象的位置。

在根据本发明的另一方面的实施例中，一个或多个扩散器用来扩散由辐射源发射的射线。尤其是当辐射阻挡对象阻挡两个或多个辐射源和辐射传感器之间的路径时，该扩散器可以更精确地估算辐射阻挡对象的位置。

在一些实施例中，由辐射源发射的射线在调制频率上被调制或者用调制图形调制。传感器感测调制频率或图形，并忽略没有按照频率或图形调制的辐射，在估算辐射阻挡对象的位置时，减少周围和其它寄生辐射的影响。

在一方面，提供一种用于感测表面上的一个或多个辐射阻挡对象的位置的系统。该表面安装到框架上或内，并且在一些实施例中，该表面和框架通常是矩形的。辐射源提供在框架上，并且跨越该表面发射射线。辐射传感器提供在框架上的两个或多个位置上。定位每个传感器，使来自多个辐射源的辐射可以入射在每个传感器上。每个传感器向控制器提供对应入射在其上的辐射强度的辐射强度等级。控制器与辐射源耦合，并顺序激活辐射源。当每个辐射源都被激活时，来自辐射源的辐射可以入射在部分或全部辐射传感器上。控制器采样来自辐射传感器的辐射强度等级。辐射强度等级结合成每个辐射源的辐射强度信号。当表面上存在辐射阻挡对象时，辐射阻挡对象将典型地阻挡或衰减由一个多个辐射源发射的辐射到达每个辐射传感器。有效地，当激活了衰减辐射源时，辐射传感器在辐射阻挡对象的阴影内。控制器识别辐射强度等级相比基准或阈值强度等级衰减了的相邻辐射源的范围，辐射源可称为衰减辐射源。相邻衰减辐射源的范围可包括一个或多个辐射源。

控制器识别与每个辐射传感器的位置相关的且当从该辐射传感器观察时对应衰减辐射源的范围的扇区。每个扇区是以辐射传感器为中心且在衰减辐射源的范围之间延伸的圆的一部分。分析对应每个辐射传感器的扇区，以识别它们之间的重叠区域，产生多边形。辐射阻挡对象的位置估算在与多边形相关的点上。在一些实施例中，辐射阻挡对象可以估算成定位在多边形的质心或几何中心。在其它实施例中，可识别与多边形相关的其他几何位置。

在一些实施例中，可以通过识别与至少一个辐射强度信号中的每个辐射阻挡对象的位置对应的扇区，估算两个或多个辐射阻挡对象的位置。通过识别对应扇区的不同组合之间的重叠区的多边形，估算每个辐射阻挡对象的位置。

在一些实施例中，通过分析对应辐射阻挡对象的多边形的尺寸，估算辐射阻挡对象的尺寸。例如，依据辐射阻挡对象的估算位置和多边形的顶之间的每个线的平均长度，可以估算辐射阻挡对象的尺寸。在其它实施例中，多边形的尺寸可以依据多边形的面积来估算。

这里描述的一些实施例提供一种估算辐射阻挡对象在表面上的位置的方法，该方法包括：提供至少三个辐射传感器，其包含第一辐射传感器、第二辐射传感器和第三辐射传感器；提供多个辐射源，其中：由至少一些辐射源发射的辐射横穿该表面，并且入射在每个传感器上；收集对应每个辐射传感器的辐射强度信号，包括对应第一辐射传感器的第一辐射强度信号、对应第二辐射传感器的第二辐射强度信号和对应第三辐射传感器的第三辐射强度信号；基于识别扇区的一个或多个组合的辐射强度信号，识别对应每个辐射源的一个或多个扇区；选择组合中的一个或多个；和基于选择的组合，估算辐射阻挡对象的位置。

在一些实施例中，选择一个或多个组合包括选择对应表面上存在的辐射阻挡对象的估算数目的组合的数目。

在一些实施例中，选择一个或多个组合包括：识别对应组合中的一个或多个的多边形；和选择对应具有最大面积的多边形的组合。

在一些实施例中，选择一个或多个组合包括：识别对应组合中的一个或多个的多边形；并选择对应具有最大面积的多边形的组合。

在一些实施例中，选择一个或多个组合包括：识别对应组合中的一个或多个的多边形；并选择对应产生扇区的较大角跨距的多边形的组合。

在一些实施例中，选择一个或多个组合包括：识别对应组合中的一个或多个的多边形；并且选择对应产生扇区的最大角跨距的多边形的组合。

在一些实施例中，选择一个或多个组合包括至少选择对应每个扇区的组合。

在一些实施例中，该方法进一步包括记录触摸板中一个或多个辐射阻挡对象的估算位置。

在一些实施例中，估算至少一个辐射阻挡对象的位置包括：识别对应选择的组合中的一个的多边形；和基于该多边形估算辐射阻挡对象的位置。

在一些实施例中，基于多边形估算辐射阻挡对象的位置包括识别与多边形相关的点。

在一些实施例中，被识别的点在多边形内内切的圆的中心。

在一些实施例中，被识别的点在外接多边形的圆的中心。

在一些实施例中，被识别的点是从该点到多边形的边的最短距离的总和最小的点。

在一些实施例中，该方法进一步包括调节至少一个辐射强度信号以计算周围辐射。

在一些实施例中，调节周围辐射的辐射强度信号包括获得对应辐射传感器的周围辐射强度等级并基于该周围辐射强度等级调节辐射强度信号。

在一些实施例中，通过在顺序激活至少一些辐射源时顺序采样来自辐射传感器的辐射强度等级来收集对应辐射传感器的每个辐射强度信号。

在一些实施例中，辐射强度信号是同时收集的。

在一些实施例中，至少一个辐射源用不同的强度分开激活，以产生对应第一辐射传感器的辐射强度信号和对应第二辐射传感器的辐射强度信号。

在一些实施例中，辐射强度信号是顺序收集的。

在一些实施例中，基于辐射强度信号中的辐射强度等级的不同，确定多个扇区的边缘。

在一些实施例中，通过识别辐射源的范围确定多个扇区的边缘，所述辐射源的范围以比该范围的任一边上的辐射源小一选择的阈值衰减。

这里公开的一些实施例提供一种估算表面上辐射阻挡对象的尺寸的方法，该方法包括：提供两个或多个辐射传感器，其包括第一辐射传感器、第二辐射传感器；提供多个辐射源，其中：由至少一些辐射源发射的辐射跨越表面，并且入射在每个传感器上；收集每个辐射传感器的辐射强度信号；识别对应每个辐射强度信号的一个或多个扇区；识别对应至少一个扇区的多边形，该至少一个扇区对应每个辐射强度信号；和基于多边形，估算辐射阻挡对象的尺寸。

在一些实施例中，基于多边形的几何特点，估算辐射阻挡对象的尺寸。

下面结合本发明的一些示范性实施例，描述本发明的这些和其它方面。

附图说明

现在将参考图描述本发明的各种实施例，其中：

图1示出了根据本发明的第一系统；

图2a和2b示出了根据图1的系统的辐射强度信号；和

图3示出了图1的部分的放大图；

图4a和4b示出了另一个实施例；

图5示出了另一个实施例；

图6示出了再另一个实施例；

图7示出了利用图7的系统识别或估算表面上的辐射阻挡对象的方法；

图8a、8b和8c示出了对应图6的一个辐射阻挡对象的辐射强度信号；

图9a、9b和9c是图6的部分放大图；

图10a、10b和10c示出了对应图6的两个辐射阻挡对象的辐射强度信号；

图11示出了在不同位置上具有辐射阻挡对象的图6的系统；

图12a、12b和12c示出了对应图11的辐射强度信号；

图13示出了另一个实例；

图14示出了估算辐射阻挡对象的尺寸的方法；

图15示出了当辐射阻挡对象移动时跟踪辐射阻挡对象的尺寸变化的方法；

图16示出了另一个实施例；

图17示出了图16的系统的辐射强度信号；和

图18示出了图6的系统上的辐射阻挡对象的另一种布置。

这些图仅仅是说明性的，并没有按比例绘制。为了清楚起见，一些实施例的各种元素可以不示出。不同实施例的相同和对应的元素用相同的附图标记标识。

具体实施方式

应该认识到，为了全面理解这里描述的示范性实施例，列出了许多具体的细节。然而，本领域的普通技术人员应该理解，可以实践这里描述的实施例，没有这些具体的细节。在其它实例中，没有详细描述众所周知的方法、过程和部件，以防止使本文描述的实施例模糊。此外，这里的描述和附图可认为不以任意方式限制这里描述的实施例的范围，而是仅仅描述本文描述的不同实施例的实现。

这里描述的系统和方法的实施例可以用硬件或软件或者两者的结合来实现。软件构件可以用在可编程计算机上执行的计算机程序实现，每个可编程计算机包括至少一个处理器（例如，微处理器）、数据存储系统（包括易失和非易失存储器和/或存储元件）、至少一个输入器件和至少一个输出器件。例如且没有限制，该可编程计算机（下面称为计算装置）可以是个人计算机、膝上型电脑、个人数据助理、蜂窝式电话、智能电话装置、平板电脑和/或无线装置。程序代码应用于输入数据，以完成本文描述的功能，并产生输出信息。通过已知的方式，该输出信息应用于一个或多个输出装置。

每个程序可以通过高级程序或面向对象的编程和/或与计算机系统联系的脚本语言实现。然而，程序可以用汇编或机器语言来实现。在任何情况下，语言可以是编译的或解释的语言。每个这样的计算机程序优选存储在通用或专用目的可编程计算机可读的存储介质或设备（例如ROM或磁软盘）中，用于当存储介质或设备被计算机读取时配置和操作计算机，以执行本文描述的程序。主题系统还可被认为实现为配置有计算机程序的计算机可读存储介质，其中如此配置的存储介质使计算机以特定和预定的方式操作，以执行本文描述的功能。

这里所描述的示例性实施例提供涉及用于确定与各种辐射源和辐射传感器有关的一个或多个阻挡辐射对象的位置的系统和方法的细节。在一些实施例中，辐射源和传感器可以被安装在一个框架中。在一些实施例中，该系统可以包括各种底层装置或与它们一起使用，如白色书写板、显示器和其他装置。在一些实施例中，该系统可以包括各种底层装置或与它们一起使用，如白色书写板、墙、显示屏的表面或任何其它通常的平面。辐射源可以发出可见光光谱中的辐射，或其它的谱中的辐射，如紫外或红外光谱。在此描述的实施例仅仅是示例性的，还可能是其它实现和配置。

首先参考图1，其示出了用于感测或估算辐射阻挡对象124的位置的系统100。

系统100包括：一对辐射传感器102a、102b，控制器104和安装在框架或外壳108上的多个辐射源106。框架108具有顶侧110、底侧112、左侧114和右侧116。在本实施例中，辐射源106安装在框架108的左、下和右侧上。辐射传感器102a被安装在框架108的左上角，辐射传感器102b安装在框架108的右上角。

框架108围绕表面128。在各种实施例中，表面128可以是显示屏的表面、书写表面或其它表面。在本实施例中，框架108在表面128的边缘上提供了一带槽框。辐射源106和辐射传感器102安装带槽框内。在一些实施例中，该框架可以仅部分地环绕或包围该表面，例如，如果没有辐射传感器或源邻近顶部边缘安装，该框架可以不包围表面的顶部边缘。在其它实施例中，框架可以支持但不包围表面。例如，框架可以为表面、辐射传感器和辐射源提供支撑，但可不具有围绕该表面的带槽框或其它元件。在其它实施例中，该框架本身可提供部分或全部的表面。例如，框架在其边缘之间可具有固体表面，当使用系统100时，辐射阻挡对象可定位在该固体表面上。通常情况下，在这些实例中，该表面将安装至该框架。

在图1中，框架108的左上角被切除，以展现了辐射传感器102a和几个辐射源106。框架108的右下角也被切除，以展现了一些辐射源106。在本实施例中，每个辐射源106是发出红外光谱中的辐射的LED。在其它实施例中，辐射源可以是发出其他频谱中的辐射的不同类型的辐射源，包括可见光谱和UV光谱。辐射源106安装在框架108上，使得来自辐射源的辐射到达辐射传感器102中的一个或两个。在本实施例中，辐射源沿着框架108的左、下、右侧等间隔。在本实施例中，框架108是具有方角的矩形。框架108的边平行于x-y平面的轴。在一些实施例中，辐射源可以不等距隔开。在一些实施例中，框架可具有非矩形形状。

控制器104包括处理器120，其可以是能够操作系统100的任何类型的装置或组件，包括硬件组件、软件组件或包含硬件和软件或固件或两者的组件。例如，处理器120可以是微处理器、微控制器、栅极阵列或任何类型的数据处理或计算装置。该处理器可以被编程或配置为操作系统100和它的组件，并与外部装置进行通信。控制器104还可以包括存储器121，其可以被处理器120访问。处理器120控制控制器104和系统100的操作。指令可以被记录在存储器121中，并且可以加载到处理器中以配置处理器进行控制、数据处理、数据转换和通信操作，以如下所述用于控制控制器104和系统100的操作。控制器104耦合到每个辐射源106。在图1中仅示出了这些连接的一些。控制器104能够独立地激活每个辐射源106，使得当一个辐射源被激活或工作（即，发射辐射）时，剩余的辐射源不被激活或关闭（即，不发射辐射）。

在本实施例中，每个辐射传感器102是PIN光电二极管，其能够感测由框架108的两个相对侧上的辐射源106发射的辐射。辐射传感器102a感测框架108右下侧上的辐射源106所发出的辐射。辐射传感器102b感测框架108左下侧上的辐射源106所发出的辐射。每个辐射传感器102耦合到控制器104，并在任意特定的时间向控制器提供对应落在辐射传感器102上的辐射强度的辐射强度等级。当相应的辐射传感器102接收来自辐射源106的辐射时，辐射强度等级具有相对高的值，当相应的辐射传感器102没有接收来自辐射源106的辐射时，辐射强度等级具有相对低的值。对应辐射源106的一系列的辐射强度等级可以组合成辐射强度的信号，其可以用来估算辐射阻挡对象124的位置。这一点下面将解释。

在其它实施例中，每个辐射传感器可以是响应由辐射源发出的辐射并且能够提供对应入射到传感器上的辐射的辐射强度等级的任何装置。例如，如光传感器、光电二极管、光电池、太阳能电池或光伏电池的光敏元件可用来提供辐射强度等级。辐射传感器可以与控制器104兼容的任意格式，提供包括数字或模拟格式的输出辐射强度等级。

控制器104用框架108的尺寸、每个辐射源106的位置和每个辐射传感器102的位置编程。在这个例子中，控制器104用以下信息编程：

-传感器102a和102b隔开距离d。辐射传感器102a在x-y平面上的原点位置（0，0）上，且辐射传感器102b在x-y平面上的（d，0）位置上。

-对于框架108底侧或右侧上的每个辐射源，框架的左侧（或与框架的左侧平行的线，依据辐射传感器102a的位置而定）和辐射传感器102a和辐射源之间的路径之间的角度，或与该角度对应的值。

-对于框架108左侧或底侧上的每个辐射源，框架的右侧（或与框架的右侧平行的线，依据辐射传感器102b的位置）和辐射传感器102b和辐射源之间的路径之间的角度，或与该角度对应的值。

在控制器104的控制下，系统100可操作以估算辐射阻挡对象124的物理位置P_124a（x_124a，y_124a）。在图1中，辐射阻挡对象124示出为一圆形对象。辐射阻挡对象124可以是阻挡或衰减由辐射源106发射的辐射到达辐射传感器102的触笔、手指或其它对象的尖端。在点P₁₂₄，辐射阻挡对象与表面128接触，该点对应于这里论述的物理位置P_124a和下面论述的像素位置P_124d。

在操作中，控制器104按顺序激活辐射源106。当辐射源106被激活时，控制器104采样辐射传感器102中的一者或两者的输出，以获得对应于入射在每个辐射传感器102上的辐射强度的辐射强度等级。典型地，辐射源和每个辐射传感器之间的路径将阻挡、部分阻挡（即部分地衰减）或畅通。在一些实施例中，当辐射源106被激活时，如果在辐射源106和辐射传感器102之间存在直接路径，控制器可以仅检查辐射传感器102的辐射强度。例如，辐射传感器102a和框架108的底侧112和右侧116上的辐射源106之间存在直接路径。相似地，在框架108的左侧114和底侧112上的辐射源106和辐射源102b之间存在直接路径。在其它实施例中，即使激活的辐射源106不具有到辐射传感器的直接路径，控制器104也可检查辐射传感器102上的辐射强度等级。

用于执行此处理的指令记录在存储器121中。处理器120访问存储器121的指令，并且执行指令来进行上述和下文中的处理。处理器120还可以在进行该处理期间在存储器121中记录数据。

在其他实施例中，辐射源和辐射传感器的特殊布置和框架的形状（它不必是矩形的，且可以具有另一种形状）会影响辐射源到辐射传感器的直接路径。

返回到本实施例中，当辐射源106a被激活时，控制器104不需要采样辐射传感器102a来取得射线强度等级，因为在射线源106a和没有被其他辐射源106干扰的辐射传感器102a之间没有直接路径。控制器104采样由辐射传感器102b提供的辐射强度等级，其将具有相对较高的值来表明辐射源106a和辐射传感器102b之间的路径是畅通的或没有阻挡的。

当辐射源器106c被激活时，控制器104采样两个辐射传感器102a和102b。来自辐射传感器102a的辐射强度等级比较高，表明辐射源106c和辐射传感器102a之间的路径是畅通的。来自辐射传感器102b的辐射强度等级比较低，表明辐射源106c和辐射传感器102b之间的路径被阻挡，在本例中，被辐射阻挡对象124阻挡。

当辐射源106g的被激活时，来自辐射传感器102a和102b的辐射强度等级分别表示辐射源106g和辐射传感器102a和102b的之间的路径是畅通的。

当辐射源106i被激活时，控制器104采样来自辐射源102a的辐射强度等级，其指示辐射源106i和辐射传感器102a之间的路径被辐射阻挡对象124阻挡。

另外，参考图2a和2b。图2a示出了对应由控制器104从辐射传感器102a获得的辐射强度等级的辐射强度信号122a。图2b示出了对应由控制器104从辐射传感器102b获得的辐射强度等级的辐射强度信号122b。当辐射源106被顺序激活然后失效时，每个辐射强度信号包括辐射传感器102b的输出。当任何一个辐射源工作时，剩余的辐射源是关闭的。

图2a和2b还分别示出了基于从辐射传感器102a和102b获得的辐射强度等级的各种辐射源106的基准强度等级126。结合每个辐射传感器102，控制器104确定每个辐射源106的基准强度等级126。对于每个辐射源，当辐射源工作时，控制器104采样来自辐射传感器102的辐射强度等级，在没有辐射阻挡对象时，产生基准强度等级126。

在本实施例中，针对辐射源由其可见的每个辐射传感器（即，如果辐射源和辐射传感器之间存在直接路径），在系统启动期间，为每个辐射源初步确定基准强度等级。当系统启动时，可任选地丢弃强度信号的辐射强度等级样品的初始设置。对于跟随该初始启动期的选定的时间周期，在辐射源工作时，每一个辐射传感器采样每个辐射源的辐射强度等级。记录该辐射强度等级，并在每个辐射传感器上确定每个辐射源的平均强度等级。例如，如果每个辐射源每秒激活50次，可以在每个辐射传感器上将代表半秒的25个采样值用于每个辐射源以计算基准强度等级。在其它实施例中，可以用更多或更少的采样值、或更长周期或更短周期计算基准强度等级。每个辐射传感器的基准强度等级本质上需要考虑到环境温度和影响当具体辐射源开启时到达辐射传感器的辐射的量的其他条件。这些其他条件包括由每个辐射源发射的辐射的量、辐射源和辐射传感器之间的物理距离，还可以包括使用系统100的方式。

针对每个辐射传感器102为每个辐射源106计算的基准强度等级会随着时间被更新。例如，可以计算最近一段时间的一些辐射强度读数的移动平均值，以随着环境和其他条件的改变而精炼基准等级。一些辐射强度读数可能无法用于计算更新后的基准强度等级。例如，每第十个或第二十个辐射强度读数可以被用来计算每个基准强度等级的移动平均。这减少了必须存储的用来计算对应较长一段时间内的基准强度等级的数据量，也减少了处理该任务在控制器中所需的计算时间。典型地，将针对从零点几秒到几秒钟或几十秒的最近时期来计算基准强度等级。当辐射源106和辐射传感器102之间的路径被阻挡时，虽然环境辐射和一些辐射仍然可以到达辐射阻挡对象周围的辐射传感器上，但该源在该传感器上的辐射强度等级显著降低。在精炼基准强度时，该控制器可以排除相比当前基准强度等级低于某一阈值的辐射强度等级，这一点下面将进一步描述。也可以使用各种其它方法来计算每个辐射源在每个辐射传感器上的基准强度等级。在一些实施例中，可以为一组或所有的辐射传感器计算一个基准强度等级。在其它实施例中，预定的强度等级可以用作部分或全部辐射源的基准强度等级。

在本实施例中，每一次一个辐射源106被激活，采样每个辐射源由其可见的辐射传感器102的辐射强度等级，并与该辐射源在该辐射传感器上的现有的基准强度等级126相比。如果当前强度等级超过低于基准强度等级的某些阈值时，计算与基准等级的百分比差异。例如，阈值可以是基准强度等级的90％。如果当前强度等级大于基准等级的90％，当前强度等级可用于进一步精炼基准等级，或者它可能被丢弃。如果它小于90％的基准等级，该处理器假定：辐射源106和辐射传感器102之间的路径至少部分地被阻挡。在其它实施例中，可以使用其他阈值等级。

在循环过程中，该控制器连续地激活辐射源。在开启辐射源106并测量来自每个辐射传感器的辐射源的辐射强度等级的每个周期之后，控制器估算辐射阻挡对象的位置。

控制器104被配置或编程以使用辐射强度信号122估算辐射阻挡对象124的位置P_124a。

通过比较每个辐射强度等级与其相应的基准强度等级，控制器104识别每一个辐射强度信号122中的衰减辐射源的一个或多个范围。在本实施例中，如果辐射强度等级小于其相应的基准强度等级的百分比阈值，则辐射强度等级被认为衰减。在本实施例中，百分比阈值为80％。在其它实施例中，可以使用其它百分比阈值。在一些实施例中，对于对应于辐射源范围的特定辐射源的辐射强度等级，可以使用不同的百分比阈值。

在辐射强度信号126a中，辐射源106h-106k的辐射强度等级相对于它们各自的基准强度等级126衰减。辐射源106h的辐射强度等级大于其基准强度等级的80％，并且辐射源106h不被认为是衰减辐射源范围的一部分。辐射源106i-106k的辐射强度等级都小于其各自基准强度等级的80％，这些相邻辐射源被认为是衰减辐射源的范围，对应于线段154a和154b。线段154a延伸到辐射源106i上的中心点。典型地，辐射源106i上的中心点将在辐射源的辐射发射面或表面的中间上或与之相邻。相似地，线段154b从辐射传感器102a延伸至辐射源106k上的中心点。线段154a和154b限制以辐射源102a的位置为中心的圆的扇区152。

相似地，在辐射强度信号122b中，辐射源106b-106f的辐射强度等级小于其各自基准强度等级的80％。控制器104将辐射源106b-106f识别为对应线段158a和158b之间的扇区156的辐射强度信号122b中的衰减辐射源的范围。线段158a在辐射传感器102b和辐射源106b上的中心点之间延伸。线段158b在辐射传感器102b和辐射源106f上的中心点之间延伸。扇区156是以辐射传感器102b的位置为中心的圆的扇区。

参考图3，其更详细地示出了辐射阻挡对象124的区域。四边形160定义了扇区152和156的联合或重叠区域。控制器104计算四边形160的几何中心或质心，该产生的点是辐射阻挡对象124的估算位置P_124a。在其它实施例中，可以将不同的点计算作为辐射阻挡对象124的估算位置P_124a。例如，控制器104可以发现能够适配在四边形160中的最大圆或四边形160适配在其中的最小圆。这样圆的中心可用作估算位置P_124a。也可以使用其他几何技术，以基于扇区152和156来计算估算位置P_124a。

估算位置P_124a对应于x-y平面上的点（x_124a，y_124a）。

估算位置P_124a（x_124a，y_124a）是物理位置，其用与分开辐射传感器102a和102b的维数d相同的单位测量的并且相对于辐射传感器102a处上的x-y平面的原点测量。

控制器104耦合到接口148，在本实施方式中是通用串行总线端口。

在其他实施例中，接口可以是任何类型的通信接口。例如，接口148可以是模拟接口或数字数据接口，如串行数据端口或并行数据端口。在接口是模拟接口的实施例中，该控制器可以提供对应x_124a和y_124a的值的模拟信号（如电流信号或电压信号）。在接口是数字接口的实施例中，控制器可以配置为将物理位置x_124a和y_124a转换成与传感器102a和102b相关的对应的数字位置x_124d和y_124d。该控制器可以配置为提供接口上的数字位置x_124d和y_124d。

在本实施例中，表面128是LCD显示屏的表面。LCD显示屏具有X水平像素乘以Y垂直像素的分辨率。例如，在一些实施例中，该屏可具有1280×1024像素或1920×1080像素的分辨率。在其它实施例中，显示屏可以具有任何其它标准的或非标准的像素分辨率。控制器104将物理位置转换成对应的像素位置P_124d（x_124d，y_124d）。可以使用多种技术将控制器104配置成这样，包括使用提供对应水平和垂直的物理位置的水平和垂直像素位置的查找表，使用公式在物理位置和像素位置之间转换，或使用任何其它方法。控制器104在接口148上提供数字位置P_124d。

在某些实施例中，当在每个辐射源感测时，可期望测量并考虑基准环境辐射等级，以解释环境辐射。例如，在一些实施例中，环境辐射可以被辐射传感器感测到，从而辐射传感器所提供的辐射强度等级可以同时测量来自辐射源和来自环境辐射的辐射。当所有的辐射源106被关闭时，控制器104可配置为确定每个辐射传感器102上的辐射强度等级，由此确定每个辐射传感器102的环境辐射等级。每个环境辐射等级可以是一组样本的平均，其可以是最近得到的样品的移动平均值，或者可以用另一种方式计算。在某些情况下，入射在辐射传感器上的环境辐射量会随着时间变化。周期性地采样每个辐射传感器上的环境辐射以更新环境辐射等级可能是期望的。在一些实施例中，在辐射源导通情况下获得辐射强度等级之前（或之后），可能需要在所有辐射源立即关闭情况下获得每个辐射传感器的环境辐射等级。

环境辐射等级可用于按比例缩放或调节辐射强度等级，以去除或减小环境辐射对辐射阻挡对象的估算位置的影响。例如，在分析辐射强度信号和估算辐射阻挡对象体的位置之前，环境辐射等级（或基于环境辐射等级的量）可以从基准强度等级126和测得的每个辐射源的辐射强度等级中减去。

在某些实施例中，控制器可以改变由部分或全部辐射源发射的辐射的强度。这可以用来改变测得的辐射源在辐射传感器上的强度等级，以克服环境光的影响，以减少系统的功耗，或为其他原因。

由辐射源发射的辐射强度通常随着传感器与辐射源的间隔变大而减小。在图2a和2b中，示出的辐射强度等级仅是说明性的，并已被归一化，以忽略该减弱在辐射强度中的效果。在一些实施例中，期望补偿辐射强度的这种下降。例如，在一些实施例中，控制器104可依据辐射源和感测辐射的辐射传感器之间的距离操作每个辐射源以发射较高强度的辐射。在这样的实施例中，当用不同的辐射源感测时，它会优选在不同强度等级激活部分或全部的辐射源，其中依据从特定的辐射源到每个相应的辐射传感器的距离选择强度等级。

系统100可用于不同的配置中，以识别各类辐射阻挡对象124的位置。例如，系统100可与白色书写板或其他显示表面一起使用。框架108可以附着到白色书写板的边缘或框架，或者也可以是白色书写板的框架。辐射阻挡对象124可以是用于在白色书写板上书写的笔，当笔在白色书写板的表面上移动时，控制器104估算其位置。控制器104可耦合到白色书写板系统（或可以是白色书写板的一部分），以记录笔位置的估算。通过记录连续估算的笔位置，白色书写板上的信息可以以电子形式被重新创建，并被记录以供后续使用，并且它可以被显示或打印。白色书写板系统可包括软件，以计算估算位置之间笔的移动路径，并平整计算出的路径。

当笔用来在白色书写板上书写时，白色书写板上的墨水可以改变反射在辐射传感器102上的环境光量，并且也可以改变从辐射源106向辐射传感器102传播的辐射量，从而影响部分或全部辐射源106的测得的辐射强度等级。在这样的实施例中，周期性更新部分或全部辐射源的基准强度等级可以提高辐射阻挡对象位置的估算精度。

在其他实施例中，系统100可用与显示监视器或屏幕一起使用以形成触摸屏。框架108可以安装到显示监视器上，或者可以是显示监视器壳体的一部分。在这种情况下，辐射阻挡对象124可以是手指，并且当一个人将他们的手指移动到显示监视器上或离开时，检测手指的存在，并由控制器104估算其在显示屏上的位置。控制器104可耦合到触摸屏系统（或可以是触摸屏系统的一部分）（其也可包括显示监视器），并且可以向触摸屏系统提供估算的手指位置。当手指在显示屏上移动时，可以在触摸屏系统中记录连续估算的手指位置，以提供手指移动的电子记录，并可以在显示监视器上显示估算的位置。触摸屏系统可以包括软件或其他组件来计算手指连续估算位置之间的手指的移动路径，并平整计算出的路径。这样的触摸屏系统在与系统100相结合将有效地允许使用者使用人的手指在显示监视器上写或画，或操纵在显示监视器上显示的对象。

在触摸屏系统中，辐射源106和辐射传感器102可相对接近显示屏地定位，并且当显示屏上显示的信息变化时，入射在辐射传感器上的辐射量可能会发生变化。在这样的实施例中，它也有益于更新部分或全部辐射源的基准强度等级。

接下来参照图4a和4b。图4a示出了用来估算辐射阻挡对象424的位置的另一种系统400。图4b更详细地示出了系统400的右下角。系统400与系统100大致相似，相应的附图标记标识相应的元件。系统400包括靠近辐射源406安装的扩散器430。扩散器430散射辐射源发射的辐射，从而当从辐射传感器402观察时，平整由辐射源明显沿着框架408的左、下和右侧发射的辐射量。在本实施例中，像以上相对于系统100描述那样，估算辐射阻挡对象424相对框架的左和右侧以及辐射传感器的角坐标。本发明人发现，散射由辐射源406发射的辐射可以提供更准确的辐射阻挡对象的位置的估算。

各种材料适合用作扩散器430，包括略微阴暗的或半透明的塑料或其他材料，其扩散但不过渡漫射来自辐射源的辐射，使得其不能被辐射传感器102精确测量。在一些实施例中，可以有效地使用光学级扩散器，其扩散但基本上不阻挡通过该扩散器的射线，包括衍射光栅、透镜扩散器和透镜衍射光栅可以用于扩散器430。图4b示出了安装在框架408的底侧412上的连续的透镜扩散器430b和安装在框架408的右侧416上的连续的透镜扩散器430r。

图5示出了另一个实施例500的一部分，对应于在图4b中示出的系统400的部分。在系统500中，各个扩散器530邻近每个辐射源506安装。

在上述实施例中，框架是矩形的，且辐射传感器被安装在框架的两个角落。在其它实施例中，框架可以具有不同的形状。例如，本发明可与公告板或具有任何规则或不规则形状的其它对象一起使用，并且框架可以成形和定制尺寸为安装在底层对象上或上方。传感器可以位于框架上不同的地方，包括沿着框架的边（其可以是直线或曲线）。在每一种情况下，将每个传感器和从传感器可见的辐射源的位置用于几何识别辐射阻挡对象的存在和位置。

在具有矩形或其他框架形状的一些实施例中，也可以使用附加的传感器。例如，附加的传感器可以加在系统100（图1）和400（图4a）左下和右下角。在一些实施例中，可以沿框架的顶侧110添加附加的辐射源。在一些实施例中，来自附加传感器的关于辐射阻挡对象124或424的位置的附加信息可以组合，以更准确地估算辐射阻挡对象的位置。

在具有矩形或其他框架形状的一些实施例中，传感器可以沿框架的侧边布置。辐射传感器和辐射源的定位可依赖于底层系统（如白色书写板、显示监视器或其他系统）的部分，其中辐射阻挡对象是要被检测的。

在各种实施例中，根据本发明的系统可包括带槽框（可以是框架的一部分），其隐藏部分或全部的系统组件，包括辐射源、辐射传感器和扩散器。在一些实施例中，带槽框或框架或两者都可能被涂上辐射吸收涂料或其他，其适于减少从带槽框或框架或两者向辐射传感器反射的辐射量。

在一些实施例中，可在部分或全部辐射传感器和部分或全部辐射源之间放置光学滤波器。例如，光学滤波器可以围绕着辐射传感器安装，以减少入射在辐射传感器上的环境和其它不希望的辐射的量。例如，如果辐射源发出红外辐射，并且辐射源对红外辐射敏感，那么，可以使用允许红外辐射通过但衰减其他辐射的光学滤波器，以减少环境辐射的影响。

接下来参照图6，其示出了另一种用于同时跟踪多个辐射阻挡对象624的位置的系统600。系统600可以用作输入装置和输出装置，以用于连接的计算机或其他外部系统。

系统600与系统100和400的结构类似，且相应的组件用相同的附图标记标识。与上述系统一样，系统600可以用作电子白色书写板系统或触摸屏系统。

系统600包括三个辐射传感器602a、602b和602c，控制器604，安装在框架608上的多个辐射源606和LCD显示屏。源606被安装在框架608的左侧614、底侧612和右侧616。框架608还具有顶侧610。辐射传感器602a安装在框架608的左上角。辐射传感器602b安装在框架608的右上角。辐射传感器602c安装在框架顶侧620上的辐射传感器602a和602b之间。辐射感应器602a和602b间隔距离d1。辐射感应器602a和602c间隔距离d2。控制器604耦合到辐射传感器602和辐射源606。控制器604控制辐射源，并如以上相对于系统100描述那样从辐射传感器接收辐射强度等级。

框架608的边平行于x-y平面的轴。定位每个辐射阻挡对象624，使得辐射阻挡对象624阻挡至少一个辐射源606和每一个辐射传感器602之间的直线路径。

LCD显示屏安装在框架608内，并且具有显示表面628。从辐射源606到辐射传感器602的辐射在显示表面上通过的视线路径大致平行于显示表面。LCD显示屏具有X水平像素乘以Y垂直像素的分辨率。例如，在一些实施例中，LCD显示屏可具有1280×1024像素或1920×1080像素的分辨率。对于各种显示面板，许多其他的像素分辨率是可能的。在各种实施例中，可以用任何类型的显示面板代替LCD面板。典型地，框架608将被安装到显示面板，或也将形成显示面板的壳体的一部分。

系统600可可选地包括扩散器，如在图4和图5中所示的扩散器430和530。

系统600将典型包括一个或多个输入/输出接口。在本实施例中，控制器604通过接口648耦合到计算装置，以向计算装置发送辐射阻挡对象的位置。例如，接口648可以是如USB接口的串行接口或并行接口。LCD显示器耦合到计算装置以通过视频信号接口（图中未示出）接收视频信号，视频信号被显示在显示器628上。

接下来参照图7，图7示出了用于识别或估算辐射阻挡对象624a和624b的位置的方法700。在本实施例中，方法700是由控制器604执行。用于执行方法800的指令被记录在存储器721中。控制器604访问存储的指令并执行指令，以执行方法，并且因此配置为执行该方法。方法700开始之前，无辐射阻挡对象定位在显示屏表面628上。

方法700开始于步骤702，其中第一辐射阻挡对象624a最初定位在显示表面628上。将通过举例的方式说明方法700。为了举例说明，第一辐射阻挡对象624a最初布置在图6所示位置中的显示表面上。在此步骤中，辐射阻挡对象624b不放置在显示表面628上。

参考图8a、8b和8c，它们示出了辐射阻挡对象624a布置在显示表面628上之后的辐射强度信号622a、622b和622c。

辐射强度信号622a示出了来自辐射源606y-606aa的辐射强度等级在辐射传感器602a上被衰减了，对应于扇区652a。辐射强度信号622b示出了来自辐射源606n-606p的辐射强度等级在辐射传感器602b上被衰减了，对应于扇区656a。辐射强度信号622c示出了来自辐射源606s-606u的辐射强度等级在辐射传感器602c上被衰减了，对应于扇区664a。

控制器604利用如上相对于系统100描述的辐射强度信号622a、622b和622c，以估算辐射阻挡对象724a的物理位置P_624a（x_aa，y_aa）。参照图9b，控制器604确定扇区652a、656a和664a的重叠区域。在此实例中，重叠区域是四边形670。位置P_624a（x_aa，y_aa）是四边形670的质心，且是相对于x-y平面计算的物理（或模拟）位置，其具有在辐射感应器602a的位置上的原点。

控制器604维护触摸表，其中记录表面628上已经被检测的每个辐射阻挡对象的最后已知位置。典型地，触摸表可以是一组变量或存储在存储器621中的数据库的一部分。在本实施例中，触摸表包括两个时隙A和B，用于记录多达两个辐射阻挡对象的最后已知位置。在其它实施例中，触摸表可以包括超过两个时隙，或者可以包括可变数目的时隙。

控制器604在触摸表的时隙A中记录第一辐射阻挡对象624a的物理位置P_624a：

时隙	X位置	Y位置
			A	xaa	yaa
B	-	-

物理位置P_624a（X_aa,Y_aa）对应LCD显示器628上的像素（或数字）位置P_624d（x_ad，y_ad）。控制器604将物理位置P_624a转换成相应的象素位置P_624d，并提供在接口648的像素位置P_624d。

然后方法700进行到步骤704。在步骤704中，控制器604操作辐射源606和传感器602，以依次从每个辐射传感器602获得与辐射源606相关的辐射强度等级。来自每个辐射传感器的辐射强度等级组合成辐射强度信号622。控制器604分析每个辐射强度信号622，以确定在每个辐射强度信号中表现的辐射阻挡对象的数量。

在本实施例中，多达两个辐射阻挡对象可被放置在表面628上。

参考图10a、10b和10c，其示出了当两个辐射阻挡对象624a和624b放置在表面628上时的示例辐射强度信号622a、622b和622c，如图6所示。每个的辐射强度信号622a和622b具有两个在每个辐射传感器602处衰减的不同的辐射强度等级范围。（辐射强度等级衰减的辐射源可以称为衰减辐射源。）衰减辐射强度等级的每个范围对应于隔开的辐射阻挡对象624。衰减辐射强度等级的范围是由至少一个没有衰减的辐射源分开的，在本实例中，每个衰减辐射源的范围对应于以各个辐射传感器602为圆心的圆的不同扇区。例如，还参照图6，在辐射强度信号622a中，辐射源606l-606p和606y-606aa的辐射强度等级在辐射传感器602a衰减了。辐射源606l-606p对应于扇区652b。辐射源606y-606aa对应于扇区652a。控制器604配置为通过识别没有衰减的范围之间的至少一个辐射源来识别衰减辐射源的两个不同的范围。在某些情况下，衰减辐射源的范围可以由单个衰减辐射源组成。

在图10b中，辐射强度信号622b具有两个衰减辐射源范围，606a-660d和606n-606p，分别对应于扇区656b和656a。

在图10c中，辐射强度信号622c有两个衰减辐射源范围，606a-660d和606n-606p，分别对应于扇区664b和664a。

控制器604通过确定任意辐射强度信号622中衰减辐射源范围的最大数目，来确定显示表面628上存在的辐射阻挡对象的数目。控制器604配置用来确定任意一个辐射强度信号622中衰减范围的最高数量，它假定为显示表面628上辐射阻挡对象的数量。在图10a、10b和10c中，在每个辐射强度信号622a、622b和622b中，有两个不同的衰减辐射源范围。在本实例中，控制器604确定在显示表面628上存在两个辐射阻挡对象。

在某些情况下，不同的辐射强度信号可具有不同数目的衰减辐射源范围。接下来参考图11，其示出了与图6不同位置上的辐射阻挡对象624a和624b。图12a、12b和12c示出了对应于图11中所示的布置的辐射强度信号622a、622b和622c。

当从对应扇区652的辐射源602a观察时，辐射阻挡对象624b衰减来自辐射源606i’至606j’的辐射。辐射阻挡对象624a在栅区652内。结果，辐射强度信号622a只有一个衰减辐射源范围。当从辐射源102b和102c观察时，辐射阻挡对象624a和624衰减来自不同范围辐射源的辐射。结果，每一个辐射强度信号622b和622c有两个不同范围的衰减辐射强度等级。因此，控制器604确定在图11所示的状态中，显示表面628上存在两个辐射阻挡对象。

然后方法700进行到步骤706，其中控制器604识别对应在步骤704中识别的扇区的交叉的一组多边形和每个这种多边形的面积。

再参照图6，示出了与每个辐射传感器602相关的两个扇区。每个扇区对应于每个辐射源602的各个辐射强度信号622中的衰减辐射强度等级范围。选择一个对应每个辐射传感器602的扇区，给出了以下扇区组合：

控制器604确定是否存在对应每个组合中三个扇区的联合（或重叠）的多边形，并确定任何这样的多边形的面积。

接下来参考图9a至9c。控制器604可用任何方式确定每个组合中的扇区是否在多边形重叠。

图9a和9b示出与组合A相关的一种方法。控制器604首先确定组合中的两个扇区之间是否存在重叠区域。在本实施例中，控制器首先确定在对应辐射传感器602a和602b的扇区之间是否存重叠区域。在图9a中，扇区652a和的656a重叠在阴影线的四边形669上。

如果前两个扇区不重叠（或在显示面628的区域上不重叠），则控制器604记录对于该组合没有重叠区域。如果前两个扇区重叠在多边形，则控制器604确定该多边形是否与组合内的其他扇区重叠。在图9b中，四边形669与扇区664a重叠在较小的四边形670。

在具有超过三个辐射传感器的另一个实施例中，每一组合将对应较大的扇区数。在这样的实施例中，该控制器依次比较每个连续的四边形与每个另外的扇区。如果在任何步骤中，当前四边形和组内的下一个扇区之间没有重叠，则控制器记录该组合没有重叠区域。

如果组合中的所有扇区有重叠区域，则控制器604确定该重叠区域的面积。

在图9b中，分析了组合A中的所有扇区，以识别四边形670。控制器604计算并记录该四边形的面积。

对于组合B，控制器604第一步确定是否存在三个扇区652a、656a和664b的重叠区域，以识别四边形669。下一步将确定该组合的三个扇区之间不存在重叠区域。控制器604将记录没有重叠区域，或相应地，任何重叠区域的面积为零。

图9c示出了该过程对组合E的应用。扇区652b和656b在四边形672中重叠，其对应于整个阴影区域（阴影线和剖面线）。扇区664b与四边形672重叠在六边形674上，其是交叉阴影，从重叠区域除去了阴影三角形。控制器604计算并记录重叠的面积。

在图6的例子中，在步骤706中，控制器可确定如下结果：

然后方法700进行到步骤708。

控制器604选择对应在步骤704中识别的辐射阻挡对象624的数目的组合的数目。在本实施例中，控制器604选择在步骤706中计算的最大面积的组合。

在图6的例子中，控制器604确定在步骤704中存在两个辐射阻挡对象624并选择的组合A和E，其是仅有的两个产生多边形的组合。其余的组合在三个相应的扇区之间没有任何重叠区域。

在各种情况下，相比步骤704中识别的辐射阻挡对象的数目，更多的组合可形成多边形。参考图13，其示出了这样的例子。图13示出了系统1300，其与系统100和600相似，并且相应的部件用相似的附图标记标识。系统1300包括4个辐射传感器1302a-1302d。三个辐射阻挡对象1324a-1324c布置在显示表面1328上。如虚线框中所示，各种圆的扇形以每个辐射传感器为圆心，并对应于每个辐射阻挡对象的位置。各种组合的扇区重叠在对应每个辐射阻挡对象的位置的多边形1380a、1380b和1380b上。四个扇区1352a、1356c、1364c和1384b用实线轮廓示出。这四个扇区在三角形1382上重叠。三角形1382不对应于辐射阻挡对象。

当方法700应用于所示的系统1300时，在步骤704中，控制器将识别对应每个辐射传感器1302A、1302c和1302d的辐射强度的信号（未示出），每个表示出对应三个不同扇区的三个不同衰减辐射源范围。对应辐射传感器1302b的辐射强度信号将只有两个不同范围的辐射源，因为从辐射传感器1302b观察时，辐射阻挡对象1324b部分处于辐射阻挡对象1324a的阴影中。控制器1304将确定显示表面1328上有三个辐射阻挡对象。在步骤706中，当分析对应的扇区组合时，多边形1380A、1380b、1380c和1382都将被识别。每个多边形的面积也将被计算和记录。在该步骤708中，控制器1304将选择具有最大面积的三个组合。本发明人发现，在其各个扇区之间具有最大重叠面积的组合典型地对应于显示表面1328上存在的辐射阻挡对象的实际位置。

在其他实施例中，控制器可以被配置为以不同的方式在产生多边形的组合中选择。例如，控制器可以被配置来选择最接近先前估算辐射阻挡对象位置的组合。例如，如果两个辐射阻挡对象的估算位置记录在触摸表中，则可在步骤708中选择其多边形最靠近先前记录的位置的两个组合。在一些实施例中，多边形面积或其它尺寸的组合和它们距离先前记录位置的距离可以用来选择组合。下面讨论各种其它的方法。

然后方法700进行到步骤710，其中控制器604计算对应步骤708中选择的每种组合的辐射阻挡对象的估算位置。在本实施例中，控制器604以与系统100相关的上述方式，计算对应于每个所选组合的多边形的质心。参考图9b和9c，在本实例中，控制器604计算出位置P₁（x₁,y₁）和P₂（x₂，y₂），虽然此时，还没有被确定哪个位置对应于哪个辐射阻挡对象624a或624b。

方法700然后进行到步骤712，其中在步骤710中计算出的估算位置记录在触摸表中。

如果在步骤704中，控制器604确定只有一个辐射阻挡对象存在于显示表面628上，那么在步骤710中将仅计算一个估算位置P₁。如果只有一个对应单个的辐射阻挡对象的估算位置先前被记录在触摸表中，则控制器604假定同一个辐射阻挡对象已经移动到新估算的位置P₁，并更新触摸表中的先前记录的位置。控制器604还将辐射阻挡对象的估算物理位置P₁转换成相应的像素位置，其然后被设置在接口648处作为先前确定的辐射阻挡对象的新位置。

如果在步骤710中，控制器604仅计算了一个辐射阻挡对象的一个估算位置P₁，但在触摸表中记录了两个位置，那么控制器604确定先前记录的哪个位置最靠近新计算出的估算位置P₁。用新计算出的坐标更新最靠近先前记录位置的触摸表时隙。其他触摸表时隙被清除。控制器604将估算的物理位置P₁转换成相应的象素位置，并将其报告在接口648上作为最靠近先前记录辐射阻挡对象的新位置。虽然可选地，在该接口上也可以提供识别其它辐射阻挡对象不存在的数据，但是没有新位置提供给其他先前记录的辐射阻挡对象。

如果在步骤704中，已经确定显示表面上有两个辐射阻挡对象，那么在步骤710中将计算出两个估算位置P1和P2。如果触摸表中只有一个先前记录的位置，则控制器604确定估算位置P1或P2最靠近先前记录的位置。最靠近的估算位置P1或P2用于替换先前记录的位置坐标。另一个估算位置记录在触摸表中的另一时隙中。

在本实例中，触摸表中的时隙A先前用来记录辐射阻挡对象624a的初始位置。在步骤710中，计算了对应两个辐射阻挡对象的两个位置P1和P2。P1是更接近辐射阻挡对象624a的初始位置，并且估算位置P1的坐标被记录在触摸表时隙A中。估算位置P2的坐标记录在时隙B中。触摸表有以下的内容：

时隙	X位置	Y位置
			A	x1	Y1
B	x2	y2

控制器604将估算的物理位置P₁和P₂转换成对应的像素位置，并将它们报告在接口648上作为两个辐射阻塞对象的位置。位置P1作为先前识别的辐射阻挡对象624a的新位置报告。位置P2作为新识别的辐射阻挡对象624b的位置报告。

如果在步骤710中计算了两个估算的位置P1和P2，并且两个位置被预先记录在触摸表中，则控制器604确定哪个新估算的位置最接近哪个先前记录的位置。每个新估算的位置被视为对应靠近新估算位置的先前记录位置。在两个新估算位置都较接近同一先前记录位置的情况下，控制器604确定两个先前记录位置和两个新估算位置之间的移动组合将需要最小总移动距离。在这种方式下，一个新的估算位置P1或P2被视为对应先前记录位置的一个，另一个新估算的位置视为对应另一个先前记录的位置。

新记录的位置被转换成像素位置，并作为每个先前识别的辐射阻挡对象的新位置在接口648上报告。

然后方法700返回到步骤704。

方法700允许估算和跟踪一个或多个辐射阻挡对象的位置。耦合到接口748的装置将接收表面上存在的每个辐射阻挡对象的连续估算位置，由此可以跟踪辐射阻挡对象的移动。

在上面所示的示例性实施例中，示出的辐射阻挡对象的数目小于示出的辐射源的数目。本发明人发现，在不同的实施例中，可以跟踪数目比所提供的辐射传感器数目大的辐射阻挡对象。在每个实施例中，触摸表将包含足够的时隙，以记录可以在表面上放置的该数量的辐射阻挡对象的估算位置。

在方法700中，系统600跟踪触摸表中的几个辐射阻挡对象的位置，并在接口648上提供辐射阻挡对象的位置。在其它实施例中，系统可以没有触摸表，并且可以不跟踪特定的辐射阻挡对象。在这样的实施例中，系统控制器可配置来以与步骤704-710相关的上述方式或其他合适的方法估算一个或多个辐射阻挡对象的位置，并且可以在接口648上简单报告辐射阻挡对象的估算位置。该系统可以这样做重复，从而在每个重复期间向外部装置提供一系列辐射阻挡对象的估算位置。

在方法700中，在步骤706-708中，依据对应该组合的多边形的面积，选择一个或多个扇区的组合。在其它实施例中，也可以使用其他技术来选择一个或多个扇区的组合。

参考图18，其示出了选择扇区组合的另一种方法。图18示出了具有三个定位在显示表面628上的辐射阻挡对象624a、624b和624c的系统600。由于辐射阻挡对象的位置与辐射传感器相关，识别以下扇区：652a、652b、656a、656a、664a、664b和664c。控制器604配置用来确定给出识别扇区数目和位置的辐射阻挡对象的最小数目。然后将控制器604配置为选择造成所有的扇区的最大总角跨度包含在所选组合中的该数目的扇区组合。

在图18中所示的布置中，通过控制器识别扇区652a、652b、656a、656a、664a、664b和664c（依据相应的辐射强度信号），至少三个辐射阻挡对象一定存在。已经确定，至少三个辐射阻挡对象存在于显示表面628上，然后控制器604被配置以通过以下组合识别扇区的三种组合：

如以上相对于步骤706的描述，控制器604确定哪个组合的扇区包括该组合中三个扇区的重叠多边形。不包括该组合中所有扇区的重叠的组合将被丢弃。在图18的配置中，仅组合A、E、J和M包括对应该组合中所有三个扇区的重叠的多边形。

在包括重叠的组合中，控制器604选择三个组合，以便对应每个辐射源的每个扇区至少在一个所选择的组合中使用。在图18的配置中，控制器可以选择以下三种组合：A、E和J或者A、E和M。控制器配置用来选择组合的组，其选择组合的对应多边形覆盖所有识的别扇区652a、652b、656a、656a、664a、664b和664c的最大角跨度。A、E和M的这组组合是优选的，因为区域M的多边形可造成扇区656b较大的角跨度覆盖范围。

在一些实施例中，期望估算辐射阻挡对象的大小。再次参考图6。辐射阻挡对象624a具有比辐射阻挡对象624b小的直径。不同的辐射阻挡对象可具有不同的形状和尺寸，包括不规则的和可变的形状和尺寸。例如，手指可被用作辐射阻挡对象。手指具有不规则的和可变的形状。例如，手指可以轻轻地按下或以更大的力量抵抗表面。通常情况下，当手指猛烈按压表面时，从射线源角度考虑，它将阻挡更大范围的辐射源。

接下来参考图14，其示出了关于图9c的上述多边形670。如上所述，控制器604计算估算位置P₂在多边形670的质心上。线686a-686f从点P₂延伸到多边形670的顶点。控制器604可以配置为确定线686的平均长度。圆688以点P₂为圆心，并具有等于线686的平均长度的直径。圆688是对应点P₂的辐射阻挡对象的尺寸的估算。在估算部分或全部辐射阻挡对象的尺寸的实施例中，触摸表包括每个时隙的尺寸域。计算每个估算位置的估算直径，并在接口上与估算位置一起报告作为方法700的一部分。

接下来参照图15，其示出了类似于系统600的系统1500。相应的组件用相应的附图标记标识。系统1500被配置为与辐射阻挡对象的估算位置一起提供每个辐射阻挡对象的估算尺寸。辐射阻挡对象可以是手指或具有可变尺寸的辐射阻挡对象。在一些实施例中，显示表面可以是显示屏，并且耦合到接口1548的计算装置可以显示对应辐射阻挡对象的连续报告位置和尺寸的连续圆。当辐射阻挡对象大约沿线690横过显示表面1528时，一系列圆1574a-1574w对应一系列辐射阻挡对象的报告估算中心位置和估算直径。在图15的例子中，为清楚起见，这些连续的圆隔开显示。在实际的实施例中，当辐射阻挡对象移动时，通常将报告更多的位置和尺寸，使得连续的圆将基本上重叠。线692a和692b示出了在这样实施例中显示的一系列圆的外边缘。当辐射阻挡对象的尺寸变化时，因为它移动，其估算大小改变，允许用户绘制较宽或较窄尺寸形状。

接下来参照图16和17。图16示出了另一种系统1600，其用于估算和跟踪表面1628上的一个或多个辐射阻挡对象1624的位置。系统1600在结构上类似于上面描述的系统，且相应的组件由相似的附图标记标识。

两个辐射阻挡对象1624a和1624b定位在表面1628上，使得它们每个衰减来自不同但相邻的辐射范围的辐射，防止到达辐射传感器1602a。图17示出了对应于图16中的辐射阻挡对象1624a和1624b的布置的辐射强度信号1622。辐射源1624b-1624e的辐射强度等级都小于其相应基准强度等级的选定比例。在系统1600中，虽然在其它实施例中，可以使用不同的阈值来识别由于辐射阻挡对象的存在而衰减的辐射源，但所选择的阈值是基准强度等级的80％。在上述系统中，辐射源1624b-1624e将被认为是衰减辐射源的单一范围，并且单个扇区将用来估算辐射阻挡对象1624a和1624b的位置（与基于从辐射传感器1624b和1624c获得的辐射强度信号识别的扇区相结合）。

在系统1600中，控制器1604被配置为识别比其周围辐射源衰减小一选定的量或比率的一个或多个辐射源。例如，如果在一特定的系统中，当从辐射传感器看它被辐射阻挡对象挡时，射线源通常衰减其正常辐射强度等级的5％左右，那么该余量可选择为25％。如果在衰减辐射源的范围内，一个或多个辐射源的衰减比邻近辐射源小至少25％，则这一个或多个辐射源被认为来限定衰减辐射源的不同范围的边缘。一个或多个辐射源的范围的中心点可认为是每个衰减辐射源的不同范围的边缘。

在图16和17的例子中，控制器1604将辐射光源1606c和1606d识别为比其邻近的辐射源少衰减至少25％。控制器1604确定辐射源1606c和1606d之间的中间点是衰减辐射源的两个不同范围的边缘。以这种方式，控制器能够识别可用来估算辐射源1624a和1624b的位置的两个不同扇区1652a和1652B。

系统1600还示出了另一种可选的特征，可用于精炼用来估算辐射阻挡对象的位置的扇区边缘的估算位置。

在上面描述的系统中，每个扇区的边缘被假定为与对应扇区的第一个和最后一个衰减辐射源的中心对准。

在系统1600中，衰减辐射源的范围的边缘上的和邻近的辐射的相对衰减用于精炼扇区的边缘位置。

在辐射强度信号1622中，辐射源1606a的辐射强度等级衰减到其相应的基准强度等级的85％（即衰减15％）。辐射源1606b的辐射强度等级衰减到其基准强度等级的28％（即衰减72％）。在本实施例中，平均两个辐射源的衰减：

$\frac{15\%+72\%}{2}=43.5\%$

扇区1652b的边缘估算为在辐射源1606b和1606a的中心之间的距离的43.5％处。

相似地，辐射源1606e相比其基准强度等级衰减55％，而辐射源1606f相比其基准强度等级没有衰减。扇区1652a的边缘估算为在辐射源1606e和1606f的中心之间的距离的27.5％处。

这种技术可依据衰减辐射源的范围边缘上的辐射源和该范围外的相邻辐射源的相对衰减，精炼扇区的边缘。

在其它实施例中，依据辐射源的相对衰减，通过计算辐射源范围边缘上的辐射源和该范围外的相邻源的角坐标的加权平均值，可确定一个扇区的边缘。

在其他实施例中，衰减辐射源的范围边缘上的两个辐射源的相对衰减可用于估算扇区的边缘。

在这里仅仅通过实例描述了各种实施例。在不脱离本发明的精神和范围的情况下，可以对这些示例性实施例进行各种修改和变形。

Claims (23)

1.一种估算表面上的辐射阻挡对象的位置的方法，该方法包括：

-提供至少三个辐射传感器，其包含第一辐射传感器、第二辐射传感器和第三辐射传感器；

-提供多个辐射源，其中：

-由至少一些辐射源发射的辐射横穿该表面，并且入射在每个传感器上；

-收集对应每个辐射传感器的辐射强度信号，包括对应第一辐射传感器的第一辐射强度信号、对应第二辐射传感器的第二辐射强度信号和对应第三辐射传感器的第三辐射强度信号；

-基于辐射强度信号，识别对应每个辐射源的一个或多个扇区；

-识别扇区的一个或多个组合；

-选择组合中的一个或多个；和

-基于选择的组合，估算辐射阻挡对象的位置。

2.根据权利要求1的方法，其中选择一个或多个组合包括选择对应表面上存在的辐射阻挡对象的估算数目的组合的数目。

3.根据权利要求1或2的方法，其中选择一个或多个组合包括：

-识别对应组合中的一个或多个的多边形；和

-选择对应具有最大面积的多边形的组合。

4.根据权利要求1或2的方法，其中选择一个或多个组合包括：

-识别对应组合中的一个或多个的多边形；和

-选择对应具有最大面积的多边形的组合。

5.根据权利要求1至4任一项的方法，其中选择一个或多个组合包括：

-识别对应组合中的一个或多个的多边形；和

-选择对应产生扇区的较大角跨距的多边形的组合。

6.根据权利要求1至4任一项的方法，其中选择一个或多个组合包括：

-识别对应组合中的一个或多个的多边形；和

-选择对应产生扇区的最大角跨距的多边形的组合。

7.根据权利要求1至6任一项的方法，其中选择一个或多个组合包括至少选择对应每个扇区的组合。

8.根据权利要求1至7任一项的方法，进一步包括记录触摸表中的一个或多个辐射阻挡对象的估算位置。

9.根据权利要求1至8任一项的方法，其中估算至少一个辐射阻挡对象的位置包括：

-识别对应选择的组合中的一个的多边形；和

-基于该多边形估算辐射阻挡对象的位置。

10.根据权利要求9的方法，其中基于多边形估算辐射阻挡对象的位置包括识别与多边形相关的点。

11.根据权利要求10的方法，其中被识别的点在多边形内内切的圆的中心。

12.根据权利要求10的方法，其中被识别的点在外接多边形的圆的中心。

13.根据权利要求10的方法，其中被识别的点是从该点到多边形的边的最短距离的总和最小的点。

14.根据权利要求1至13任一项的方法，进一步包括调节至少一个辐射强度信号以计算周围辐射。

15.根据权利要求14的方法，其中调节周围辐射的辐射强度信号包括获得对应辐射传感器的周围辐射强度等级并基于该周围辐射强度等级调节辐射强度信号。

16.根据权利要求1至15任一项的方法，其中通过在顺序激活至少一些辐射源时顺序采样来自辐射传感器的辐射强度等级来收集对应辐射传感器的每个辐射强度信号。

17.根据权利要求1至16任一项的方法，其中辐射强度信号是同时收集的。

18.根据权利要求1至17任一项的方法，其中至少一个辐射源用不同的强度分开激活，以产生对应第一辐射传感器的辐射强度信号和对应第二辐射传感器的辐射强度信号。

19.根据权利要求1至16任一项或18的方法，其中辐射强度信号是顺序收集的。

20.根据权利要求1至19任一项的方法，其中基于辐射强度信号中的辐射强度等级的不同，确定多个扇区的边缘。

21.根据权利要求20的方法，其中通过识别辐射源的范围确定多个扇区的边缘，所述辐射源的范围以比该范围的任一边上的辐射源小一选择的阈值衰减。

22.一种估算表面上的辐射阻挡对象的尺寸的方法，该方法包括：

-提供两个或多个辐射传感器，其包括第一辐射传感器、第二辐射传感器；

-提供多个辐射源，其中：

-由至少一些辐射源发射的辐射跨越表面，并且入射在每个传感器上；

-收集每个辐射传感器的辐射强度信号；

-识别对应每个辐射强度信号的一个或多个扇区；

-识别对应至少一个扇区的多边形，该至少一个扇区对应每个辐射强度信号；和

-基于多边形，估算辐射阻挡对象的尺寸。

23.根据权利要求22的方法，其中基于多边形的几何特点，估算辐射阻挡对象的尺寸。

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