CN103645138B - 透射电子显微镜样品的固定装置 - Google Patents

透射电子显微镜样品的固定装置 Download PDF

Info

Publication number
CN103645138B
CN103645138B CN201310631447.4A CN201310631447A CN103645138B CN 103645138 B CN103645138 B CN 103645138B CN 201310631447 A CN201310631447 A CN 201310631447A CN 103645138 B CN103645138 B CN 103645138B
Authority
CN
China
Prior art keywords
ring
retaining element
fixing device
type fixed
fixed component
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201310631447.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103645138A (zh
Inventor
孙凤勤
陈强
高林
高金德
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Huali Microelectronics Corp
Original Assignee
Shanghai Huali Microelectronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Huali Microelectronics Corp filed Critical Shanghai Huali Microelectronics Corp
Priority to CN201310631447.4A priority Critical patent/CN103645138B/zh
Publication of CN103645138A publication Critical patent/CN103645138A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103645138B publication Critical patent/CN103645138B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

本发明公开了一种透射显微镜样品的固定装置,其包括金属片,弹性件以及紧固件。金属件由相连的薄片部件和中空的环状固定部件构成;其中薄片端部用于固定所述金属网,环状固定部件内壁具有环形台阶;弹性件设于环形台阶上;紧固件包括第一固定元件和第二固定元件,所述第一固定元件通过弹性件将所述环状固定部件固定在第二固定元件上。本发明避免了紧固件的第一固定元件与金属片的直接接触,改善了金属片受力变形的问题。

Description

透射电子显微镜样品的固定装置
技术领域
本发明涉及半导体测试技术领域,特别涉及一种透射电子显微镜样品的固定装置。
背景技术
随着IC(Integrated circuit)产业发展,TEM(透射电子显微镜)已经演变成一个不可以缺少的分析研究工具。器件的尺寸越来越小,随之而来的影响器件性能的Defect(缺陷)也会相应越来越小,从而对分析工具解析度的要求自然就会越来越高。而TEM机台本身所具备的解析度以及精确度高的优点让其在FA(失效分析)以及制程监控等方面的作用也越来越明显。
在对TEM样品进行拍摄前,需要将载有TEM样品的铜网放入样品杆,然后再固定装置把铜网固定在样品杆上。图1和图2所示为现有技术中的透射电子显微镜样品固定装置,其包括铜片1和固定件2,固定件可为相匹配螺纹紧固件,如螺丝和内螺纹柱。铜片1为厚度均匀的薄片,其一端为环形,通过将螺栓旋入内螺纹柱锁定铜片1,铜片的另一端同样为环形,其压制在铜网边缘(图中未示)上,以固定铜网。由于螺丝和铜片1的使用频率比较高,从而螺丝容易由于磨损出现滑丝的现象,铜片1也会由于经常性被螺丝帽挤压时的硬性接触而出现变形。如果载有样品的铜网没有很好地被固定在样品杆上,那么拍摄过程中样品可能会丢失,造成经济损失的同时也会带来时间的无端浪费。
发明内容
本发明的主要目的旨在提供一种透射显微镜样品的固定装置,其简化了悬臂梁结构的制造工艺,与现有CMOS工艺完全兼容。
为达成上述目的,本发明提供一种透射显微镜样品的固定装置,所述样品放置于金属网上,所述固定装置用于固定所述金属网,其具体包含:金属片,其由相连的薄片部件和中空的环状固定部件构成;其中所述薄片端部用于固定所述金属网,所述环状固定部件内壁具有环形台阶,所述环状固定部件的高度大于所述薄片部件的高度;弹性件,设于所述环形台阶上;以及紧固件,包括第一固定元件和第二固定元件,所述第一固定元件通过所述弹性件将所述环状固定部件固定在所述第二固定元件上;其中,所述金属片为铜片,所述弹性件为橡胶,所述第一固定元件为螺丝,所述第二固定元件为内螺纹柱;通过螺丝的螺丝帽接触并压紧橡胶弹性件,以将铜片锁固在内螺纹柱上,并避免铜片薄片状的端部在螺丝拧紧过程中产生位置变化。
优选地,所述环形台阶的高度与所述薄片部件的高度相同。
优选地,所述薄片部件的高度与所述环状固定部件高度的比为1:2~1:3。
优选地,所述弹性件的上表面与所述环状固定部件的上表面平齐或突出于所述环状固定部件的上表面。
本发明的有益效果在于,通过采用内壁具有环形台阶的金属片,以及在台阶上嵌入弹性件,避免了紧固件的第一固定元件与金属片的直接接触,不仅改善了金属片受力变形的情况,也使得金属片不会在固定过程中发生位移变化,从而达到稳固固定承载样品的金属网,降低样品因金属网固定不佳而脱落报废的概率,更进一步地还可增加金属片和紧固件的使用寿命。
附图说明
图1所示为现有技术的透射显微镜样品的固定装置的立体图;
图2所示为图1所示的透射显微镜样品的固定装置的俯视图;
图3所示为本发明一实施例透射显微镜样品的固定装置的立体图;
图4所示为本发明一实施例透射显微镜样品的固定装置的剖视图;
图5所示为本发明一实施例透射显微镜样品的固定装置的第一固元件未旋入时的示意图;
图6所示为本发明一实施例透射显微镜样品的固定装置第一固定元件未旋入时的俯视图。
具体实施方式
为使本发明的内容更加清楚易懂,以下结合说明书附图,对本发明的内容作进一步说明。当然本发明并不局限于该具体实施例,本领域内的技术人员所熟知的一般替换也涵盖在本发明的保护范围内。
下面将结合具体的实施例对本发明的透射显微镜样品的固定装置进行详细的说明。本发明的固定装置是用于固定进行TEM检测的待测样品。通常来说,铜网上具有碳膜,而待测样品粘附在碳膜上,将载有待测样品的铜网放置于样品杆中进行TEM检测。而本发明的固定装置通过将承载待测样品的铜网固定在样品杆上实现对待测样品进行固定。
为了更好地说明本发明的技术方案,请参考图3至图6,透射显微镜样品的固定装置包括金属片10,紧固件20以及弹性件30。
紧固件20包括相配合的第一固定元件和第二固定元件。在本实施例中,紧固件20为螺纹紧固件,第一固定元件为螺丝,第二固定元件为内螺纹柱。紧固件20也可以是标准或非标准其他类型的紧固件,本发明并不加以限制。
金属片10由相连的中空的环形固定部件11和片状的薄片部件12构成,环形固定部件11通过紧固件20固定,薄片部件12的端部用于压制铜网(图中未示)的边缘将其固定。本实施例中金属片10为铜片。请进一步参考图4,在本发明中,环形固定部件11的内壁具有一环形台阶13,该环形台阶13上填充有弹性件30。弹性件30是由弹性材料形成,在本实施例中为橡胶。第一固定元件螺丝的螺丝帽接触并压紧弹性件30,从而将铜片10锁固在内螺纹柱上(螺丝帽和内螺纹柱之间)。由于螺丝帽是压在弹性件30而非铜片的环形固定部件11上,且弹性件30提供了力缓冲作用,避免了铜片10因与螺丝帽的直接硬性接触而发生变形,也避免了铜片10因与螺丝帽直接接触而在螺丝拧紧过程中发生位移导致铜片薄片状的端部也产生位置变化进而影响到铜网及其承载的待测样品。此外利用弹性件30也可进一步改善因螺纹磨损所引起的滑牙现象。环形台阶的高度可以和薄片部件12的高度相同,弹性件的上表面可稍突出于环状固定部件11的上表面或与该上表面平齐。
较佳的,如图4所示,在本实施例中,铜片的环形固定部件11的高度要大于薄片部件12的高度,其突出于薄片部件11。相较于现有技术铜片为厚度均匀的薄片状,本实施例通过增大环形固定部件11的高度提供了更好的受力性能,在固定过程中螺丝的拧紧动作不会影响到铜片的薄片部件端部铜网的固定。较佳的,薄片部件12的高度与环状固定部件11高度的比为1:2~1:3。
综上所述,本发明所提出的透射显微镜样品的固定装置通过内壁具有环形台阶的金属片和嵌入台阶上的弹性件相配合,避免了第一固定元件与金属片的直接接触,不仅改善了金属片受力变形的情况,也使得金属片不会在固定过程中发生位移变化,从而达到稳固固定承载样品的铜网,降低样品因铜网固定不佳而脱落报废的概率,更进一步地还可增加金属片和紧固件的使用寿命。
虽然本发明已以较佳实施例揭示如上,然所述诸多实施例仅为了便于说明而举例而已,并非用以限定本发明,本领域的技术人员在不脱离本发明精神和范围的前提下可作若干的更动与润饰,本发明所主张的保护范围应以权利要求书所述为准。

Claims (4)

1.一种透射显微镜样品的固定装置,所述样品放置于金属网上,所述固定装置用于固定所述金属网,其特征在于,包括:
金属片,其由相连的薄片部件和中空的环状固定部件构成;其中所述薄片部件的端部用于固定所述金属网,所述环状固定部件内壁具有环形台阶,所述环状固定部件的高度大于所述薄片部件的高度;
弹性件,设于所述环形台阶上;以及
紧固件,包括第一固定元件和第二固定元件,所述第一固定元件通过所述弹性件将所述环状固定部件固定在所述第二固定元件上;
其中,所述金属片为铜片,所述弹性件为橡胶,所述第一固定元件为螺丝,所述第二固定元件为内螺纹柱;通过螺丝的螺丝帽接触并压紧橡胶弹性件,以将铜片锁固在内螺纹柱上,并避免铜片薄片状的端部在螺丝拧紧过程中产生位置变化。
2.根据权利要求1所述的透射显微镜样品的固定装置,其特征在于,所述环形台阶的高度与所述薄片部件的高度相同。
3.根据权利要求1所述的透射显微镜样品的固定装置,其特征在于,所述薄片部件的高度与所述环状固定部件高度的比为1:2~1:3。
4.根据权利要求1所述的透射显微镜样品的固定装置,其特征在于,所述弹性件的上表面与所述环状固定部件的上表面平齐或突出于所述环状固定部件的上表面。
CN201310631447.4A 2013-11-29 2013-11-29 透射电子显微镜样品的固定装置 Active CN103645138B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310631447.4A CN103645138B (zh) 2013-11-29 2013-11-29 透射电子显微镜样品的固定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310631447.4A CN103645138B (zh) 2013-11-29 2013-11-29 透射电子显微镜样品的固定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103645138A CN103645138A (zh) 2014-03-19
CN103645138B true CN103645138B (zh) 2016-09-07

Family

ID=50250389

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310631447.4A Active CN103645138B (zh) 2013-11-29 2013-11-29 透射电子显微镜样品的固定装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN103645138B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109254025B (zh) * 2018-11-02 2023-09-22 内蒙古工业大学 一种用于透射电镜样品粘贴环形载网的装置及方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101082593A (zh) * 2006-05-29 2007-12-05 Fei公司 样品托架和样品支座
CN101086553A (zh) * 2006-06-08 2007-12-12 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 光发射显微镜背面样品固定器
CN101275895A (zh) * 2008-01-04 2008-10-01 中国科学院物理研究所 一种在透射电子显微镜中原位测量纳电子器件性质的样品台系统

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101076076B1 (ko) * 2009-09-28 2011-10-21 현대제철 주식회사 주사 전자 현미경의 시편 홀더장치

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101082593A (zh) * 2006-05-29 2007-12-05 Fei公司 样品托架和样品支座
CN101086553A (zh) * 2006-06-08 2007-12-12 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 光发射显微镜背面样品固定器
CN101275895A (zh) * 2008-01-04 2008-10-01 中国科学院物理研究所 一种在透射电子显微镜中原位测量纳电子器件性质的样品台系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN103645138A (zh) 2014-03-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103712851B (zh) 高压氢环境材料试验机疲劳试验夹具
CN205506548U (zh) 一种脆性材料压缩试验夹具
CN106872575B (zh) 一种塑封器件分层缺陷的分级风险评价方法
CN202176828U (zh) 用于低气压试验箱的密封过线装置
KR101704710B1 (ko) 검사장치용 프로브
CN103645138B (zh) 透射电子显微镜样品的固定装置
JP6378423B2 (ja) 検査装置用コンタクトプローブ
CN204988700U (zh) 一种弹簧寿命测试装置
CN105572561A (zh) 通用型芯片失效分析的测试设备
KR101798853B1 (ko) 테스트 소켓
CN108592762B (zh) 内沟槽检测装置
CN103531425A (zh) 一种透射电子显微镜样品的固定装置
CN103811332B (zh) 一种干法刻蚀设备的下部电极基台和干法刻蚀设备
US20150155245A1 (en) Electrical component testing in stacked semiconductor arrangement
Nikitin et al. Mechanical properties of porous silver materials depending on sintering parameters
CN206920262U (zh) 一种薄板低周疲劳试验装置
CN105388413A (zh) 芯片失效分析仪器
CN203672281U (zh) 圆弧半径的检测组件
CN103776695A (zh) 生物材料压缩试验缸及实验方法
TW201723490A (zh) 探針裝置
CN105425139A (zh) 芯片失效分析的测试设备
CN108426508A (zh) 一种检测螺栓孔背窝直径的检具
CN201926676U (zh) 一种晶圆测试卡
US20140174193A1 (en) Method, apparatus and sample for evaluating bonding strength
Muffoletto et al. Electrode composition and partial discharges and their role in the breakdown of dielectric elastomer films

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant