CN103617106A - 电子设备检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种电子设备检测方法及装置。该电子设备检测方法包括：接收开始检测指令；响应开始检测指令，对每一待检测项目分别进行检测；根据待检测项目的检测结果，获得每一待检测项目的单一性能状态；依据每一待检测项目的单一性能状态以及每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定电子设备的综合性能的参考阈值区间；每一待检测项目对应的初始阈值区间依据该待检测项目对电子设备的综合性能的影响程度确定；依据每一待检测项目的单一性能状态和电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定电子设备的当前综合性能，获得电子设备的检测结果。可见，通过利用本方案，实现了对电子设备的当前综合性能的确定，最终提高了用户的使用体验。

Description

电子设备检测方法及装置

技术领域

本发明涉及电子设备领域，特别涉及一种电子设备检测方法及装置。

背景技术

随着科学技术飞速的发展，各种电子设备不断的丰富并方便了大众生活。由于利用电子设备处理信息具有方便快捷、节省资源等优势，使得终端成为人们的生活或工作中不可或缺的一部分，例如：手机、平板电脑、笔记本电脑、台式电脑等电子设备已经得到普遍应用。

其中，适用于电子设备的应用也越来越多，在使用应用过程中会产生很多垃圾缓存，占用了电子设备仅有的内存空间，从而影响到电子设备的运行速度，最终降低了电子设备当前的性能；同时，各种类型的病毒、漏洞层出不穷，且表现更加隐蔽，导致危害程度更高，这无疑也将降低电子设备当前的性能。当然，在用户使用电子设备的过程中，还存在影响电子设备当前的性能的其他问题。

综上，为了用户更好的了解电子设备，以便后续对电子设备的使用与处理，对电子设备的当前综合性能的确定是非常重要的工作环节之一。

发明内容

基于上述问题，本发明实施例公开了一种电子设备检测方法及装置，以确定出电子设备的当前综合性能。技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供了一种电子设备检测方法，包括：

接收开始检测指令；

响应所述开始检测指令，对每一待检测项目分别进行检测；

根据所述待检测项目的检测结果，获得所述每一待检测项目的单一性能状态；

依据所述每一待检测项目的单一性能状态以及所述每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定所述电子设备的综合性能的参考阈值区间；其中，所述每一待检测项目对应的初始阈值区间依据该待检测项目对所述电子设备的综合性能的影响程度确定；

依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能，获得所述电子设备的检测结果。

优选的，依据所述每一待检测项目的单一性能状态以及所述每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，包括：

将单一性能状态符合预设条件的待检测项目确定为第一待检测项目；

确定出所述第一待检测项目对应的初始阈值区间中下限值最小且区间值最小的第一初始阈值区间；

将所述第一初始阈值区间确定为所述电子设备的综合性能的参考阈值区间。

优选的，所述单一性能状态包括：扣分值；

相应的，将单一性能状态符合预设条件的待检测项目确定为第一待检测项目，包括：

将扣分值大于零的待检测项目确定为第一待检测项目。

优选的，依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能所利用的公式为：

$Y=X_{\min }+(D-\frac{\arctan (x/10)}{\mathrm{\π}/2}*D);$

其中，Y为所述电子设备的当前综合性能，D为所述参考阈值区间的区间值，X_min为所述参考阈值区间的下限值，X为所述第一待检测项目对应的扣分总值，

为修正后的扣分总值。

优选的，依据所述待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能所利用的公式为：

$Y=X_{\min }+(D-\frac{\arcsin (x/10)}{\mathrm{\π}/2}*D);$

其中，Y为所述电子设备的当前综合性能，D为所述参考阈值区间的区间值，X_min为所述参考阈值区间的下限值，X为所述第一待检测项目对应的扣分总值，为修正后的扣分总值。

优选的，所述待检测项目包括：

垃圾数据项目、内存占用项目、设备漏洞项目、恶意软件项目、应用升级项目中的至少两类；

其中，所述垃圾数据项目包括系统缓存、残留文件、应用安装包中的至少一种。

优选的，本发明实施例所提供的电子设备检测方法还包括：

显示所确定出的所述电子设备的当前综合性能。

优选的，本发明实施例所提供的电子设备检测方法还包括：

显示所确定出的所述电子设备的当前综合性能，同时，显示每一待检测项目的检测结果。

第二方面，本发明实施例提供了一种电子设备检测装置，包括：

指令获得模块，用于接收开始检测指令；

指令响应模块，用于响应所述开始检测指令，对每一待检测项目分别进行检测；

单一性能状态确定模块，用于根据所述待检测项目的检测结果，获得所述每一待检测项目的单一性能状态；

参考阈值区间确定模块，用于依据所述每一待检测项目的单一性能状态以及所述每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定所述电子设备的综合性能的参考阈值区间；其中，所述每一待检测项目对应的初始阈值区间依据该待检测项目对所述电子设备的综合性能的影响程度确定；

综合性能确定模块，用于依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能，获得所述电子设备的检测结果。

优选的，所述参考阈值区间确定模块，包括：

第一待检测项目确定单元，用于将单一性能状态符合预设条件的待检测项目确定为第一待检测项目；

第一初始阈值区间确定单元，用于确定出所述第一待检测项目对应的初始阈值区间中下限值最小且区间值最小的第一初始阈值区间；

参考阈值区间确定单元，用于将所述第一初始阈值区间确定为所述电子设备的综合性能的参考阈值区间。

优选的，所述单一性能状态确定模块，包括：

扣分值确定单元，用于根据所述待检测项目的检测结果，确定所述待检测项目的扣分值；

相应的，所述第一待检测项目确定单元，用于将扣分值大于零的待检测项目确定为第一待检测项目。

优选的，所述综合性能确定模块依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能所利用的公式为：

$Y=X_{\min }+(D-\frac{\arctan (x/10)}{\mathrm{\π}/2}*D);$

其中，Y为所述电子设备的当前综合性能，D为所述参考阈值区间的区间值，X_min为所述参考阈值区间的下限值，X为所述第一待检测项目对应的扣分总值，

为修正后的扣分总值。

优选的，所述综合性能确定模块依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能所利用的公式为：

$Y=X_{\min }+(D-\frac{\arcsin (x/10)}{\mathrm{\π}/2}*D);$

其中，Y为所述电子设备的当前综合性能，D为所述参考阈值区间的区间值，X_min为所述参考阈值区间的下限值，X为所述第一待检测项目对应的扣分总值，

为修正后的扣分总值。

优选的，所述指令响应模块所检测的待检测项目包括：

垃圾数据项目、内存占用项目、设备漏洞项目、恶意软件项目、应用升级项目中的至少两类；

其中，所述垃圾数据项目包括系统缓存、残留文件、应用安装包中的至少一种。

优选的，本发明实施例所提供的电子设备检测装置还包括：

第一显示模块，用于显示所确定出的所述电子设备的当前综合性能。

优选的，本发明实施例所提供的电子设备检测装置还包括：

第一显示模块，用于显示所确定出的所述电子设备的当前综合性能，同时，显示每一待检测项目的检测结果。

本发明实施例中，接收开始检测指令；响应该开始检测指令，对每一待检测项目分别进行检测；根据待检测项目的检测结果，获得每一待检测项目的单一性能状态；依据每一待检测项目的单一性能状态以及每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定电子设备的综合性能的参考阈值区间；其中，每一待检测项目对应的初始阈值区间依据该待检测项目对电子设备的综合性能的影响程度确定；依据待检测项目的单一性能状态和电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定电子设备的当前综合性能。可见，通过利用本方案，实现了对电子设备的当前综合性能的确定，使得用户能够更好地了解电子设备，最终提高了用户的使用体验。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例所提供的一种电子设备检测方法的第一种流程图；

图2为本发明实施例所提供的一种电子设备检测方法的第二种流程图；

图3为本发明实施例所提供的一种电子设备检测装置的结构流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为了实现对电子设备的当前综合性能的确定，从而使得用户更好地了解电子设备，本发明实施例提供了一种电子设备检测方法及装置。

下面首先对本发明实施例所提供的一种电子设备检测方法进行介绍.

需要说明的是，本发明实施例所提供的电子设备检测方法适用于电子设备中。其中，在实际应用中，该电子设备可以为：手机、笔记本电脑、平板电脑等。

如图1所示，一种电子设备检测方法，包括：

S101，接收开始检测指令；

当需要确定电子设备的当前综合性能时，用户可以向该电子设备发送开始检测指令，而该电子设备可以接收到该开始检测指令，进而进行后续的处理。

S102，响应该开始检测指令，对每一待检测项目分别进行检测；

在接收到该开始检测指令后，该电子设备可以响应该开始检测指令，对每一待检测项目进行检测，并获得每一待检测项目对应的检测结果。其中，对每一待检测项目进行检测可以利用现有技术实现，在此不作赘述。

需要说明的是，根据实际应用中每一待检测项目可以对应的检测结果，预先为每一待检测项目设置初始阈值区间，即分数区间，其中，每一待检测项目对应的初始阈值区间依据该待检测项目对该电子设备的综合性能的影响程度确定。可以理解的是，每一待检测项目所对应的初始阈值区间可以通过对大量的历史数据以及相关权威组织发布的信息进行分析后设定。

其中，待检测项目可以包括：垃圾数据项目、内存占用项目、设备漏洞项目、恶意软件项目、应用升级项目中的至少两类；其中，该垃圾数据项目可以包括系统缓存、残留文件、应用安装包中的至少一种。

本领域技术人员可以理解的是，垃圾数据项目对应的检测结果为：垃圾数据的大小，内存占用项目对应的检测结果可以为：进程占用内存的比值，设备漏洞项目对应的检测结果可以为：电子设备中所存在的漏洞的个数；恶意软件项目对应的检测结果可以为：该电子设备中所存在的恶意软件的个数，而应用升级项目对应的检测结果可以为：该电子设备中所存在的需要升级的软件的个数。

举例而言，对于垃圾项目可以对应的检测结果为：系统缓存<=30MB or残留文件<=5个or应用安装包<=10个的情况而言，垃圾数据项目对电子设备的综合性能存在一定的影响，因此，可以设置垃圾数据项目对应的初始阈值区间为[80,95)，而对于垃圾数据项目可以对应的检测结果为：系统缓存>30MB and残留文件>5个and应用安装包>10个的情况而言，相对于系统缓存<=30MBor残留文件<=5个or应用安装包<=10个，此时的垃圾数据项目对电子设备的综合性能的影响较大，因此，可以设置垃圾数据项目对应的初始阈值区间[80,95)；对于设备漏洞项目可以对应的检测结果为：漏洞个数>=1个的情况而言，相对于垃圾数据项目而言，设备漏洞项目对电子设备的综合性能存在较大的影响，因此，可以设置设备漏洞项目对应的初始阈值区间为[60,80）；而对于恶意软件项目可以对应的检测结果为：恶意软件>=1个的情况而言，相对于存在漏洞而言，恶意软件项目对电子设备的综合性能的影响更大，因此，可以设置恶意软件项目对应的初始阈值区间为[40,60）。

当然，本发明实施例所列举出的待检测项目仅仅作为示例，并不应该构成对本发明实施例的限定；并且，可以根据实际应用场景，选择所需的待检测项目，这都是合理的。

S103，根据待检测项目的检测结果，获得每一待检测项目的单一性能状态；

在获得每一待检测项目的检测结果后，可以根据待检测项目的检测结果，获得每一待检测项目的单一性能状态，进而依据所确定出的单一性能状态进行后续当前综合性能的确定。

其中，该单一性能状态可以为：扣分值。其中，扣分机制可以例如：当系统缓存<=30MB时，扣1分，而系统缓存>30MB时，每高出30MB再多扣1分，以此类推；当残留文件个数<=5时，扣1分，而残留文件>5时，每高出5个再多扣1分，以此类推。

S104，依据每一待检测项目的单一性能状态以及每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定该电子设备的综合性能的参考阈值区间；

在确定出每一待检测项目的单一性能状态以及每一待检测项目对应的初始阈值区间后，可以进一步确定出该电子设备的综合性能的参考阈值区间。

其中，依据每一待检测项目的单一性能状态以及每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定电子设备的综合性能的参考阈值区间，可以包括：

将单一性能状态符合预设条件的待检测项目确定为第一待检测项目；

确定出第一待检测项目对应的初始阈值区间中下限值最小且区间值最小的第一初始阈值区间；

将第一初始阈值区间确定为该电子设备的综合性能的参考阈值区间。

需要说明的是，当存在多个单一性能状态符合预设条件的第一待检测项目时，由于每一待检测项目对应有初始阈值区间，而该电子设备的最终获得的当前综合性能所对应分数必然处于下限值最小且区间值最小的第一初始阈值区间内，即该电子设备的综合性能的参考阈值区间为该电子设备的当前综合性能所对应分数所在的区间。例如：当垃圾数据项目的单一性能状态和设备漏洞项目的单一性能状态均符合预设条件时，由于设备漏洞项目的初始阈值区间的下限值最小且区间值最小，因此，设备漏洞项目对应的初始阈值区间为该电子设备的综合性能所对应的参考阈值区间，也就是，最终确定出的电子设备的当前综合性能所对应分数必然处于该参考阈值区间之中。

举例而言，当单一性能状态为扣分值时，将单一性能状态符合预设条件的待检测项目确定为第一待检测项目，可以包括：

将扣分值大于零的待检测项目确定为第一待检测项目，也就是将被扣过分的待检测项目确定为第一待检测项目。

S105，依据每一待检测项目的单一性能状态和该电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定该电子设备的当前综合性能，获得该电子设备的检测结果。

其中，在获得每一待检测项目的单一性能状态和该电子设备的综合性能的参考阈值区间后，可以依据特定的公式，确定该电子设备的当前综合性能，获得该电子设备的检测结果。其中，该电子设备的当前综合性能所对应分数位于参考阈值区间内。

其中，依据每一待检测项目的单一性能状态和该电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定该电子设备的当前综合性能所利用的公式可以为：

$Y=X_{\min }+(D-\frac{\arctan (x/10)}{\mathrm{\&pi;}/2}*D);$

其中，Y为该电子设备的当前综合性能，D为该参考阈值区间的区间值，X_min为该参考阈值区间的下限值，X为第一待检测项目对应的扣分总值，

为修正后的扣分总值。

当然，依据每一待检测项目的单一性能状态和电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定该电子设备的当前综合性能所利用的公式可以为：

$Y=X_{\min }+(D-\frac{\arcsin (x/10)}{\mathrm{\&pi;}/2}*D);$

其中，Y为该电子设备的当前综合性能，D为该参考阈值区间的区间值，X_min为该参考阈值区间的下限值，X为第一待检测项目对应的扣分总值，为修正后的扣分总值。

需要说明的是，上述公式仅仅作为示例，并不应该构成对本发明实施例的限定，例如：在保证所确定出的电子设备的当前综合性能所对应分数处于参考阈值区间内的前提下，能够利用每一待检测项目的单一性能状态和电子设备的综合性能的参考阈值区间的其他公式也是可以的。

当然，该单一性能状态并不局限于扣分值，例如：可以为得分值，此时，当每一待检测项目的检测结果满足相应的条件时，表明检测结果较为理想，此时，将获得特定的分数，而没有获得特定分数的待检测项目将作为第一待检测项目，并且，将第一待检测项目对应的初始阈值区间中下限值最小且区间值最小的第一初始阈值区间确定为电子设备的综合性能的参考阈值区间，进而依据每一待检测项目的单一性能状态和该电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定该电子设备的当前综合性能，获得该电子设备的检测结果。其中，依据每一待检测项目的单一性能状态和该电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定该电子设备的当前综合性能所利用的公式可以与本发明实施例所提供的公式相同也可以不同，这都是合理的。

本发明实施例中，接收开始检测指令；响应该开始检测指令，对每一待检测项目分别进行检测；根据待检测项目的检测结果，获得每一待检测项目的单一性能状态；依据每一待检测项目的单一性能状态以及每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定电子设备的综合性能的参考阈值区间；其中，每一待检测项目对应的初始阈值区间依据该待检测项目对电子设备的综合性能的影响程度确定；依据待检测项目的单一性能状态和电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定电子设备的当前综合性能。可见，通过利用本方案，实现了对电子设备的当前综合性能的确定，使得用户能够更好地了解电子设备，最终提高了用户的使用体验。

更进一步的，本发明实施例所提供的电子设备检测方法还可以包括：

显示所确定出的该电子设备的当前综合性能。

当然，为了让用户更好的了解电子设备的当前综合性能以及每一待检测项目的检测结果，本发明实施例所提供的电子设备检测方法还可以包括：

显示确定出的该电子设备的当前综合性能，同时，显示每一待检测项目的检测结果。

下面结合具体的应用实例，对本发明实施例所提供的一种电子设备检测方法进行介绍。

需要说明的是，本发明实施例所提供的电子设备检测方法适用于电子设备中。其中，在实际应用中，该电子设备可以为：手机、笔记本电脑、平板电脑等。

并且，待检测项目包括：垃圾数据项目、内存占用项目、设备漏洞项目、恶意软件项目、应用升级项目中的至少两类；其中，该垃圾数据项目包括系统缓存、残留文件、应用安装包；根据所能够获得的检测结果，为每一待检测项目所预先设定的初始阈值区间如表1所示。

表1

并且，假设电子设备的综合性能所对应分数的最高值为100分，每个待检测项目的检测结果所对应的扣分值如下：

（1）系统缓存：

缓存≤30MB，扣1分；

缓存>30MB，每高出30MB缓存再多扣1分，按比例类推；

（2）残留文件：

残留文件个数≤5，扣1分；

残留文件个数>5，每高出5个再多扣1分，按比例类推；

（3）应用安装包：

应用安装包个数≤10个，扣1分；

应用安装包个数>10个，每高出10个安装包再多扣1分，按比例类推；

（4）内存占用项目：

进程占用内存≤30%，扣1分；

进程占用内存>30%，每高出30%再多扣1分，按比例类推；

（5）设备漏洞项目：

检出1个漏洞扣1分，2个漏洞扣2分，按比例类推；

（6）恶意软件项目：

检出1个恶意软件扣2分，2个恶意软件扣4分，按比例类推；

（7）应用升级项目：

检测出1个应用需要升级，扣1分，2个应用需要升级扣2分，按比例类推。

基于上述的初始阈值区间的设定，以及扣分机制，如图2所示，本发明实施例所提供的电子设备检测方法可以包括：

S201，接收用户发出的开始检测指令；

当需要确定电子设备的当前综合性能时，用户可以向该电子设备发送开始检测指令，而该电子设备可以接收到该开始检测指令，进而进行后续的处理。

S202，响应该开始检测指令，分别对垃圾数据项目、内存占用项目、设备漏洞项目、恶意软件项目、应用升级项目进行检测；

其中，该垃圾数目项目包括：系统缓存、残留文件和应用安装包。并且，可以采用现有技术对每一项目进行检测，具体的检测方式在此不作赘述。

其中，对于垃圾数据项目而言，所检测到的系统缓存为20M，残留文件为5个，应用安装包为3个；对于内存占用项目而言，所检测到的进程占用内存为30%；对于设备漏洞项目而言，所检测到的漏洞个数为3个；对于恶意软件项目而言，所检测到的恶意软件为0个；对于应用升级项目而言，所检测到的需要升级的应用为2个。

S203，根据每一待检测项目的检测结果，获得每一待检测项目的扣分值；

其中，依据上述的扣分机制以及每一待测项目的检测结果，可以得出：

对于垃圾数据项目而言，扣分值为3分；对于内存占用项目而言，扣分值为1分；对于设备漏洞项目而言，扣分值为3分：对于恶意软件项目而言，扣分值为0分：对于应用升级项目而言，扣分值为2分。

S204，将扣分值大于0分的待检测项目确定为第一待检测项目；

其中，所确定出的第一待检测项目包括：垃圾数据项目、内存占用项目、设备漏洞项目、应用升级项目。

S205，确定出第一待检测项目对应的初始阈值区间中下限值最小且区间值最小的第一初始阈值区间：[60,80)；

其中，垃圾数据项目对应的初始阈值区间为[80,95)；内存占用项目对应的初始阈值区间为[95,100)，设备漏洞项目对应的初始阈值区间为[60,80)，应用升级项目对应的初始阈值区间为：[80,99)，因此，第一初始阈值区间为[60,80)。

S206，将第一初始阈值区间确定为该电子设备的综合性能的参考阈值区间；

其中，该电子设备的综合性能的参考阈值区间为[60,80)，也就是，该电子设备的当前综合性能所对应的分数处于[60,80)之间。

S207，依据每一待检测项目的扣分值和该电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定该电子设备的当前综合性能，获得该电子设备的检测结果。

其中，依据每一待检测项目的扣分值和该电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定该电子设备的当前综合性能所利用的公式可以为：

$Y=X_{\min }+(D-\frac{\arctan (x/10)}{\mathrm{\&pi;}/2}*D);$

其中，Y为该电子设备的当前综合性能，D为该参考阈值区间的区间值：20分，X_min为该参考阈值区间的下限值:60分，X为第一待检测项目对应的扣分总值:9分，

为修正后的扣分总值。

通过上述公式，可以依据每一待检测项目的扣分值和该电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定该电子设备的当前综合性能，从而获得该电子设备的检测结果。

可见，通过上述方案，实现了对电子设备的综合性能的确定，使得用户可以更好地了解电子设备，进而提高了用户的使用体验。

相应于上述方法实施例，本发明实施例还提供了一种电子设备检测装置，如图3所示，可以包括：

指令获得模块310，用于接收开始检测指令；

指令响应模块320，用于响应所述开始检测指令，对每一待检测项目分别进行检测；

单一性能状态确定模块330，用于根据所述待检测项目的检测结果，获得所述每一待检测项目的单一性能状态；

参考阈值区间确定模块340，用于依据所述每一待检测项目的单一性能状态以及所述每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定所述电子设备的综合性能的参考阈值区间；其中，所述每一待检测项目对应的初始阈值区间依据该待检测项目对所述电子设备的综合性能的影响程度确定；

综合性能确定模块350，用于依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能，获得所述电子设备的检测结果。

本发明实施例中，接收开始检测指令；响应该开始检测指令，对每一待检测项目分别进行检测；根据待检测项目的检测结果，获得每一待检测项目的单一性能状态；依据每一待检测项目的单一性能状态以及每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定电子设备的综合性能的参考阈值区间；其中，每一待检测项目对应的初始阈值区间依据该待检测项目对电子设备的综合性能的影响程度确定；依据待检测项目的单一性能状态和电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定电子设备的当前综合性能。可见，通过利用本方案，实现了对电子设备的当前综合性能的确定，使得用户能够更好地了解电子设备，最终提高了用户的使用体验。

其中，所述参考阈值区间确定模块340，可以包括：

第一待检测项目确定单元，用于将单一性能状态符合预设条件的待检测项目确定为第一待检测项目；

第一初始阈值区间确定单元，用于确定出所述第一待检测项目对应的初始阈值区间中下限值最小且区间值最小的第一初始阈值区间；

参考阈值区间确定单元，用于将所述第一初始阈值区间确定为所述电子设备的综合性能的参考阈值区间。

其中，所述单一性能状态确定模块330，可以包括：

扣分值确定单元，用于根据所述待检测项目的检测结果，确定所述待检测项目的扣分值；

相应的，所述第一待检测项目确定单元，用于将扣分值大于零的待检测项目确定为第一待检测项目。

其中，所述综合性能确定模块350依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能所利用的公式为：

$Y=X_{\min }+(D-\frac{\arctan (x/10)}{\mathrm{\&pi;}/2}*D);$

其中，Y为所述电子设备的当前综合性能，D为所述参考阈值区间的区间值，X_min为所述参考阈值区间的下限值，X为所述第一待检测项目对应的扣分总值，

为修正后的扣分总值。

其中，所述综合性能确定模块350依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能所利用的公式为：

$Y=X_{\min }+(D-\frac{\arcsin (x/10)}{\mathrm{\&pi;}/2}*D);$

其中，Y为所述电子设备的当前综合性能，D为所述参考阈值区间的区间值，X_min为所述参考阈值区间的下限值，X为所述第一待检测项目对应的扣分总值，

为修正后的扣分总值。

其中，所述指令响应模块320所检测的待检测项目可以包括：

垃圾数据项目、内存占用项目、设备漏洞项目、恶意软件项目、应用升级项目中的至少两类；

其中，所述垃圾数据项目包括系统缓存、残留文件、应用安装包中的至少一种。

更进一步的，本发明实施例所提供的电子设备检测装置，还可以包括：

第一显示模块，用于显示所确定出的所述电子设备的当前综合性能。

更进一步的，本发明实施例所提供的电子设备检测装置，还可以包括：

第一显示模块，用于显示所确定出的所述电子设备的当前综合性能，同时，显示每一待检测项目的检测结果。

对于系统实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

本领域普通技术人员可以理解实现上述方法实施方式中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可以存储于计算机可读取存储介质中，这里所称得的存储介质，如：ROM/RAM、磁碟、光盘等。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。

Claims (16)

1.一种电子设备检测方法，其特征在于，包括：

接收开始检测指令；

响应所述开始检测指令，对每一待检测项目分别进行检测；

根据所述待检测项目的检测结果，获得所述每一待检测项目的单一性能状态；

依据所述每一待检测项目的单一性能状态以及所述每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定所述电子设备的综合性能的参考阈值区间；其中，所述每一待检测项目对应的初始阈值区间依据该待检测项目对所述电子设备的综合性能的影响程度确定；

依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能，获得所述电子设备的检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，依据所述每一待检测项目的单一性能状态以及所述每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，包括：

将单一性能状态符合预设条件的待检测项目确定为第一待检测项目；

确定出所述第一待检测项目对应的初始阈值区间中下限值最小且区间值最小的第一初始阈值区间；

将所述第一初始阈值区间确定为所述电子设备的综合性能的参考阈值区间。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述单一性能状态包括：扣分值；

相应的，将单一性能状态符合预设条件的待检测项目确定为第一待检测项目，包括：

将扣分值大于零的待检测项目确定为第一待检测项目。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能所利用的公式为：

$Y=X_{\min }+(D-\frac{\arctan (x/10)}{\mathrm{\&pi;}/2}*D);$

其中，Y为所述电子设备的当前综合性能，D为所述参考阈值区间的区间值，X_min为所述参考阈值区间的下限值，X为所述第一待检测项目对应的扣分总值，

为修正后的扣分总值。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，依据所述待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能所利用的公式为：

$Y=X_{\min }+(D-\frac{\arcsin (x/10)}{\mathrm{\&pi;}/2}*D);$

其中，Y为所述电子设备的当前综合性能，D为所述参考阈值区间的区间值，X_min为所述参考阈值区间的下限值，X为所述第一待检测项目对应的扣分总值，

为修正后的扣分总值。

6.根据权利要求1-5任意一项所述的方法，其特征在于，所述待检测项目包括：

垃圾数据项目、内存占用项目、设备漏洞项目、恶意软件项目、应用升级项目中的至少两类；

其中，所述垃圾数据项目包括系统缓存、残留文件、应用安装包中的至少一种。

7.根据权利要求1-5任意一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

显示所确定出的所述电子设备的当前综合性能。

8.根据权利要求1-5任意一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

显示所确定出的所述电子设备的当前综合性能，同时，显示每一待检测项目的检测结果。

9.一种电子设备检测装置，其特征在于，包括：

指令获得模块，用于接收开始检测指令；

指令响应模块，用于响应所述开始检测指令，对每一待检测项目分别进行检测；

单一性能状态确定模块，用于根据所述待检测项目的检测结果，获得所述每一待检测项目的单一性能状态；

参考阈值区间确定模块，用于依据所述每一待检测项目的单一性能状态以及所述每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定所述电子设备的综合性能的参考阈值区间；其中，所述每一待检测项目对应的初始阈值区间依据该待检测项目对所述电子设备的综合性能的影响程度确定；

综合性能确定模块，用于依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能，获得所述电子设备的检测结果。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述参考阈值区间确定模块，包括：

第一待检测项目确定单元，用于将单一性能状态符合预设条件的待检测项目确定为第一待检测项目；

第一初始阈值区间确定单元，用于确定出所述第一待检测项目对应的初始阈值区间中下限值最小且区间值最小的第一初始阈值区间；

参考阈值区间确定单元，用于将所述第一初始阈值区间确定为所述电子设备的综合性能的参考阈值区间。

11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述单一性能状态确定模块，包括：

扣分值确定单元，用于根据所述待检测项目的检测结果，确定所述待检测项目的扣分值；

相应的，所述第一待检测项目确定单元，用于将扣分值大于零的待检测项目确定为第一待检测项目。

12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述综合性能确定模块依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能所利用的公式为：

$Y=X_{\min }+(D-\frac{\arctan (x/10)}{\mathrm{\&pi;}/2}*D);$

其中，Y为所述电子设备的当前综合性能，D为所述参考阈值区间的区间值，X_min为所述参考阈值区间的下限值，X为所述第一待检测项目对应的扣分总值，

为修正后的扣分总值。

13.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述综合性能确定模块依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能所利用的公式为：

$Y=X_{\min }+(D-\frac{\arcsin (x/10)}{\mathrm{\&pi;}/2}*D);$

其中，Y为所述电子设备的当前综合性能，D为所述参考阈值区间的区间值，X_min为所述参考阈值区间的下限值，X为所述第一待检测项目对应的扣分总值，

为修正后的扣分总值。

14.根据权利要求9-13所述的装置，其特征在于，所述指令响应模块所检测的待检测项目包括：

垃圾数据项目、内存占用项目、设备漏洞项目、恶意软件项目、应用升级项目中的至少两类；

其中，所述垃圾数据项目包括系统缓存、残留文件、应用安装包中的至少一种。

15.根据权利要求9-13所述的装置，其特征在于，还包括：

第一显示模块，用于显示所确定出的所述电子设备的当前综合性能。

16.根据权利要求9-13所述的装置，其特征在于，还包括：

第一显示模块，用于显示所确定出的所述电子设备的当前综合性能，同时，显示每一待检测项目的检测结果。

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