CN103592470A - 直立式连接模块 - Google Patents

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CN103592470A CN201210335684.1A CN201210335684A CN103592470A CN 103592470 A CN103592470 A CN 103592470A CN 201210335684 A CN201210335684 A CN 201210335684A CN 103592470 A CN103592470 A CN 103592470A
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Inventor
黄智敏
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Abstract

本发明公开一种直立式连接模块,其包含有:一连接器件,用以设置于一电路板上,该连接器件具有一容置空间和多个导电端子,其中该等导电端子对应于该电路板的导电结构,用以形成电连接;以及一检测件,用以组装于该连接器件上,该检测件具有一防护盖和多个检测结构,其中该等检测结构对应于该等导电端子且该检测结构的一底端对应于导电端子形成电连接。

Description

直立式连接模块
技术领域
本发明涉及一种直立式连接模块,尤其是涉及一种应用于电路板上并以垂直式的探测方式对形成于其防护盖上的检测点进行对其电路板的快速电性检测的直立式连接模块。
背景技术
发光二极管(Light Emitting Diode,简称LED)为一种以半导体材料所制成的固态发光元件,具有体积小、发热度低、高照明、耗电量小、适合量产与寿命长等性能,故目前业界于各种照明装置或背光模块上,普遍多已采用发光二极管作为其光源的应用。也由于发光二极管的应用越来越广泛,如何能够提升发光二极管的发光效率以及改善其产品的制造良率,便成为重要的研发目标。
就目前技术而言,制造完成的发光二极管需经过电性测试以检测其元件的好坏,从而方能确保产品的品质。请参阅图1,为现有的发光二极管产品的构造示意图。就目前技术来说,完成制造的发光二极管产品能以灯条(Lightbar)的型式作呈现;如图1所示,也就是在呈现为长条形的一电路板10上以表面封装粘着技术(Surface mount technology)将多颗发光二极管元件构成一个个的发光二极管灯条11排列设置于其上,并由也安装于该电路板上的一连接器(connector)12来对各发光二极管灯条11进行发光与否的电连接点亮的电路控制。
如图1所示,在该电路板10上设置有多个检测点14,而该等检测点14的数目和所设置的发光二极管灯条11的数目有关;例如所设置的发光二极管灯条有四串,则其检测点14可设置成四至五个。这些检测点14并分别和该电路板10产生电连接,也就是能类似该连接器12的功能而可提供电连接以点亮对应的发光二极管灯条11。而就目前技术来说,所谓的电性检测方式由一热测治具(未显示于本图)利用其所具有对应数目的金属探针来和该等检测点14作接触;例如可采用垂直式的方式从电路板10的上方(top-view)往下探测,或采用水平式的方式从电路板10的侧向(side-view)伸进探测,从而能观察各灯条的元件是否正常发光而判断其良窳情形。
此外,这些检测点14的设置位置通常都是根据其电路板10或发光二极管灯条11的尺寸或构造而作对应的建构;例如可在电路板所设计的电路结构以外的其他空间来作分散地设置,以使各个检测点彼此之间具有足够的安全距离与空间来提供检测。所以,若所制造生产的各种发光二极管产品其电路板上的电路结构都不尽相同时,其上的检测点的设置位置也都会有所不同。
如同一般设置于电路板上的相关电子元件,为检测出其产品品质的良窳,所谓的检测点便为制造上必要的构造设计。然而,这些设置位置不尽相同的检测点,本身还有可能会因为电路板上的设置空间不足而造成其形成位置较不易被检测,进而容易出现检测上的误判情形。除此之外,所使用的热测治具其探针的数目与形成位置必须和待检测的检测点相互对应;因此,除非是位于可容许的检测偏差范围内,对于这些检测点的设置位置不尽相同的各种电路板而言,便必须个别地使用专门设计的热测治具来进行检测,其探针才能和对应的检测点作接触。是以,所使用的热测治具的共用性便较不佳,进而会造成其生产成本的增加与检测上的不便。
发明内容
本发明的目的在于提供一种直立式连接模块。通过将直立式连接模块的连接器件设置于电路板上,并将直立式连接模块的检测件安装于连接器件上,从而使得电路板上可进行电接触的测点位置能延伸至上方;也就是能进一步利用热测治具以垂直式的探测方式对形成于检测件的防护盖上的检测点进行快速电性检测,使得检测误判的情形可有效减少,并能提升热测治具的共用性。
为达上述目的,本发明为一种直立式连接模块,其包含有:一连接器件,用以设置于一电路板上,该连接器件具有一容置空间和多个导电端子,其中该等导电端子对应于该电路板的导电结构,用以形成电连接;以及一检测件,用以组装于该连接器件上,该检测件具有一防护盖和多个检测结构,其中该等检测结构对应于该等导电端子且该检测结构的一底端对应于导电端子形成电连接。
附图说明
图1为现有的发光二极管产品的构造示意图;
图2a为本发明的直立式连接模块20的连接器件21和检测件24的组装立体示意图;
图2b为本发明的直立式连接模块20的连接器件21和检测件24的分解立体示意图;
图2c为检测件24的侧面示意图;
图3为将本发明的直立式连接模块20应用于一电路板30上的示意图;
图4为利用直立式连接模块20进行电性检测的示意图。
主要元件符号说明
10:电路板                11:发光二极管灯条
12:连接器                14:检测点
20:直立式连接模块        21:连接器件
210:容置空间             211:第一顶面
22:第二卡合构造          23:导电端子
24:检测件                25:防护盖
250:检测穿孔             251:检测点
252:第二顶面             26:检测结构
261:顶端                 262:底端
27:第一卡合构造          28:热测治具
281:探针                 30:电路板
31:发光二极管灯条        32:导电结构
具体实施方式
现以一较佳实施例进行本发明的实施说明。请同时参阅图2a和图2b。其中图2a为本发明所提出的直立式连接模块20的一连接器件21和一检测件24的组装立体示意图;图2b为该直立式连接模块20的该连接器件21和该检测件24的分解立体示意图。如图2a和图2b所示,于此实施例中,该直立式连接模块20包含有该连接器件21和该检测件24,该检测件24用以组装于该连接器件21上。详细来说,该检测件24具有一防护盖25、多个检测结构26和一第一卡合构造27,该连接器件21具有一容置空间210、一第一顶面211和一第二卡合构造22,而完成该检测件24与该连接器件21间的组装的该防护盖25位于该第一顶面211上,且该等检测结构26伸入至该容置空间210中。
承上所述,于此实施例中,本发明所提出的直立式连接模块20中的该连接器件21用以设置于一电路板(如图3所示)30上;如图2b所示,该连接器件21还具有多个导电端子23,而该等导电端子23和设置在该电路板30上的相关导电结构(如图4所示)32相互对应,用以于该连接器件21完成在该电路板30上的设置后使该等导电端子23和所述的导电结构32形成电连接。进一步来说,本发明的直立式连接模块20中所设计的该连接器件21可采用现有技术的直立式连接器元件,而该等导电端子23的设置数目与位置对应于其电路板30上的导电结构32,从而可通过该连接器件21对其电路板30进行电路信号控制。
请再同时参阅图2c,其为该检测件24的侧面示意图。在此实施例中,该等检测结构26的设置数目与位置和该连接器件21的导电端子23相互对应,如图2a至图2c所示,便是以四个检测结构26与四个导电端子23作举例示意。此外,在此实施例中,各检测结构26的一顶端261露出于该防护盖25的一第二顶面252上而形成设置数目与位置相互对应的检测点251(如图2a所示)。而此部分的设计可于该防护盖25上形成出和该等检测结构26的设置数目与位置相互对应的多个检测穿孔250,而该等检测结构26便通过该等检测穿孔250而将其顶端261固设在该防护盖25上,并使得所述的检测点251对应设置于该等检测穿孔250内。
承上所述,在此实施例中,该第一卡合构造27能以具可挠性的材质所制成。并如图2c所示,该第一卡合构造27以一成对的结构形成在该防护盖25下方的两侧,且其端缘可呈现为勾状;而该连接器件21的该第二卡合构造22则可呈现为对应的凹槽,使得该第一卡合构造27能产生可挠的形变以进入该容置空间210后,并于该第二卡合构造22之处形成卡合,以使该检测件24组装于该连接器件21上。
进一步来说,为进行相关的电性检测,该防护盖25以绝缘材质所构成,例如塑胶;而该第一卡合构造27能和该防护盖25以塑料一体成型的方式完成制造,并通过尺寸与形状的设计,使其第一卡合构造27能产生可挠形变而完成与对应的第二卡合构造22的卡合,进而并还可经由施力而从其连接器件21上加以拆除。然而,于其他实施方式中也可采用其他现有结构的卡合设计来完成该检测件24于该连接器件21上的稳固组装。
请参阅图3,为将本发明的直立式连接模块20应用于一电路板30上的示意图。由上述内容可知,该直立式连接模块20通过该连接器件21而插入、设置于该电路板30上,而能对也设置于该电路板30上的电子回路组件进行控制。于此实施例中,如图3所示,设置于该电路板30上的电子回路组件以发光二极管灯条31作举例说明。而在该电路板30上设置有多个发光二极管灯条31;详细来说,其发光二极管灯条31的设置数目和该直立式连接模块20所设计的检测点数目有所对应。此外,如图3所示,使用本发明的直立式连接模块20无需在该电路板30上设计出相关的检测点。
请再参阅图4,其为利用该直立式连接模块20进行电性检测的示意图。由上述内容可知,当该直立式连接模块20的该连接器件21设置于该电路板30上后,该连接器件21的该等导电端子23便能和该电路板30的对应的导电结构32形成电连接。同时,于此实施例中,该检测件24的该等检测结构26以金属材质所构成,使得在完成该检测件24对该连接器件21的组装后,伸入至该容置空间210中的各检测结构26便能通过其一底端262(如图2c所示)来和相互对应的导电端子23形成电连接,进而使得该等检测结构26和电路板30的导电结构32也能形成电连接。换句话说,该等检测结构26便呈现为一种延伸的检测构造,而形成于该等检测结构26的顶端261的对应检测点251便可提供电性检测。
如图4所示,本发明所提出的直立式连接模块20还包含一热测治具28,而能进行如前所述的电性检测。所以,所设计的该热测治具28具有对应于该等检测结构26的多个探针281。详细来说,该等探针281的设置位置与数目和该等检测结构26相互对应;于此实施例中以四个检测结构作说明,因此该热测治具28的探针数目便为四个。而针对本发明所提出的连接器件21与检测件24,该热测治具28采用垂直式的方式从电路板30的上方(top-view)往下探测;也就是在各检测点251、各探针281的位置、间距都相互对应的情形下,该热测治具28进行相对于该电路板30的垂直方向上的移动而能对该等检测点251皆同时形成接触,从而可同时观察各灯条的发光情形,而能一次性、快速地完成检测。
承上所述,就目前技术来说,虽然除了可以利用设置于电路板上的现有检测点作检测以外,还可直接对所使用的连接器的导电端子进行电接触以进行检测;但由于这些导电端子的形成位置较不易从外部探测,使得热测治具的探针在进行检测时,便容易因为接触上的误差而产生误判。然而,本发明所提出的直立式连接模块20的连接器件21与检测件24使可进行电接触的测点位置进一步地从电路板延伸至更上方,并外露于防护盖25的表面上来进行,使得所述的误判情形将可有效地减少。
再者,由于本发明的检测件24上的检测点251对应于该连接器件21中的导电端子23,因此,在应用上若设置于不同电路板的连接器件采用相同元件时,则包括检测件24与热测治具28两元件便也可重复应用于这些电路板来进行检测。另外,本发明的直立式连接模块于不同电路板上所设置的检测点的数目可为不同,但在应用上能以对应其检测点数目的热测治具来进行检测。举例来说,所使用的热测治具可为四个探针或八个探针,在检测件的检测点设置位置相互对应的设计下,四个探针的热测治具可对各种四个检测点的检测件进行检测;同理,八个探针的热测治具可对各种八个检测点的检测件进行检测,使得本发明的直立式连接模块的共用性相比较于现有技术能更加提升。
综上所述,本发明所提出的直立式连接模块至少可达到下列几点功效的增进:其一,本发明通过检测结构的设计而将电路板上可进行电接触的测点位置(包括设置在电路板上且分散在各电子元件间的检测点以及形成于连接器中的导电端子),进一步延伸至上方,从而可减少因空间不足所可能出现的检测误判情形,并能快速地完成检测。其二,本发明的连接器件可采用现有技术的直立式连接器元件;而就目前技术来说,虽然大部分电路板的电路结构都不尽相同,但为有效进行对电路板的电路信号控制,现有直立式连接器元件的共用性设计相对较高;因此,本发明通过将检测点的设置数目与位置皆对应于连接器件的导电端子的方式,使得检测上所使用的热测治具的共用性可大幅提升,从而能有效减少生产成本与检测的不便。故本发明能有效地解决现有技术中所提出的相关问题,并能成功地达到本案发展的主要目的。
任何熟悉本技术领域的人员,可在运用与本发明相同目的的前提下,使用本发明所揭示的概念和实施例变化来作为设计和改进其他一些方法的基础。这些变化、替代和改进不能背离权利要求所界定的本发明的保护范围。故本发明得由熟悉此技术的人士任施匠思而为诸般修饰,然而都不脱离所附的权利要求所要保护者。

Claims (10)

1.一种直立式连接模块,包含有:
连接器件,用以设置于一电路板上,该连接器件具有一容置空间和多个导电端子,其中该多个导电端子对应于该电路板的导电结构,用以形成电连接;以及
检测件,用以组装于该连接器件上,该检测件具有防护盖和多个检测结构,其中该多个检测结构对应于该多个导电端子且该检测结构的一底端对应于导电端子形成电连接。
2.如权利要求1所述的直立式连接模块,其中该连接器件具有第一顶面,而完成组装的该防护盖位于该第一顶面上。
3.如权利要求1所述的直立式连接模块,其中该检测结构的一顶端露出于该防护盖的一第二顶面上形成对应的检测点以提供检测。
4.如权利要求3所述的直立式连接模块,其中该防护盖具有对应于该多个检测结构的多个检测穿孔,而该多个检测点对应设置于该多个检测穿孔内。
5.如权利要求1所述的直立式连接模块,还包含热测治具,用以进行相对于该电路板的垂直方向上的检测。
6.如权利要求5所述的直立式连接模块,其中该热测治具具有对应于该多个检测结构的多个探针。
7.如权利要求5所述的直立式连接模块,其中该热测治具对设置于该电路板上的至少一电子回路组件进行检测。
8.如权利要求7所述的直立式连接模块,其中该电子回路组件为一发光二极管灯条。
9.如权利要求1所述的直立式连接模块,其中该检测件具有第一卡合构造,而该连接器件具有第二卡合构造,该第一卡合构造和该第二卡合构造相互对应而形成卡合,以使该检测件组装于该连接器件上。
10.如权利要求1所述的直立式连接模块,其中该防护盖以绝缘材质所构成,而该多个检测结构以金属材质所构成。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201331545Y (zh) * 2009-01-14 2009-10-21 南京恩瑞特实业有限公司 电子对抗装备pcb板测试维修适配器
CN102227642A (zh) * 2008-12-05 2011-10-26 胡贝尔和茹纳股份公司 用于电脑芯片的测试适配器

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102227642A (zh) * 2008-12-05 2011-10-26 胡贝尔和茹纳股份公司 用于电脑芯片的测试适配器
CN201331545Y (zh) * 2009-01-14 2009-10-21 南京恩瑞特实业有限公司 电子对抗装备pcb板测试维修适配器

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