CN103513213A - 电能表老化检测装置 - Google Patents

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CN103513213A CN201210213845.XA CN201210213845A CN103513213A CN 103513213 A CN103513213 A CN 103513213A CN 201210213845 A CN201210213845 A CN 201210213845A CN 103513213 A CN103513213 A CN 103513213A
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邓洪波
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Abstract

本发明提供了一种电能表老化检测装置，包括水平设置的检测平台、设置于检测平台上的第一插座、第二插座以及若干个放置电能表的安装位，所述若干个安装位的电压输入端子并联连接、电流输出端子串联连接。本发明通过设置多个电能表安装位以及利用时空开关和继电器精确控制测试时间，从而能够对批量电能表准确的进行老化测试。

Description

电能表老化检测装置
技术领域
本发明涉及一种电能表老化检测装置，尤其涉及一种能够对批量电能表进行老化检测的电能表老化检测装置。
背景技术
众所周知，电能表被应用于各个电子测试场所中，其重要性不言而喻。但是每一个电能表在出厂前都需要进行一系列项目的测试，其中之一为老化测试。
每一个电能表需要在温度为55℃的老化房里老化12小时。这是一项长时间的测试项目，所以对于测试效率的提高以及时间计量的准确度要求都很高。
目前所使用的老化测试装置大多在同一时间只能测试几个电能表，或者在电能表接收电压、电源信号的一致性上存在差异。而且当多个电能表同时进行老化测试时，会由于对各个电能表计时的不统一而形成误差。
这样就急需一种新型的电能表老化检测装置来解决现有技术的不足。
发明内容
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种电能表老化检测装置，通过设置多个电能表安装位以及利用时空开关和继电器精确控制测试时间，达到同时能够对批量电能表准确的进行老化测试。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案为：
一种电能表老化检测装置，包括水平设置的检测平台、设置于检测平台上的第一插座、第二插座以及若干个放置电能表的安装位，所述若干个安装位的电压输入端子并联连接、电流输出端子串联连接。
作为本发明的进一步改进，所述电能表老化检测装置还包括一继电器。
作为本发明的进一步改进，所述第一插座和第二插座并联连接至继电器一端。
作为本发明的进一步改进，所述电能表老化检测装置还包括控制继电器并与继电器串联连接的时空开关。
作为本发明的进一步改进，所述安装位的数量为64个。
本发明与现有技术相比具有如下有益效果：
本发明提供的一种电能表老化检测装置通过设置多个电能表安装位以及利用时空开关和继电器精确控制测试时间，从而能够对批量电能表准确的进行老化测试。
附图说明
图1为本发明所述检测平台俯视图；
图2为本发明俯视图。
具体实施方式
下面通过具体实施方式来对本发明进行进一步的阐述：
本实施方式提一种电能表老化检测装置，如图1和2所示，包括水平设置的检测平台1、设置于检测平台1上的第一插座2、第二插座3以及64个放置电能表（未图示）的安装位4，所述安装位4的电压输入端子并联连接、电流输出端子串联连接。
电能表老化检测装置还包括一继电器5。所述第一插座2和第二插座3并联连接至继电器5一端。所述电能表老化检测装置还包括控制继电器5并与继电器串联连接的时空开关6。
在做老化测试时，由时空开关6控制继电器5，电压线路连接到电能表老化检测装置的第一插座2上，这样电压就从第一个电能表流向最后一个电能表。2小时后，时空开关6控制继电器5，将电压线路连接到电能老化检测装置的第二插座3，这样电压就从最后一个电能表流向第一个电能表。
经过上述继电器5的切换，就避免了因设备问题而造成的时间、计量误差，并且在同一时间内可以对批量的电能表完成老化测试，极大程度上提高了测试效率。
尽管为示例目的，已经公开了本发明的优选实施方式，但是本领域的普通技术人员将意识到，在不脱离由所附的权利要求书公开的本发明的范围和精神的情况下，各种改进、增加以及取代是可能的。

Claims (5)

1.一种电能表老化检测装置，其特征在于：包括水平设置的检测平台、设置于检测平台上的第一插座、第二插座以及若干个放置电能表的安装位，所述若干个安装位的电压输入端子并联连接、电流输出端子串联连接。
2.根据权利要求1所述的电能表老化检测装置，其特征在于：所述电能表老化检测装置还包括一继电器。
3.根据权利要求2所述的电能表老化检测装置，其特征在于：所述第一插座和第二插座并联连接至继电器一端。
4.根据权利要求2所述的电能表老化检测装置，其特征在于：所述电能表老化检测装置还包括控制继电器并与继电器串联连接的时空开关。
5.根据权利要求1所述的电能表老化检测装置，其特征在于：所述安装位的数量为64个。
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PB01 Publication
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SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
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