CN103499783A - 一种二极管测试装置及其使用方法 - Google Patents

一种二极管测试装置及其使用方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103499783A
CN103499783A CN201310459797.7A CN201310459797A CN103499783A CN 103499783 A CN103499783 A CN 103499783A CN 201310459797 A CN201310459797 A CN 201310459797A CN 103499783 A CN103499783 A CN 103499783A
Authority
CN
China
Prior art keywords
diode
groove
lower plate
clamping plate
detection device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201310459797.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103499783B (zh
Inventor
邱云峰
袁文
张文辉
雷芸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Guizhou Aerospace Institute of Measuring and Testing Technology
Original Assignee
Guizhou Aerospace Institute of Measuring and Testing Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Guizhou Aerospace Institute of Measuring and Testing Technology filed Critical Guizhou Aerospace Institute of Measuring and Testing Technology
Priority to CN201310459797.7A priority Critical patent/CN103499783B/zh
Publication of CN103499783A publication Critical patent/CN103499783A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103499783B publication Critical patent/CN103499783B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

本发明公开了一种二极管测试装置，它包括上夹板（1）、下夹板（2）和二个金属电极（3），二个金属电极（3）与下夹板（2）左端的二个接线柱（4）连接，上下夹板之间有弹簧（6）和支撑柱（8），其特征在于：下夹板（2）右端开有凹槽（9），上夹板（1）右端有二个凸起（5），凸起（5）放置在凹槽（9）内；解决了二极管尤其是极细引脚轴向封装二极管测试时采用常规夹持或压合测试方式所带来的机械损伤、接触不良、固定不牢、容易造成较大的测试数据误差等问题。

Description

一种二极管测试装置及其使用方法
技术领域
本发明属于二极管测试技术领域，尤其涉及一种极细引脚二极管测试装置及其使用方法。
背景技术
极细引脚轴向封装的二极管，有2个直径在0.2mm以下的引脚，引脚多由柔性金属材料制造，极易损坏。目前测试这种极细引脚轴向封装的二极管主要有两种方法，一种是用普通鳄鱼钳直接夹住二极管两端引脚进行测试，由于此种二极管引脚极细且较软，此方法容易引起引脚损伤甚至断裂。另一种方法是将两个引脚压合在平滑的金属电极上测试，此种方法虽然对引脚损伤较小，但由于此种二极管引脚多为弯曲状，常出现二极管引脚与金属电极接触不良，引起测试参数超差的问题。而且这两种测试方式的测试效率都不高，不适用于大批量的测试。
发明内容
本发明要解决的技术问题： 提供一种二极管测试装置及其使用方法，以解决极细引脚轴向封装二极管测试时采用常规夹持或压合测试方式所带来的机械损伤、接触不良、固定不牢、容易造成较大的测试数据误差等问题。
本发明技术方案：
一种二极管测试装置，它包括上夹板、下夹板和二个金属电极，二个金属电极与下夹板左端的二个接线柱连接，上下夹板之间有弹簧和支撑柱，下夹板右端开有凹槽，上夹板右端有二个凸起，凸起放置在凹槽内。
凹槽为圆弧形，凸起形状与凹槽形状相对应。
凸起为弹性橡胶凸起。
凹槽宽度为被测二极管管壳直径的10-15倍，深度为被测二极管管壳直径的3-5倍。
金属电极的宽度为被测二极管引脚长度的一半，长度与下夹板长度一致。
上夹板、下夹板和支撑柱均由电工胶木制成。
弹簧的两端固定在卡槽中。
本发明的有益效果： 
采用本发明测试二极管时，二极管会直接落入凹槽内，不会发生前后的移动，二极管引脚与凹槽内的金属电极为面接触，大大减少了测试装置对二极管引脚的损伤；同时上夹板右端的弹性橡胶凸起与下夹板的凹槽是完全吻合在一起的，在橡胶弹力作用下可以紧密的将二极管引脚压合在金属电极上，加强二极管与金属电极之间的电气接触，使测试的数据稳定可靠；采用弹性橡胶凸起，能够在保证金属电极与被测二极管引脚之间接触紧固的同时确保被测二极管的引脚不被损伤。相对现有技术，本发明提高了二极管尤其是极细引脚轴向封装二极管的测试可靠性，提高了测试效率，解决了二极管尤其是极细引脚轴向封装二极管测试时采用常规夹持或压合测试方式所带来的机械损伤、接触不良、固定不牢、容易造成较大的测试数据误差等问题。
附图说明：
图1为本发明结构示意图；
图2为本发明上夹板仰视示意图；
图3为本发明下夹板俯视示意图。
实施例：
一种二极管测试装置，它包括上夹板1、下夹板2和二个金属电极3，二个金属电极3与下夹板2左端的二个接线柱4电气连接，上下夹板之间有弹簧6和支撑柱8，下夹板2右端开有凹槽9，上夹板1右端有二个凸起5，凸起5放置在凹槽9内。
凹槽9为圆弧形，凸起5形状与凹槽9形状相对应，尺寸相同，确保凸起5能与凹槽9紧密接触。
凸起5采用弹性橡胶凸起，确保在压接被测二极管的同时，保护二极管的引脚不被损伤。
凹槽9宽度为被测二极管管壳直径的10-15倍，深度为被测二极管管壳直径的3-5倍。
金属电极3的宽度为被测二极管引脚长度的一半，长度与下夹板2长度一致，金属电极3的宽度设为被测二极管引脚长度的一半主要是确保测试时可靠接触的同时，又节省成本，宽度太宽会导致金属电极3成本增加。二个金属电极之间的距离不得大于被测二极管二个引脚之间的距离。
下夹板2和上夹板1中部上下两边各有两个支撑柱8，支撑柱8通过金属螺丝连接在一起，可以转动.
上下夹板中后部有尺寸相同且相对应的弹簧卡槽7，其直径与弹簧直径相同，弹簧6的两端固定在卡槽7中。
上夹板1、下夹板2和支撑柱8均由电工胶木制成，所述器件采用电工胶木制成具有重量轻，绝缘性好、加工方便等优点。
该二极管测试放置的使用方法为：
实际使用时，将二极管测试仪的测试线与二个接线柱4电气连接，按下装置左端上夹板1让夹板张开，将被测二极管放入凹槽内，松开装置左端夹板1，使凸起5压住二极管引脚，保证引脚与金属电极可靠接触。

Claims (7)

1.一种二极管测试装置，它包括上夹板（1）、下夹板（2）和二个金属电极（3），二个金属电极（3）与下夹板（2）左端的二个接线柱（4）连接，上下夹板之间有弹簧（6）和支撑柱（8），其特征在于：下夹板（2）右端开有凹槽（9），上夹板（1）右端有二个凸起（5），凸起（5）放置在凹槽（9）内。
2.根据权利要求1所述的一种二极管测试装置，其特征在于：凹槽（9）为圆弧形，凸起（5）形状与凹槽（9）形状相对应。
3.根据权利要求1或2所述的一种二极管测试装置，其特征在于：凸起（5）为弹性橡胶凸起。
4.根据权利要求1或2所述的一种二极管测试装置，其特征在于：凹槽（9）宽度为被测二极管管壳直径的10-15倍，深度为被测二极管管壳直径的3-5倍。
5.根据权利要求1所述的一种二极管测试装置，其特征在于：金属电极（3）的宽度为被测二极管引脚长度的一半，长度与下夹板（2）长度一致。
6.根据权利要求1所述的一种二极管测试装置，其特征在于：上夹板（1）、下夹板（2）和支撑柱（8）均由电工胶木制成。
7.根据权利要求1所述的一种二极管测试装置，其特征在于：弹簧（6）的两端固定在卡槽（7）中。
CN201310459797.7A 2013-09-30 2013-09-30 一种二极管测试装置及其使用方法 Active CN103499783B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310459797.7A CN103499783B (zh) 2013-09-30 2013-09-30 一种二极管测试装置及其使用方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310459797.7A CN103499783B (zh) 2013-09-30 2013-09-30 一种二极管测试装置及其使用方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103499783A true CN103499783A (zh) 2014-01-08
CN103499783B CN103499783B (zh) 2016-05-11

Family

ID=49865007

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310459797.7A Active CN103499783B (zh) 2013-09-30 2013-09-30 一种二极管测试装置及其使用方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN103499783B (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105021893A (zh) * 2015-08-11 2015-11-04 太仓市高泰机械有限公司 一种用于电阻测量的辅助装置
CN108918999A (zh) * 2018-06-28 2018-11-30 中国人民解放军陆军工程大学 电场敏感型智能材料响应时间测试系统及方法
CN109633400A (zh) * 2018-12-21 2019-04-16 无锡职业技术学院 Vdmos垂直栅场效应晶体管性能检测装置
CN110320390A (zh) * 2019-08-08 2019-10-11 郑州威科特电子科技有限公司 一种引脚保护型二极管测试用夹持工装

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2657013Y (zh) * 2003-04-04 2004-11-17 扬亦科技股份有限公司 用于量测发光二极管之装置
CN102156215A (zh) * 2011-03-24 2011-08-17 深圳市瑞雷特电子技术有限公司 一种闭环型电测试夹
CN202494690U (zh) * 2012-01-05 2012-10-17 青岛海信移动通信技术股份有限公司 一种测试工具及测试仪器
CN102937659A (zh) * 2012-10-31 2013-02-20 常州天华新能源科技有限公司 小型试样测试夹
CN203479984U (zh) * 2013-09-30 2014-03-12 贵州航天计量测试技术研究所 一种二极管测试装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DD222695A1 (de) * 1984-01-02 1985-05-22 Mikroelektronik Robert Harnau Messklammer

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2657013Y (zh) * 2003-04-04 2004-11-17 扬亦科技股份有限公司 用于量测发光二极管之装置
CN102156215A (zh) * 2011-03-24 2011-08-17 深圳市瑞雷特电子技术有限公司 一种闭环型电测试夹
CN202494690U (zh) * 2012-01-05 2012-10-17 青岛海信移动通信技术股份有限公司 一种测试工具及测试仪器
CN102937659A (zh) * 2012-10-31 2013-02-20 常州天华新能源科技有限公司 小型试样测试夹
CN203479984U (zh) * 2013-09-30 2014-03-12 贵州航天计量测试技术研究所 一种二极管测试装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105021893A (zh) * 2015-08-11 2015-11-04 太仓市高泰机械有限公司 一种用于电阻测量的辅助装置
CN108918999A (zh) * 2018-06-28 2018-11-30 中国人民解放军陆军工程大学 电场敏感型智能材料响应时间测试系统及方法
CN109633400A (zh) * 2018-12-21 2019-04-16 无锡职业技术学院 Vdmos垂直栅场效应晶体管性能检测装置
CN109633400B (zh) * 2018-12-21 2020-10-09 无锡职业技术学院 Vdmos垂直栅场效应晶体管性能检测装置
CN110320390A (zh) * 2019-08-08 2019-10-11 郑州威科特电子科技有限公司 一种引脚保护型二极管测试用夹持工装
CN110320390B (zh) * 2019-08-08 2021-12-10 深圳市研测科技有限公司 一种引脚保护型二极管测试用夹持工装

Also Published As

Publication number Publication date
CN103499783B (zh) 2016-05-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103499783B (zh) 一种二极管测试装置及其使用方法
KR101739536B1 (ko) 검사용 소켓 및 도전성 입자
KR101805834B1 (ko) 검사용 소켓 및 도전성 입자
KR101739537B1 (ko) 검사용 소켓 및 도전성 입자
CN205229200U (zh) 一种断路器梅花触头专用试验线夹
SG195107A1 (en) An electrical interconnect assembly
CN203479984U (zh) 一种二极管测试装置
CN203965594U (zh) 断路器装夹导电柱
CN204188654U (zh) 一种继电保护端子排卡钳
CN105334359A (zh) 一种断路器梅花触头专用试验线夹
CN202794246U (zh) 一种smd系列封装晶体管试验用的夹具
CN111413525A (zh) 一种真空断路器的回路电阻测试辅助装置
CN104269670A (zh) 插孔式端子排试验线专用接线夹
CN106093752A (zh) 一种应用于集成电路的测试探针卡
CN203133221U (zh) 用于线束导通测试仪的测试治具
CN102593679A (zh) 自保持式电力设备二次端子插线器
CN208062008U (zh) 一种熔断器承载装置
CN207636640U (zh) 一种电气试验用接地装置
CN105929208A (zh) 一种检测集成电路的测试探针卡
CN202210106U (zh) 一种电容容量和损耗测试用夹具
CN201397347Y (zh) 一种电阻测试针
CN204159566U (zh) 一种片式阻容元件分选装置
CN204088613U (zh) 插孔式端子排试验线专用接线夹
CN204614991U (zh) 一种接线端子装置
CN203606393U (zh) 一种绕线电感器测试夹具

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant