CN103472190B - Oled材料和/或器件结构测试专用掩模板及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明的OLED材料和/或器件结构测试专用掩模板，主要包括掩模板本体和贴布，所述掩模板本体外形与基板一致，并在与基板测试区域对应的位置设置有测试窗，掩模板本体用于在测试时保护非测试窗对应的基板区域；所述贴布在测试时与掩模板本体贴合并遮挡部分测试窗，用于保护被遮挡的测试窗对应的基板区域。测试方法包括步骤：a、根据被测试基板制作上述掩模板本体，并开设测试窗；b、根据测试需求制作所述贴布；c、将掩模板本体贴合到被测试基板上等。通过掩模板不同的遮挡方法，实现了在同一张基板上同时进行多种材料或多种器件结构测试的目的，从而解决行业内通常一张基板只能同时测试一种材料或一种器件结构的问题，提高了实验效率。

Description

OLED材料和/或器件结构测试专用掩模板及测试方法

技术领域

本发明属于OLED显示技术领域，设计OLED材料和/或器件结构的测试工序，具体涉及一种OLED材料和/或器件结构测试专用掩模板及测试方法。

背景技术

OLED材料体系设计和器件结构设计是OLED技术研究和产品开发的关键，而材料的优选测试和器件结构实验是检验材料体系和器件结构设计的重要手段。传统的材料优选测试和器件结构实验通常是在一张基板上进行一项测试。为了操作方便或者结构的需要，通常一张基板上不止一个甚至多达20余个可用于测试的cell，而为达到测试目的所需的cell有一个或者几个就足够，这种采用一张基板进行一项测试的方法必然造成了大量的浪费。也有为了减少基板等耗材的浪费，将一张基板上的cell分割成单个cell进行测试，但是由于切割后的cell体积过小，在试验操作时很不方便。

并且，由于需要测试材料种类繁多，可能的器件结构千差万别，也就是说为达到测试的全面性，需要进行大量的测试，这将导致OLED材料和器件结构测试既费时费力，又浪费原材料和消耗较多的设备动力费。

发明内容

本发明为了解决现有的OLED材料和/或器件结构测试造成大量基板浪费且测试效率低下的不足，提出了一种专用于O LED材料和/或器件结构测试的掩模板以及使用所述掩模板对OLED材料和/或器件结构进行测试的方法。

本发明的技术方案是：OLED材料和/或器件结构测试专用掩模板，其特征在于，包括：掩模板本体和贴布，所述掩模板本体外形与基板一致，并在与基板测试区域（cell）对应的位置设置有测试窗，掩模板本体用于在测试时保护非测试窗对应的基板区域；所述贴布在测试时与掩模板本体贴合并遮挡部分测试窗，用于保护被遮挡的测试窗对应的基板区域。

进一步的，所述掩模板本体包括按4×4矩阵排列的16个测试窗，用于包含16个按同样方式排列的cell的基板测试。

进一步的，所述贴布为可同时贴合掩模板本体的相邻两个测试窗的矩形胶带。

进一步的，所述贴布为可同时贴合掩模板本体的2×2的测试窗组成的矩阵区域的矩形胶带。

OLED材料和/或器件结构测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

a、根据被测试基板制作上述掩模板本体，并开设测试窗；

b、根据测试需求制作所述贴布；

c、将掩模板本体贴合到被测试基板上；

d、除即将用于测试的基板cell对应的测试窗外，其余测试窗用所述贴布贴封；

e、完成对步骤d中未贴封贴布的测试窗对应的基板cell的测试；

f、将与未贴封贴布的测试窗相邻且测试窗对应的基板cell未经过测试的测试窗贴布取下并贴封至该未贴封贴布的测试窗上；

g、循环进行步骤e和步骤f，直至所有测试窗对应的基板cell测试完毕或完成了全部的测试内容。

进一步的，上述方法中，掩模板本体包括按4×4矩阵排列的16个测试窗，用于包括16个cell并按同样方式排列的基板测试。

进一步的，上述方法中，掩模板包括3块贴布，所述贴布为可同时贴合2×2的测试窗组成的矩阵区域的矩形胶带。

进一步的，上述方法中步骤g具体包括以下步骤：

g1、将包含4×4矩阵排列的16个cell的基板按彼此相邻且无交集的2×2矩阵区域划分为四个区域，分别为第一区域、第二区域、第三区域和第四区域，用3块可同时贴合2×2矩阵区域的测试窗的贴布贴合第二区域、第三区域和第四区域，然后对第一区域进行测试；

g2、将第二区域的贴布取下并贴到第一区域上，对第二区域进行测试；

g3、将第三区域的贴布取下并贴到第二区域上，对第三区域进行测试；

g4、将第四区域的贴布取下并贴到第三区域上，对第四区域进行测试。

本发明的OLED材料和/或器件结构测试专用掩模板通过在掩模板本体上设置测试窗，并根据需要设置不同的贴布可以针对不同的测试需求在一张基板上进行多项测试，节约了测试用基板的浪费，提高了测试效率。一并提出的测试方法通过掩模板（OPEN MASK）不同的遮挡方法，实现了在同一张基板上同时进行多种材料或多种器件结构测试的目的，从而解决行业内通常一张基板只能同时测试一种材料或一种器件结构的问题，大大提高测试实验的效率。

附图说明

图1为本发明的掩模板本体结构示意图；

图2为本发明实施例的掩模板分区示意图；

图3为本发明另一实施例的掩模板分区示意图；

图4中a为图3所示实施例的掩模板贴合贴布示意图；b为相应的贴布示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步详述。

图1至图4所示为与本发明原理相同的具体实施例。如图1和图4所示，本实施例的一种OLED材料和/或器件结构测试专用掩模板，包括：掩模板本体和贴布，所述掩模板本体外形与基板一致，并在与基板测试区域（cell）对应的位置设置有测试窗。其中基板测试区域是指需要进行材料和/或结构测试的区域，主要是基板的cell区域。掩模板本体用于在测试时保护非测试窗对应的基板区域；所述贴布在测试时与掩模板本体贴合并遮挡部分测试窗，用于保护被遮挡的测试窗对应的基板区域，如图4中a所示，另贴布如图4中b所示。由于通常使用的基板一般包含4×4矩阵排列的16个cell，所以为了适应大多数测试情况，本实施例的掩模板本体优选为包括按4×4矩阵排列的16个测试窗，用于包含16个按同样方式排列的cell的基板测试。在方案中，贴布可以是各种可贴合到掩模板本体上并对被贴合的区域在测试时起到保护作用的材料，不过出于成本考虑，贴布优选为可同时贴合掩模板本体的相邻两个测试窗的矩形胶带或者可同时贴合掩模板本体的2×2的测试窗组成的矩阵区域的矩形胶带。其中“可同时贴合掩模板本体的相邻两个测试窗”以及“可同时贴合掩模板本体的2×2的测试窗组成的矩阵区域”均为一种优选的具体形式。本领域的普通技术领域应该理解本发明的方案包含但不限于这种特殊形式。

OLED材料和/或器件结构测试方法，包括以下步骤：

a、根据被测试基板制作上述掩模板本体，并开设测试窗。在本步骤中，设计掩模板本体时主要考虑的基板参数包括基板尺寸，基板中cell数及其排列方式以及尺寸参数。掩模板本体及开设的测试窗需要与被测试的基板相应尺寸对应。

b、根据测试需求制作所述贴布。贴布的制作需求通常是考虑需要同时覆盖多少个测试窗以及这些测试窗组成的形状。因为考虑到基板cell数不同，对不同测试划分的cell数和位置也不相同，并且测试精度的需求不同对需要覆盖的cell数也有差别，所以需要根据这些测试需求设计制作贴布。

c、将掩模板本体贴合到被测试基板上。

d、除即将用于测试的基板cell对应的测试窗外，其余测试窗用所述贴布贴封。

e、完成对步骤d中未贴封贴布的测试窗对应的基板cell的测试。

f、将与未贴封贴布的测试窗相邻且测试窗对应的基板cell未经过测试的测试窗贴布取下并贴封至该未贴封贴布的测试窗上。

g、循环进行步骤e和步骤f，直至所有测试窗对应的基板cell测试完毕或完成了全部的测试内容。

比如在上述方法实施例中，对于包括4×4矩阵排列的16个cell的基板，掩模板本体设计为按4×4矩阵排列的16个测试窗，如图1所示。贴布设计方法是，掩模板包括3块贴布，所述贴布为可同时贴合2×2的测试窗组成的矩阵区域的矩形胶带。如图4中a和b所示。另外，图2和图3示出的是对于上述4×4基板的两种分区方法，分别分为8个分区和4个分区，对应的贴布就比照分区形状设计。

对于图3所示基板进行测试的情况，上述方法中步骤g具体包括以下步骤：

g1、将包含4×4矩阵排列的16个cell的基板按彼此相邻且无交集的2×2矩阵区域划分为四个区域，分别为第一区域、第二区域、第三区域和第四区域，用3块可同时贴合2×2矩阵区域的测试窗的贴布贴合第二区域、第三区域和第四区域，然后对第一区域进行测试；

g2、将第二区域的贴布取下并贴到第一区域上，对第二区域进行测试；

g3、将第三区域的贴布取下并贴到第二区域上，对第三区域进行测试；

g4、将第四区域的贴布取下并贴到第三区域上，对第四区域进行测试。

本实施例的掩模板及OLED材料和/或器件结构测试方法主要通过对掩模板本体不同的遮挡方法，实现在同一张基板上同时进行多种材料或多种器件结构测试的目的，从而解决行业内通常一张基板只能同时测试一种材料或一种器件结构的问题，大大提高测试实验的效率。需要强调的是，本发明的OLED材料和/或器件结构测试方法的创新点主要在于通过掩模板遮挡实现利用一张基板进行多项测试内容，因此上述的实施例仅为本发明的一具体实施例，本发明的方案包含但不限于这种具体形式。以下是本发明方案的另一种实施方式：

其中掩模板为一套包含多张掩模板，每张掩模板均包括掩模板本体和测试窗，与上述实施例不同在于，本实施例的掩模板仅有一个测试窗，测试窗形状与上述贴布形状相同，测试窗在掩模板本体上的位置各不相同，一套掩模板对齐重叠在一起后各测试窗互不重叠且分别与基板测试区域对齐。当使用这种掩模板实现本发明的OLED材料和/或器件结构测试时主要包括以下步骤：首先根据需要制造出一套掩模板，然后选取掩模板之一贴到基板上进行测试，测试完毕后换用另一张掩模板再进行下一项测试，直至所有测试项目完成或基板上所有cell均已测试完毕。

本领域的技术人员将会意识到，这里所述的实施例是为了帮助读者理解本发明的原理，应被理解为本发明的保护范围并不局限于这样的特别陈述和实施例。本领域的普通技术人员可以根据本发明公开的这些技术启示做出各种不脱离本发明实质的其它各种具体变形和组合，这些变形和组合仍然在本发明的保护范围内。

Claims (9)

1.OLED材料和/或器件结构测试专用掩模板，其特征在于，包括：掩模板本体和贴布，所述掩模板本体外形与基板一致，并在与基板测试区域cell对应的位置设置有测试窗，掩模板本体用于在测试时保护非测试窗对应的基板区域；所述贴布在测试时与掩模板本体贴合并遮挡部分测试窗，用于保护被遮挡的测试窗对应的基板区域；

所述掩模板本体包括按4×4矩阵排列的16个测试窗，用于包含16个按同样方式排列的cell的基板测试。

2.根据权利要求1所述的OLED材料和/或器件结构测试专用掩模板，其特征在于，所述贴布为可同时贴合掩模板本体的相邻两个测试窗的矩形胶带。

3.根据权利要求1所述的OLED材料和/或器件结构测试专用掩模板，其特征在于，所述贴布为可同时贴合掩模板本体的2×2的测试窗组成的矩阵区域的矩形胶带。

4.根据权利要求2所述的OLED材料和/或器件结构测试专用掩模板，其特征在于，所述贴布为可同时贴合掩模板本体的2×2的测试窗组成的矩阵区域的矩形胶带。

5.一种使用权利要求1所述OLED材料/或器件结构测试专用掩膜板的OLED材料和/或器件结构测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

a、根据被测试基板制作上述掩模板本体，并开设测试窗；

b、根据测试需求制作所述贴布；

c、将掩模板本体贴合到被测试基板上；

d、除即将用于测试的基板cell对应的测试窗外，其余测试窗用所述贴布贴封；

e、完成对步骤d中未贴封贴布的测试窗对应的基板cell的测试；

f、将与未贴封贴布的测试窗相邻且测试窗对应的基板cell未经过测试的测试窗贴布取下并贴封至该未贴封贴布的测试窗上；

g、循环进行步骤e和步骤f，直至所有测试窗对应的基板cell测试完毕或完成了全部的测试内容。

6.根据权利要求5所述的OLED材料和/或器件结构测试方法，其特征在于，所述方法中，掩模板本体包括按4×4矩阵排列的16个测试窗，用于包括16个cell并按同样方式排列的基板测试。

7.根据权利要求5或6所述的OLED材料和/或器件结构测试方法，其特征在于，所述方法中，掩模板包括3块贴布，所述贴布为可同时贴合2×2的测试窗组成的矩阵区域的矩形胶带。

8.根据权利要求5或6所述的OLED材料和/或器件结构测试方法，其特征在于，上述方法中步骤g具体包括以下步骤：

g1、将包含4×4矩阵排列的16个cell的基板按彼此相邻且无交集的2×2矩阵区域划分为四个区域，分别为第一区域、第二区域、第三区域和第四区域，用3块可同时贴合2×2矩阵区域的测试窗的贴布贴合第二区域、第三区域和第四区域，然后对第一区域进行测试；

g2、将第二区域的贴布取下并贴到第一区域上，对第二区域进行测试；

g3、将第三区域的贴布取下并贴到第二区域上，对第三区域进行测试；

g4、将第四区域的贴布取下并贴到第三区域上，对第四区域进行测试。

9.根据权利要求7所述的OLED材料和/或器件结构测试方法，其特征在于，上述方法中步骤g具体包括以下步骤：

g1、将包含4×4矩阵排列的16个cell的基板按彼此相邻且无交集的2×2矩阵区域划分为四个区域，分别为第一区域、第二区域、第三区域和第四区域，用3块可同时贴合2×2矩阵区域的测试窗的贴布贴合第二区域、第三区域和第四区域，然后对第一区域进行测试；

g2、将第二区域的贴布取下并贴到第一区域上，对第二区域进行测试；

g3、将第三区域的贴布取下并贴到第二区域上，对第三区域进行测试；

g4、将第四区域的贴布取下并贴到第三区域上，对第四区域进行测试。