CN103454579B - 一种芯片数字接口的测试方法及系统 - Google Patents

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Abstract

本发明于接口测试技术领域，提供了一种芯片数字接口的测试方法及系统。方法包括：接收测试指令，并向被测芯片的数字接口发送相应测试用例的第一数字信号；接收第一数字信号经数字接口传输后输出的第二数字信号，并将接收到的第二数字信号与预存的第一数字信号进行比对，输出比对结果；根据输出的比对结果，发出表征数字接口正常/异常的提示信号。本发明由于预存了测试过程中发送给数字接口的第一数字信号，并在测试开始后，直接向数字接口发送第一数字信号，通过第二数字信号与预存第一数字信号的比较，可以准确识别芯片上数字接口的数据正确性，从而避免了模/数转换带来的数据不确定因素，提高了测试的自动化程度和测试的可重复性、灵活性。

Description

一种芯片数字接口的测试方法及系统
技术领域
本发明属于接口测试技术领域，尤其涉及一种芯片数字接口的测试方法及系统。
背景技术
为了保证芯片功能，需要对芯片进行控制台测试，即在一个接近实际使用环境的平台上，对芯片的基本功能进行模拟测试。
采用现有技术提供的芯片数字接口的测试方法在对某些芯片的数字接口进行控制台测试时，需要将一与数字接口搭配的外部模拟信号采集设备与数字接口连接，该外部模拟信号采集设备采集模拟信号并将该模拟信号转换成数字信号后，通过数字接口发送至芯片，由芯片根据该数字信号识别数字结构正常或异常。
举例来说，当对多媒体处理芯片上的IIS接口进行控制台测试时，需要将一带有IIS接口的预处理芯片与多媒体处理芯片上的IIS接口连接。在测试开始后，该预处理芯片采集麦克风等模拟音频输入设备接收到的模拟音频信号，之后将采集到的模拟音频信号进行模/数转换及解码处理后，通过多媒体处理芯片上的IIS接口发送给多媒体处理芯片；多媒体处理芯片根据接收到预处理芯片发送的数字音频信号，识别多媒体处理芯片上的IIS接口正常或异常。
然而，由于芯片接收到的数字信号是外部模拟信号采集设备模/数转换后的数字信号，而模/数转换存在一定的转换精度，导致采用现有技术提供的芯片数字接口的测试方法无法精确识别芯片上数字接口的数据正确性，测试精度低。
在本背景技术本部分所公开的上述信息仅仅用于增加对本发明背景技术的理解，因此其可能包括不构成对该国的本领域普通技术人员已知的现有技术。
发明内容
本发明实施例的目的在于提供一种芯片数字接口的测试方法，旨在解决现有技术提供的芯片数字接口的测试方法中，芯片接收到的数字信号是外部模拟信号采集设备模/数转换后的数字信号，导致无法精确识别芯片上数字接口的数据正确性，测试精度低的问题。
本发明实施例是这样实现的，一种芯片数字接口的测试方法，所述方法包括以下步骤：
接收测试指令，并向被测芯片的数字接口发送相应测试用例的第一数字信号；
接收所述第一数字信号经所述数字接口传输后输出的第二数字信号，并将接收到的所述第二数字信号与预存的所述第一数字信号进行比对，输出比对结果；
根据输出的所述比对结果，发出表征数字接口正常/异常的提示信号。
本发明实施例的另一目的在于提供一种芯片数字接口的测试系统，所述系统包括：
第一存储模块，用于预存第一数字信号；
数字信号发送模块，用于接收测试指令，并向被测芯片的数字接口发送相应测试用例的第一数字信号；
数字信号接收模块，用于接收所述数字信号发送模块发送的所述第一数字信号经所述数字接口传输后输出的第二数字信号；
比对模块，用于将所述数字信号接收模块接收到的所述第二数字信号与所述第一存储模块预存的所述第一数字信号进行比对，输出比对结果；
提示模块，用于根据所述比对模块输出的所述比对结果，发出表征所述数字接口正常/异常的提示信号。
本发明实施例提供的芯片数字接口的测试方法及系统是根据测试指令发送第一数字信号给数字接口，之后根据经数字接口输出的第二数字信号与预存的第一数字信号相同与否，提示数字接口正常或异常。由于预存了测试过程中发送给数字接口的第一数字信号，并在测试开始后，直接向数字接口发送第一数字信号，通过第二数字信号与预存第一数字信号的比较，可以准确识别芯片上数字接口的数据正确性，从而避免了模/数转换带来的数据不确定因素，同时提高了测试的自动化程度和测试的可重复性、灵活性。
附图说明
图1是本发明实施例提供的芯片数字接口的测试方法的流程图；
图2是本发明实施例提供的芯片数字接口的测试系统的结构图；
图3是图2中数字信号发送模块的一种结构图；
图4是图2中数字信号发送模块的另一种结构图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
针对现有技术存在的问题，本发明实施例提供的芯片数字接口的测试方法是根据测试指令发送第一数字信号给数字接口，之后根据经数字接口输出的第二数字信号与预存的第一数字信号相同与否，提示数字接口正常或异常。
图1示出了本发明实施例提供的芯片数字接口的测试方法的流程。
在步骤S101中，接收测试指令，并向被测芯片的数字接口发送相应测试用例的第一数字信号，不同的测试用例具有不同的第一数字信号。
作为本发明的一个实施例，步骤S101又可以包括以下步骤：接收测试指令，并根据该测试指令生成相应测试用例的第一数字信号；发送生成的第一数字信号。
作为本发明的另一个实施例，步骤S101还可以包括以下步骤：接收测试指令，并调用预存的、该测试指令相应测试用例的第一数字信号；发送调用的第一数字信号。
在步骤S102中，接收第一数字信号经数字接口传输后输出的第二数字信号，并将接收到的第二数字信号与预存的第一数字信号进行比对，输出比对结果。
在步骤S103中，根据输出的比对结果，发出表征数字接口正常/异常的提示信号。若第二数字信号与预存的第一数字信号相同，则发出表征数字接口正常的提示信号，否则发出表征数字接口异常的提示信号。
相对于现有技术而言，本发明实施例提供的芯片数字接口的测试方法是根据测试指令发送第一数字信号给数字接口，之后根据经数字接口输出的第二数字信号与预存的第一数字信号相同与否，提示数字接口正常或异常。由于预存了测试过程中发送给数字接口的第一数字信号，并在测试开始后，直接向数字接口发送第一数字信号，通过第二数字信号与预存第一数字信号的比较，可以准确识别芯片上数字接口的数据正确性，从而避免了模/数转换带来的数据不确定因素，同时提高了测试的自动化程度和测试的可重复性、灵活性。
图2示出了本发明实施例提供的芯片数字接口的测试系统的结构，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。
本发明实施例提供的芯片数字接口的测试系统包括：第一存储模块15，用于预存第一数字信号；数字信号发送模块11，用于接收测试指令，并向被测芯片的数字接口发送相应测试用例的第一数字信号；数字信号接收模块12，用于接收数字信号发送模块11发送的第一数字信号经数字接口传输后输出的第二数字信号；比对模块13，用于将数字信号接收模块12接收到的第二数字信号与第一存储模块15预存的第一数字信号进行比对，输出比对结果；提示模块14，用于根据比对模块13输出的比对结果，发出表征数字接口正常/异常的提示信号，若第二数字信号与预存的第一数字信号相同，则提示模块14发出表征数字接口正常的提示信号，否则提示模块14发出表征数字接口异常的提示信号。
作为本发明的一个实施例，如图3所示，数字信号发送模块11又可以包括：生成模块111，用于接收测试指令，并根据该测试指令生成相应测试用例的第一数字信号；第一发送模块112，用于发送生成模块111生成的第一数字信号。
作为本发明的另一个实施例，如图4所示，数字信号发送模块11还可以包括：第二存储模块114，用于预存测试用例及其相应的第一数字信号；调用模块113，用于接收测试指令，调用第二存储模块114预存的、该测试指令相应测试用例的第一数字信号；第二发送模块115，用于发送调用模块113调用的第一数字信号。
优选地，数字信号发送模块11置于一CPLD芯片中；数字信号接收模块12、比对模块13、提示模块14、第一存储模块15置于被测芯片中，CPLD芯片与被测芯片之间通过IIS接口和GPIO接口连接，此时，测试指令是由被测芯片通过GPIO接口发送给数字信号发送模块11的。
优选地，被测芯片是多媒体处理芯片，数字接口是IIS接口。
本发明实施例提供的芯片数字接口的测试方法及系统是根据测试指令发送第一数字信号给数字接口，之后根据经数字接口输出的第二数字信号与预存的第一数字信号相同与否，提示数字接口正常或异常。由于预存了测试过程中发送给数字接口的第一数字信号，并在测试开始后，直接向数字接口发送第一数字信号，通过第二数字信号与预存第一数字信号的比较，可以准确识别芯片上数字接口的数据正确性，从而避免了模/数转换带来的数据不确定因素，同时提高了测试的自动化程度和测试的可重复性、灵活性。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来控制相关的硬件完成，所述的程序可以在存储于一计算机可读取存储介质中，所述的存储介质，如ROM/RAM、磁盘、光盘等。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种芯片数字接口的测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
接收测试指令，并向被测芯片的数字接口发送相应测试用例的第一数字信号；
接收所述第一数字信号经所述数字接口传输后输出的第二数字信号，并将接收到的所述第二数字信号与预存的所述第一数字信号进行比对，输出比对结果；
根据输出的所述比对结果，发出表征数字接口正常/异常的提示信号。
2.如权利要求1所述的芯片数字接口的测试方法，其特征在于，所述接收测试指令，并向被测芯片的数字接口发送相应测试用例的第一数字信号的步骤又包括以下步骤：
接收测试指令，并根据所述测试指令生成相应测试用例的第一数字信号；
发送生成的所述第一数字信号。
3.如权利要求1所述的芯片数字接口的测试方法，其特征在于，所述接收测试指令，并向被测芯片的数字接口发送相应测试用例的第一数字信号的步骤又包括以下步骤：
接收测试指令，并调用预存的、所述测试指令相应测试用例的第一数字信号；
发送调用的所述第一数字信号。
4.如权利要求1所述的芯片数字接口的测试方法，其特征在于，所述根据输出的所述比对结果，发出表征数字接口正常/异常的提示信号的步骤具体为：若所述第二数字信号与预存的所述第一数字信号相同，则发出表征所述数字接口正常的提示信号，否则发出表征所述数字接口异常的提示信号。
5.如权利要求1至4任一项所述的芯片数字接口的测试方法，其特征在于，所述被测芯片是多媒体处理芯片，所述数字接口是IIS接口。
6.一种芯片数字接口的测试系统，其特征在于，所述系统包括：
第一存储模块，用于预存第一数字信号；
数字信号发送模块，用于接收测试指令，并向被测芯片的数字接口发送相应测试用例的第一数字信号；
数字信号接收模块，用于接收所述数字信号发送模块发送的所述第一数字信号经所述数字接口传输后输出的第二数字信号；
比对模块，用于将所述数字信号接收模块接收到的所述第二数字信号与所述第一存储模块预存的所述第一数字信号进行比对，输出比对结果；
提示模块，用于根据所述比对模块输出的所述比对结果，发出表征所述数字接口正常/异常的提示信号。
7.如权利要求6所述的芯片数字接口的测试系统，其特征在于，所述数字信号发送模块又包括：
生成模块，用于接收测试指令，并根据所述测试指令生成相应测试用例的第一数字信号；
第一发送模块，用于发送所述生成模块生成的所述第一数字信号。
8.如权利要求6所述的芯片数字接口的测试系统，其特征在于，所述数字信号发送模块又包括：
第二存储模块，用于预存测试用例及其相应的第一数字信号；
调用模块，用于接收测试指令，调用所述第二存储模块预存的、所述测试指令相应测试用例的所述第一数字信号；
第二发送模块，用于发送所述调用模块调用的所述第一数字信号。
9.如权利要求6所述的芯片数字接口的测试系统，其特征在于，所述数字信号发送模块置于一CPLD芯片中，所述数字信号接收模块、比对模块、提示模块、第一存储模块置于所述被测芯片中；
所述CPLD芯片与所述被测芯片之间通过IIS接口和GPIO接口连接，所述测试指令是由所述被测芯片通过所述GPIO接口发送给所述数字信号发送模块的。
10.如权利要求6至9任一项所述的芯片数字接口的测试系统，其特征在于，所述被测芯片是多媒体处理芯片，所述数字接口是IIS接口。
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