CN103376797A - 控制器的测试装置和控制器老化实验箱 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种控制器的测试装置和控制器老化实验箱。其中，控制器的测试装置包括：电源模块，连接于外部电源，用于将外部电源电压转换为被测控制器电压；开关模块，连接于被测控制器；以及主控模块，与开关模块和电源模块分别相连接，用于控制开关模块根据预设的通断电时间通断。通过本发明，解决了现有技术中对控制器进行测试时无法自动控制通断电时间的问题，进而达到了测试装置能够自动进行通断电测试的效果。
Description
技术领域
本发明涉及测试领域，具体而言，涉及一种控制器的测试装置和控制器老化实验箱。
背景技术
控制器老化实验箱是用来对控制器产品进行老化实验的装置，为进一步对控制器产品的可靠性进行实验验证，提出了新的测试需求，即，在进行老化实验的同时，对生产的控制器成品进行定时通断电实验(如上电1分钟后断电10秒钟，再连续循环多次)，以评估产品的可靠性程度的高低。现有技术在对控制器进行通断电实验时需要通过人为控制电源开关的通断来实现，发明人发现这种控制方式需要人为干预，无法对通断电时间进行自动控制，并且此种需要人为干预的控制方式无法达到精确控制通断电时间。
针对相关技术中对控制器进行测试时无法自动控制通断电时间的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种控制器的测试装置和控制器老化实验箱，以解决现有技术中对控制器进行测试时无法自动控制通断电时间的问题。
为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种控制器的测试装置，包括：电源模块，连接于外部电源，用于将外部电源电压转换为被测控制器电压；开关模块，连接于被测控制器；以及主控模块，与开关模块和电源模块分别相连接，用于控制开关模块根据预设的通断电时间通断。
进一步地，控制器的测试装置还包括：通讯模块，第一端连接于外部调试仪，第二端与主控模块相连接，用于将外部调试仪的通讯信号发送至主控模块，其中，通讯信号包括通断电时间；以及存储模块，与主控模块相连接，用于存储通断电时间，其中，主控模块用于控制开关模块根据存储模块中存储的通断电时间通断。
进一步地，控制器的测试装置还包括：显示模块，与主控模块相连接，用于显示开关模块的状态。
进一步地，电源模块包括：整流电路，第一端连接于外部电源；以及稳压芯片，第一端与整流电路的第二端相连接，稳压芯片的第二端与主控模块相连接。
进一步地，开关模块为继电器控制模块。继电器的控制线圈与主控模块相连接。
进一步地，通讯模块为RS485通讯电路。
进一步地，存储模块为FLASH模块。
进一步地，显示模块为LED灯显示模块。
为了实现上述目的，根据本发明的另一方面，提供了一种控制器老化实验箱，包括本发明上述内容所提供的任一种控制器的测试装置。
通过本发明，采用包括以下结构的控制器的测试装置：电源模块，连接于外部电源，用于将外部电源电压转换为被测控制器电压；开关模块，连接于被测控制器；以及主控模块，与开关模块和电源模块分别相连接，用于控制开关模块根据预设的通断电时间通断，通过在测试装置内设置能够接收主控模块控制的开关模块，达到了使测试装置在对被测控制器进行测试时能够按照设定的通断电时间对被测控制器进行通断电控制，解决了现有技术中对控制器进行测试时无法自动控制通断电时间的问题，进而达到了测试装置能够自动进行通断电测试的效果。
附图说明
构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1是根据本发明实施例的控制器测试装置的外部接线示意图；
图2是根据本发明实施例的控制器测试装置的内部接线示意图；
图3是根据本发明实施例的电源模块的电路图；
图4是根据本发明实施例的主控模块的电路图；以及
图5是根据本发明实施例的通讯模块的电路图。
具体实施方式
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。
本发明实施例提供了一种控制器的测试装置，该实施例的测试装置主要包括电源模块、开关模块和主控模块，电源模块和开关模块均与主控模块相连接，当对被测控制器进行通断电测试时，电源模块连接于外部电源，以将外部电源的电压转换为被测试控制器的电压，开关模块连接于被测试控制器，主控模块按照设定的通断电时间控制开关模块的通断以实现对被测控制器进行通断电控制。
在上述的控制器的测试装置中，由于在测试装置内设置能够接收主控模块控制的开关模块，达到了使测试装置在对被测控制器进行测试时能够按照设定的通断电时间对被测控制器进行通断电控制，解决了现有技术中对控制器进行测试时无法自动控制通断电时间的问题，因而达到了测试装置能够自动进行通断电测试的效果。
本发明实施例的控制器的测试装置进行控制器通断电测试时的外部接线示意图如图1所示，内部接线示意图如图2所示。
具体地，如图2所示，测试装置的开关模块可以为继电器控制模块，主控模块通过控制继电器的吸合与否来控制被测试产品的通断电时间，其中，测试装置还可以包括显示模块，该显示模块可以是LED灯显示模块，主控模块在控制继电器吸合和断开时可以同时控制LED灯进行状态显示以表示继电器吸合或断开，举例说明，主控模块在控制继电器吸合时可以控制LED灯中的黄灯亮、红灯灭以表示对被测试产品进行通电测试，被测试产品正常运行；主控模块在控制继电器断开时可以控制LED灯中的红灯亮、黄灯灭以表示对被测试产品进行断电测试，被测试产品断电，停止运行。测试装置还可以包括存储模块，存储模块可以是与主控模块相连接的独立设置的存储单元，也可以是内置于主控模块中的存储单元，该存储模块用于存储设定的通断电时间，由于主控模块读取到的通断电时间数据需要带掉电保护功能，所以存储模块可以选用FLASH(Flash Eeprom Memory，简称FLASH)存储模块，FLASH又名闪存，是一种长寿命的非易失性(在断电情况下仍能保持所存储的数据信息)的存储器，它的主要作用就是保存单片机写入的数据，供主控模块读取。主控模块每次运行时从FLASH存储模块中读取参数设置。进一步地，测试装置还包括通讯模块，在对被测试控制器进行测试时，通讯模块与外部调试仪相连接，用于将外部调试仪的通讯信号发送至测试装置的主控模块，其中，通讯信号可以包括对通断电时间进行设定或修改的信号，本发明实施例的测试装置可以选用RS485通讯模块，主控模块通过RS485通讯电路接收通讯信号后自动解析协议并按照通讯协议修改定时通断电时间。
对本发明实施例的测试装置的测试原理进行说明如下：
测试装置上电后，从FLASH模块中读取通断电时间信息，然后按照设定好的通电时间对被测试产品(包括被测试控制器)进行通电；当通电时间达到设定的通电时长后，测试装置自动切换至断电模式，当断电时间达到设定的断电时长后，测试装置在切换回通电模式，如此循环，实现对被测试产品的通断电测试，其中，如果需要对被测试产品的通断时间进行更改，则通过通讯模块接收来自外部调试仪的通讯协议以进行通断电时间的修改，并将修改后的通断电时间存储在FLASH模块中，测试装置按照更新后的通断电时间对被测试产品进行通断电测试。
通过以上描述可以看出，本发明实施例的测试装置实现了如下效果：在对被测控制器进行测试时无需人为操作，测试过程可以全程进行自动通断电测试，简单智能化，并且在需要对通断电时间进行修改时可以通过通讯模块接收外部调试仪的通断电修改命令，提高了测试装置的使用灵活性。
进一步地，上述实施例中测试装置的电源模块的具体电路图可以采用图3所示的电路图，如图3所示，电源模块包括整流桥和稳压芯片，外部电源的12V交流电压经桥式整流电路后分别通过12V稳压芯片和5V稳压芯片后得到12V的稳定电压和5V的稳定电压，以实现为测试装置或被测控制器提供稳定的供电方式。
上述实施例中测试装置的主控模块和通讯模块的具体电路图可以分别采用图4和图5所示的电路图，如图4所示，主控模块的控制芯片采用MICROCHIP公司的PIC16F873单片机，该控制芯片采用串行8位方式进行读取数据，电源模块供电给工装系统后，主芯片控制模块开始运行，首先主芯片控制模块从FLASH模块中读取通断电时间，并按照此时间控制继电器控制模块进行通断电模式切换，并驱动LED灯显示模块指示当前状态；如图5所示，通讯模块采用RS485通讯模块，主控模块(单片机PIC16F873)连接标准RS485通讯电路输入端，通讯电路根据通讯协议解析外接调试仪的时间设定信号并传输入给主控单元进行判断处理，通讯电路输出端将通讯协议发送给外接调试仪；此时可以通过外接调试仪设定断电时间，外接调试仪将变化信息通过通讯接口提供给单片机智能处理，单片机根据信息修改通断电时间，其中，RS485通讯模块通过光耦隔离芯片进行外部调试仪与主控芯片之间的通讯，外部调试仪可以通过此通讯模块修改测试装置使用的通断电时间，以使主控芯片按照新设定的通断电时间对被测控制器进行测试控制，通讯电路的输入端由电阻R301(限流作用)、R302(上拉作用)、R303(上拉作用)、发光二级管D301(发光指示信号的传输变化)和IC_MAX485芯片构成，此芯片是用于RS-485通讯的低功耗收发器，通讯电路的输出端由电阻R304(匹配作用)、R305(限流作用)、R306(限流作用)、R307(下拉作用)、R308(上拉电阻)、R309(匹配作用)、电容C301(滤波防止电磁干扰)和CN301外置接口构成，限流作用是指限制电流，防止电流过大对电路造成损害；上拉作用指将不确定的信号通过一个电阻钳位在高电平；下拉作用指将不确定的信号通过一个电阻钳位在低电平；匹配作用指传输线电路通过加匹配电阻的增大负载以使传输信号处于行波状态，是一种被动的阻抗匹配措施。
此外，本发明实施例还提供了一种控制器老化实验箱，该控制器老化实验箱包括本发明实施例所提供的任一种控制器的测试装置。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种控制器的测试装置，其特征在于，包括：
电源模块，连接于外部电源，用于将外部电源电压转换为被测控制器电压；
开关模块，连接于所述被测控制器；以及
主控模块，与所述开关模块和所述电源模块分别相连接，用于控制所述开关模块根据预设的通断电时间通断。
2.根据权利要求1所述的控制器的测试装置，其特征在于，还包括：
通讯模块，第一端连接于外部调试仪，第二端与所述主控模块相连接，用于将所述外部调试仪的通讯信号发送至所述主控模块，其中，所述通讯信号包括通断电时间；以及
存储模块，与所述主控模块相连接，用于存储所述通断电时间，
其中，所述主控模块用于控制所述开关模块根据所述存储模块中存储的通断电时间通断。
3.根据权利要求1所述的控制器的测试装置，其特征在于，还包括：
显示模块，与所述主控模块相连接，用于显示所述开关模块的状态。
4.根据权利要求1至3任一项所述的控制器的测试装置，其特征在于，所述电源模块包括：
整流电路，第一端连接于所述外部电源；以及
稳压芯片，第一端与所述整流电路的第二端相连接，所述稳压芯片的第二端与所述主控模块相连接。
5.根据权利要求1至3任一项所述的控制器的测试装置，其特征在于，所述开关模块为继电器控制模块。
6.根据权利要求2所述的控制器的测试装置，其特征在于，所述通讯模块为RS485通讯电路。
7.根据权利要求2所述的控制器的测试装置，其特征在于，所述存储模块为FLASH模块。
8.根据权利要求3所述的控制器的测试装置，其特征在于，所述显示模块为LED灯显示模块。
9.一种控制器老化实验箱，其特征在于，包括权利要求1至8中任一项所述的控制器的测试装置。
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