CN103281116B - 一种onu长发光检测电路和应用系统及其应用方法 - Google Patents

一种onu长发光检测电路和应用系统及其应用方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种ONU长发光检测电路,包括RC滤波电路,电流泄放电路,限流电阻,以及输出控制电路;本发明还公开了一种ONU长发光应用系统,包括:ONU长发光检测电路,主处理器CPU,供电控制电路,以及光模块;本发明又公开了一种ONU长发光检测电路和应用系统的应用方法。本发明具有如下优点或者有益效果:1、有效地解决RC滤波电路时间控制出现矛盾的问题;2、有效避免因为占空比不稳引起电流过大、导致主处理器CPU误以为捕捉到长发光信号的问题;3、RC滤波电路的应用使得主处理器CPU只在ONU确实处于长发光状态下时才会对ONU解注册,而在ONU正常工作时则不会有影响。

Description

一种ONU长发光检测电路和应用系统及其应用方法
技术领域
本发明涉及一种光网络单元(Optical Network Unit,简称ONU)的长发光检测电路,属于光电检测技术领域,尤其涉及一种ONU长发光检测电路和应用系统及其应用方法。
背景技术
基于以太网的无源光网络(Ethernet Passive Optical Network,简称EPON)是一种一点对多点的光纤接入技术。所谓无源指的是在光配线网络中不含任何含电子电源的电子器件。一个无源光网络包括一个安装于中心控制站的光线路终端(Optical LineTerminal,简称OLT),一批配套的安装于用户场所的光网络单元(ONUs)。在OLT与ONU之间的ODN(光分配网)全部由光纤以及光分路器等无源的器件组成,不需要贵重的有源电子设备。EPON技术是将以太网和无源光网络技术相结合,在无源光网络体系架构的基础上,定义了一种应用于EPON系统的物理层规范和扩展的以太网数据链路层协议,以实现一点到多点的PON中以太网帧接入。
在下行方向:OLT发出的以太网数据报经过一个1:n的无源光分路器或几级分路器传送到每一个ONU。N的典型取值在4~64之间(由可用的光功率预算所限制)。这种行为特征与共享媒质网络相同。因为以太网具有广播特性,与EPON结构和匹配:OLT广播数据包,目的ONU有选择的提取。
在上行方向:由于无源光合路器的方向特性,任何一个ONU发出的数据包只能到达OLT,而不能到达其他的ONU。EPON在上行方向上的行为特点与点到点网络相同。但是,不同于一个真正的点到点网络,在EPON中,所有的ONU都属于同一个冲突域――来自不同的ONU的数据包如果同时传输依然可能会冲突。因此在上行方向,EPON需要采用某种仲裁机制来避免数据冲突。因此在上行采用时分复用技术给不同的ONU分配不同的上行时隙,所以在某一时刻上行只能有一台ONU进行数据上传。但如果此时有某ONU出现长发光现象,就会占据其他ONU的上行通信时隙,而引起其他ONU被OLT解注册,这样其他ONU与OLT之间不能正常通信。所以,有必要引入一个能够检测到ONU是否处于长发光状态的电路,来保证OLT与几个ONU之间的正常通信。
光模块是否处于长发光状态,是由光模块第20脚:PON_TX_SD所表示的,对于高开(高电平开启)的光模块而言,不管其是否工作在长发光状态,PON_TX_SD都会输出高电平,高电平所占的占空比与它和OLT之间通讯的速率成正比。长发光检测电路的目的,就是要把非长发光状态下的PON_TX_SD信号中出现的高电平滤除;而在长发光时,使高电平通过长发光检测电路,传递到CPU的GPIO口,让CPU强制ONU解注册。
对此,中国专利申请“终端设备及其长发光检测电路”申请号“201210363668.3”公开了一种终端设备及其长发光检测电路,所述电路包括:反相电路,用以在所述激光发射光源的负端为低电平时从其输出端输出高电平;在所述激光发射光源的负端为高阻状态时输出低电平;滤波泄放电路,用以在所述反相电路的输出端输出高电平、并维持了设定时间段后,从其输出端输出高电平;告警信号触发电路,用以在所述滤波泄放电路的输出端输出高电平时,从其输出端输出所述激光器的长发光的告警信号;该专利申请所采用的长发光检测电路通过简单的分立器件来达到降低产品成本、节省PCB布线空间以及减少软件开发工作量的目的。
上述现有技术的长发光检测电路是采用两个电容把非长发光状态下PON_TX_SD产生的高电平滤除的方法。这种方法的缺点是:首先,当传输速度提高时,因为PON_TX_SD高电平占空比增大,所需要的电容值也要相应的增大,电容增大就会导致RC电路中的RC时间常数也增大。然而在传输速度提高时,PON_TX_SD信号的频率也是增大的,当信号的频率增大时,需要滤波电路的RC常数减小,这样才能有更好的滤波效果。因此在电容的选择上就会出现RC时间控制的矛盾。其次,现有的电路中对进入三极管前的信号没有做电流的限制,当占空比不稳定时可能会引起电流过大,而让CPU误以为捕捉到长发光信号。
发明内容
针对上述存在的问题,本发明公开一种ONU长发光检测电路和应用系统及其应用方法,当检测到ONU处于长发光状态时,避免了其始终占用上行信道造成其他ONU不能与OLT通信的问题。
为了实现上述目的,本发明采用如下技术方案:
一种ONU长发光检测电路,应用于ONU长发光系统,其中,包括:RC滤波电路,与所述RC滤波电路输入端连接的、为所述RC滤波电路提供泄放回路的电流泄放电路,与所述RC滤波电路输出端连接的、限制所述RC滤波电路输出电流的限流电阻,以及与所述限流电阻连接的、控制输出信号的输出控制电路;所述RC滤波电路包括第三电阻和第二电容,所述第三电阻和第二电容并联连接;其中,所述电流泄放电路包括用于接收光模块输出的长发光检测信号的信号输入端,所述输出控制电路包括用于向主处理器CPU输出长发光检测结果信号的信号输出端。
上述的ONU长发光检测电路,其中,所述电流泄放电路的信号输入端与RC滤波电路的输出端之间连接第一电容,所述第一电容的负极接地。
上述的ONU长发光检测电路,其中,所述RC滤波电路与所述限流电阻之间还连接第二二极管。
上述的ONU长发光检测电路,其中,所述电流泄放电路的信号输入端还通过一第一电阻连接外接电源电压。
上述的ONU长发光检测电路,其中,所述电流泄放电路包括第一二极管和第二电阻,所述第一二极管和所述第二电阻并联连接;其中,所述第一二极管的方向与长发光检测信号传输的方向相反。
上述的ONU长发光检测电路,其中,所述输出控制电路包括第一三极管和第二三极管,所述第一三极管的基极连接所述限流电阻的输出端,所述第一三极管的发射极与所述第二三极管的发射极共同接地,所述第一三极管的集电极分别连接第五电阻的一端和所述第二三极管的基极,所述第二三极管的集电极连接第六电阻的一端,所述第六电阻的另一端与所述第五电阻的另一端后共同连接外接电源电压。
上述的ONU长发光检测电路,其中,所述输出控制电路包括第一三极管,所述第一三极管的基极连接所述限流电阻,所述第一三极管的发射极接地,所述第一三极管的集电极连接第五电阻后连接外接电源电压。
一种应用上述ONU长发光检测电路的ONU长发光应用系统,其中,包括:ONU长发光检测电路,与所述ONU长发光检测电路的信号输出端连接的、控制供电信号导通或中断的主处理器CPU,与所述主处理器CPU连接的、在供电信号导通时供电的供电控制电路,以及与所述供电控制电路连接的、向所述ONU长发光检测电路信号输入端输入长发光检测信号的光模块;其中,所述主处理器CPU的第一使能输入输出端通过所述ONU长发光检测电路的信号输出端接收长发光检测结果信号,所述主处理器CPU的第二使能输入输出端向所述供电控制电路提供导通或中断供电信号。
一种采用上述ONU长发光检测电路和上述ONU长发光应用系统的应用方法,其中,采用如下步骤:
步骤S1,光模块向ONU长发光检测电路发出长发光检测信号;
步骤S2,ONU长发光检测电路对长发光检测信号进行处理,同时根据长发光检测信号判断ONU是否处于长发光状态,然后输出长发光检测结果信号;
步骤S3,将ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号输入主处理器CPU的第一使能输入输出端,主处理器CPU的第二使能输入输出端根据长发光检测结果信号,控制供电信号导通以使供电控制电路向光模块供电,或者控制供电信号中断以使供电控制电路关闭;
其中,在所述步骤S1中,当光模块正常工作时为高电平发光或者低电平发光,光模块向ONU长发光检测电路发出的长发光检测信号均为高电平。
上述的ONU长发光检测电路和ONU长发光应用系统的应用方法,其中,在所述步骤S1中,当光模块为高电平发光时,在所述步骤S2中,ONU长发光检测电路对长发光检测信号进行处理,具体方法为:当ONU处于长发光状态时,光模块输出的长发光检测信号一直保持高电平,ONU长发光检测电路中的RC滤波电路无法滤除该高电平,第一三极管的基极电流很大,第二三极管的基极电流很小,第二三极管处于中断状态,得到ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为高电平;当ONU处于非长发光状态时,ONU长发光检测电路中的RC滤波电路将长发光检测信号的高电平滤除,第一三极管的基极输入变成电压较小的锯齿波,同时第一三极管的基极电流较小,第二三极管的基极电流较大,流入第二三极管的集电极电流也较大,得到ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为低电平。
上述的ONU长发光检测电路和ONU长发光应用系统的应用方法,其中,在所述步骤S3中,根据长发光检测结果信号的不同,具体步骤如下:
步骤S301,若ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为高电平,ONU长发光检测电路将高电平输入主处理器CPU的第一使能输入输出端;
步骤S302,主处理器CPU判断该高电平的持续时间是否超过设定值,若是,则ONU处于长发光状态,主处理器CPU的第二使能输入输出端控制供电信号中断以使供电控制电路关闭,然后主处理器CPU控制ONU解注册,若否,则执行下一步;
步骤S303,若否,则ONU处于非长发光状态,ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号转为低电平,ONU长发光检测电路将低电平输入主处理器CPU的第一使能输入输出端,主处理器CPU的第二使能输入输出端控制供电信号导通以使供电控制电路向光模块供电,此时光模块正常工作。
上述的ONU长发光检测电路和ONU长发光应用系统的应用方法,其中,在所述步骤S3中,根据长发光检测结果信号的不同,具体步骤如下:
步骤S301’,若ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为低电平,则ONU处于非长发光状态,ONU长发光检测电路将低电平输入主处理器CPU的第一使能输入输出端,主处理器CPU的第二使能输入输出端控制供电信号导通以使供电控制电路向光模块供电,此时光模块正常工作。
上述的ONU长发光检测电路和ONU长发光应用系统的应用方法,其中,所述光模块输出高电平的占空比与所述光模块传输速率的大小成正比。
一种采用上述ONU长发光检测电路和上述ONU长发光应用系统的应用方法,其中,采用如下步骤:
步骤S1,光模块向ONU长发光检测电路发出长发光检测信号;
步骤S2,ONU长发光检测电路对长发光检测信号进行处理,同时根据长发光检测信号判断ONU是否处于长发光状态,然后输出长发光检测结果信号;
步骤S3,将ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号输入主处理器CPU的第一使能输入输出端,主处理器CPU的第二使能输入输出端根据长发光检测结果信号,控制供电信号导通以使供电控制电路向光模块供电,或者控制供电信号中断以使供电控制电路关闭;
其中,在所述步骤S1中,当光模块正常工作时为高电平发光或者低电平发光,光模块向ONU长发光检测电路发出的长发光检测信号均为高电平。
上述的ONU长发光检测电路和ONU长发光应用系统的应用方法,其中,在所述步骤S1中,当光模块为低电平发光时,在所述步骤S2中,ONU长发光检测电路对长发光检测信号进行处理,具体方法为:当ONU处于长发光状态时,光模块输出的长发光检测信号一直保持高电平,ONU长发光检测电路中的RC滤波电路无法滤除该高电平,第一三极管的基极电流很大,得到ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为高电平;当ONU处于非长发光状态时,ONU长发光检测电路中的RC滤波电路将长发光检测信号的高电平滤除,第一三极管的基极输入变成电压较小的锯齿波,同时第一三极管的基极电流较小,第一三极管的集电极电流较大,得到ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为低电平。
上述的ONU长发光检测电路和ONU长发光应用系统的应用方法,其中,在所述步骤S3中,根据长发光检测结果信号的不同,具体步骤如下:
步骤S301,若ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为高电平,ONU长发光检测电路将高电平输入主处理器CPU的第一使能输入输出端;
步骤S302,主处理器CPU判断该高电平的持续时间是否超过设定值,若是,则ONU处于长发光状态,主处理器CPU的第二使能输入输出端控制供电信号中断以使供电控制电路关闭,然后主处理器CPU控制ONU解注册,若否,则执行下一步;
步骤S303,若否,则ONU处于非长发光状态,ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号转为低电平,ONU长发光检测电路将低电平输入主处理器CPU的第一使能输入输出端,主处理器CPU的第二使能输入输出端控制供电信号导通以使供电控制电路向光模块供电,此时光模块正常工作。
上述的ONU长发光检测电路和ONU长发光应用系统的应用方法,其中,在所述步骤S3中,根据长发光检测结果信号的不同,具体步骤如下:
步骤S301’,若ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为低电平,则ONU处于非长发光状态,ONU长发光检测电路将低电平输入主处理器CPU的第一使能输入输出端,主处理器CPU的第二使能输入输出端控制供电信号导通以使供电控制电路向光模块供电,此时光模块正常工作。
上述的ONU长发光检测电路和ONU长发光应用系统的应用方法,其中,所述光模块输出高电平的占空比与所述光模块传输速率的大小成正比。
本发明具有如下优点或者有益效果:
1、RC滤波电路采用了电阻与电容并联的方式取代了两个电容并联的方式,有效地解决RC滤波电路时间控制出现矛盾的问题,当传输速度提高时,还可以通过加大RC滤波电路中电阻的方法来有效吸收高电平,同时,随着频率的升高对RC滤波电路时间常数所造成的负面影响也更小;
2、通过增加限流电阻对流入第一三极管的基极电流做了限制,可以有效避免因为占空比不稳引起电流过大、导致主处理器CPU误以为捕捉到长发光信号的问题;
3、利用电容的充放电原理,RC滤波电路把光模块中ONU处于非长发光状态时的高电平信号和后端隔离,使得主处理器CPU只在ONU确实处于长发光状态下时才会对ONU解注册,而在ONU正常工作时则不会有影响。
附图说明
图1是本发明ONU长发光检测电路一个实施例的结构示意图;
图2是本发明ONU长发光检测电路另一个实施例的结构示意图;
图3为本发明ONU长发光应用系统的结构示意图;
图4为本发明ONU长发光检测电路和ONU长发光应用系统的应用方法。
具体实施方式
下面结合附图和具体的实施例对本发明作进一步的说明,但是不作为本发明的限定。
作为本发明的一个实施例,如图1所示,本实施例的ONU长发光检测电路,应用于ONU长发光系统,包括:RC滤波电路2,与RC滤波电路2输入端连接的、为RC滤波电路2提供泄放回路的电流泄放电路1,与RC滤波电路2输出端连接的、限制RC滤波电路2输出电流的限流电阻R4,以及与限流电阻R4连接的、控制输出信号的输出控制电路3;RC滤波电路2包括第三电阻R3和第二电容C2,第三电阻R3和第二电容C2并联连接;其中,电流泄放电路1包括用于接收光模块输出的长发光检测信号的信号输入端,输出控制电路3包括用于向主处理器CPU输出长发光检测结果信号的信号输出端TX-SD。
电流泄放电路1的信号输入端与RC滤波电路2的输出端之间连接第一电容C1,第一电容C1的负极接地。RC滤波电路2与限流电阻R4之间还连接第二二极管D2。电流泄放电路1的信号输入端还通过第一电阻R1连接外接电源电压VCC。电流泄放电路1包括第一二极管D1和第二电阻R2,第一二极管D1和第二电阻R2并联连接;其中,所述第一二极管(D1)的方向与长发光检测信号传输的方向相反。
在输出控制电路3中,第一三极管Q1的基极连接限流电阻R4的输出端,第一三极管Q1的发射极连接第二三极管Q2的发射极后共同接地,第一三极管Q1的集电极分别连接第五电阻R5的一端和第二三极管Q2的基极,第二三极管Q2的集电极连接第六电阻R6的一端,第六电阻R6的另一端与第五电阻R5的另一端共同连接外接电源电压VCC。
本实施例是针对高开(高电平发光)的光模块而言的。
作为本发明的另一个实施例,如图2所示,本实施例的ONU长发光检测电路,输出控制电路3包括一个三极管,第一三极管Q1的基极连接限流电阻R4的输出端,第一三极管Q1的发射极接地,第一三极管Q1的集电极连接第五电阻R5后连接外接电源电压VCC。本实施例的其余结构均与上述实施例相同,但本实施例是针对低开(低电平发光)的光模块,只需要一个三极管就能够实现对输出信号进行控制的目的,也适用于本发明。
可以肯定的是,上述两个实施例中,第二电阻R2、第三电阻R3以及第二电容C2,其相应的阻值和容值的大小可以根据光模块传输速率的大小做相应的改动,均包括在本发明的范围内。
本发明应用ONU长发光检测电路的ONU长发光应用系统,参见图3,包括:ONU长发光检测电路,与ONU长发光检测电路的信号输出端TX-SD连接的、控制供电信号导通或中断的主处理器CPU,与主处理器CPU连接的、在供电信号导通时供电的供电控制电路VCC_TX,以及通过引脚TX_VCC与供电控制电路VCC_TX连接的、通过引脚PON_TX_SD向ONU长发光检测电路信号输入端输入长发光检测信号的光模块;其中,主处理器CPU的第一使能输入输出端GPIO1通过ONU长发光检测电路的信号输出端TX-SD接收长发光检测结果信号,主处理器CPU的第二使能输入输出端GPIO2向供电控制电路VCC_TX提供导通或中断供电信号。
光模块是否发光是由它的TX_Burst脚控制的。对于一个高开(即高电平发光)的光模块而言,当TX_Burst为高电平时,光模块就发光;TX_Burst为低电平时,光模块不发光。
光模块的20引脚:PON_TX_SD的变化状态与TX_Burst的变化是同步的。所以不论光模块是否处于长发光,PON_TX_SD都会输出高电平。
本发明的ONU长发光应用系统中的四个组成部分,具体功能如下:
(1)主处理器CPU:通过接收TX_SD信号来控制是否开启供电控制电路VCC_TX。当ONU正常工作时,GPIO1所收到的信号一直为低电平,此时CPU会控制供电控制电路VCC_TX正常开启;当ONU长发光时,GPIO1会收到高电平,CPU会判定高电平的保持时间,超过了设定值后,便控制供电控制电路VCC_TX关断从而对ONU解注册。
(2)供电控制电路VCC_TX:接收CPU所发出的控制信号来决定是否给光模块的引脚TX_VCC供电。当接收到高电平时,正常给光模块的引脚TX_VCC供电;当接收到低电平时,断开给光模块的引脚TX_VCC供电。
(3)光模块:当供电控制电路VCC_TX正常供电时,光模块正常工作,PON_TX_SD输出一个长发光检测信号,无论光模块高电平发光还是低电平发光,发光时PON_TX_SD输出的都是高电平信号,而不发光时PON_TX_SD输出的是低电平信号,PON_TX_SD输出高电平的占空比与光模块传输速率的大小成正比。
(4)ONU长发光检测电路:接收来自PON_TX_SD的长发光检测信号,经过长发光检测电路的处理后:当ONU处于长发光状态时PON_TX_SD会保持高电平,本电路通过TX_SD把长发光信号传到CPU,来控制解注册;当ONU处于非长发光状态时,本电路把PON_TX_SD的高电平滤除,CPU就不会接收到高电平。
本发明采用ONU长发光检测电路和ONU长发光应用系统的应用方法,参见图4,采用如下步骤:
步骤S1,光模块的引脚PON_TX_SD向ONU长发光检测电路发出长发光检测信号;
步骤S2,ONU长发光检测电路对长发光检测信号进行处理,同时根据长发光检测信号判断ONU是否处于长发光状态,然后输出长发光检测结果信号;
步骤S3,将ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号输入主处理器CPU的第一使能输入输出端GPIO1,主处理器CPU的第二使能输入输出端GPIO2根据长发光检测结果信号,控制供电信号导通以使供电控制电路VCC_TX向光模块的引脚TX_VCC供电,或者控制供电信号中断以使供电控制电路VCC_TX关闭;
其中,当光模块正常工作时为高电平发光或者低电平发光,光模块向ONU长发光检测电路发出的长发光检测信号均为高电平。
作为本发明方法的一个实施例,在步骤S3中,根据长发光检测结果信号的不同,具体步骤如下:
步骤S301,若ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为高电平,ONU长发光检测电路将高电平输入主处理器CPU的第一使能输入输出端GPIO1;
步骤S302,主处理器CPU判断该高电平的持续时间是否超过设定值,若是,则ONU处于长发光状态,主处理器CPU的第二使能输入输出端GPIO2控制供电信号中断以使供电控制电路VCC_TX关闭,然后主处理器CPU控制ONU解注册,若否,则执行下一步;
步骤S303,若否,则ONU处于非长发光状态,ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号转为低电平,ONU长发光检测电路将低电平输入主处理器CPU的第一使能输入输出端GPIO1,主处理器CPU的第二使能输入输出端GPIO2控制供电信号导通以使供电控制电路VCC_TX向光模块的引脚TX_VCC供电,此时光模块正常工作。
或者,作为本发明应用方法的另一个实施例,在步骤S3中,根据长发光检测结果信号的不同,具体步骤如下:
步骤S301’,若ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为低电平,则ONU处于非长发光状态,ONU长发光检测电路将低电平输入主处理器CPU的第一使能输入输出端GPIO1,主处理器CPU的第二使能输入输出端GPIO2控制供电信号导通以使供电控制电路VCC_TX向光模块的引脚TX_VCC供电,此时光模块正常工作。
在所述步骤S1中,当光模块为高电平发光时,作为本发明应用方法的又一个实施例,在步骤S2中,ONU长发光检测电路对长发光检测信号进行处理,具体方法为:当ONU处于长发光状态时,光模块的引脚PON_TX_SD输出的长发光检测信号一直保持高电平,ONU长发光检测电路中的RC滤波电路无法滤除该高电平,第一三极管Q1的基极电流很大,第二三极管Q2的基极电流很小,第二三极管Q2处于中断状态,ONU长发光检测电路的输出端TX_SD变成高电平(由外接电源电压VCC提供),得到ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为高电平;当ONU处于非长发光状态时,ONU长发光检测电路中的RC滤波电路将长发光检测信号的高电平滤除,第一三极管Q1的基极输入变成电压较小的锯齿波,同时第一三极管Q1的基极电流较小,第二三极管Q2的基极电流较大,流入第二三极管Q2的集电极电流也较大,得到ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为低电平。
在所述步骤S1中,当光模块为低电平发光时,作为本发明应用方法的再一个实施例,在所述步骤S2中,ONU长发光检测电路对长发光检测信号进行处理,具体方法为:当ONU处于长发光状态时,光模块的引脚PON_TX_SD输出的长发光检测信号一直保持高电平,ONU长发光检测电路中的RC滤波电路2无法滤除该高电平,第一三极管Q1的基极电流很大,ONU长发光检测电路的输出端TX_SD变成高电平(由外接电源电压VCC提供),得到ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为高电平;当ONU处于非长发光状态时,ONU长发光检测电路中的RC滤波电路2将长发光检测信号的高电平滤除,第一三极管Q1的基极输入变成电压较小的锯齿波,同时第一三极管Q1的基极电流较小,第一三极管Q1的集电极电流较大,得到ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为低电平。
其中,光模块输出高电平的占空比与光模块传输速率的大小成正比。
本领域技术人员应该理解,本领域技术人员在结合现有技术以及上述实施例可以实现所述变化例,在此不做赘述。这样的变化例并不影响本发明的实质内容,在此不予赘述。
以上对本发明的较佳实施例进行了描述。需要理解的是,本发明并不局限于上述特定实施方式,其中未尽详细描述的设备和结构应该理解为用本领域中的普通方式予以实施;任何熟悉本领域的技术人员,在不脱离本发明技术方案范围情况下,都可利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案作出许多可能的变动和修饰,或修改为等同变化的等效实施例,这并不影响本发明的实质内容。因此,凡是未脱离本发明技术方案的内容,依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰,均仍属于本发明技术方案保护的范围内。

Claims (18)

1.一种ONU长发光检测电路,应用于ONU长发光系统,其特征在于,包括:
RC滤波电路(2),与所述RC滤波电路(2)输入端连接的、为所述RC滤波电路(2)提供泄放回路的电流泄放电路(1),与所述RC滤波电路(2)输出端连接的、限制所述RC滤波电路(2)输出电流的限流电阻(R4),以及与所述限流电阻(R4)连接的、控制输出信号的输出控制电路(3);
所述RC滤波电路(2)包括第三电阻(R3)和第二电容(C2),所述第三电阻(R3)和第二电容(C2)并联连接;
其中,所述电流泄放电路(1)包括用于接收光模块输出的长发光检测信号的信号输入端,所述输出控制电路(3)包括用于向主处理器CPU输出长发光检测结果信号的信号输出端。
2.如权利要求1所述的ONU长发光检测电路,其特征在于,所述电流泄放电路(1)的信号输入端与RC滤波电路(2)的输出端之间连接第一电容(C1),所述第一电容(C1)的负极接地。
3.如权利要求1所述的ONU长发光检测电路,其特征在于,所述RC滤波电路(2)与所述限流电阻(R4)之间还连接第二二极管(D2)。
4.如权利要求1所述的ONU长发光检测电路,其特征在于,所述电流泄放电路(1)的信号输入端还通过一第一电阻(R1)连接外接电源电压。
5.如权利要求1所述的ONU长发光检测电路,其特征在于,所述电流泄放电路(1)包括第一二极管(D1)和第二电阻(R2),所述第一二极管(D1)和所述第二电阻(R2)并联连接;其中,所述第一二极管(D1)的方向与长发光检测信号传输的方向相反。
6.如权利要求1所述的ONU长发光检测电路,其特征在于,所述输出控制电路(3)包括第一三极管(Q1)和第二三极管(Q2),所述第一三极管(Q1)的基极连接所述限流电阻(R4)的输出端,所述第一三极管(Q1)的发射极与所述第二三极管(Q2)的发射极共同接地,所述第一三极管(Q1)的集电极分别连接第五电阻(R5)的一端和所述第二三极管(Q2)的基极,所述第二三极管(Q2)的集电极连接第六电阻(R6)的一端,所述第六电阻(R6)的另一端与所述第五电阻(R5)的另一端共同连接外接电源电压。
7.如权利要求1所述的ONU长发光检测电路,其特征在于,所述输出控制电路(3)包括第一三极管(Q1),所述第一三极管(Q1)的基极连接所述限流电阻(R4),所述第一三极管(Q1)的发射极接地,所述第一三极管(Q1)的集电极连接第五电阻(R5)后连接外接电源电压。
8.一种应用如权利要求1—7任一项所述的ONU长发光检测电路的ONU长发光应用系统,其特征在于,包括:
ONU长发光检测电路,与所述ONU长发光检测电路的信号输出端连接的、控制供电信号导通或中断的主处理器CPU,与所述主处理器CPU连接的、在供电信号导通时供电的供电控制电路,以及与所述供电控制电路连接的、向所述ONU长发光检测电路信号输入端输入长发光检测信号的光模块;
其中,所述主处理器CPU的第一使能输入输出端通过所述ONU长发光检测电路的信号输出端接收长发光检测结果信号,所述主处理器CPU的第二使能输入输出端向所述供电控制电路提供导通或中断供电信号。
9.一种采用如权利要求1—6任一项所述的ONU长发光检测电路和如权利要求8所述的ONU长发光应用系统的应用方法,其特征在于,采用如下步骤:
步骤S1,光模块向ONU长发光检测电路发出长发光检测信号;
步骤S2,ONU长发光检测电路对长发光检测信号进行处理,同时根据长发光检测信号判断ONU是否处于长发光状态,然后输出长发光检测结果信号;
步骤S3,将ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号输入主处理器CPU的第一使能输入输出端,主处理器CPU的第二使能输入输出端根据长发光检测结果信号,控制供电信号导通以使供电控制电路向光模块供电,或者控制供电信号中断以使供电控制电路关闭;
其中,在所述步骤S1中,当光模块正常工作时为高电平发光或者低电平发光,光模块向ONU长发光检测电路发出的长发光检测信号均为高电平。
10.如权利要求9所述的应用方法,其特征在于,在所述步骤S1中,当光模块为高电平发光时,在所述步骤S2中,ONU长发光检测电路对长发光检测信号进行处理,具体方法为:
当ONU处于长发光状态时,光模块输出的长发光检测信号一直保持高电平,ONU长发光检测电路中的RC滤波电路(2)无法滤除该高电平,第一三极管(Q1)的基极电流很大,第二三极管(Q2)的基极电流很小,第二三极管(Q2)处于中断状态,得到ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为高电平;
当ONU处于非长发光状态时,ONU长发光检测电路中的RC滤波电路(2)将长发光检测信号的高电平滤除,第一三极管(Q1)的基极输入变成电压较小的锯齿波,同时第一三极管(Q1)的基极电流较小,第二三极管(Q2)的基极电流较大,流入第二三极管(Q2)的集电极电流也较大,得到ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为低电平。
11.如权利要求9所述的应用方法,其特征在于,在所述步骤S3中,根据长发光检测结果信号的不同,具体步骤如下:
步骤S301,若ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为高电平,ONU长发光检测电路将高电平输入主处理器CPU的第一使能输入输出端;
步骤S302,主处理器CPU判断该高电平的持续时间是否超过设定值,若是,则ONU处于长发光状态,主处理器CPU的第二使能输入输出端控制供电信号中断以使供电控制电路关闭,然后主处理器CPU控制ONU解注册,若否,则执行下一步;
步骤S303,若否,则ONU处于非长发光状态,ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号转为低电平,ONU长发光检测电路将低电平输入主处理器CPU的第一使能输入输出端,主处理器CPU的第二使能输入输出端控制供电信号导通以使供电控制电路向光模块供电,此时光模块正常工作。
12.如权利要求9所述的应用方法,其特征在于,在所述步骤S3中,根据长发光检测结果信号的不同,具体步骤如下:
步骤S301’,若ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为低电平,则ONU处于非长发光状态,ONU长发光检测电路将低电平输入主处理器CPU的第一使能输入输出端,主处理器CPU的第二使能输入输出端控制供电信号导通以使供电控制电路向光模块供电,此时光模块正常工作。
13.如权利要求9所述的应用方法,其特征在于,所述光模块输出高电平的占空比与所述光模块传输速率的大小成正比。
14.一种采用如权利要求1—5或7任一项所述的ONU长发光检测电路和如权利要求8所述的ONU长发光应用系统的应用方法,其特征在于,采用如下步骤:
步骤S1,光模块向ONU长发光检测电路发出长发光检测信号;
步骤S2,ONU长发光检测电路对长发光检测信号进行处理,同时根据长发光检测信号判断ONU是否处于长发光状态,然后输出长发光检测结果信号;
步骤S3,将ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号输入主处理器CPU的第一使能输入输出端,主处理器CPU的第二使能输入输出端根据长发光检测结果信号,控制供电信号导通以使供电控制电路向光模块供电,或者控制供电信号中断以使供电控制电路关闭;
其中,在所述步骤S1中,当光模块正常工作时为高电平发光或者低电平发光,光模块向ONU长发光检测电路发出的长发光检测信号均为高电平。
15.如权利要求14所述的应用方法,其特征在于,在所述步骤S1中,当光模块为低电平发光时,在所述步骤S2中,ONU长发光检测电路对长发光检测信号进行处理,具体方法为:
当ONU处于长发光状态时,光模块输出的长发光检测信号一直保持高电平,ONU长发光检测电路中的RC滤波电路(2)无法滤除该高电平,第一三极管(Q1)的基极电流很大,得到ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为高电平;
当ONU处于非长发光状态时,ONU长发光检测电路中的RC滤波电路(2)将长发光检测信号的高电平滤除,第一三极管(Q1)的基极输入变成电压较小的锯齿波,同时第一三极管(Q1)的基极电流较小,第一三极管(Q1)的集电极电流较大,得到ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为低电平。
16.如权利要求14所述的应用方法,其特征在于,在所述步骤S3中,根据长发光检测结果信号的不同,具体步骤如下:
步骤S301,若ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为高电平,ONU长发光检测电路将高电平输入主处理器CPU的第一使能输入输出端;
步骤S302,主处理器CPU判断该高电平的持续时间是否超过设定值,若是,则ONU处于长发光状态,主处理器CPU的第二使能输入输出端控制供电信号中断以使供电控制电路关闭,然后主处理器CPU控制ONU解注册,若否,则执行下一步;
步骤S303,若否,则ONU处于非长发光状态,ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号转为低电平,ONU长发光检测电路将低电平输入主处理器CPU的第一使能输入输出端,主处理器CPU的第二使能输入输出端控制供电信号导通以使供电控制电路向光模块供电,此时光模块正常工作。
17.如权利要求14所述的应用方法,其特征在于,在所述步骤S3中,根据长发光检测结果信号的不同,具体步骤如下:
步骤S301’,若ONU长发光检测电路输出的长发光检测结果信号为低电平,则ONU处于非长发光状态,ONU长发光检测电路将低电平输入主处理器CPU的第一使能输入输出端,主处理器CPU的第二使能输入输出端控制供电信号导通以使供电控制电路向光模块供电,此时光模块正常工作。
18.如权利要求14所述的应用方法,其特征在于,所述光模块输出高电平的占空比与所述光模块传输速率的大小成正比。
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