CN103279007A - 一种射线检测用的曝光曲线制作方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种射线检测用的曝光曲线制作方法，其按以下步骤进行：1）在阶梯试块放置胶片和射线剂量仪；2）曝光；3）将上述曝光后的胶片清洗、晾干，用黑度计测量底片的黑度值，并读取与之对应的累积剂量，得到一组黑度值，然后找到一个基准黑度对应的累计计量值H；4）对某厚度待测试块在不同透照条件下进行透照，当看到累计计量值为H时停止透照，记录此时的曝光量；5）多次重复步骤4）得到多组不同透照条件下的曝光量；6）根据透照的某厚度待测试块的厚度、黑度值、透照条件即可做出曝光曲线。本发明方法基于黑度和曝光量的相对应关系，仅需冲洗一次胶片，即可作出曝光曲线，能节约大量的胶片，并且操作省时省力。

Description

一种射线检测用的曝光曲线制作方法

  

技术领域

本发明涉及一种射线检测用的曲线制作方法。 

背景技术

曝光曲线是射线检测人员正确选择曝光参数以获得标准黑度和像质灵敏度要求的射线底片的有效工具。它表示的是工件与工艺规范间相关性的曲线。一个射源在不同的工艺和环境条件下其曝光曲线是不同的。因此，已经制成的曝光曲线只适用于与当时特定条件相同的状态，否则应制作新的曝光曲线。曝光曲线需通过多次透照，在每个曝光量下都需要透照7~10张不同 的底片，按每组6条曲线计算，则需透照50张左右的底片，多次的冲洗费时费力。 

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种操作简便、仅需重新依次并可节约大量胶片的曝光曲线制作方法。 

为解决上述技术问题，本发明所采取的技术方案是：一种射线检测用的曝光曲线制作方法，其包括以下步骤： 

1）在阶梯试块每个台阶下面分别放置胶片和射线剂量仪，射线计量仪的累计数据清零，将增感屏放置于胶片的下方，将像质计放置在射源侧的阶梯试块上；这里射源侧阶梯试块上即阶梯试块上靠近射源的一侧；

2 ）曝光：在射源、胶片、增感屏、暗室处理条件保持不变的情况下，固定曝光量对上述阶梯试块进行透照；

3）将上述曝光后的胶片清洗、晾干，得到底片，用黑度计测量阶梯试块不同厚度的台阶下面的底片的黑度值，并读取与之对应的射线计量仪的累积剂量，得到一组黑度值，然后找到一个基准黑度对应的累计计量值H；

4）对某厚度待测试块在不同透照条件下进行透照：去掉步骤1）当中的胶片，改变透照条件管电压，并按上述步骤1）的方法对某厚度待测试块进行透照，当看到累计计量值为H时停止透照，记录此时的曝光量；

5）多次重复步骤4）得到多组不同透照条件下的曝光量； 

6）根据透照的某厚度待测试块的厚度、黑度值、透照条件即可做出曝光曲线。

本发明的理论依据：射线透照影像的黑度取决于胶片感光乳剂吸收的射线量，射线穿透被检查试件后照射在胶片上，使胶片产生潜影，经过显影、定影化学处理后，胶片上的潜影成为永久性可见图像，称为射线底片。底片上的影像是由许多微小的黑色金属银微粒所组成，影像各部位黑化程度大小与该部位被还原的银量多少有关，被还原的银量多的部位黑度大。 

黑度D定义为照射光强与穿过底片的透射光强（单位lx）之比的常用对数值： 

。

采用上述技术方案所产生的有益效果在于：本发明方法基于黑度和曝光量的相对应关系，仅需冲洗一次胶片，即可作出曝光曲线，能节约大量的胶片，并且操作省时省力。 

附图说明

图1是本发明的阶梯试块的结构示意图； 

图2是本发明对阶梯试块进行曝光时的胶片和射线剂量仪放置示意图；

其中，1、阶梯试块；2、台阶；3、胶片；4、射线剂量仪。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。 

1.曝光： 

在X射线机、胶片、增感屏、焦距、暗室处理条件保持不变的情况下，固定曝光量（mA·min）对本阶梯试块1进行透照。透照前，胶片3压在阶梯试块1下面，同时在阶梯试块1不同厚度的台阶2下面分别放置能测量累积剂量的射线剂量仪4，并把累积剂量数据清零，不同的累积剂量和对应的阶梯试块1的厚度相对应。像质计和增感屏按正常透照曝光时放置。

2.曝光后的处理 

将曝光后的胶片1冲洗、晾干，用黑度计测量不同厚度下的底片的黑度值。读取射线剂量仪4的累积剂量，该累积剂量与同厚度下底片黑度相对应。即对于不同的黑度值，在该种透照条件及冲洗条件下，有一个累积剂量与其对应。然后根据需要找到一个基准黑度（比如3，根据需要进行选择）对应的累计计量值H。

3.对待测工件进行透照，获取不同透照条件下的黑度值： 

按上述步骤1的方法不放置胶片，对射线剂量仪清零后，并按上述步骤1）的方法对某厚度待测试块进行透照，当看到累计计量值为H时停止透照，记录此时的曝光量；

4.多次重复步骤上述步骤3即可得到多组不同透照条件下不同的曝光量。

5.根据黑度值、厚度、透照条件，可以做一组曝光曲线。 

Claims (1)

1.一种射线检测用的曝光曲线制作方法，其特征在于：

1）在阶梯试块（1）每个台阶（2）下面分别放置胶片（3）和射线剂量仪（4），射线计量仪（4）的累计数据清零，将增感屏放置于胶片（3）的下方，将像质计放置在射源侧的阶梯试块（1）上；

2 ）曝光：在射源、胶片、增感屏、暗室处理条件保持不变的情况下，固定曝光量对上述阶梯试块（1）进行透照；

3）将上述曝光后的胶片清洗、晾干，得到底片，用黑度计测量阶梯试块（1）不同厚度的台阶(2)下面的底片的黑度值，并读取与之对应的射线计量仪(4)的累积剂量，得到一组黑度值，然后找到一个基准黑度对应的累计计量值H；

4）对某厚度待测试块在不同透照条件下进行透照：去掉步骤1）当中的胶片，改变透照条件管电压，并按上述步骤1）的方法对某厚度待测试块进行透照，当看到累计计量值为H时停止透照，记录此时的曝光量；

5）多次重复步骤4）得到多组不同透照条件下的曝光量； 

6）根据透照的某厚度待测试块的厚度、黑度值、透照条件即可做出曝光曲线。

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