CN103207191A - 一种射线检测时精确控制底片黑度的方法 - Google Patents
一种射线检测时精确控制底片黑度的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103207191A CN103207191A CN2013100967231A CN201310096723A CN103207191A CN 103207191 A CN103207191 A CN 103207191A CN 2013100967231 A CN2013100967231 A CN 2013100967231A CN 201310096723 A CN201310096723 A CN 201310096723A CN 103207191 A CN103207191 A CN 103207191A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- value
- dose
- film
- dosimeter
- radial
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
本发明公开了一种射线检测时精确控制底片黑度值的方法，其包括以下步骤：1）在阶梯试块每个台阶下面分别放置胶片和射线剂量仪，射线计量仪的累计数据清零；2）曝光；3）将上述曝光后的胶片清洗、晾干，得到底片，用黑度计测量底片的黑度值，并读取与之对应的累积剂量；4）从底上读取检测工艺规程要求的上限及下限黑底值分别对应的累计剂量AH和AL，然后根据需要设置射线剂量仪的报警阈值为某合适黑度所对应的剂量值或其他在[AL,AH]范围内的值；5）然后对待检测的工件进行透照曝光，当射线剂量仪报警时立即停止曝光，此时底片的黑度值在规程要求的数值范围。本发明方法采用控制射线剂量仪的累积剂量来控制曝光时间，进而控制胶片的黑度，避免了制作很多的曝光曲线，省时省力，且不需考虑固定透照焦距、固定管电压等问题。
Description
技术领域
本发明涉及一种射线检测时精确控制黑度的方法。
背景技术
目前的工业射线检测中，要得到合适的黑度值通过控制曝光量来实现，确定曝光量是通过查曝光曲线得到的，根据曝光曲线确定工件透照时的曝光量，以使底片得到检测工艺规程要求的黑度值。但曝光曲线制作繁琐，且改变透照条件就需重新做曝光曲线，如果没有对应的曝光曲线则无法确定曝光量，从而无法得到合适的黑度值，给射线检测带来不便。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种操作方便简洁的射线检测时精确控制黑度值的方法。
为解决上述技术问题，本发明所采取的技术方案是：一种射线检测时精确控制底片黑度值的方法，其关键技术在于：其包括以下步骤：
1）在阶梯试块每个台阶下面分别放置胶片和射线剂量仪，射线计量仪的累计数据清零，将增感屏放置于胶片的下方，将像质计放置在射源侧的阶梯试块上；
2 曝光：在射源、胶片、增感屏、暗室处理条件保持不变的情况下，对上述阶梯试块进透照；
3）将上述曝光后的胶片清洗、晾干，得到底片，用黑度计测量阶梯试块不同厚度的台阶下面的底片的黑度值，并读取与之对应的射线计量仪的累积剂量；
4）获取累计剂量限值：从底上读取检测工艺规程要求的上限及下限黑底值分别对应的累计剂量AH和AL，然后根据需要设置射线剂量仪的报警阈值为某合适黑度所对应的剂量值或其他在[AL,AH]范围内的值；
5）然后对待检测的工件进行透照曝光，当射线剂量仪报警时立即停止曝光，此时底片的黑度值在规程要求的数值范围。
采用上述技术方案所产生的有益效果在于：本发明方法采用控制射线剂量仪的累积剂量来控制曝光时间，进而控制胶片的黑度，避免了制作很多的曝光曲线，省时省力，且不需考虑固定透照焦距、固定管电压等问题。
附图说明
图1是本发明用到的阶梯试块的结构示意图；
图2是本发明对阶梯试块进行曝光时的胶片和射线剂量仪放置示意图；
其中，1、阶梯试块；2、台阶；3、胶片；4、射线剂量仪。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
1、曝光：在射源、胶片、增感屏、暗室处理条件保持不变的情况下，对阶梯试块1进行透照。透照前，将胶片3压在阶梯试块1下面，同时在阶梯试块1下放能测量累积剂量的射线检测仪4，累积剂量数据清零。像质计、增感屏等按正常透照时放置，将增感屏放置于胶片3的下方，将像质计放置在射源侧的阶梯试块1上，射源侧阶梯试块上即阶梯试块上靠近射源的一侧；在阶梯试块1不同厚度的台阶2下面各放一个射线剂量仪4，其和阶梯试块1的厚度相对应。
2.曝光后的处理
将曝光后的胶片冲洗、晾干，用黑度计测量不同厚度下的底片的黑度值。读取射线剂量仪4的累积剂量，该累积剂量与相应厚度下底片黑度相对应。即对于不同的黑度值，在该种透照条件及冲洗条件下，有一个累积剂量与其对应。
4.获取累计剂量限值
从底片上读取待测工件的规程要求的上限及下限黑度值，对应累计剂量AH和AL，设置射线剂量仪4的报警阈值为某合适黑度对应的剂量值或其它在[AL,AH]范围内的值，根据常用的JB/T4730要求底片黑度范围为 2.5～4，但通常照相不用极限值，一般为3附近，比如设定为2.8～3.2。
5.实际透照时，将射线剂量仪4和胶片3按步骤1所述的位置放置在待测工件下，对工件进行曝光，当射线剂量仪4报警时立即停止曝光，即可得到黑度合格的底片。
Claims (1)
1.一种射线检测时精确控制底片黑度值的方法，其特征在于：其包括以下步骤：
1）在阶梯试块（1）每个台阶（2）下面分别放置胶片（3）和射线剂量仪（4），射线计量仪（4）的累计数据清零，将增感屏放置于胶片（3）的下方，将像质计放置在射源侧的阶梯试块（1）上；
2 曝光：在射源、胶片、增感屏、暗室处理条件保持不变的情况下，对上述阶梯试块（1）进透照；
3）将上述曝光后的胶片清洗、晾干，得到底片，用黑度计测量阶梯试块（1）不同厚度的台阶（2）下面的底片的黑度值，并读取与之对应的射线计量仪的累积剂量；
4）获取累计剂量限值：从底片上读取检测工艺规程要求的上限及下限黑底值分别对应的累计剂量AH和AL，然后根据需要设置射线剂量仪（4）的报警阈值为某合适黑度所对应的剂量值或其他在[AL,AH]范围内的值；
5）然后对待检测的工件进行透照曝光，当射线剂量仪（4）报警时立即停止曝光，此时底片的黑度值在规程要求的数值范围。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2013100967231A CN103207191A (zh) | 2013-03-25 | 2013-03-25 | 一种射线检测时精确控制底片黑度的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2013100967231A CN103207191A (zh) | 2013-03-25 | 2013-03-25 | 一种射线检测时精确控制底片黑度的方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN103207191A true CN103207191A (zh) | 2013-07-17 |
Family
ID=48754478
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN2013100967231A Pending CN103207191A (zh) | 2013-03-25 | 2013-03-25 | 一种射线检测时精确控制底片黑度的方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN103207191A (zh) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104122275A (zh) * | 2014-06-30 | 2014-10-29 | 中国化学工程第十四建设有限公司 | 一种9%Ni钢射线照相方法 |
| CN104330424A (zh) * | 2014-10-24 | 2015-02-04 | 江苏法尔胜材料分析测试有限公司 | Tky节点角焊缝无损检测的透照区段确定方法 |
| CN106124536A (zh) * | 2016-06-27 | 2016-11-16 | 杭州杭锅工业锅炉有限公司 | 一种x射线检测的曝光曲线计算方法 |
| CN106198583A (zh) * | 2016-07-05 | 2016-12-07 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种测量感光胶片x射线能谱灵敏度的等价吸收方法 |
| CN110987980A (zh) * | 2019-10-30 | 2020-04-10 | 四川航天川南火工技术有限公司 | 一种复杂结构火工装置的高清晰度高宽容度透照方法 |
| CN115753843A (zh) * | 2022-10-11 | 2023-03-07 | 江苏核电有限公司 | 一种增强石墨基复合材料射线检测装置及方法 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1191731A (en) * | 1966-05-11 | 1970-05-13 | Commissariat Energie Atomique | A Method of Reading Photographic Dosimeters and Apparatus for Carrying Out this Method |
| JP2003130817A (ja) * | 2001-10-23 | 2003-05-08 | Shimadzu Corp | 放射線検査装置 |
| CN101074939A (zh) * | 2007-06-29 | 2007-11-21 | 丹东华日理学电气有限公司 | X射线探伤机控制方法及检测控制装置 |
| CN201051082Y (zh) * | 2007-06-29 | 2008-04-23 | 丹东华日理学电气有限公司 | 辐射剂量控制x射线探伤机 |
| CN101187641A (zh) * | 2007-12-04 | 2008-05-28 | 山东电力研究院 | 采用多元曝光参数公式进行x射线检测的方法 |
| CN102564742A (zh) * | 2012-02-21 | 2012-07-11 | 江苏法尔胜材料分析测试有限公司 | 射线检测用增感屏增感系数检测方法及装置 |
-
2013
- 2013-03-25 CN CN2013100967231A patent/CN103207191A/zh active Pending
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1191731A (en) * | 1966-05-11 | 1970-05-13 | Commissariat Energie Atomique | A Method of Reading Photographic Dosimeters and Apparatus for Carrying Out this Method |
| JP2003130817A (ja) * | 2001-10-23 | 2003-05-08 | Shimadzu Corp | 放射線検査装置 |
| CN101074939A (zh) * | 2007-06-29 | 2007-11-21 | 丹东华日理学电气有限公司 | X射线探伤机控制方法及检测控制装置 |
| CN201051082Y (zh) * | 2007-06-29 | 2008-04-23 | 丹东华日理学电气有限公司 | 辐射剂量控制x射线探伤机 |
| CN101187641A (zh) * | 2007-12-04 | 2008-05-28 | 山东电力研究院 | 采用多元曝光参数公式进行x射线检测的方法 |
| CN102564742A (zh) * | 2012-02-21 | 2012-07-11 | 江苏法尔胜材料分析测试有限公司 | 射线检测用增感屏增感系数检测方法及装置 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 刘剑松: "浅谈曝光曲线的制作与应用", 《城市建设理论研究》 * |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104122275A (zh) * | 2014-06-30 | 2014-10-29 | 中国化学工程第十四建设有限公司 | 一种9%Ni钢射线照相方法 |
| CN104330424A (zh) * | 2014-10-24 | 2015-02-04 | 江苏法尔胜材料分析测试有限公司 | Tky节点角焊缝无损检测的透照区段确定方法 |
| CN106124536A (zh) * | 2016-06-27 | 2016-11-16 | 杭州杭锅工业锅炉有限公司 | 一种x射线检测的曝光曲线计算方法 |
| CN106198583A (zh) * | 2016-07-05 | 2016-12-07 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种测量感光胶片x射线能谱灵敏度的等价吸收方法 |
| CN106198583B (zh) * | 2016-07-05 | 2019-03-05 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种测量感光胶片x射线能谱灵敏度的等价吸收方法 |
| CN110987980A (zh) * | 2019-10-30 | 2020-04-10 | 四川航天川南火工技术有限公司 | 一种复杂结构火工装置的高清晰度高宽容度透照方法 |
| CN115753843A (zh) * | 2022-10-11 | 2023-03-07 | 江苏核电有限公司 | 一种增强石墨基复合材料射线检测装置及方法 |
| CN115753843B (zh) * | 2022-10-11 | 2023-11-14 | 江苏核电有限公司 | 一种增强石墨基复合材料射线检测装置及方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN103207191A (zh) | 一种射线检测时精确控制底片黑度的方法 | |
| CN105717143A (zh) | 一种射线探伤工艺 | |
| CN108333195A (zh) | 一种用于检测管道壁厚和管道是否腐蚀的方法 | |
| CN110231353A (zh) | 基于x射线数字成像技术的翅片管检测方法 | |
| CN102692365A (zh) | 一种颗粒不圆度的测量方法及系统 | |
| CN103279007A (zh) | 一种射线检测用的曝光曲线制作方法 | |
| CN117129371B (zh) | 面密度测量仪的标定方法、装置和可读存储介质 | |
| JP7072793B2 (ja) | 濁度推定による早期警報機能付き水中放射能測定装置、水中放射能測定システム | |
| CN111983667A (zh) | 一种基于闪烁体的微剂量测量方法及测量装置 | |
| JP2008245049A (ja) | 放射線画像撮影装置及び画素欠陥情報取得方法 | |
| US11086027B2 (en) | Detector strip for x-ray film | |
| JPS62277542A (ja) | Ｘ線透過写真濃度比較による配管診断方法 | |
| JP2011196753A (ja) | 放射線測定方法 | |
| CN107727671A (zh) | 一种压力管道射线数字成像未焊透检测系统 | |
| CN108760776B (zh) | 水泥基材料中水分传输的可视化测试方法及系统 | |
| CN106370678A (zh) | 一种测量材料掺杂元素浓度的x射线等价吸收方法 | |
| CN203241362U (zh) | 一种工业射线检测红外定位仪 | |
| KR100489711B1 (ko) | 결함깊이의 측정이 가능한 방사선투과 비파괴검사법 | |
| JPS6114550A (ja) | 混在率測定装置 | |
| RU121060U1 (ru) | Устройство для измерения потока пробного газа | |
| Knyziak et al. | New X-ray testing methods of aerosol products for industrial radiography | |
| SALLEH et al. | Preliminary modulation transfer function study on amorphous silicon flat panel system for Industrial Digital Radiography | |
| RU2814650C1 (ru) | Устройство для контроля снимаемой альфа-загрязненности твэла | |
| JP2007271467A (ja) | 原子炉冷却水系統配管検査方法及び装置 | |
| KR102615862B1 (ko) | 엑스레이 이미지 노이즈 제거를 위한 캘리브레이션 방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C12 | Rejection of a patent application after its publication | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20130717 |