CN103278723A - 静电保护芯片的检测装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种静电保护芯片检测装置及方法,该装置包括:供电模块、静电保护模块及检测模块;静电保护模块的输入端与供电模块的输出端连接,检测模块的输入端与静电保护模块的输出端连接;其中:供电模块用于提供静电保护芯片检测的电压;静电保护模块用于接收所述供电模块输出的检测电压;检测模块用于检测静电保护模块输出的电压,当检测到静电保护模块输出的电压时,判断静电保护芯片焊接错误,并产生告警信息。本发明通过在静电保护模块之后加入静电保护芯片检测模块,能很好的检测出静电保护芯片是否焊接正确,并当静电保护芯片焊接错误时,产生告警信息;实现产品百分百检测,避免不良品后流。

Description

静电保护芯片的检测装置及方法
技术领域
本发明涉及到液晶显示领域,特别涉及到一种静电保护芯片的检测装置及方法。
背景技术
目前,薄膜晶体管液晶显示器的主要驱动原理为:系统主板将红/绿/蓝压缩信号、控制信号及动力通过线材与印制电路板上的连接器相连接,从而使得液晶显示器获得所需的电源、信号。系统传输到印制电路主板上的信号主要为低压差分信号,为了避免连接器在插拔中造成静电对驱动造成损坏,一般需在连接器与驱动连接处对重要的信号进行静电保护电路设置。
然而,现有的静电保护芯片的正反标志难于辨别,因此单纯利用人眼很难将异常品从正常品中分离出来,如静电保护芯片装反将导致输出到液晶面板的信号异常从而造成画异,进一步使得产品送到客户端出现不良。
因此,找到一种适用于静电保护芯片的简易检测方法,达到百分百检测是目前遇到的难题。
发明内容
本发明的主要目的为提供一种静电保护芯片的检测装置及方法,能很好的检测出静电保护芯片是否焊接正确,并当静电保护芯片焊接错误时,产生告警信息;实现产品百分百检测,避免不良品后流。
本发明提出一种静电保护芯片的检测装置,该静电保护芯片的检测装置包括:供电模块、静电保护模块及检测模块;所述静电保护模块的输入端与供电模块的输出端连接,所述检测模块的输入端与静电保护模块的输出端连接;其中:所述供电模块用于提供静电保护芯片检测的电压;所述静电保护模块用于接收所述供电模块输出的检测电压;所述检测模块用于检测静电保护模块输出的电压,当检测到静电保护模块输出的电压时,判断静电保护芯片焊接错误,并产生告警信息。
优选地,所述静电保护模块还用于当所述供电模块产生静电时,对供电模块进行泄压保护。
优选地,所述供电模块包括:电压输出单元、信号输出单元及连接单元,所述电压输出单元的输出端和信号输出单元的输出端均与连接单元相连接,所述电压输出单元的输出端和连接单元的输入端之间设立有第一开关,所述信号输出单元输出端和连接单元的输入端之间设立有第二开关;其中:所述电压输出单元用于给静电保护芯片检测单元提供检测电压;所述信号输出单元用于给液晶面板画面检测单元提供检测信号;所述连接单元用于将供电模块与所述静电保护模块及液晶面板画面检测相连接。
优选地,所述静电保护模块包括第一二极管、第二二极管、第三二极管;所述第一二极管的阴极和第二二极管的阳极均与供电模块中的电压输出单元的输出端连接,所述第三二极管的阴极与所述第二二极管的阴极连接,所述第一二极管的阳极与第三二极管的阳极连接。
优选地,所述检测模块包括:静电保护芯片检测单元及液晶面板画面检测单元;所述静电保护芯片检测单元的输入端与所述静电保护模块的输出端连接,所述液晶面板画面检测单元的输入端与所述供电模块中所述的信号输出单元的输出端连接;其中:所述静电保护芯片检测单元用于检测静电保护芯片是否焊接正确;所述液晶面板画面检测单元用于检测液晶面板画面是否正常。
优选地,所述静电保护芯片检测单元包括一个发光二极管,所述发光二极管的阳极与静电保护模块的输出端连接,所述发光二极管的阴极与连接单元连接。
优选地,所述连接单元和液晶面板画面检测单元的输入端之间设立有第三开关。
一种静电保护芯片检测方法,该方法包括:步骤S10,供电模块将电压输入到静电保护模块;步骤S20,静电保护模块接收供电模块提供的电压;步骤S30,检测模块检测静电保护模块输出的电压,当检测到静电保护模块输出的电压时,判断静电保护芯片焊接错误,并产生告警信息。
优选地,所述步骤S30中的产生告警信息方式为:通过发光二极管发光的方式产生告警信息。
本发明通过在静电保护模块之后加入静电保护芯片检测模块,能很好的检测出静电保护芯片是否焊接正确,并当静电保护芯片焊接错误时,产生告警信息;实现产品百分百检测,避免不良品后流。
附图说明
图1为本发明静电保护芯片检测装置较佳实施例的原理框图;
图2为本发明静电保护芯片检测装置一较佳实施例的电路图;
图3为本发明静电保护芯片检测装置另一较佳实施例的电路图;
图4A为图2中静电保护芯片的原理结构图;
图4B为图3中静电保护芯片的原理结构图;
图5为本发明静电保护芯片检测方法较佳实施例的流程示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
以下结合说明书附图及具体实施例进一步说明本发明的技术方案。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
如图1所示,图1为本发明静电保护芯片检测装置较佳实施例的原理框图。该静电保护芯片检测装置包括供电模块100、静电保护模块200及检测模块300。
静电保护模块200的输入端与供电模块100的输出端连接,检测模块300的输入端与静电保护模块200的输出端连接。
供电模块100用于提供静电保护芯片检测的电压。
静电保护模块200用于接收所述供电模块100输出的检测电压。在本发明其他实施例中,该静电保护模块200还可以用于当供电模块100产生静电时,对供电模块100进行泄压保护。
检测模块300用于检测静电保护模块200输出的电压,当检测到静电保护模块200输出的电压时,判断静电保护芯片焊接错误,并产生告警信息。在本实施例中,所述产生告警信息的方式为:通过发光二极管的方式产生告警信息。
具体地,检测模块300包括:静电保护芯片检测单元301及液晶面板画面检测单元302,静电保护芯片检测单元301的输入端与静电保护模块200的输出端连接,液晶面板画面检测单元302的输入端与供电模块中100的信号输出单元102的输出端相连接。
在本实施例中,静电保护芯片检测单元301用于检测静电保护芯片是否焊接正确;液晶面板画面检测单元302用于检测液晶面板画面是否正常。
具体地,供电模块100包括:电压输出单元101、信号输出单元102及连接单元103,电压输出单元101的输出端和信号输出单元102的输出端均与连接单元103相连接。
在本实施例中,电压输出单元101用于给静电保护芯片检测单元301提供检测电压;信号输出单元102用于给液晶面板画面检测单元302提供检测信号;连接单元103用于将供电模块100与静电保护模块200及液晶面板画面检测单元302相连接。
结合图1和图2,图1为本发明静电保护芯片检测装置较佳实施例的原理框图;图2为本发明静电保护芯片检测装置一较佳实施例的电路图。
供电模块100包括:电压输出单元101、信号输出单元102及连接单元103,电压输出单元101的输出端和信号输出单元102的输出端均与连接单元103相连接,电压输出单元101的输出端和连接单元103的输入端之间设立有第一开关S1,信号输出单元102的输出端和连接单元103的输入端之间设立有第二开关S2。
静电保护模块200包括第一二极管D1、第二二极管D2、第三二极管D3,第一二极管D1的阴极和第二二极管D2的阳极均与供电模块100的电压输出单元101的输出端连接,第三二极管D3的阴极与第二二极管D2的阴极连接,所述第一二极管D1的阳极与第三二极管D3的阳极连接。
在本实施例中,静电保护芯片检测单元301包括一个发光二极管D4;发光二极管D4的阳极与静电保护模块200的输出端连接,所述发光二极管D4的阴极与连接单元103连接。
检测模块300包括:静电保护芯片检测单元301及液晶面板画面检测单元302,静电保护芯片检测单元301的输入端与静电保护模块200的输出端连接,液晶面板画面检测单元302的输入端与供电模块中100的信号输出单元102的输出端相连接。
连接单元103和液晶面板画面检测单元302的输入端之间设立有第三开关S3。
在本实施例中,当将第一开关S1闭合、第二开关S2和第三开关S3断开,进行静电保护芯片焊接是否正确的检测,发光二极管D4不发光,判断静电保护芯片焊接正确。在本发明其他实施例中,通过将第一开关S1断开、第二开关S2和第三开关S3闭合,进行液晶面板画面检测,对液晶面板的品质进行检测,以免不良品后流。
在本实施例中,将第一开关当将第一开关S1闭合、第二开关S2和第三开关S3断开,进行静电保护芯片焊接是否正确的检测。在检测过程中,供电模块100的电压输出单元101输出正向电压,经连接单元103至静电保护芯片200的输入端分流,一路经第二二极管D2至第三二极管D3的阴极,一路至第一二极管D1的阴极,因二极管具有单向导电性,第一二极管D1和第三二极管D3不能反向导通,所述正向电压无法通过第三二极管D3或者第一二极管D1从静电保护芯片200的输出端输出经发光二极管D4形成有效回路,因此发光二极管不发光,判断静电保护芯片焊接正确。在本发明其他实施例中,通过将第一开关S1断开、第二开关S2和第三开关S3闭合,信号输出单元102输出的信号经开关S3进行液晶面板画面检测,对液晶面板的品质进行检测,以免不良品后流。
结合图1和图3,图1为本发明静电保护芯片检测装置较佳实施例的原理框图;图3为本发明静电保护芯片检测装置另一较佳实施例的电路图。
供电模块100包括:电压输出单元101、信号输出单元102及连接单元103,电压输出单元101的输出端和信号输出单元102的输出端均与连接单元103相连接,电压输出单元101的输出端和连接单元103的输入端之间设立有第一开关S1,信号输出单元102的输出端和连接单元103的输入端之间设立有第二开关S2。
静电保护模块200包括第一二极管D1、第二二极管D2、第三二极管D3,第一二极管D1的阳极和第二二极管D2的阴极均与供电模块100的电压输出单元101的输出端连接,第三二极管D3的阳极与第二二极管D2的阳极连接,所述第一二极管D1的阴极与第三二极管D3的阴极连接。
在本实施例中,静电保护芯片检测单元301包括一个发光二极管D4;发光二极管D4的阳极与静电保护模块200的输出端连接,所述发光二极管D4的阴极与连接单元103连接。
检测模块300包括:静电保护芯片检测单元301及液晶面板画面检测单元302,静电保护芯片检测单元301的输入端与静电保护模块200的输出端连接,液晶面板画面检测单元302的输入端与供电模块中100的信号输出单元102的输出端相连接。
连接单元103和液晶面板画面检测单元302的输入端之间设立有第三开关S3。
在本实施例中,当将第一开关S1闭合、第二开关S2和第三开关S3断开,进行静电保护芯片焊接是否正确的检测,发光二极管D4发光,判断静电保护芯片焊接错误。在本发明其他实施例中,通过将第一开关S1断开、第二开关S2和第三开关S3闭合,进行液晶面板画面检测,对液晶面板的品质进行检测,以免不良品后流。
在本实施例中,将第一开关当将第一开关S1闭合、第二开关S2和第三开关S3断开,进行静电保护芯片焊接是否正确的检测。在检测过程中,供电模块100的电压输出单元101输出正向电压,,经连接单元103至静电保护芯片200的输入端分流,一路到达第二二极管D2的阴极,一路至第一二极管D1的阳极,因二极管具有单向导电性,第二二极管D2不能反向导通,第一二极管D1正向导通,所述正向电压经第一二极管D1从静电保护芯片200的输出端到达发光二极管D4阳极,经发光二极管D4,形成有效回路,发光二极管发光。判断静电保护芯片焊接错误。在本发明其他实施例中,通过将第一开关S1断开、第二开关S2和第三开关S3闭合,信号输出单元102输出的信号经开关S3进行液晶面板画面检测,对液晶面板的品质进行检测,以免不良品后流。
本发明通过在静电保护模块之后加入静电保护芯片检测模块,能很好的检测出静电保护芯片是否焊接正确,并当静电保护芯片焊接错误时,产生告警信息;实现产品百分百检测,避免不良品后流。
如图4A所示,为图2中静电保护芯片的原理结构图。该静电保护芯片包括:第一二极管D1、第二二极管D2和第三二极管D3。其中,所述第一二极管D1的阴极与第二二极管D2的阳极连接;所述第一二极管D1的阳极与第三二极管D3的阳极连接;所述第二二极管D2的阴极与第三二极管D3的阴极连接;所述第一二极管D1的阴极与第二二极管D2的阳极连接处作为静电保护芯片200的输入端201,所述第一二极管D1的阳极和第三二极管D3的阳极连接处为静电保护芯片200的输出端202。在本实施例中,给所述静电保护芯片200输入正向电压,所述正向电压经静电保护芯片200的输入端201分流,一路经第二二极管D2至第三二极管D3的阴极,一路至第一二极管D1的阴极,因二极管具有单向导电性,第一二极管D1和第三二极管D3不能反向导通,不能形成有效回路,所述正向电压无法从静电芯片200的输出端202输出。
如图4B所示,为图3中静电保护芯片的原理结构图。该静电保护芯片包括:第一二极管D1、第二二极管D2和第三二极管D3。其中,所述第一二极管D1的阳极与第二二极管D2的阴极连接;所述第一二极管D1的阴极与第三二极管D3的阴极连接;所述第二二极管D2的阳极与第三二极管D3的阳极连接;所述第一二极管D1的阳极与第二二极管D2的阴极连接处作为静电保护芯片200的输入端201,所述第一二极管D1的阴极与第三二极管D3的阴极连接处为静电保护芯片200的输出端202。在本实施例中,给所述静电保护芯片200输入正向电压,所述正向电压经静电保护芯片200的输入端201分流,一路到达第二二极管D2的阴极,一路至第一二极管D1的阳极,因二极管具有单向导电性,第二二极管D2不能反向导通,第一二极管D1正向导通,形成有效回路,所述正向电压从静电芯片200的输出端202输出。
如图5所示,图5为本发明静电保护芯片检测方法较佳实施例的流程示意图。
需要强调的是:图5所示流程图仅为一个较佳实施例,本领域的技术人员当知,任何围绕本发明思想构建的实施例都不应脱离于如下技术方案涵盖的范围:
供电模块将电压输入到静电保护模块;静电保护模块接收供电模块提供的电压;检测模块检测静电保护模块输出的电压,当检测到静电保护模块输出的电压时,判断静电保护芯片焊接错误,并将检测结果告警出来。
以下是本实施例逐步实现静电保护芯片检测的具体步骤:
步骤S10,供电模块将电压输入到静电保护模块。
在本实施例中,所述供电模块在给静电保护模块输入电压的同时,也给液晶画面检测提供检测讯号;通过开关的闭合断开来分别将电压输入到静电保护模块或液晶画面检测。
步骤S20,静电保护模块接收供电模块提供的电压。
在本实施例中,所述静电保护模块还用于当供电模块产生静电时,对供电模块进行泄压保护。
步骤S30,检测模块检测静电保护模块输出的电压,当检测到静电保护模块输出的电压时,判断静电保护芯片焊接错误,并产生告警信息。
在本实施例中,当所述检测模块中的发光二极管发光时,判断检测模块检测到静电保护模块输出的电压,进而判断静电保护芯片焊接错误。在本实施例中,所述产生告警信息方式为:通过发光二极管发光的方式产生告警信息。在本发明其他实施例中,该产生告警信息方式还可以是其他任意适用的能提供告警信息的告警方式。
本发明通过在静电保护模块之后加入静电保护芯片检测模块,能很好的检测出静电保护芯片是否焊接正确,并当静电保护芯片焊接错误时,产生告警信息;实现产品百分百检测,避免不良品后流。
以上所述仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (9)

1.一种静电保护芯片检测装置,其特征在于,该静电保护芯片检测装置包括:供电模块、静电保护模块及检测模块;所述静电保护模块的输入端与供电模块的输出端连接,所述检测模块的输入端与静电保护模块的输出端连接;其中:
所述供电模块用于提供静电保护芯片检测的电压;
所述静电保护模块用于接收所述供电模块输出的检测电压;
所述检测模块用于检测静电保护模块输出的电压,当检测到静电保护模块输出的电压时,判断静电保护芯片焊接错误,并产生告警信息。
2.根据权利要求1所述的静电保护芯片检测装置,其特征在于,所述静电保护模块还用于当所述供电模块产生静电时,对供电模块进行泄压保护。
3.根据权利要求1所述的静电保护芯片检测装置,其特征在于,所述供电模块包括:电压输出单元、信号输出单元及连接单元,所述电压输出单元的输出端和信号输出单元的输出端均与连接单元相连接,所述电压输出单元的输出端和连接单元的输入端之间设立有第一开关,所述信号输出单元的输出端和连接单元的输入端之间设立有第二开关;其中:
所述电压输出单元用于给静电保护芯片检测单元提供检测电压;
所述信号输出单元用于给液晶面板画面检测单元提供检测信号;
所述连接单元用于将供电模块与所述静电保护模块及液晶面板画面检测相连接。
4.根据权利要求1所述的静电保护芯片检测装置,其特征在于,所述静电保护模块包括第一二极管、第二二极管、第三二极管;所述第一二极管的阴极和第二二极管的阳极均与供电模块中的电压输出单元的输出端连接,所述第三二极管的阴极与所述第二二极管的阴极连接,所述第一二极管的阳极与第三二极管的阳极连接。
5.根据权利要求1所述的静电保护芯片检测装置,其特征在于,所述检测模块包括:静电保护芯片检测单元及液晶面板画面检测单元;所述静电保护芯片检测单元的输入端与所述静电保护模块的输出端连接,所述液晶面板画面检测单元的输入端与所述供电模块中所述的信号输出单元的输出端连接;其中:
所述静电保护芯片检测单元用于检测静电保护芯片是否焊接正确;
所述液晶面板画面检测单元用于检测液晶面板画面是否正常。
6.根据权利要求5所述的静电保护芯片检测装置,其特征在于,所述静电保护芯片检测单元包括一个发光二极管;所述发光二极管的阳极与静电保护模块的输出端连接,所述发光二极管的阴极与连接单元连接。
7.根据权利要求6所述的静电保护芯片检测装置,其特征在于,所述连接单元和液晶面板画面检测单元的输入端之间设立有第三开关。
8.一种静电保护芯片检测方法,其特征在于,该方法包括:
步骤S10,供电模块将电压输入到静电保护模块;
步骤S20,静电保护模块接收供电模块提供的电压;
步骤S30,检测模块检测静电保护模块输出的电压,当检测到静电保护模块输出的电压时,判断静电保护芯片焊接错误,并产生告警信息。
9.根据权利要求8所述的静电保护芯片检测方法,其特征在于,所述步骤S30中的产生告警信息的方式为:通过发光二极管发光的方式产生告警信息。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103869207A (zh) * 2014-03-06 2014-06-18 京东方科技集团股份有限公司 Dc-dc器件焊接检测装置
CN106295421A (zh) * 2016-08-05 2017-01-04 明基电通有限公司 防止开关误动作的输入装置及方法
CN109143018A (zh) * 2018-10-08 2019-01-04 惠科股份有限公司 芯片异常检测电路及芯片异常检测装置
CN113451167A (zh) * 2021-07-19 2021-09-28 捷捷半导体有限公司 一种封装测试方法、装置以及电子设备

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070247198A1 (en) * 2006-04-19 2007-10-25 Stmicroelectronics S.A. Window comparator of an A.C. voltage
TW200842384A (en) * 2007-04-02 2008-11-01 Teradyne Inc Calibrating a tester using ESD protection circuitry
CN201208456Y (zh) * 2008-06-20 2009-03-18 南京沃联科技有限公司 防静电手环的静电接地器
CN101609635A (zh) * 2009-07-24 2009-12-23 友达光电(苏州)有限公司 液晶面板测试模组及液晶面板失效模式分析方法
CN101902038A (zh) * 2009-05-25 2010-12-01 上海天马微电子有限公司 静电保护装置、静电保护系统和可视性检验测试方法
CN102830323A (zh) * 2012-08-09 2012-12-19 深圳市华星光电技术有限公司 一种用于检测静电放电保护芯片焊接异常的装置及方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070247198A1 (en) * 2006-04-19 2007-10-25 Stmicroelectronics S.A. Window comparator of an A.C. voltage
TW200842384A (en) * 2007-04-02 2008-11-01 Teradyne Inc Calibrating a tester using ESD protection circuitry
CN201208456Y (zh) * 2008-06-20 2009-03-18 南京沃联科技有限公司 防静电手环的静电接地器
CN101902038A (zh) * 2009-05-25 2010-12-01 上海天马微电子有限公司 静电保护装置、静电保护系统和可视性检验测试方法
CN101609635A (zh) * 2009-07-24 2009-12-23 友达光电(苏州)有限公司 液晶面板测试模组及液晶面板失效模式分析方法
CN102830323A (zh) * 2012-08-09 2012-12-19 深圳市华星光电技术有限公司 一种用于检测静电放电保护芯片焊接异常的装置及方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103869207A (zh) * 2014-03-06 2014-06-18 京东方科技集团股份有限公司 Dc-dc器件焊接检测装置
CN103869207B (zh) * 2014-03-06 2017-05-31 京东方科技集团股份有限公司 Dc‑dc器件焊接检测装置
US9874599B2 (en) 2014-03-06 2018-01-23 Boe Technology Group Co., Ltd. DC-DC device soldering detecting apparatus and method using the same
CN106295421A (zh) * 2016-08-05 2017-01-04 明基电通有限公司 防止开关误动作的输入装置及方法
CN109143018A (zh) * 2018-10-08 2019-01-04 惠科股份有限公司 芯片异常检测电路及芯片异常检测装置
US11099233B2 (en) 2018-10-08 2021-08-24 HKC Corporation Limited Chip abnormality detecting circuit and chip abnormality detecting device
CN113451167A (zh) * 2021-07-19 2021-09-28 捷捷半导体有限公司 一种封装测试方法、装置以及电子设备
CN113451167B (zh) * 2021-07-19 2024-05-14 捷捷半导体有限公司 一种封装测试方法、装置以及电子设备

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