CN103245859A - 一种改进的焦平面探测器芯片测试系统及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种改进的焦平面探测器芯片测试系统及测试方法，测试系统包括屏蔽间、屏蔽盒、杜瓦瓶、多路开关、源表、计算机、红外发射装置、红外接收装置和短信报警器。多路开关的行输出端与源表的一个输入端相连，杜瓦瓶的公共端引脚和其余引脚分别通过屏蔽盒上对应的穿舱连接器与源表的另一个输入端及多路开关的列输入端相连，多路开关、源表、红外发射装置与计算机相连，红外接收装置与短信报警器相连。计算机循环配置多路开关、源表进行被测焦平面探测器光敏元的电学特性测量及数据保存，测量完毕后配置红外发射装置使其向红外接收装置发送红外光，红外接收装置接收到该红外光后触发短信报警器。本发明的优点是抗干扰能力强、效率高。

Description

一种改进的焦平面探测器芯片测试系统及测试方法

技术领域：

本发明涉及焦平面探测器芯片测试领域，具体涉及一种改进的焦平面探测器芯片测试系统和测试方法。

背景技术：

焦平面探测器研究过程中，对每一批次的生产工艺需要抽取部分芯片进行光敏元IV特性测试来判断该批次的工艺水平。一个焦平面探测器芯片上包含若干个光敏元，需要对每个光敏元进行IV特性测试。李雪等在《两种结构GaN基太阳盲紫外探测器》一文(《激光与红外》第36卷第11期第1041页)中提出了一种焦平面探测器芯片的测试系统，包括：屏蔽盒、杜瓦瓶、源表和计算机。该测试系统未放置于屏蔽间内，由于光敏元的IV特性测试时被检测信号较小，容易受到外界辐射的干扰，导致测试准确度较低；该测试系统需要测试人员手动更换光敏元与源表的电学连接，测试效率较低。

发明内容：

为解决上述问题，本发明的目的是提供能够实现焦平面探测器芯片测试自动化，提高测试效率和测试准确度的一种改进的焦平面探测器芯片测试系统及测试方法。

为达上述目的，本发明提供一种改进的焦平面探测器芯片测试系统，包括：屏蔽间201、屏蔽盒202、杜瓦瓶203、多路开关205、源表206、计算机207、红外发射装置208、红外接收装置209和短信报警器210，与现有测试系统不同之处在于：系统配置了屏蔽间201、多路开关205、红外发射装置208、红外接收装置209和短信报警器210。

所述的屏蔽间201将屏蔽盒202、杜瓦瓶203、多路开关205、源表206和计算机207放置于其中；

所述的多路开关205是具有N组1×M线列开关功能的开关矩阵主机，其中，N≥1，M≥24；

所述的红外接收装置208是具有发射频率为H的红外光功能的红外发射装置，安装于屏蔽间201通风口内侧，其中H=30kHz，33kHz，36kHz，36.7kHz，38kHz，40kHz或56kHz；

所述的红外接收装置209是具有响应频率为H的红外光功能的红外接收装置，安装于屏蔽间201通风口外侧；

所述的短信报警器是具有响应电平信号后发送报警短信功能的短信报警器，放置于屏蔽间201外；

系统测试时，被测焦平面探测器芯片204安装在杜瓦瓶203中，杜瓦瓶203的公共端引脚通过屏蔽盒202上对应的穿舱连接器与源表的一个输入端相连，杜瓦瓶203的其余引脚通过屏蔽盒202上对应的穿舱连接器与多路开关205的第1组列输入端相连，多路开关205的第1个行输出端与源表206的另一个输入端相连，多路开关205、源表206、红外发射装置208的通信端口分别与计算机207的三个USB端口相连，红外接收装置209的电平信号输出端与短信报警器210的电平信号输入端相连。

本发明同时提供一种改进的焦平面探测器芯片测试方法，其特征在于包括以下步骤：

一、设置短信报警器210报警的目标手机号码及报警短信的内容；

二、将被测焦平面探测器芯片204安装于杜瓦瓶203内；

三、利用计算机207向多路开关205发送配置信号，使被测焦平面探测器芯片204上的一个光敏元与源表205电学连通；

四、利用计算机207向源表206发送配置信号，使源表206测试被测焦平面探测器芯片204上该光敏元的电学特性，源表206测试完成后，向计算机207中传输测试数据；

五，循环步骤二、步骤三和步骤四对被测焦平面探测器芯片204上所有光敏元进行测试，循环结束后，在计算机207中保存被测焦平面探测器芯片204中所有光敏元的电学特性测试结果；

六，利用计算机207向红外发射装置208发送配置信号，使其向红外接收装置209发送特定频率的红外光信号。本发明的有益效果是：

1）将测试系统的测试主体部分放置于屏蔽间内，减少了外界干扰对测试结果的影响，提高测试准确度。

2）实现了焦平面探测器芯片测试的自动化，且具有测试完毕后给测试人员发送报警短信的功能，提高测试效率。

附图说明：

图1是本发明测试系统示意图。

具体实施方式：

下面结合附图和实施例对本发明进行进一步详述：

参见图1，本实施例中的屏蔽间201为通用屏蔽间，屏蔽箱202为通用屏蔽箱，杜瓦瓶203为红外焦平面探测器测试用杜瓦瓶，有2组内外引脚，每组引脚各有25个，被测焦平面探测器芯片204为自主研制的红外焦平面探测器中测芯片，具有25个引脚，第1个引脚为焦平面探测器公共端，第2至25个引脚为焦平面探测器光敏元端，多路开关206为安装两块keithley7174低漏电流开关矩阵卡的keithley707b开关矩阵主机，具有8组1×24线列开关，源表207为keithley6430亚飞安源测单元，计算机208为通用微型计算机，安装LabVIEW软件，可以通过LabVIEW软件对多路开关206、源表207、红外发射装置208进行控制和数据传输，红外发射装置208为水木行SMH-IR750型号的USB红外适配器，红外接收装置209为TSOP1838集成红外光接收器，短信报警器210为巨控GRM203G-4D4I4Q型号的短信报警器。

上述具体实施例只是为了详细说明本发明，并非对本发明做任何形式上的限定。

Claims (2)

1.一种改进的焦平面探测器芯片测试系统，包括：屏蔽间(201)、屏蔽盒(202)、杜瓦瓶(203)、多路开关(205)、源表(206)、计算机(207)、红外发射装置(208)、红外接收装置(209)和短信报警器(210)，其特征在于：

所述的测试系统配置了放置屏蔽盒(202)、杜瓦瓶(203)、多路开关(205)、源表(206)和计算机(207)的屏蔽间(201)、多路开关(205)、红外发射装置(208)、红外接收装置(209)和短信报警器(210)；

所述的多路开关(205)是具有N组1×M线列开关功能的开关矩阵主机，其中，N≥1，M≥24；

所述的红外发射装置(208)是具有发射频率为H的红外光功能的红外发射装置，安装于屏蔽间(201)通风口内侧，其中H=30kHz，33kHz，36kHz，36.7kHz，38kHz，40kHz或56kHz；

所述的红外接收装置(209)是具有响应频率为H的红外光功能的红外接收装置，安装于屏蔽间(201)通风口外侧；

所述的短信报警器(210)是具有响应电平信号后发送报警短信功能的短信报警器，放置于屏蔽间(201)外；

系统测试时，被测焦平面探测器芯片(204)安装在杜瓦瓶(203)中，杜瓦瓶(203)的公共端引脚通过屏蔽盒(202)上对应的穿舱连接器与源表的一个输入端相连，杜瓦瓶(203)的其余引脚通过屏蔽盒(202)上对应的穿舱连接器与多路开关(205)的第1组列输入端相连，多路开关(205)的第1个行输出端与源表(206)的另一个输入端相连，多路开关(205)、源表(206)、红外发射装置(208)的通信端口分别与计算机(207)的三个USB端口相连，红外接收装置(209)的电平信号输出端与短信报警器(210)的电平信号输入端相连。

2.一种基于权利要求1所述改进的焦平面探测器芯片测试系统的测试方法，其特征在于包括以下步骤：

一、设置短信报警器(210)报警的目标手机号码及报警短信的内容；

二、将被测焦平面探测器芯片(204)安装于杜瓦瓶(203)内；

三、利用计算机(207)向多路开关(205)发送配置信号，使被测焦平面探测器芯片(204)上的一个光敏元与源表(205)电学连通；

四、利用计算机(207)向源表(206)发送配置信号，使源表(206)测试被测焦平面探测器芯片(204)上该光敏元的电学特性，源表(206)测试完成后，向计算机(207)中传输测试数据；

五，循环步骤二、步骤三和步骤四对被测焦平面探测器芯片(204)上所有光敏元进行测试，循环结束后，在计算机(207)中保存被测焦平面探测器芯片(204)中所有光敏元的电学特性测试结果；

六，利用计算机(207)向红外发射装置(208)发送配置信号，使其向红外接收装置(209)发送特定频率的红外光信号。

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