CN103236887A - 一种低互调射频同轴开关测试矩阵 - Google Patents

一种低互调射频同轴开关测试矩阵 Download PDF

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朱斌
李荣明
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Abstract

本发明公开了一种低互调射频同轴开关测试矩阵，包括一台单刀四掷式低互调射频同轴开关和三台单刀双掷式低互调射频同轴开关；本发明所设计的低互调射频同轴开关测试矩阵能够在不同频段下对无源被测器件进行互调测试，同时测试无源器件S参数，提高了产品的测试效率，具有很强的灵活性和可扩展性。

Description

一种低互调射频同轴开关测试矩阵
技术领域
本发明涉及无线通信中宽频天馈无源器件的测试领域。
背景技术
随着我国移动通信网络的不断扩充和传输数据量的迅速增大，对于移动通信使用低互调无源器件产品的数量要求也越来越多，在不增加人工成本前提下提高生产测试效率是众多通信生产厂商所考虑的问题。而目前市场上测试无源器件都采用单个频点的互调测试仪，如果要测量其它频段的无源器件互调指标，必须将被测件拆下来，更换到其它频段的互调测试仪上测试，而且测试互调指标结束后再进行S参数测试，这样换来换去的，影响生产测试的效率。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于克服现有技术的不足，提供一种既能保证测量被测产品互调指标和S参数的准确率，又能提高产品测量的效率的低互调射频同轴开关测试矩阵。
本发明具体采用以下技术方案解决上述技术问题：本发明设计了一种低互调射频同轴开关测试矩阵，包括一台单刀四掷式低互调射频同轴开关和三台单刀双掷式低互调射频同轴开关，其中：
单刀四掷式低互调射频同轴开关的公共端口与第一单刀双掷式低互调射频同轴开关的公共端口连接；
第一单刀双掷式低互调射频同轴开关的第一测试端与第二单刀双掷式低互调射频同轴开关的第一测试端相连，第一单刀双掷式低互调射频同轴开关的第二测试端与第三单刀双掷式低互调射频同轴开关第一测试端相连；
第二单刀双掷式低互调射频同轴开关的公共端口和第三单刀双掷式低互调射频同轴开关的公共端口共同连接无源被测器件121的测试端口；
第二单刀双掷式低互调射频同轴开关的第二测试端和第三单刀双掷式低互调射频同轴开关的第二测试端分别连接矢量网络分析仪的两个端口。
作为本发明的一种优化结构：所述单刀四掷式低互调射频同轴开关和三台单刀双掷式低互调射频同轴开关之间的端口通过低互调电缆连接。
本发明与现有技术相比具有如下优点：
1、测试端口切换灵活，功能可扩张能力强大；
2、具有较高的互调指标，测试稳定；
3、模块化设计，体积小、重量轻。
附图说明
图1为本发明所设计的低互调射频同轴开关测试矩阵的原理结构图；
图2为本发明所设计的低互调射频同轴开关测试矩阵的实际测试原理图。
119-低互调射频同轴开关测试矩阵，120-矢量网络分析仪，121-无源被测器件，123-控制驱动单元。
具体实施方式
下面结合附图对本发明做进一步的详细说明：
如图1所示，本发明设计了一种低互调射频同轴开关测试矩阵，包括一台单刀四掷式低互调射频同轴开关和三台单刀双掷式低互调射频同轴开关，其中：
单刀四掷式低互调射频同轴开关的公共端口与第一单刀双掷式低互调射频同轴开关的公共端口连接；
第一单刀双掷式低互调射频同轴开关的第一测试端与第二单刀双掷式低互调射频同轴开关的第一测试端相连，第一单刀双掷式低互调射频同轴开关的第二测试端与第三单刀双掷式低互调射频同轴开关第一测试端相连；
第二单刀双掷式低互调射频同轴开关的公共端口和第三单刀双掷式低互调射频同轴开关的公共端口共同连接无源被测器件121（ANT）的测试端口；
第二单刀双掷式低互调射频同轴开关的第二测试端和第三单刀双掷式低互调射频同轴开关的第二测试端分别连接矢量网络分析仪的两个端口。
作为本发明的一种优化结构：所述单刀四掷式低互调射频同轴开关和三台单刀双掷式低互调射频同轴开关之间的端口通过低互调电缆连接。
如图2所示，在具体的实施例中，单刀四掷式低互调射频同轴开关J1的2、3、4、5端口连接不同频段的互调仪，这里我们用互调仪1举例：
当开关J1的端口2接互调仪1时，信号由开关J1的端口2传输到开关J1的公共端口1，在控制驱动单元123（MCU）的控制下，开关J2的设置端口2导通，开关J3同样置端口2导通，上述信号经开关J3的端口1，测量无源被测器件121（ANT）的互调数值；
当开关J1的2端口接互调仪1时，信号由J1的端口2传输到开关J1的端口1，在控制驱动单元123（MCU）的控制下，开关J2的设置端口3导通，开关J4置端口2导通，上述信号经过开关J4的端口1，测量无源被测器件121（ANT）的互调数值；
矢量网络分析仪120端口1的信号经过开关J3的端口3，在控制驱动单元123（MCU）的控制下，开关J3设置端口3导通，上述信号经开关J3的端口1测量无源被测器件121（ANT）的S参数；
矢量网络分析仪120端口2的信号经过开关J4的端口3，在控制驱动单元123（MCU）的控制下，开关J4设置端口3导通，上述信号经开关J4的端口1测量无源被测器件121（ANT）的S参数。

Claims (2)

1.一种低互调射频同轴开关测试矩阵，其特征在于：包括一台单刀四掷式低互调射频同轴开关和三台单刀双掷式低互调射频同轴开关，其中：
单刀四掷式低互调射频同轴开关的公共端口与第一单刀双掷式低互调射频同轴开关的公共端口连接；
第一单刀双掷式低互调射频同轴开关的第一测试端与第二单刀双掷式低互调射频同轴开关的第一测试端相连，第一单刀双掷式低互调射频同轴开关的第二测试端与第三单刀双掷式低互调射频同轴开关第一测试端相连；
第二单刀双掷式低互调射频同轴开关的公共端口和第三单刀双掷式低互调射频同轴开关的公共端口共同连接无源被测器件（121）的测试端口；
第二单刀双掷式低互调射频同轴开关的第二测试端和第三单刀双掷式低互调射频同轴开关的第二测试端分别连接矢量网络分析仪（120）的两个端口。
2.根据权利要求1所述的低互调射频同轴开关测试矩阵，其特征在于：所述单刀四掷式低互调射频同轴开关和三台单刀双掷式低互调射频同轴开关之间的端口通过低互调电缆连接。
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