CN103222210B - 一种多径衰落模拟方法和多径衰落模拟装置 - Google Patents

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CN103222210B CN201280002132.7A CN201280002132A CN103222210B CN 103222210 B CN103222210 B CN 103222210B CN 201280002132 A CN201280002132 A CN 201280002132A CN 103222210 B CN103222210 B CN 103222210B
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    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B17/00Monitoring; Testing
    • H04B17/10Monitoring; Testing of transmitters
    • H04B17/11Monitoring; Testing of transmitters for calibration

Abstract

本发明涉及网络通信领域,具体公开了一种多径衰落模拟方法,包括:接收输入信号;根据校准控制电压控制功率衰减量,对所述输入信号进行衰减,得到衰减信号;将所述输入信号的功率减去所述衰减信号的功率,获得实际功率衰减量;根据目标功率衰减量和所述实际功率衰减量,确定所述校准控制电压。

Description

一种多径衰落模拟方法和多径衰落模拟装置
技术领域
本发明涉及网络通信技术,尤其涉及一种多径衰落模拟方法和多径衰落模拟装置。
背景技术
微波设备属于无线通信系统,微波信号在大气空间传播过程中,由于受到大气压强、温度、湿度、传播地形等多方面因素的影响,造成微波信号经过多条路径到达接收端,这些多径信号进行矢量合成以后导致微波信号强度受到衰减,产生多径衰落现象,最直观的反映就是体现在RSL(Received Signal Level,接收信号电平)出现快速波动。当发生多径衰落时,RSL变化快,持续时间短,且集中在一段时间内频繁出现。严重的多径衰落会使微波设备出现误码甚至业务中断,严重影响正常的微波通信。
微波设备抵抗多径衰落能力是衡量其性能的重要指标,是设备供应商对微波产品在实验室进行验证测试、运营商进行微波设备入网认证测试时的必测项。因此多径衰落模拟的准确性直接影响到设备供应商和运营商对设备抗多径衰落能力的客观判断。
为了在实验室环境中模拟多径衰落,需要体现出RSL快速波动的过程。现有技术中,在微波设备收发机之间增加一个手动连续可调衰减器,该衰减器的衰减量和衰减时间可控。但是,该方法需要手动调节衰减器的衰减量,无法保证控制精度。
发明内容
本发明的实施例提供了一种多径衰落模拟方法和多径衰落模拟装置,解决现有技术手动调节衰减量、无法保证控制精度的问题。
本发明的实施例采用如下技术方案:
本发明第一方面提供了一种多径衰落模拟方法,包括:
接收输入信号;根据校准控制电压控制功率衰减量,对所述输入信号进行衰减,得到衰减信号;
将所述输入信号的功率减去所述衰减信号的功率,获得实际功率衰减量;
根据目标功率衰减量和所述实际功率衰减量,确定所述校准控制电压。
在第一种可能的实现方式中,所述根据目标功率衰减量和所述实际功率衰减量,确定所述校准控制电压,具体包括:
利用电压控制衰减器对所述输入信号进行衰减;
根据所述电压控制衰减器的实际衰减曲线,确定所述实际功率衰减量对应的实际控制电压;根据所述电压控制衰减器的理想衰减曲线,确定所述目标功率衰减量对应的目标控制电压;
将所述目标控制电压减去所述实际控制电压再加上所述目标控制电压,获得所述校准控制电压。
结合第一方面的第一种可能的实现方式,在第二种可能的实现方式中,所述方法还包括:
接收测试信号;根据测试电压控制功率衰减量,对所述测试信号进行衰减,得到测试衰减信号;
将所述测试信号的功率减去所述测试衰减信号的功率,获得测试功率衰减量;
以步进方式按照电压变化范围调整所述测试电压;根据所述测试电压和所述测试功率衰减量的对应关系,确定所述电压控制衰减器的实际衰减曲线。
结合第一方面的第二种可能的实现方式,在第三种可能的实现方式中,所述测试信号为所述输入信号。
结合第一方面的第一种可能的实现方式、第一方面的第二种可能的实现方式或第一方面的第三种可能的实现方式,在第四种可能的实现方式中,所述方法还包括:
将所述电压控制衰减器的实际衰减曲线中每相邻两点形成一个曲线段,将具有相同斜率的多个连续曲线段作为一个区间,选取斜率最大的区间作为线性区间,根据所述线性区间的首尾两点确定所述电压控制衰减器的理想衰减曲线。
本发明第一方面提供了一种多径衰落模拟装置,包括电压控制衰减器、校准拟合单元和耦合单元:
所述电压控制衰减器,用于接收输入信号;根据所述校准拟合单元输出的校准控制电压控制功率衰减量,对所述输入信号进行衰减,输出衰减信号;
所述校准拟合单元,用于从耦合单元接收衰减信号;将所述输入信号的功率减去所述衰减信号的功率,获得实际功率衰减量;根据目标功率衰减量和所述实际功率衰减量,确定所述校准控制电压;将所述校准控制电压输出至所述电压控制衰减器;
所述耦合单元,用于从所述电压控制衰减器接收所述衰减信号;将所述衰减信号输出至所述校准拟合单元;以及将所述衰减信号作为输出信号输出。
在第一种可能的实现方式中,所述校准拟合单元具备包括:
处理单元,用于从所述耦合单元接收衰减信号;将所述输入信号的功率减去所述衰减信号的功率,获得实际功率衰减量;
控制单元,用于根据所述电压控制衰减器的实际衰减曲线,确定所述实际功率衰减量对应的实际控制电压;根据所述电压控制衰减器的理想衰减曲线,确定所述目标功率衰减量对应的目标控制电压;
校准单元,用于将所述目标控制电压减去所述实际控制电压再加上所述目标控制电压,获得所述校准控制电压;输出所述校准控制电压至所述电压控制衰减器。
结合第一方面的第一种可能的实现方式,在第二种可能的实现方式中,所述装置还包括:
所述电压控制衰减器,还用于接收测试信号;根据所述校准拟合单元输出的测试电压控制功率衰减量,对所述测试信号进行衰减,输出测试衰减信号;
所述耦合单元,还用于从所述电压控制衰减器接收所述测试衰减信号,将所述测试衰减信号输出至所述校准拟合单元;
所述校准拟合单元,还包括:
所述处理单元,还用于从所述耦合单元接收所述测试衰减信号;将所述测试信号的功率减去所述测试衰减信号的功率,获得测试功率衰减量;
所述校准单元,还用于以步进方式按照电压变化范围,输出所述测试电压;
所述控制单元,还用于根据所述测试电压和所述测试功率衰减量的对应关系,确定所述电压控制衰减器的实际衰减曲线。
结合第一方面的第二种可能的实现方式,在第三种可能的实现方式中,所述测试信号为输入信号。
结合第一方面的第一种可能的实现方式、第一方面的第二种可能的实现方式或第一方面的第三种可能的实现方式,在第四种可能的实现方式中,所述控制单元,还用于将所述电压控制衰减器的实际衰减曲线中每相邻两点形成一个曲线段,将具有相同斜率的多个连续曲线段作为一个区间,选取斜率最大的区间作为线性区间,根据所述线性区间的首尾两点确定所述电压控制衰减器的理想衰减曲线。
本发明实施例提供的一种多径衰落模拟方法和多径衰落模拟装置,采用负反馈校准和预失真拟合方法,通过对衰减后的信号进行负反馈校准和预失真拟合,实现多径衰落的自动模拟,实现简单、控制精度高。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本发明的实施例提供的一种多径衰落模拟方法的流程图;
图2为本发明的实施例提供的一种多径衰落模拟装置的结构框图;
图3为本发明的实施例提供的校准拟合单元的结构框图;
图4为本发明的实施例提供的另一种多径衰落模拟装置的结构框图。
具体实施方式
本发明实施例提供了一种多径衰落模拟方法和多径衰落模拟装置。为了更好的理解本发明的技术方案,下面结合附图对本发明实施例进行详细描述。
应当明确,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供了一种多径衰落模拟方法,其流程如图1所示,该方法具体包括如下步骤:
步骤S110,接收输入信号;根据校准控制电压控制功率衰减量,对输入信号进行衰减,得到衰减信号。
本实施例中,输入信号可以是RF(Radio Frequency,射频)信号。
根据校准控制电压控制功率衰减量,对输入信号进行衰减,得到衰减信号。输入信号和衰减信号之间的这种功率变化关系,即模拟了多径衰落的过程。但是,要想精确控制多径衰落,还需要进一步进行拟合处理。
步骤S120,将输入信号的功率减去衰减信号的功率,获得实际功率衰减量。
步骤S130,根据目标功率衰减量和实际功率衰减量,确定校准控制电压。
本实施例中,目标功率衰减量可以预先配置。
进一步地,步骤S130,根据目标功率衰减量和实际功率衰减量,确定校准控制电压,可以具体包括:
步骤S131,利用电压控制衰减器对输入信号进行衰减;根据电压控制衰减器的实际衰减曲线,确定实际功率衰减量对应的实际控制电压;根据电压控制衰减器的理想衰减曲线,确定目标功率衰减量对应的目标控制电压;
步骤S132,将目标控制电压减去实际控制电压再加上目标控制电压,获得校准控制电压。
本实施例中,电压控制衰减器的实际衰减曲线,即电压控制衰减器的实际衰减特性,为电压控制衰减器在各工作频率下控制电压与功率衰减量的实际对应关系,即一个横轴为控制电压,纵轴为功率衰减量的二维曲线。
电压控制衰减器的理想衰减曲线,即电压控制衰减器的理想衰减特性,为电压控制衰减器在各工作频率下控制电压与功率衰减量的线性对应关系。
该实际衰减曲线和理想衰减曲线,可以预先配置,也可以在测试前通过自动遍历获得,用于后续的拟合处理。
由于压控衰减器本身的性能差异,压控衰减器的实际衰减曲线存在线性失真,为保证本发明装置模拟精确的线性多径衰落,需要对控制电压进行预失真拟合,确保输出的目标功率衰减量。
将目标控制电压减去实际控制电压再加上目标控制电压,获得校准控制电压,即校准控制电压为Vi+(Vi-Vl)。其中,Vi表示目标控制电压,Vl表示实际控制电压。
考虑到微波设备的工作频率范围(6GHz~42GHz)很广,电压控制衰减器在不同工作频率下的衰减曲线是有差异的。所以,在校准之前,需要具备电压控制衰减器的理想衰减曲线和实际衰减曲线。
另一实施例,提供了一种多径衰落模拟方法,基于上述多径衰落模拟方法的步骤S110至S130,进一步地,该方法还可以包括:
步骤S140,接收测试信号;根据测试电压控制功率衰减量,对测试信号进行衰减,得到测试衰减信号;
步骤S150,将测试信号的功率减去测试衰减信号的功率,获得测试功率衰减量;
步骤S160,以步进方式按照电压变化范围调整测试电压;根据测试电压和测试功率衰减量的对应关系,确定电压控制衰减器的实际衰减曲线。
本实施例中,可以由输入信号作为测试信号,也可以由其它信号作为测试信号。
步进值和电压变化范围可以预先设置,如,以0.1V为步进值,电压变化范围为-5V~0V。
测试信号在不同的工作频率下,可以获得电压控制衰减器各工作频率下的实际衰减特性。
进一步地,该方法还可以包括:
步骤S170,将电压控制衰减器的实际衰减曲线中每相邻两点形成一个曲线段,将具有相同斜率的多个连续曲线段作为一个区间,选取斜率最大的区间作为线性区间,根据线性区间的首尾两点确定电压控制衰减器的理想衰减曲线。
本实施例中,可以根据该线性区间首尾两点确定理想衰减曲线:
a ( v ) = A n - A o V n - V o ( v - V o ) + A o - - - ( 1 )
其中,v表示控制电压变量,α表示衰减值变量,v是α的函数,用α(v)表示;V0表示线性区间起点的控制电压,Vn表示线性区间终点的控制电压,A0表示线性区间起点的衰减量,An表示线性区间终点的衰减量。
本发明实施例提供的一种多径衰落模拟方法,采用负反馈校准和预失真拟合方法,通过对衰减后的信号进行负反馈校准和预失真拟合,实现多径衰落的自动模拟,实现简单、控制精度高。
本发明实施例提供了一种多径衰落模拟装置,其结构如图2所示,包括:
电压控制衰减器210,用于接收输入信号,根据校准拟合单元220输出的校准控制电压控制功率衰减量,对输入信号进行衰减,输出衰减信号。
本实施例中,输入信号可以是RF(Radio Frequency,射频)信号。
可以选用FET(Field Effect Transistor,场效应晶体管)电路、PIN(positive-intrinsicnegative)二极管、GaAs MESFET(Metal-Semiconductor FET,金属-半导体场效应晶体管)等实现电压控制衰减器。例如,微波设备的工作频率较高,一般为6GHz~42GHz,因此可以选用FET电路实现电压控制衰减器,其内部采用V1和V2两个直流电压控制信号,通过改变V1和V2的电压大小,来控制内部FET的通断情况从而改变衰减量。为提高电压控制衰减器的衰减动态范围,可以采用将V1和V2两个电压控制端口连接,用同一个可变电压源来控制,以增加衰减动态范围。
改变电压控制衰减器的控制电压大小,电压控制衰减器就会产生一个与控制电压对应的功率衰减量。
本实施例中,校准控制电压作为电压控制衰减器210的控制电压,对通过电压控制衰减器210的输入信号进行衰减,输出衰减信号。最终,输入信号和衰减信号之间的这种功率变化关系,即模拟了多径衰落的过程。但是,要想精确控制多径衰落,还需要进一步进行拟合处理。
校准拟合单元220,用于从耦合单元230接收衰减信号,将输入信号的功率减去衰减信号的功率,获得实际功率衰减量;根据目标功率衰减量和实际功率衰减量,确定校准控制电压;将校准控制电压输出至电压控制衰减器210。
本实施例中,目标功率衰减量可以预先配置。
输入信号的功率可以预先配置;校准拟合单元220也可以接收输入信号,根据输入信号和衰减信号获得输入信号的功率衰减量。
耦合单元230,用于从电压控制衰减器210接收衰减信号,将衰减信号输出至校准拟合单元220,以及将衰减信号作为输出信号输出。
进一步地,校准拟合单元220可以具体包括处理单元221、校准单元222、控制单元223,如图3所示:
处理单元221,用于从耦合单元230接收衰减信号,将输入信号的功率减去衰减信号的功率,获得实际功率衰减量。
控制单元223,用于根据电压控制衰减器210的实际衰减曲线,确定实际功率衰减量对应的实际控制电压;根据电压控制衰减器210的理想衰减曲线,确定目标功率衰减量对应的目标控制电压。
本实施例中,电压控制衰减器210的实际衰减曲线,即电压控制衰减器210的实际衰减特性,为电压控制衰减器210在各工作频率下控制电压与功率衰减量的实际对应关系,即一个横轴为控制电压,纵轴为功率衰减量的二维曲线。
电压控制衰减器210的理想衰减曲线,即电压控制衰减器210的理想衰减特性,为电压控制衰减器210在各工作频率下控制电压与功率衰减量的线性对应关系。
该实际衰减曲线和理想衰减曲线,可以预先配置,也可以根据所测试设备的实际工作频率,在测试前通过自动遍历获得,用于后续的拟合处理。
校准单元222,用于将目标控制电压减去实际控制电压再加上目标控制电压,获得校准控制电压;输出校准控制电压至电压控制衰减器210。
由于压控衰减器本身的性能差异,压控衰减器的实际衰减曲线存在线性失真,为保证本发明装置模拟绝对均一速率的线性多径衰落,需要对控制电压进行预失真拟合,确保输出的目标功率衰减量。
将目标控制电压减去实际控制电压再加上目标控制电压,获得校准控制电压,即校准控制电压为Vi+(Vi-Vl)。其中,Vi表示目标控制电压,Vl表示实际控制电压。
考虑到微波设备的工作频率范围(6GHz~42GHz)很广,电压控制衰减器在不同工作频率下的衰减曲线是有差异的。所以,在校准之前,需要具备电压控制衰减器的理想衰减曲线和实际衰减曲线。
另一实施例,提供了一种多径衰落模拟装置,基于上述多径衰落模拟装置的电压控制衰减器210、校准拟合单元220和耦合单元230,该装置还可以包括:
电压控制衰减器210,还用于接收测试信号;根据校准拟合单元220输出的测试电压控制功率衰减量,对测试信号进行衰减,输出测试衰减信号;
耦合单元230,还用于从电压控制衰减器210接收测试衰减信号,将测试衰减信号输出至校准拟合单元220;
校准拟合单元220,还包括:
处理单元221,还用于从耦合单元230接收测试衰减信号;将测试信号的功率减去测试衰减信号的功率,获得测试功率衰减量;
校准单元222,还用于以步进方式按照电压变化范围,输出测试电压;
控制单元223,还用于根据率测试电压和测试功率衰减量的对应关系,获得确定电压控制衰减器210的实际衰减曲线。
本实施例中,步进值和电压变化范围可以预先设置,如,以0.1V为步进值,电压变化范围为-5V~0V。
测试信号可以是输入信号,也可以不是输入信号。
测试信号在不同的工作频率下,可以获得电压控制衰减器210各工作频率下的实际衰减特性,该衰减特性可以以表1所示的方式形成一个三维矩阵。
表1
工作频率 控制电压 功率衰减量
f1 V1 A1
f2 V2 A2
f3 V3 A3
...... ...... ......
fn-2 Vn-2 An-2
fn-1 Vn-1 An-1
fn Vn An
本发明装置在实际应用中,为了方便存储大容量数据以及便于数据的重复利用,也可以将电压控制衰减器210的实际衰减特性存放于控制单元,或与控制单元相连的外置E2PROM等存储介质中。
进一步地,控制单元223,还可以用于将电压控制衰减器210的实际衰减曲线中每相邻两点形成一个曲线段,将具体有相同斜率的多个连续曲线段作为一个区间,选取斜率最大的区间作为线性区间,根据该线性区间的首尾两点确定电压控制衰减器的210的理想衰减曲线。
本实施例中,可以根据该线性区间首尾两点确定理想衰减曲线:
a ( v ) = A n - A o V n - V o ( v - V o ) + A o - - - ( 1 )
其中,v表示控制电压变量,α表示衰减值变量,v是α的函数,用a(v)表示;V0表示线性区间起点的控制电压,Vn表示线性区间终点的控制电压,A0表示线性区间起点的衰减量,An表示线性区间终点的衰减量。
根据压控衰减器的特性,斜率越大输出特性越好,因此选取最大斜率作为电压控制衰减器的理想衰减曲线的斜率。
本发明另一实施例提供了一种多径衰落模拟装置,其结构如图4所示,包括:
电压控制衰减器410,用于接收输入信号;根据处理器430输出的校准控制电压控制功率衰减量,对输入信号进行衰减,输出衰减信号。
存储器420,用于存储包括程序例程的信息;
处理器430,与存储器420、电压控制衰减器410和耦合单元440耦合,用于控制程序例程的执行,具体包括:从耦合单元440接收衰减信号;将输入信号的功率减去衰减信号的功率,获得实际功率衰减量;根据目标功率衰减量和实际功率衰减量,确定校准控制电压;将校准控制电压输出至电压控制衰减器410;
耦合单元440,用于从电压控制衰减器410接收衰减信号;将衰减信号输出至处理器430;以及将衰减信号作为输出信号输出。
进一步地,处理器430中,根据目标功率衰减量和实际功率衰减量,确定校准控制电压,可以具体包括:
根据电压控制衰减器410的实际衰减曲线,确定实际功率衰减量对应的实际控制电压;根据电压控制衰减器410的理想衰减曲线,确定目标功率衰减量对应的目标控制电压;
将目标控制电压减去实际控制电压再加上目标控制电压,获得校准控制电压。
进一步地,该装置还可以包括:
电压控制衰减器410,还用于接收测试信号;根据处理器430输出的测试电压控制功率衰减量,对测试信号进行衰减,输出测试衰减信号;
处理器430,还可以包括:从耦合单元440接收测试衰减信号;将测试信号的功率减去测试衰减信号的功率,获得测试功率衰减量;以步进方式按照电压变化范围,输出测试电压;根据测试电压和测试功率衰减量的对应关系,确定电压控制衰减器的实际衰减曲线;
耦合单元440,还用于从电压控制衰减器410接收测试衰减信号,将测试衰减信号输出至处理器430;
进一步地,处理器430,还可以包括:将电压控制衰减器的实际衰减曲线中每相邻两点形成一个曲线段,将具有相同斜率的多个连续曲线段作为一个区间,选取斜率最大的区间作为线性区间,根据线性区间的首尾两点确定电压控制衰减器的理想衰减曲线。
上述实施例一种多径衰落模拟装置,其内部各单元之间的信息交互、执行过程等内容,由于与本发明方法实施例基于同一构思,具体内容可参见本发明方法实施例中的叙述,此处不再赘述。
本发明实施例提供的一种多径衰落模拟装置,采用负反馈校准和预失真拟合方法,通过对衰减后的信号进行负反馈校准和预失真拟合,实现多径衰落的自动模拟,实现简单、控制精度高。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中,该程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory,ROM)或随机存储记忆体(Random Access Memory,RAM)等。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (8)

1.一种多径衰落模拟方法,其特征在于,包括:
接收输入信号;根据校准控制电压控制电压控制衰减器的功率衰减量,对所述输入信号进行衰减,得到衰减信号;
将所述输入信号的功率减去所述衰减信号的功率,获得实际功率衰减量;
根据所述电压控制衰减器的实际衰减曲线,确定所述实际功率衰减量对应的实际控制电压,所述实际衰减曲线为电压控制衰减器在各工作频率下控制电压与功率衰减量的实际对应关系;
根据所述电压控制衰减器的理想衰减曲线,确定目标功率衰减量对应的目标控制电压,所述理想衰减曲线电压控制衰减器在各工作频率下控制电压与功率衰减量的线性对应关系;
将所述目标控制电压减去所述实际控制电压再加上所述目标控制电压,获得所述校准控制电压。
2.根据权利要求1所述的多径衰落模拟方法,其特征在于,所述方法还包括:
接收测试信号;根据测试电压控制功率衰减量,对所述测试信号进行衰减,得到测试衰减信号;
将所述测试信号的功率减去所述测试衰减信号的功率,获得测试功率衰减量;
以步进方式按照电压变化范围调整所述测试电压;根据所述测试电压和所述测试功率衰减量的对应关系,确定所述电压控制衰减器的实际衰减曲线。
3.根据权利要求2所述的多径衰落模拟方法,其特征在于,所述测试信号为所述输入信号。
4.根据权利要求1、2或3所述的多径衰落模拟方法,其特征在于,所述方法还包括:
将所述电压控制衰减器的实际衰减曲线中每相邻两点形成一个曲线段,将具有相同斜率的多个连续曲线段作为一个区间,选取斜率最大的区间作为线性区间,根据所述线性区间的首尾两点确定所述电压控制衰减器的理想衰减曲线。
5.一种多径衰落模拟装置,其特征在于,包括电压控制衰减器、校准拟合单元和耦合单元:
所述电压控制衰减器,用于接收输入信号;根据所述校准拟合单元输出的校准控制电压控制功率衰减量,对所述输入信号进行衰减,输出衰减信号;
所述校准拟合单元,用于从耦合单元接收衰减信号;将所述输入信号的功率减去所述衰减信号的功率,获得实际功率衰减量;根据目标功率衰减量和所述实际功率衰减量,确定所述校准控制电压;将所述校准控制电压输出至所述电压控制衰减器;
所述耦合单元,用于从所述电压控制衰减器接收所述衰减信号;将所述衰减信号输出至所述校准拟合单元;以及将所述衰减信号作为输出信号输出;
所述校准拟合单元具体包括:
处理单元,用于从所述耦合单元接收衰减信号;将所述输入信号的功率减去所述衰减信号的功率,获得实际功率衰减量;
控制单元,用于根据所述电压控制衰减器的实际衰减曲线,确定所述实际功率衰减量对应的实际控制电压,所述实际衰减曲线为电压控制衰减器在各工作频率下控制电压与功率衰减量的实际对应关系;根据所述电压控制衰减器的理想衰减曲线,确定所述目标功率衰减量对应的目标控制电压,所述理想衰减曲线电压控制衰减器在各工作频率下控制电压与功率衰减量的线性对应关系;
校准单元,用于将所述目标控制电压减去所述实际控制电压再加上所述目标控制电压,获得所述校准控制电压;输出所述校准控制电压至所述电压控制衰减器。
6.根据权利要求5所述的多径衰落模拟装置,其特征在于,所述装置还包括:
所述电压控制衰减器,还用于接收测试信号;根据所述校准拟合单元输出的测试电压控制功率衰减量,对所述测试信号进行衰减,输出测试衰减信号;
所述耦合单元,还用于从所述电压控制衰减器接收所述测试衰减信号,将所述测试衰减信号输出至所述校准拟合单元;
所述校准拟合单元,还包括:
所述处理单元,还用于从所述耦合单元接收所述测试衰减信号;将所述测试信号的功率减去所述测试衰减信号的功率,获得测试功率衰减量;
所述校准单元,还用于以步进方式按照电压变化范围,输出所述测试电压;
所述控制单元,还用于根据所述测试电压和所述测试功率衰减量的对应关系,确定所述电压控制衰减器的实际衰减曲线。
7.根据权利要求6所述的多径衰落模拟装置,其特征在于,所述测试信号为输入信号。
8.根据权利要求6或7所述的多径衰落模拟装置,其特征在于,所述控制单元,还用于将所述电压控制衰减器的实际衰减曲线中每相邻两点形成一个曲线段,将具有相同斜率的多个连续曲线段作为一个区间,选取斜率最大的区间作为线性区间,根据所述线性区间的首尾两点确定所述电压控制衰减器的理想衰减曲线。
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