CN103207528A - 用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法及光刻曝光系统 - Google Patents

用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法及光刻曝光系统 Download PDF

Info

Publication number
CN103207528A
CN103207528A CN2012100133818A CN201210013381A CN103207528A CN 103207528 A CN103207528 A CN 103207528A CN 2012100133818 A CN2012100133818 A CN 2012100133818A CN 201210013381 A CN201210013381 A CN 201210013381A CN 103207528 A CN103207528 A CN 103207528A
Authority
CN
China
Prior art keywords
major component
light source
lighting source
aerial image
pupil
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2012100133818A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103207528B (zh
Inventor
施忞
阎江
杨志勇
白昂力
孙文凤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd
Original Assignee
Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd filed Critical Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd
Priority to CN201210013381.8A priority Critical patent/CN103207528B/zh
Publication of CN103207528A publication Critical patent/CN103207528A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103207528B publication Critical patent/CN103207528B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

本发明公开一种用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法,包括:指定多个掩模版和投影物镜的光瞳,获得多种照明光源图像,建立该多种照明光源主成分和空间像之间的关系;在该指定中选择一组掩模版和光瞳,对其名义光源进行主成分分析,获得各个主成分的名义权重,结合该多种照明光源主成分和空间像之间的关系利用查表算法和线性回归算法计算出该各个主成分的目标权重,从而获得光源参数设置变化量和光源内部可动元件调整量。本发明同时公开一种用于补偿光刻成像质量的光刻曝光系统。

Description

用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法及光刻曝光系统
技术领域
本发明涉及集成电路装备制造领域,尤其涉及一种用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法及光刻曝光系统。
背景技术
光刻设备是一种应用于集成电路制造的装备,该装备的用途包括但不限于:集成电路制造光刻装置、液晶面板光刻装置、光掩模刻印装置、MEMS(微电子机械系统)/MOMS(微光机系统)光刻装置、先进封装光刻装置、印刷电路板光刻装置及印刷电路板加工装置等。
由于生产工艺的限制,使用环境的变化等因素,会导致光刻机的实际曝光效果与目标值有所差异。因此,光刻机可以通过调节照明光源内部可动元件,来改变照明光源,进行成像质量的补偿,从而提升的曝光性能。
光刻仿真在光刻机研发过程中有着非常重要的作用,除了在早期工艺开发阶段起到预研的作用外,还在实际生产方面的有着广泛的应用,例如光源优化。现有技术中,通过将光刻仿真结果得到的目标值与实际曝光结果进行对比,利用回归方法可以进行实现有效的照明光源优化,并提升曝光性能。
发明内容
本发明提供一种新的光刻仿真方法,在保证运算精度的同时,可以极大限度的提高运算速度,通过调整照明光源内部可动元件,可以快速、有效地调整照明光源,从而实现提升曝光效果性能的目的。
本发明公开一种用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法,包括:指定多个掩模版和投影物镜的光瞳,获得多种照明光源图像,建立该多种照明光源主成分和空间像之间的关系;在该指定中选择一组掩模版和光瞳,对其名义光源进行主成分分析,获得各个主成分的名义权重,结合该多种照明光源主成分和空间像之间的关系利用查表算法和线性回归算法计算出该各个主成分的目标权重,从而获得光源参数设置变化量和光源内部可动元件调整量。
更进一步地,该建立该多种照明光源主成分和空间像之间的关系的具体步骤包括:S2.1选取该多种照明光源中的典型照明光源进行主成分分析,得到该典型照明光源主成分和主成分权重;S2.2根据Abbe模型对该典型照明光源每个主成分进行空间像仿真计算,获得该典型照明光源主成分空间像,建立起该多种照明光源主成分和空间像之间的关系。
更进一步地,该多种照明光源主成分和空间像之间的关系表达式为:,其中                                                 I是光源的空间像,I i  是光源主成分空间像,PC i 是主成分权重。
更进一步地,该结合该多种照明光源主成分和空间像之间的关系利用查表算法和线性回归算法计算出该各个主成分的目标权重的具体步骤包括:S3.1采集该一组掩模版和光瞳对应的光刻机上得到的实际CD值并计算出和目标CD之差ΔCD;S3.2根据对其名义光源进行主成分分析后得到的该各个主成分的名义权重,从该多种照明光源主成分和空间像之间的关系中利用查表算法找到对应的光源主成分空间像,计算出理论CD值;S3.3根据ΔCD和该理论CD值,利用线性回归方法计算出各个主成分的目标权重。
更进一步地,该获得光源参数设置的变化量的方法为计算目标权重和名义权重之差ΔPC i ,再利用转换矩阵U mp 计算出光源参数设置的变化量ΔE i 为:
Figure 822170DEST_PATH_IMAGE002
。   
更进一步地,该获得光源内部可动元件调整量的方法为通过转换公式vpq将该光源参数设置的变化量ΔE i 转换为该光源内部可动元件调整量 ΔD i
Figure 2012100133818100002DEST_PATH_IMAGE003
本发明同时公开一种补偿光刻成像质量的光刻曝光系统,包括:一照明单元,用于提供曝光光束;一掩模台,用于支撑一掩模;一工件台,用于支撑一基底并提供六自由度运动;一投影物镜,用于将掩模上图形投射至基底;该照明单元包括该可动元件,用于调整照明光源,该可动元件的调整采用如上文任一项所述的光瞳修正方法。
    与现有技术相比较,本发明具有如下技术优点:一、使用主成分分析和查表法,预选计算并存储空间像计算结果,将积分运算转化为求和运算,极大的缩短运算时间。二、通过预先对大量特征图形做空间像同步仿真计算结果的存储,可以同时计算上百个不同特征图形的空间像。三、通过线形回归方法,将实际曝光结果和目标结果做对比,通过查表法逆向反算来调整照明光源主成分权重,并且通过转换矩阵来调整实际光源。四、使用尽量少的照明光源可动元件来最大限度的补偿光刻成像质量。本发明所提供的用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法及光刻曝光系统,能在在保证运算精度的同时,大幅提高运算速度,同时利用本方法所制作的计算机软件具有算法简洁,计算机内存占用小的优点。
附图说明
关于本发明的优点与精神可以通过以下的发明详述及所附图式得到进一步的了解。
图1为本发明所示出的光刻曝光系统的结构示意图;
图2为根据本发明的一个实施例照明光源主成分分析结果的示意图;
图3为本发明所示出的算法建模实现流程图;
图4为本发明所示出的照明光源调整实现流程图。
具体实施方式
下面结合附图详细说明本发明的一种具体实施例的用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法及光刻曝光系统。然而,应当将本发明理解成并不局限于以下描述的这种实施方式,并且本发明的技术理念可以与其他公知技术或功能与那些公知技术相同的其他技术组合实施。
在以下描述中,为了清楚展示本发明的结构及工作方式,将借助诸多方向性词语进行描述,但是应当将“前”、“后”、“左”、“右”、“外”、“内”、“向外”、“向内”、“上”、“下”等词语理解为方便用语,而不应当理解为限定性词语。
本发明引入照明光源主成分分析法,通过主成分权重进行空间成像仿真计算,从而可以预先计算并存储所有主成分计算结果;利用线性回归的方法,通过实际曝光结果和目标结果之间差异计算光源主成分权重,并且通过转换矩阵建立起主成分和实际光源可动元件之间关系,通过主成分来调整可动元件,从而达到提升曝光性能的目的。
本发明所公开的用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法的具体实施方法分成两部分,分别为算法建模和照明光源调整。算法建模部分主要建立仿真结果数据库以及查表算法;照明光源调整部分主要利用查表法,和线性回归算法,将实际曝光结果与目标结果之间差异,ΔCD值,计算出照明光源主成分权重,并通过转换矩阵,将主成分权重转化为光源内部可动元件调整量。
由于空间成像结果预先存入数据库中,实际应用中只需根据光源性质查表得到空间像,而无须作积分运算,可以的极大限度的提高空间像计算速度,并且结合主成分分析方法,并且可以快速,有效地调整照明光源。
如图1中所示,图1为本发明所示出的光刻曝光系统的结构示意图。根据本发明的光刻曝光系统由照明光源1、掩模版5、投影物镜2、硅片台6构成的,其中照明光源1由两个可动元件101构成,分别用于调整环形照明光源的外环半径 out 和内环半径 in
本发明采用主成分分析方法,对特定照明光源进行主成分拆解。如图2所示,图2为根据本发明的一个实施例照明光源主成分分析结果的示意图。等号左侧为环形照明光源,等号右侧为主成分分析所识别出来的部分特征(主成分),与权重PC i
利用Abbe成像原理(即阿贝成像原理,将部分相干照明光源(具有一定面积)转化成无数多个离散的完全相干光源(点光源)的和;其目的是将成像过程中的积分运算转化成求和运算,从而更加方便的实现),建立光刻成像的物理模型;根据照明光源的各个主成分,曝光波长和数值孔径,典型掩模版等,计算带光源主成分空间成像,存入数据库,计算最终空间成像,得到查表算法。
图3为本发明所示出的算法建模实现流程图。如图3中所示,该算法建模流程包括:
S11:指定特定掩模版和光瞳(投影物镜),定义掩模版和光瞳(投影物镜)。S21:生产典型的照明光源图像,选取明显光学意义的典型照明光源进行主成分分析,得到典型照明光源主成分和主成分权重。S13:根据Abbe模型对典型照明光源每个主成分进行空间像仿真计算,获得典型照明光源主成分空间像,并将结果存入数据库。S14:将光源主成分和计算出的空间像存入数据库,建立起光源主成分和空间像之间的关系,光源的空间像 I 等于主成分光源空间像 I i  乘以主成分权重 PC i  之和
Figure 676994DEST_PATH_IMAGE004
根据ΔCD和理论CD值(Critical Dimension关键尺寸值),利用线性回归方法计算出每一个主成分的新的权重PC i ’,利用主成分权重之差 ΔPC i  ,利用转换矩阵U mp 计算出照明光源参数设置的变动Δ out
,Δ in 。通过转换公式将照明光源参数设置变动Δ out  ,Δ in 转换为动元件调整量 ΔD i 。根据以上方法,最终可以实现成像质量的补偿,提升曝光性能。
图4为本发明所示出的照明光源调整实现流程图。
 S21在指定的特定掩模版和光瞳中,选择一组掩模版和光瞳,采集该掩模版的实际CD值。
S22计算出实际CD值和目标CD值之差ΔCD。
S31将名义照明光源参数Ei进行主成分分析,得到主成分名义权重PC i
S32利用查表法结合多种照明光源主成分和空间像之间的关系,根据公式
Figure 2012100133818100002DEST_PATH_IMAGE005
计算出由主成分构成的空间像,并根据实际曝光剂量,计算出理论CD值。其中I是光源的空间像,I i  是主成分光源空间像,PC i 是主成分权重。
S41利用ΔCD和理论CD,利用线性回归算法算出主成分目标权重PCi’。
S42计算主成分权重之差ΔPCi,利用转换矩阵U mp 计算出照明光源参数的变动ΔEi。转换矩阵U mp 的表达式为:
Figure 895879DEST_PATH_IMAGE006
其中ΔE i 是照明光源的参数设置的变化量。
S43通过转换公式vpq将照明光源参数设置变动ΔE i 转换为可动元件调整量ΔD i ,转换公式vpq是:
Figure 2012100133818100002DEST_PATH_IMAGE007
根据计算出的可动元件调整量<ΔD i >对照明光源进行调整,最终实现成像质量的补偿。
与现有技术相比较,本发明具有如下技术优点:一、使用主成分分析和查表法,预选计算并存储空间像计算结果,将积分运算转化为求和运算,极大的缩短运算时间。二、通过预先对大量特征图形做空间像同步仿真计算结果的存储,可以同时计算上百个不同特征图形的空间像。三、通过线形回归方法,将实际曝光结果和目标结果做对比,通过查表法逆向反算来调整照明光源主成分权重,并且通过转换矩阵来调整实际光源。四、使用尽量少的照明光源可动元件来最大限度的补偿光刻成像质量。本发明所提供的用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法及光刻曝光系统,能在在保证运算精度的同时,大幅提高运算速度,同时利用本方法所制作的计算机软件具有算法简洁,计算机内存占用小的优点。 
本说明书中所述的只是本发明的较佳具体实施例,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对本发明的限制。凡本领域技术人员依本发明的构思通过逻辑分析、推理或者有限的实验可以得到的技术方案,皆应在本发明的范围之内。

Claims (7)

1.一种用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法,其特征在于,包括:指定多个掩模版和投影物镜的光瞳,获得多种照明光源图像,建立所述多种照明光源主成分和空间像之间的关系;在所述指定中选择一组掩模版和光瞳,对其名义光源进行主成分分析,获得各个主成分的名义权重,结合所述多种照明光源主成分和空间像之间的关系,利用查表算法和线性回归算法计算出所述各个主成分的目标权重,从而获得光源参数设置变化量和光源内部可动元件调整量。
2.如权利要求1所述用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法,其特征在于,所述建立所述多种照明光源主成分和空间像之间的关系的具体步骤包括:
S2.1选取所述多种照明光源中的典型照明光源进行主成分分析,得到所述典型照明光源主成分和主成分权重;
S2.2根据Abbe模型对所述典型照明光源每个主成分进行空间像仿真计算,获得所述典型照明光源主成分空间像,建立起所述多种照明光源主成分和空间像之间的关系。
3.如权利要求2所述用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法,其特征在于,所述多种照明光源主成分和空间像之间的关系表达式为:                                               
Figure 2012100133818100001DEST_PATH_IMAGE002
,其中I是光源的空间像,I i  是光源主成分空间像,PC i 是主成分权重。
4.如权利要求1所述用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法,其特征在于,所述结合所述多种照明光源主成分和空间像之间的关系利用查表算法和线性回归算法计算出所述各个主成分的目标权重的具体步骤包括:
S3.1采集所述一组掩模版和光瞳对应的光刻机上得到的实际CD值并计算出和目标CD之差ΔCD;
S3.2根据对其名义光源进行主成分分析后得到的所述各个主成分的名义权重,从所述多种照明光源主成分和空间像之间的关系中利用查表算法找到对应的光源主成分空间像,计算出理论CD值;;
S3.3根据ΔCD和理论CD值,利用线性回归方法计算出各个主成分的目标权重。
5.如权利要求1所述用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法,其特征在于,所述获得光源参数设置的变化量的方法为计算目标权重和名义权重之差ΔPC i ,再利用转换矩阵U mp 计算出光源参数设置的变化量ΔE i 为:
Figure 2012100133818100001DEST_PATH_IMAGE004
6.如权利要求1所述用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法,其特征在于,所述获得光源内部可动元件调整量的方法为通过转换公式vpq将所述光源参数设置的变化量ΔE i 转换为所述光源内部可动元件调整量 ΔD i
Figure 2012100133818100001DEST_PATH_IMAGE006
7.一种补偿光刻成像质量的光刻曝光系统,其特征在于,包括:
一照明单元,用于提供曝光光束;
一掩模台,用于支撑一掩模;
一工件台,用于支撑一基底并提供六自由度运动;
一投影物镜,用于将掩模上图形投射至基底;
  所述照明单元包括所述可动元件,用于调整照明光源,所述可动元件的调整采用如权利要求1至6任一项所述的光瞳修正方法。
CN201210013381.8A 2012-01-17 2012-01-17 用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法及光刻曝光系统 Active CN103207528B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210013381.8A CN103207528B (zh) 2012-01-17 2012-01-17 用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法及光刻曝光系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210013381.8A CN103207528B (zh) 2012-01-17 2012-01-17 用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法及光刻曝光系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103207528A true CN103207528A (zh) 2013-07-17
CN103207528B CN103207528B (zh) 2015-08-26

Family

ID=48754795

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201210013381.8A Active CN103207528B (zh) 2012-01-17 2012-01-17 用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法及光刻曝光系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN103207528B (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109154781A (zh) * 2016-05-12 2019-01-04 Asml荷兰有限公司 获得测量的方法、用于执行过程步骤的设备和计量设备
CN109188867A (zh) * 2018-09-11 2019-01-11 惠科股份有限公司 曝光补偿表的生成方法、光阻曝光补偿的方法及曝光机台
CN109752926A (zh) * 2017-11-01 2019-05-14 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 补偿透镜热效应的方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100124724A1 (en) * 2008-11-20 2010-05-20 Canon Kabushiki Kaisha Projection exposure apparatus, method for calibrating measurement criterion of displacement measurement unit, and method for manufacturing device
CN102129173A (zh) * 2010-01-12 2011-07-20 上海微电子装备有限公司 一种光刻机投影物镜波像差现场测量方法
CN102200697A (zh) * 2011-06-03 2011-09-28 中国科学院上海光学精密机械研究所 光刻投影物镜波像差检测系统及检测方法
CN102231048A (zh) * 2011-06-24 2011-11-02 中国科学院上海光学精密机械研究所 基于空间像自定心的投影物镜波像差检测方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100124724A1 (en) * 2008-11-20 2010-05-20 Canon Kabushiki Kaisha Projection exposure apparatus, method for calibrating measurement criterion of displacement measurement unit, and method for manufacturing device
CN102129173A (zh) * 2010-01-12 2011-07-20 上海微电子装备有限公司 一种光刻机投影物镜波像差现场测量方法
CN102200697A (zh) * 2011-06-03 2011-09-28 中国科学院上海光学精密机械研究所 光刻投影物镜波像差检测系统及检测方法
CN102231048A (zh) * 2011-06-24 2011-11-02 中国科学院上海光学精密机械研究所 基于空间像自定心的投影物镜波像差检测方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109154781A (zh) * 2016-05-12 2019-01-04 Asml荷兰有限公司 获得测量的方法、用于执行过程步骤的设备和计量设备
US11175591B2 (en) 2016-05-12 2021-11-16 Asml Netherlands B.V. Method of obtaining measurements, apparatus for performing a process step, and metrology apparatus
US11774862B2 (en) 2016-05-12 2023-10-03 Asml Netherlands B.V. Method of obtaining measurements, apparatus for performing a process step, and metrology apparatus
CN109752926A (zh) * 2017-11-01 2019-05-14 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 补偿透镜热效应的方法
CN109752926B (zh) * 2017-11-01 2020-12-18 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 补偿透镜热效应的方法
CN109188867A (zh) * 2018-09-11 2019-01-11 惠科股份有限公司 曝光补偿表的生成方法、光阻曝光补偿的方法及曝光机台

Also Published As

Publication number Publication date
CN103207528B (zh) 2015-08-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101349871B (zh) 光刻照明装置
CN101206688B (zh) 光刻系统、器件制造方法、定点数据优化方法及产生设备
CN102621816B (zh) 直写式光刻系统中采用灰度方式提高曝光图形质量的方法
CN103207528A (zh) 用于补偿光刻成像质量的光瞳修正方法及光刻曝光系统
CN109634068A (zh) 离焦低敏感度、工艺窗口增强的光源-掩模批量优化方法
CN108828901B (zh) 一种全视场高数值孔径成像系统偏振像差在线检测方法
CN104570585B (zh) 光学邻近修正方法
TWI633386B (zh) Light emphasis method
CN111077741B (zh) 采用dmd与液晶调制的曲面光刻方法
CN103293863A (zh) 一种光刻照明系统
Bekaert et al. Scanner matching for standard and freeform illumination shapes using FlexRay
CN109426094B (zh) 曝光方法、测量方法以及曝光装置
US20220043358A1 (en) Method for producing or setting a projection exposure apparatus
Li et al. Joint optimization of source, mask, and pupil in optical lithography
CN105158877A (zh) 一种直写式光刻机缩影物镜的倍率标定方法
Yoda et al. Next-generation immersion scanner optimizing on-product performance for 7nm node
CN112526834B (zh) 一种高分辨率无掩模光刻系统以及曝光方法
Jiang et al. Design of UV LED illumination system for direct imaging lithography
CN104062761B (zh) 一种宽谱线投影光学系统和光刻设备
Voelkel Micro-optics: enabling technology for illumination shaping in optical lithography
Hirayanagi et al. Illumination pupilgram control using an intelligent illuminator
CN102707582A (zh) 一种基于Abbe矢量成像模型的光源-掩模同步优化方法
CN104062748A (zh) 一种宽谱线投影光学系统的倍率调节方法
CN106933043B (zh) 光刻成像系统及其投影曝光方法
CN105652599B (zh) 降低光刻投影物镜环境热效应影响的方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CP01 Change in the name or title of a patent holder
CP01 Change in the name or title of a patent holder

Address after: 201203 Shanghai Zhangjiang High Tech Park of Pudong New Area Zhang Road No. 1525

Patentee after: Shanghai microelectronics equipment (Group) Limited by Share Ltd

Address before: 201203 Shanghai Zhangjiang High Tech Park of Pudong New Area Zhang Road No. 1525

Patentee before: Shanghai Micro Electronics Equipment Co., Ltd.