CN103188497A - 电子设备及其显示方法 - Google Patents
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Abstract
提供了一种应用于采用光反射技术来进行显示的电子设备及其相应显示方法。该显示方法包括:利用内置在所述电子设备中的激光源发射激光作为前光,照射所述电子设备中的像素,每个像素至少包括玻璃基板和全反射性膜;以及在所述像素的玻璃基板和全反射性膜之间的空气薄膜厚度满足预定条件时,所述像素利用所述前光进行显示。通过利用激光作为前光,可以提高该电子设备的色域,改进该电子设备的显示效果。
Description
技术领域
本发明涉及采用光反射技术的显示技术,更具体地涉及一种采用光反射技术进行显示的电子设备及其相应显示方法。
发明内容
目前,已经开发了采用光反射技术进行显示的显示设备,诸如高通光电(QMT-Qualcomm MEMS Technology)公司开发的Mirasol显示屏。该Mirasol显示屏以被称为干涉测量调制(IMOD)的反射型技术为基础,利用环境光在无需背景光的情况下进行显示,由此大大降低了显示功耗。
然而,该Mirasol显示屏在黑暗的环境下无法进行显示。为了克服该缺陷,目前高通光电QMT使用红绿蓝前光或者白色前光,以便改进Mirasol的光学性能。利用RGB前光的色域可以达到40%,但这仍不能满足应用需求。
因此,需要一种采用光反射技术来进行显示的电子设备及其相应显示方法,该电子设备的色域可以提高更多。
发明内容
考虑到上述问题而作出了本发明,本发明的一个目的是提供一种显示方法,其利用激光作为采用光反射技术进行显示的显示屏的前光,提高了包括该显示屏的电子设备的色域。
根据本发明的一个方面,提供了一种显示方法,其应用于采用光反射技术来进行显示的电子设备中,该方法包括:利用内置在所述电子设备中的激光源发射激光作为前光,照射所述电子设备中的像素,每个像素至少包括玻璃基板和全反射性膜;以及在所述像素的玻璃基板和全反射性膜之间的空气薄膜厚度满足预定条件时,所述像素利用所述前光进行显示。
优选地,在所述显示方法中,所述激光源包括至少一个子激光源,每个子激光源为红色激光源、绿色激光源、以及蓝色激光源中的至少一个。
优选地,所述显示方法还包括:检测该电子设备周围的光照条件并获得与所述光照条件对应的光照值;以及作为所述光照值的函数,控制所述激光源的发光强度。
优选地,所述显示方法还包括:检测该电子设备的电源电压;以及作为所述电源电压的函数,控制所述激光源的发光强度。
优选地,所述显示方法还包括:利用内置在所述电子设备中的其它光源发射光作为前光,照射所述电子设备中的像素。
优选地,在所述显示方法中,所述激光源包括红色激光源和蓝色激光源,所述其它光源包括绿色发光二极管。
优选地,在所述显示方法中,所述激光源包括红色激光源、蓝色激光源和绿色激光源,所述其它光源包括红色发光二极管、蓝色发光二极管和绿色发光二极管。
优选地,所述显示方法还包括:检测该电子设备周围的光照条件并获得与所述光照条件对应的光照值;以及作为所述光照值的函数,控制所述激光源和所述其它光源的发光强度。
优选地,所述显示方法还包括:检测该电子设备的电源电压;以及作为所述电源电压的函数,控制所述激光源和所述其它光源的发光强度。
根据本发明的另一方面,提供了一种电子设备,其采用光反射技术来进行显示,该电子设备包括:像素阵列,包括多个像素,每个像素至少包括玻璃基板和全反射性膜;以及激光源,用于发射激光作为前光以照射所述像素阵列中的像素,其中在所述像素阵列中的像素的玻璃基板和全反射性膜之间的空气薄膜厚度满足预定条件时,利用所述前光进行显示。
优选地,在所述电子设备中,所述激光源包括至少一个子激光源,每个子激光源为红色激光源、绿色激光源、以及蓝色激光源中的至少一个。
优选地,所述电子设备还包括:光照检测部件,用于检测该电子设备周围的光照条件并获得与所述光照条件对应的光照值;以及第一光源控制部件,用于作为所述光照值的函数控制所述激光源的发光强度。
优选地,所述电子设备还包括:电压检测部件,用于检测该电子设备的电源电压;以及第二光源控制部件,用于作为所述电源电压的函数控制所述激光源的发光强度。
优选地,所述电子设备,还包括:第二光源,用于发射光作为前光以照射所述像素阵列中的像素。
15.如权利要求14所述的电子设备,其中,所述激光源包括红色激光源和蓝色激光源,所述第二光源包括绿色发光二极管。
在此情况下,优选地,在所述电子设备中,所述激光源包括红色激光源、蓝色激光源和绿色激光源,所述第二光源包括红色发光二极管、蓝色发光二极管和绿色发光二极管。
在此情况下,优选地,所述电子设备还包括:光照检测部件,用于检测该电子设备周围的光照条件并获得与所述光照条件对应的光照值;以及第一光源控制部件,用于作为所述光照值的函数控制所述激光源和所述第二光源的发光强度。
在此情况下,优选地,所述电子设备还包括:电压检测部件,用于检测该电子设备的电源电压;以及第二光源控制部件,用于作为所述电源电压的函数,控制所述激光源和所述第二光源的发光强度。
利用根据本发明实施例的电子设备和显示方法,可以在黑暗的情况下利用激光源发射激光作为显示屏的前光,从而可以获得良好的颜色饱和度,得到更纯的红色、更纯的绿色、更纯的蓝色。
附图说明
通过结合附图对本发明的实施例进行详细描述,本发明的上述和其它目的、特征和优点将会变得更加清楚,其中:
图1是示出mirasol显示屏的显示原理图。
图2是示出根据本发明实施例的电子设备的部分结构示意图。
图3是示出根据本发明实施例的显示方法的流程图。
图4示出了根据本发明实施例的显示方法的其它操作步骤。
图5示出了根据本发明实施例的显示方法的其它操作步骤。
图6示出了根据本发明实施例的显示方法的其它操作步骤。
图7示出了根据本发明实施例的显示方法的其它操作步骤。
图8是示出根据本发明实施例的电子设备的框图。
具体实现方式
下面将参照附图来描述根据本发明实施例的采用光反射技术来进行显示的电子设备及其相应显示方法。应当理解:这里描述的实施例仅仅是说明性的,而不应被解释为限制本发明的范围。
如1中所示,Mirasol显示屏至少包括玻璃基板(例如,上面附有一层半透射性膜)和全反射性膜,通过施加电压来改变玻璃基板和全反射性膜之间的间隔,从而实现颜色调节。在施加电压时,全反射性膜层会上升,当玻璃基板和全反射性膜之间的空气薄膜厚度为d1(优选地,d1=0)时,像素会呈现黑色。在全反射性膜层下降并使得玻璃基板和全反射性膜之间的空气薄膜厚度为d2时,像素会亮并呈现不同的颜色,具体的颜色依据像素上的滤色片来决定。
例如,在像素为黑白像素的情况下,一个像素可以包括多个子像素,分别控制每个子像素所对应的空气薄膜厚度,可以呈现不同的灰度级别。例如,一个像素包括四个子像素,可以出现以下不同的组合:四个子像素都为黑;三个子像素为黑并且一个子像素为白;两个子像素为黑并且两个子像素为白;一个子像素为黑并且三个子像素为白;四个子像素都为白。
再例如,在像素为彩色像素的情况下,一个像素可以包括红色子像素、蓝色子像素和绿色子像素,红色子像素可以包括多个红色子像素单元,蓝色子像素可以包括多个蓝色子像素单元,绿色子像素可以包括多个绿色子像素单元。例如,一个红色子像素可以包括三个红色子像素单元,一个蓝色子像素可以包括三个蓝色子像素单元,一个绿色子像素可以包括三个绿色子像素单元。在此情况下,可能出现以下不同的组合:红0(即0亮4灭)绿2(即2亮2灭)蓝3(即3亮1灭)、红3绿1蓝0、红4绿2蓝2等。
如图2所示,示出了根据本发明实施例的电子设备的部分结构示意图,其示出了该电子设备的横截面图。Mirasol显示屏至少包括玻璃基板和全反射性膜。在图2所示的用附图标记1和2标记的区域中布置激光源,利用所述激光源作为Mirasol显示屏的前光的光源。通过采用激光源作为前光光源,由于激光的带宽较窄,因此可以具有更高的色彩饱和度,使得红色、绿色和蓝色更为艳丽。
作为示例,所述激光源可以包括两个子激光源(例如,分别布置在图2中的1和2位置处),每个子激光源可以包括红色激光源、绿色激光源、以及蓝色激光源中的至少一个。例如,可以在图2中的1处布置一个红色激光源、一个绿色激光源、以及一个蓝色激光源,并且在图2中的2处布置一个红色激光源、一个绿色激光源、以及一个蓝色激光源。在此情况下,利用红色激光源、绿色激光源、蓝色激光源合成白色光源,红色子像素通过滤色片仅透过红色光,绿色子像素通过滤色片仅透过绿色光,蓝色子像素通过滤色片仅透过蓝色光。
还应了解,图2中仅示出了该电子设备的横截面图,可以在电子设备的四周分别对称地布置一个子激光源,第一子激光源(例如位置1处)包括红色激光源、蓝色激光源、绿色激光源中的至少一个,第二子激光源(例如位置2处)与第一子激光源被相同地配置,第三子激光源(例如位置3处)包括红色激光源、蓝色激光源、绿色激光源中的至少一个并且与第一子激光源被不同地配置,第四子激光源(例如位置4处)与第三子激光源被相同地配置。
然而,本发明不限于此,本领域技术人员可以根据需要具体地布置子激光源。
此外,如前所述,已经采用RGB发光二极管作为前光的光源,已经发现:绿色发光二极管(LED)的饱和度相对于红色LED和蓝色LED的饱和度更高。因此,可以在图2所示的位置1和2处分别布置一个绿色LED、一个红色激光源、以及一个蓝色激光源。当然,还可以存在其它的组合布置。
更为优选地,可以在图2所示的位置1和2处分别布置一个红色LED、一个绿色LED、一个蓝色LED、以及一个红色激光源、一个绿色激光源、一个蓝色激光源。
接下来,参考图3来描述根据本发明实施例的显示方法100的操作。该显示方法100应用于采用光反射技术进行显示的电子设备中,在所述电子设备中使用激光源发射激光作为前光来照射所述电子设备中的像素。
首先,根据本发明实施例的显示方法100在步骤S101开始。
接下来,在步骤S110,利用内置在所述电子设备中的激光源发射激光作为前光,照射所述电子设备中的像素,每个像素至少包括玻璃基板和全反射性膜。
然后,在步骤S120,在所述像素的玻璃基板和全反射性膜之间的空气薄膜厚度满足预定条件时,所述像素利用所述前光进行显示。
最后,根据本发明实施例的显示方法100在步骤S199结束。
此外,参考图4-7来描述根据本发明实施例的显示方法100的其它操作。
如图4所示,在步骤S210,检测该电子设备周围的光照条件并获得与所述光照条件对应的光照值。
然后,在步骤S220,作为所述光照值的函数,控制所述激光源的发光强度。
接下来,进行图3中的步骤S110,即,所述激光源以在步骤S220确定的发光强度来发射激光。
如图5所示,在步骤S310,检测该电子设备的电源电压。然后,在步骤S320,作为所述电源电压的函数,控制所述激光源的发光强度。接下来,进行图3中的步骤S110,即,所述激光源以在步骤S320确定的发光强度来发射激光。
在所述电子设备中不仅具有激光源而且还具有其它光源的情况下,还可以同时利用内置在所述电子设备中的其它光源发射光作为前光,照射所述电子设备中的像素。例如,所述激光源包括红色激光源、蓝色激光源和绿色激光源,所述其它光源包括红色发光二极管、蓝色发光二极管和绿色发光二极管。
替代地,例如,所述激光源包括红色激光源和蓝色激光源,所述其它光源包括绿色发光二极管。
如图6所示,在步骤S410,检测该电子设备周围的光照条件并获得与所述光照条件对应的光照值。在步骤S420,作为所述光照值的函数,控制所述激光源和所述其它光源的发光强度。
例如,可以控制仅利用所述其它光源发光,或者控制仅利用所述激光源发光,或者控制所述激光源和所述其它光源分别发出不同强度的光。
接下来,进行图3中的步骤S110,即,所述激光源以在步骤S420确定的发光强度来发射激光,并且所述其它光源也以在步骤S420确定的发光强度来发射光。
如图7所示,在步骤S510,检测该电子设备的电源电压。然后,在步骤S520,作为所述电源电压的函数,控制所述激光源和所述其它光源的发光强度。
例如,可以控制仅利用所述其它光源发光,或者控制仅利用所述激光源发光,或者控制所述激光源和所述其它光源分别发出不同强度的光。
接下来,进行图3中的步骤S110,即,所述激光源以在步骤S520确定的发光强度来发射激光,并且所述其它光源也以在步骤S520确定的发光强度来发射光。
下面,结合图7来描述根据本发明实施例的电子设备,其采用光反射技术来进行显示。
该电子设备包括:像素阵列810、以及激光源820。
所述像素阵列810包括多个像素,每个像素至少包括玻璃基板和全反射性膜。
所述激光源820用于发射激光作为前光以照射所述像素阵列中的像素。
在所述像素阵列中的像素的玻璃基板和全反射性膜之间的空气薄膜厚度满足预定条件时,利用所述前光进行显示。
例如,在像素为黑白像素的情况下,在该像素的玻璃基板和全反射性膜之间的空气薄膜厚度为零时,该像素显示黑色,而在所述空气薄膜厚度增大时,该像素显示白色。
例如,在像素为彩色像素的情况下,诸如该像素包括三个子像素:红色子像素、蓝色子像素和绿色子像素,在子像素的玻璃基板和全反射性膜之间的空气薄膜厚度为零时,该子像素显示黑色,而在所述空气薄膜厚度增大时,该组像素显示相应的颜色(即,红色子像素显示红色、蓝色子像素显示蓝色、和绿色子像素显示绿色),从而该像素呈现出期望的颜色。
有利地,所述激光源包括至少一个子激光源,每个子激光源为红色激光源、绿色激光源、以及蓝色激光源中的至少一个。
例如,在如图2所示的位置1和2处分别布置一个子激光源,每个子激光源包括红色激光源、绿色激光源、以及蓝色激光源。
优选地,所述电子设备800还可以包括:光照检测部件830和第一光源控制布置840。
所述光照检测部件830用于检测该电子设备周围的光照条件并获得与所述光照条件对应的光照值。
所述第一光源控制部件840用于作为所述光照值的函数控制所述激光源的发光强度。
优选地,所述电子设备还可以包括:电压检测部件850和第二光源控制部件860。
电压检测部件850用于检测该电子设备的电源电压。
第二光源控制部件860用于作为所述电源电压的函数控制所述激光源的发光强度。
优选地,所述电子设备还可以包括第二光源870,用于发射光作为前光以照射所述像素阵列中的像素。
作为示例,所述激光源包括红色激光源和蓝色激光源,所述第二光源包括绿色发光二极管。
替代地,所述激光源包括红色激光源、蓝色激光源和绿色激光源,所述第二光源包括红色发光二极管、蓝色发光二极管和绿色发光二极管。
在此情况下,所述光照检测部件830用于检测该电子设备周围的光照条件并获得与所述光照条件对应的光照值;所述第一光源控制部件840用于作为所述光照值的函数控制所述激光源和所述第二光源的发光强度。
在此情况下,所述电压检测部件850用于检测该电子设备的电源电压;所述光源控制部件860用于作为所述电源电压的函数,控制所述激光源和所述第二光源的发光强度。
有利地,可以同时包括所述光照检测部件830和所述电压检测部件850,从而作为所述光照值和所述电源电压的组合函数,来控制所述激光源或者所述激光源和所述第二光源的发光强度。
尽管上面利用LED作为第二光源的示例,然而本发明不限于此,所述第二光源可以是小灯管,或者白色LED等。
利用根据本发明实施例的电子设备和显示方法,利用激光来提供前光,改善了电子设备的显示色域,提高了电子设备的显示效果。
应当理解,可以以硬件、软件、固件、专用处理器或它们的组合的各种形式来实现根据本发明实施例的电子设备和显示方法。给出这里的描述,相关领域的普通技术人员将能够想到本发明的这些和类似的实现或配置。
尽管在这里参照附图描述了本发明的一些实施例,但是应当理解,所述实施例仅是示例性的,而非限制性的。本领域技术人员应当理解,在不背离权利要求及其等价物中限定的本发明的范围和精神的情况下,可以对这些示例性实施例做出各种形式和细节上的变化。
Claims (18)
1.一种显示方法,其应用于采用光反射技术来进行显示的电子设备中,该方法包括:
利用内置在所述电子设备中的激光源发射激光作为前光,照射所述电子设备中的像素,每个像素至少包括玻璃基板和全反射性膜;以及
在所述像素的玻璃基板和全反射性膜之间的空气薄膜厚度满足预定条件时,所述像素利用所述前光进行显示。
2.如权利要求1所述的显示方法,其中,所述激光源包括至少一个子激光源,每个子激光源为红色激光源、绿色激光源、以及蓝色激光源中的至少一个。
3.如权利要求1所述的显示方法,还包括:
检测该电子设备周围的光照条件并获得与所述光照条件对应的光照值;以及
作为所述光照值的函数,控制所述激光源的发光强度。
4.如权利要求1所述的显示方法,还包括:
检测该电子设备的电源电压;以及
作为所述电源电压的函数,控制所述激光源的发光强度。
5.如权利要求1所述的显示方法,还包括:
利用内置在所述电子设备中的其它光源发射光作为前光,照射所述电子设备中的像素。
6.如权利要求5所述的显示方法,其中,所述激光源包括红色激光源和蓝色激光源,所述其它光源包括绿色发光二极管。
7.如权利要求4所述的显示方法,其中,所述激光源包括红色激光源、蓝色激光源和绿色激光源,所述其它光源包括红色发光二极管、蓝色发光二极管和绿色发光二极管。
8.如权利要求5-7之一所述的显示方法,还包括:
检测该电子设备周围的光照条件并获得与所述光照条件对应的光照值;以及
作为所述光照值的函数,控制所述激光源和所述其它光源的发光强度。
9.如权利要求5-7之一所述的显示方法,还包括:
检测该电子设备的电源电压;以及
作为所述电源电压的函数,控制所述激光源和所述其它光源的发光强度。
10.一种电子设备,其采用光反射技术来进行显示,该电子设备包括:
像素阵列,包括多个像素,每个像素至少包括玻璃基板和全反射性膜;以及
激光源,用于发射激光作为前光以照射所述像素阵列中的像素,
其中在所述像素阵列中的像素的玻璃基板和全反射性膜之间的空气薄膜厚度满足预定条件时,利用所述前光进行显示。
11.如权利要求10所述的电子设备,其中,所述激光源包括至少一个子激光源,每个子激光源为红色激光源、绿色激光源、以及蓝色激光源中的至少一个。
12.如权利要求10所述的电子设备,还包括:
光照检测部件,用于检测该电子设备周围的光照条件并获得与所述光照条件对应的光照值;以及
第一光源控制部件,用于作为所述光照值的函数控制所述激光源的发光强度。
13.如权利要求10所述的电子设备,还包括:
电压检测部件,用于检测该电子设备的电源电压;以及
第二光源控制部件,用于作为所述电源电压的函数控制所述激光源的发光强度。
14.如权利要求10所述的电子设备,还包括:
第二光源,用于发射光作为前光以照射所述像素阵列中的像素。
15.如权利要求14所述的电子设备,其中,所述激光源包括红色激光源和蓝色激光源,所述第二光源包括绿色发光二极管。
16.如权利要求14所述的电子设备,其中,所述激光源包括红色激光源、蓝色激光源和绿色激光源,所述第二光源包括红色发光二极管、蓝色发光二极管和绿色发光二极管。
17.如权利要求14-16之一所述的电子设备,还包括:
光照检测部件,用于检测该电子设备周围的光照条件并获得与所述光照条件对应的光照值;以及
第一光源控制部件,用于作为所述光照值的函数控制所述激光源和所述第二光源的发光强度。
18.如权利要求14-16之一所述的电子设备,还包括:
电压检测部件,用于检测该电子设备的电源电压;以及
第二光源控制部件,用于作为所述电源电压的函数,控制所述激光源和所述第二光源的发光强度。
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