CN103149390A - 稳定可靠的环形磁芯测试架 - Google Patents

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黄仕彪
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Abstract

本发明提供稳定可靠的环形磁芯测试架,包括支架、设在支架上的用于放置环形磁芯的检测台、设在检测台上的铜片、设在铜片上的与电流电压检测仪连接的电压输出线、设在支架上与铜片对应的探针、设在探针上与电流电压检测仪连接的电流输入线,所述支架上设有气缸,所述探针设在气缸的头部,气缸控制探针与铜片的离合用于测试环形磁芯的电流电压性能,采用上述技术方案提供稳定可靠的环形磁芯测试架,采用气动气缸循环运动方法,使待测磁芯可以连续检测,稳定可靠。

Description

稳定可靠的环形磁芯测试架
技术领域
本发明具体涉及稳定可靠的环形磁芯测试架。
背景技术
目前互感器用磁芯性能大都采用电流电压检测法进行性能检测,电流电压性能检测原理是利用两组绕线,1组是电流输入,1组是感应电压输出,根据合适的电流输入,使磁芯产生一个磁场,并在另一组有感应电压的产生。由于厂家自带的测试架采用插入式检测,这种检测方法存在的缺陷是:待测磁芯不能连续测试,操作繁琐、效率低。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于提供稳定可靠的环形磁芯测试架,使待测磁芯可以连续检测,稳定可靠。
为解决上述现有的技术问题,本发明采用如下方案:稳定可靠的环形磁芯测试架,包括支架、设在支架上的用于放置环形磁芯的检测台、设在检测台上的铜片、设在铜片上的与电流电压检测仪连接的电压输出线、设在支架上与铜片对应的探针、设在探针上与电流电压检测仪连接的电流输入线,所述支架上设有气缸,所述探针设在气缸的头部,气缸控制探针与铜片的离合用于测试环形磁芯的电流电压性能。
作为优选,所述支架上设有与气缸连接的电磁阀、与电磁阀连接的脚踏开关,控制方便,成本低。
作为优选,所述检测台设在支架的下部,所述气缸对应设在检测台的上部,这种结构节省空间并且稳定可靠。
作为优选,所述脚踏开关呈30度到50度向上倾斜,脚踏起来比较轻松快捷。
有益效果:
本发明采用上述技术方案提供稳定可靠的环形磁芯测试架,采用气动气缸循环运动方法,使待测磁芯可以连续检测,稳定可靠。
附图说明
图1为本发明的结构示意图。
具体实施方式
如图1所示,稳定可靠的环形磁芯测试架,包括支架8、设在支架8上的用于放置环形磁芯的检测台7、设在检测台7上的铜片9、设在铜片9上的与电流电压检测仪连接的电压输出线4、设在支架8上与铜片9对应的探针6、设在探针6上与电流电压检测仪连接的电流输入线3,所述支架8上设有气缸2,所述探针6设在气缸2的头部,气缸2控制探针6与铜片9的离合用于测试环形磁芯的电流电压性能。所述支架8上设有与气缸2连接的电磁阀1、与电磁阀1连接的脚踏开关5,控制方便,成本低。所述检测台7设在支架8的下部,所述气缸2对应设在检测台7的上部,这种结构节省空间并且稳定可靠。所述脚踏开关5呈30度到50度向上倾斜,脚踏起来比较轻松快捷。
实际操作时,将电流输入端3和电压输出端4连接至电流电压检测仪,支架8使气缸2和检测台7为一整体,可以方便移动测试架和放置;待检测磁芯放置于检测台7上,踩下脚踏开关5使电磁阀1通电;电磁阀1通电后使气缸2向下动作,气缸活塞杆头装有两根探针6;探针6往下运动,穿过待检测磁芯内孔并连接至检测台上两组铜片9,形成回路,电流电压表上有感应电压数值,就可检测出磁芯性能;待检测完成后,松开脚踏开关5,气缸活塞往回运动,从检测台7上取出磁芯,本发明通过电磁阀1控制气缸的活塞杆运动,代替手工拔插测试头,采用气动元件动作代替手工作业,提高了生产效率;采用电磁阀控制技术,操作也比较安全;其次测试探针6可以更换,解决了测试头接触磨损问题。本发明采用上述技术方案提供稳定可靠的环形磁芯测试架,采用气动气缸循环运动方法,使待测磁芯可以连续检测,稳定可靠。

Claims (4)

1.稳定可靠的环形磁芯测试架,包括支架(8)、设在支架(8)上的用于放置环形磁芯的检测台(7)、设在检测台(7)上的铜片(9)、设在铜片(9)上的与电流电压检测仪连接的电压输出线(4)、设在支架(8)上与铜片(9)对应的探针(6)、设在探针(6)上与电流电压检测仪连接的电流输入线(3),其特征是:所述支架(8)上设有气缸(2),所述探针(6)设在气缸(2)的头部,气缸(2)控制探针(6)与铜片(9)的离合用于测试环形磁芯的电流电压性能。
2.根据权利要求1所述的稳定可靠的环形磁芯测试架,其特征是:所述支架(8)上设有与气缸(2)连接的电磁阀(1)、与电磁阀(1)连接的脚踏开关(5)。
3.根据权利要求1所述的稳定可靠的环形磁芯测试架,其特征是:所述检测台(7)设在支架(8)的下部,所述气缸(2)对应设在检测台(7)的上部。
4.根据权利要求1所述的稳定可靠的环形磁芯测试架,其特征是:所述脚踏开关(5)呈30度到50度向上倾斜。
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Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20130612